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      發(fā)光元件陣列的光量設定方法

      文檔序號:2485057閱讀:262來源:國知局
      專利名稱:發(fā)光元件陣列的光量設定方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及發(fā)光元件陣列的光量設定方法,特別是涉及配置了在低電流區(qū)具有發(fā)光效率低的電流-光特性的發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光陣列的光量設定方法。
      背景技術
      在激光打印機的光打印頭中使用的發(fā)光元件陣列中,通常采用發(fā)光二極管(LED)。在這樣的使用LED的發(fā)光元件陣列中,LED的排列間距由引線接合法的極限間距決定,極限為500dpi(位/英寸),高密度地配置LED,不能提高發(fā)光元件陣列的分辨率。
      為了解決這樣的問題,本申請人設計出采用pnpn結構的三端發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光元件陣列,已經(jīng)獲得專利(日本專利第2807910號)。另外,該申請的內容中包含該專利的內容。
      如果采用與該專利有關的技術,則能將每n(n為2以上的整數(shù))個發(fā)光閘流晶體管陣列作為一塊,將各塊的n個發(fā)光閘流晶體管的柵極個別地連接在n條布線上,而且將各塊內的n個發(fā)光閘流晶體管的陽極或陰極共同連接在一個電極上。通過這樣處理,能減少供給發(fā)光用的信號的電極數(shù),所以能縮小發(fā)光元件的排列間距。
      三端發(fā)光閘流晶體管的I-L(電流-光輸出功率)特性不是通過直角坐標原點的直線。在圖1中示出了發(fā)光部面積為20μm×20μm的三端發(fā)光閘流晶體管的I-L特性。橫軸表示電流(mA),縱軸表示光輸出功率(μW)。I-L特性在大于10mA的區(qū)域,發(fā)光大致呈線性變化,但在5mA以下幾乎不發(fā)光。因此,如果在小電流區(qū)使用發(fā)光閘流晶體管,則發(fā)光效率低,獲得必要的曝光能量所需要的消費功率增大,結果光打印頭的溫升增大。
      另一方面,如果發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光部的電流密度增大,則由通電引起的光量下降極大。光量下降與通電時間大致成正比,相對于電流密度呈指數(shù)函數(shù)增加。圖2中示出了由通電時間引起的光量變化。橫軸表示時間(H),縱軸表示從初始值算起的光量下降(%)。
      圖3表示使用圖2中的曲線所示的結果,對通電時間達1000小時后的光量下降完成修正后的曲線。由圖3可知,在電流密度為100MA/m2以下的情況下,1000小時后的光量下降為2%。另外,可知100MA/m2的電流密度位于通信用LED等中使用的上限,超過該上限的電流密度使得晶體缺陷激增。因此,流過發(fā)光閘流晶體管的電流密度最好在100MA/m2以下。另外,在發(fā)光部面積為20μm×20μm的三端發(fā)光閘流晶體管的情況下,如果電流密度為100MA/m2,則流過發(fā)光部的電流相當于40mA。
      因此,有必要設定發(fā)光閘流晶體管的光量,以便不降低發(fā)光效率,獲得規(guī)定的曝光能量。
      發(fā)明概述本發(fā)明的目的在于提供一種在配置了I-L特性不是通過直角坐標原點的直線的發(fā)光元件、例如發(fā)光閘流晶體管的陣列中,不降低發(fā)光效率,獲得規(guī)定的曝光能量的光量設定方法。
      如果采用本發(fā)明,則在低電流區(qū)發(fā)光效率低的發(fā)光閘流晶體管中,將相當于電流密度為50MA/m2的電流值的I-L特性曲線的切線與表示I-L特性的曲線的電流軸的切點處的電流值所相當?shù)碾娏髅芏榷x為發(fā)光閾電流密度Dth。為了使發(fā)光閘流晶體管發(fā)光,獲得規(guī)定的曝光能量,設定光量使流過發(fā)光閘流晶體管的電流密度D在3×Dth<D<100MA/m2的范圍內。
      另外,對曝光能量進行多層次調制時,選擇上述的D值,通過調制發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光時間,調整曝光能量,或者通過調制發(fā)光閘流晶體管的電流值及發(fā)光時間兩方面,調整曝光能量。
      附圖簡述圖1是表示發(fā)光部面積為20μm×20μm的三端發(fā)光閘流晶體管的I-L特性的曲線。
      圖2是表示由發(fā)光閘流晶體管的通電時間引起的光量變化的曲線。
      圖3是表示發(fā)光閘流晶體管的通電時間為100H后光量下降的曲線。
      圖4是表示光打印頭的結構圖。
      圖5是表示發(fā)光效率的計算結果的曲線。
      圖6是表示計算了使閾電流值變化時效率怎樣變化的的結果的曲線。
      圖7是表示通過電流調制進行了曝光能量的256個層次的調整時的層次電平和電流值的關系的曲線。
      實施發(fā)明的最佳形態(tài)以下,參照


      本發(fā)明的發(fā)光元件陣列的光量設定方法的
      (實施例1)考慮使用具有圖1所示的I-L特性的發(fā)光元件閘流晶體管陣列,做成光打印頭時的電流及發(fā)光時間。另外,在以下的實施例中,使用發(fā)光部面積為20μm×20μm的發(fā)光閘流晶體管。
      首先,簡單地說明電子攝影打印機中使用的光打印頭的結構。圖4表示設置在感光滾筒10上的光打印頭。光打印頭由將發(fā)光閘流晶體管排列成一排構成的發(fā)光閘流晶體管陣列12、以及將棒形透鏡裝配起來構成的棒形透鏡陣列14構成。棒形透鏡陣列14配置成與感光滾筒10的切面大致垂直、且與感光滾筒的表面大致平行。另外,發(fā)光閘流晶體管陣列12配置為能使通過棒形透鏡陣列14來自發(fā)光閘流晶體管陣列12的光入射到感光滾筒10上。
      在電子攝影打印機中,進行兩個層次記錄時需必需的曝光能量為1~10mJ/m2左右?,F(xiàn)在,假設必要的曝光能量為6mJ/m2,棒形透鏡的耦合效率為4%,如果考慮600dpi(42.3μm間距)的圖像,則發(fā)光元件每描繪1點的輸出能量為270pJ。在每秒打印一張A3尺寸紙的情況下,打印一行所需要的時間大約為100μs。因此,發(fā)光元件的光輸出功率必須為270pJ/100μs=2.7μW。如果根據(jù)圖1中的I-L特性,為了獲得2.7μW的光輸出功率,必須流過約2.7mA的電流。另一方面,如果假設流過相當于電流密度為100MA/m2的40mA的電流,則根據(jù)圖1中的I-L特性,為了獲得360μW的光輸出功率,如果使發(fā)光時間為100μs×2.7μW/360μW=0.75μs,則能獲得與發(fā)光時間為100μs、2.7mA時相同的曝光能量。
      其次,由于發(fā)光閘流晶體管的端子之間的電壓幾乎是一定的,與所供給的電流值無關,所以發(fā)光閘流晶體管的消耗功率與所供給的電流值成正比。因此,在發(fā)光閘流晶體管中消耗的能量與電流和發(fā)光時間的積成正比。即,與2.7mA時相比,40mA時為了獲得相同的曝光能量所需要的消耗能量的比率為(40mA×0.75μs)/(2.7mA×100μs)=1/9。由于消耗的能量直接變成熱,所以與2.7mA時相比,40mA時頭的溫升能被抑制為約1/9。
      這里,作為對發(fā)光閘流晶體管的壽命不成問題的最大電流值,雖然舉出了40mA(相當于100MA/m2)的例子,但如果是比該值小、且能獲得充分的發(fā)光效率的電流值,那么什么樣的值都可以。
      如果采用圖1所示的發(fā)光閘流晶體管的I-L特性,則在10mA以上的區(qū)域,特性曲線大致變成直線。因此,可以考慮將電流密度100MA/m2的一半時的50MA/m2的切線L1(L=aI+b)作為該I-L特性的一次近似式使用。但是,在該切線上L<0的區(qū)域為L=0。該切線L1與電流軸(縱軸)相切的點的值(發(fā)光閾電流Ith)為Ith=-b/a。
      其次,現(xiàn)在根據(jù)圖1中的I-L特性,求出近似式L1時,a=10μW/mA,b=-40μW。這時,發(fā)光閾電流Ith=4mA,發(fā)光閾電流密度Dth=10MA/m2。圖5中示出了該近似式L1、以及根據(jù)該近似式求得的發(fā)光效率E=L/I的計算結果。另外,在該曲線中,實線表示近似式L1,虛線表示計算的發(fā)光效率E。與圖5中的曲線相比,可知如果電流超過閾值Ith,則發(fā)光效率E急劇增大,達到Ith的3倍時,約為7μW/mA,出現(xiàn)到頭的傾向。如果電流值無限大,則E=10μW/mA,達到Ith的3倍時,能獲得約為理想值的70%的發(fā)光效率。
      其次,圖6中的曲線給出了改變閾電流Ith的值時,發(fā)光效率怎樣變化的計算結果。在該曲線中,橫軸表示閾電流密度Dth,縱軸表示將電流密度Dth=100MA/m2時的發(fā)光效率作為1時的發(fā)光效率的相對值。由圖6中的曲線可知,如果取Dth的3倍以上的電流密度,則能確保相對值在0.66以上。
      從以上的討論結果可知,在通過調制發(fā)光閘流晶體管的電流來設定光量的情況下,為了不降低發(fā)光效率而獲得規(guī)定的曝光能量,將電流密度D選定在以下范圍內即可3×Dth<D<100MA/m2。
      (實施例2)在用發(fā)光閘流晶體管獲得多層次(例如256個層次)的曝光能量的情況下,如果只用電流值調制層次,則由于出現(xiàn)比3×Dth<D<100MA/m2的電流密度D的范圍更低的部分,所以發(fā)光效率下降。另外,在發(fā)光閘流晶體管中,I-L特性在小電流區(qū)域偏離直線,所以有必要參照修正數(shù)據(jù),通過電流值的調制,多層次地調整曝光能量變得復雜。
      為了避免這樣的問題,仍然是將電流密度D設定在發(fā)光閾電流密度Dth的3倍以上,通過調制發(fā)光時間來調整層次。另外,在通過調制發(fā)光時間進行的層次調整中不能充分地取得分辨率時,也可以調制電流值和發(fā)光時間兩者來調整層次。
      在實施例1中,電流為40mA,發(fā)光時間為0.75μs。圖7中示出了仍為該發(fā)光時間,通過電流的調制進行了曝光能量的256個層次的調整時的層次電平和電流值。全部層次的平均電流為21.8mA。因此,消耗功率為0.75μs×21.8mA×k(常數(shù))。另一方面,如果經(jīng)常流過40mA,通過發(fā)光時間的調制來調整256個層次,則曝光能量與發(fā)光時間成正比,所以平均發(fā)光時間是最大發(fā)光時間的一半。因此,消耗功率為(0.75μs/2)×40mA×k(常數(shù))。因此,這些消耗功率的比為20/21.8=0.92,用發(fā)光時間進行調制的方法比用電流值進行調制的方法,效率約高8%。
      產(chǎn)業(yè)利用的可能性如果采用本發(fā)明,則在排列了發(fā)光閘流晶體管的陣列中,能實現(xiàn)不降低發(fā)光效率、獲得規(guī)定的曝光能量的設定光量的方法。
      權利要求
      1.一種光量設定方法,該方法是在排列了具有在低電流區(qū)發(fā)光效率低的電流-光輸出功率(I-L)特性的發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光元件陣列中,為了獲得規(guī)定的曝光能量,設定上述發(fā)光閘流晶體管的光量的方法,其特征在于在將相當于電流密度50MA/m2的電流值的I-L特性曲線的切線與表示I-L特性的曲線的電流軸的切點處的電流值所相當?shù)碾娏髅芏榷x為發(fā)光閾電流密度Dth的情況下,流過發(fā)光閘流晶體管的電流密度D在3×Dth<D<100MA/m2的范圍內。
      2.一種發(fā)光元件陣列的光量設定方法,該方法是在排列了具有在低電流區(qū)發(fā)光效率低的I-L特性的發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光元件陣列中,為了獲得多層次的曝光能量,設定上述發(fā)光閘流晶體管的光量的方法,其特征在于在將相當于電流密度50MA/m2的電流值的I-L特性曲線的切線與表示I-L特性的曲線的電流軸的切點處的電流值所相當?shù)碾娏髅芏榷x為發(fā)光閾電流密度Dth的情況下,流過發(fā)光閘流晶體管的電流密度D在3×Dth<D<100MA/m2的范圍內,通過調制上述發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光時間,調整曝光能量的層次。
      3.一種發(fā)光元件陣列的光量設定方法,該方法是在裝配了具有在低電流區(qū)發(fā)光效率低的I-L特性的發(fā)光閘流晶體管的發(fā)光元件陣列中,為了獲得多層次的曝光能量,設定上述發(fā)光閘流晶體管的光量的方法,其特征在于在將相當于電流密度為50MA/m2的電流值的I-L特性曲線的切線與電流軸的切點處的電流值所相當?shù)碾娏髅芏榷x為發(fā)光閾電流密度Dth的情況下,流過發(fā)光閘流晶體管的電流密度D在3×Dth<D<100MA/m2的范圍內,通過調制上述發(fā)光閘流晶體管的電流值及發(fā)光時間,調整曝光能量的層次。
      全文摘要
      提供一種在排列了具有在低電流區(qū)發(fā)光效率低的I-L特性的發(fā)光閘流晶體管的陣列中,不降低發(fā)光效率,獲得規(guī)定的曝光能量的光量設定方法。為了獲得規(guī)定的曝光能量,在將相當于電流密度為50MA/m
      文檔編號B41J2/45GK1358138SQ01800023
      公開日2002年7月10日 申請日期2001年1月22日 優(yōu)先權日2000年1月31日
      發(fā)明者大野誠治, 楠田幸久, 大塚俊介, 黑田靖尚, 有馬尊久, 齊藤英昭 申請人:日本板硝子株式會社
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