本發(fā)明涉及液晶顯示器領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示面板、液晶顯示面板檢測系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

液晶顯示器(liquidcrystaldisplay，簡稱lcd)在成盒(cell)工程完成后，會(huì)通過cell點(diǎn)燈來檢測一些線不良和面不良缺陷。通常會(huì)設(shè)計(jì)多組cell測試端子(pad)及測試線，用來提供點(diǎn)燈時(shí)掃描線和數(shù)據(jù)線信號，如圖1所示，cell點(diǎn)燈檢測示意圖，其中ck1、ck2、ck3和ck4表示高頻時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)信號(ck)。圖2為一種常見的成盒檢測原理示意圖，由波形編輯器(比如電腦中的波形編輯器)來控制pg(patterngenerator的簡稱，也常被稱為信號發(fā)生器)的輸出信號波形，再由pg為成盒測試端子(celltestpad)提供信號，掃描線信號和數(shù)據(jù)線信號從成盒測試端子輸入到面板中，從而點(diǎn)亮片子。上述測試方式中，雖然從pg輸出至探針的波形符合原始編輯要求，但金屬線由于電阻(r)和電容(c)所造成的寄生效應(yīng)導(dǎo)致嚴(yán)重的傳輸延遲(rc-delay)，使探針接觸測試端子后波形會(huì)存在明顯變形，即使給不同測試端子以相同信號，輸入到面板中的信號也可能存在較大的差異。

這樣，對于需要多組高頻時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)信號來實(shí)現(xiàn)掃描信號輸出的柵極驅(qū)動(dòng)電路(gatedriveronarray，簡稱goa)產(chǎn)品來說，就很容易出現(xiàn)不同的ck信號，即使輸入波形相同，輸出的掃描信號也會(huì)存在差異的情況，導(dǎo)致在cell點(diǎn)燈的過程中，畫面會(huì)出現(xiàn)如圖3所示的水平橫紋。這種異常的畫面，一方面降低cell點(diǎn)燈的良率；另一方面，橫紋造成的畫面異常會(huì)影響對其他缺陷的檢測。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種液晶顯示面板、液晶顯示面板檢測系統(tǒng)及方法，用以解決cell點(diǎn)燈測試端子接觸阻抗不同，各ck信號rcdelay不一樣會(huì)造成畫面水平橫紋，影響缺陷檢測的問題。

本發(fā)明第一方面提供一種液晶顯示面板，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，其中，非顯示區(qū)包括第一測試端子和第二測試端子；

其中，第一測試端子與液晶顯示面板中的掃描線連接，用于向掃描線輸出接收到的測試信號；

第二測試端子與第一測試端子連接，用于接收輸出信號，其中，輸出信號為測試信號經(jīng)過第一測試端子后的信號。

進(jìn)一步的，測試信號包括多個(gè)測試子信號，第一測試端子包括多個(gè)第一測試子端子，第一測試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的個(gè)數(shù)的倍數(shù)，各測試子信號分別通過一個(gè)或多個(gè)第一測試子端子輸出至掃描線；

各第一測試子端子依次與編號后的各掃描線相連，其中，根據(jù)測試信號到達(dá)各掃描線的時(shí)間長短對各掃描線按照從大到小的順序進(jìn)行編號。

進(jìn)一步的，第二測試端子包括多個(gè)第二測試子端子，第二測試子端子與第一測試子端子的個(gè)數(shù)相同，第二測試子端子與第一測試子端子一一對應(yīng)連接，以接收從相應(yīng)的第一測試子端子輸出的信號。

進(jìn)一步的，第一測試子端子平均分為第一分組和第二分組，第一分組中的各第一測試子端子用于與編號為奇數(shù)的掃描線進(jìn)行連接，第二分組中的各第一測試子端子用于與編號為偶數(shù)的掃描線進(jìn)行連接。

進(jìn)一步的，測試子信號為高頻時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)信號。

本發(fā)明第二方面提供一種液晶顯示面板檢測系統(tǒng)，包括信號發(fā)生器、波形檢測器及上述的液晶顯示面板；

其中，信號發(fā)生器與第一測試端子連接，用于生成測試信號并將測試信號發(fā)送給第一測試端子；

波形檢測器與第二測試端子連接，用于對從第二測試端子輸出的輸出信號進(jìn)行檢測。

進(jìn)一步的，波形檢測器為示波器。

本發(fā)明第三方面提供一種應(yīng)用于上述液晶顯示面板檢測系統(tǒng)的液晶顯示面板檢測方法，包括：

信號發(fā)生器生成測試信號，并將測試信號發(fā)送給第一測試端子；

第一測試端子將接收到的測試信號發(fā)送給與其連接的掃描線和第二測試端子；

第二測試端子接收輸出信號，其中，輸出信號為從信號發(fā)生器發(fā)出的測試信號經(jīng)過第一測試端子后的信號；

波形檢測器獲取從第二測試端子輸出的輸出信號，并對輸出信號的波形進(jìn)行檢測。

進(jìn)一步的，測試信號包括多個(gè)測試子信號，第一測試端子包括多個(gè)第一測試子端子，第一測試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的個(gè)數(shù)的倍數(shù)，各測試子信號分別通過一個(gè)或多個(gè)第一測試子端子輸出至掃描線；

各第一測試子端子依次與編號后的各掃描線相連，其中，根據(jù)測試信號到達(dá)各掃描線的時(shí)間長短對各掃描線按照從大到小的順序進(jìn)行編號；

第二測試端子包括多個(gè)第二測試子端子，第二測試子端子與第一測試子端子的個(gè)數(shù)相同，第二測試子端子與第一測試子端子一一對應(yīng)連接，以接收從相應(yīng)的第一測試子端子輸出的信號。

進(jìn)一步的，波形檢測器獲取從第二測試端子輸出的輸出信號，并對輸出信號的波形進(jìn)行檢測之后，還包括：

若波形檢測器上顯示的波形出現(xiàn)異常，實(shí)時(shí)調(diào)整信號發(fā)生器生成的測試信號，直到波形檢測器上顯示的波形正常。本發(fā)明提供一種液晶顯示面板、液晶顯示面板檢測系統(tǒng)及方法，通過對輸出信號進(jìn)行波形檢測，可實(shí)時(shí)調(diào)整生成的測試信號，使進(jìn)入像素矩陣中的測試信號在rc-delay后基本保持一致，從而有效避免產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號rc-delay不一致出現(xiàn)水平橫紋的缺陷，從而大幅度提高成盒測試的良率。

附圖說明

在下文中將基于實(shí)施例并參考附圖來對本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的描述。其中：

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中成盒測試端子示意圖；

圖2為現(xiàn)有技術(shù)中成盒檢測原理示意圖；

圖3為現(xiàn)有技術(shù)中成盒點(diǎn)燈過程出現(xiàn)的水平橫紋示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板的一結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板的另一結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的第一測試端子與第二測試端子在面板上的分布示意圖；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的測試信號波形示意圖；

圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板檢測方法的流程示意圖。

在附圖中，相同的部件使用相同的附圖標(biāo)記。附圖并未按照實(shí)際的比例繪制。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。

如圖4所示，本發(fā)明實(shí)施例提供一種液晶顯示面板，包括顯示區(qū)11和非顯示區(qū)12，其中，非顯示區(qū)12包括第一測試端子121和第二測試端子122；第一測試端子121與液晶顯示面板1中的掃描線連接，用于向掃描線輸出接收到的測試信號；第二測試端子122與第一測試端子121連接，用于接收輸出信號，其中，輸出信號為測試信號經(jīng)過第一測試端子121后的信號。

具體的，當(dāng)液晶顯示面板1在成盒工程完成后，通過成盒點(diǎn)燈來檢測一些線不良和面不良缺陷。第一測試端子121設(shè)置在液晶顯示面板1的像素陣列驅(qū)動(dòng)信號輸入處，即輸入至像素陣列中的驅(qū)動(dòng)信號(或測試信號)通過第一測試端子121傳入。由于需要通過探針與第一測試端子121接觸以使測試信號輸入第一測試端子121，但是探針與第一測試端子121接觸后會(huì)使測試信號的波形產(chǎn)生變形，因此，現(xiàn)有技術(shù)的檢查裝置和方法中，從第一測試端子121輸出的信號與測試信號存在差異。為了識別這種差異，本發(fā)明設(shè)置了第二測試端子122，以用于獲取從第一測試端子121輸出的輸出信號。通過將第二測試端子122與第一測試端子121連接，以接收從第一測試端子121輸出的輸出信號，通過對比測試信號的波形與輸出信號的波形來獲知測試信號的異常程度。然后根據(jù)輸出信號來實(shí)時(shí)調(diào)整測試信號，使進(jìn)入像素矩陣中的各測試信號在rc-delay后基本保持一致，從而有效避免產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號rc-delay不一致出現(xiàn)水平橫紋，從而大幅度提高成盒測試的良率。如圖5所示，在本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例中，測試信號包括多個(gè)測試子信號，第一測試端子121包括多個(gè)第一測試子端子，第一測試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的倍數(shù)，各測試子信號分別通過一個(gè)或多個(gè)第一測試子端子輸出至掃描線，通過掃描線傳入至像素單元中。

根據(jù)各掃描線從小到大的編號，將各第一測試子端子依次與各掃描線相連，其中，根據(jù)測試信號到達(dá)各掃描線的時(shí)間長短對各掃描線按照從大到小進(jìn)行編號。

具體的，測試信號可以包括一個(gè)或多個(gè)測試子信號，測試子信號為高頻時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)信號。相應(yīng)的，第一測試端子121可包括一個(gè)或多個(gè)第一測試子端子(如圖5中所示的第一測試子端子121a-121b)，只需保證第一測試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的倍數(shù)即可。當(dāng)測試子信號與第一測試子端子個(gè)數(shù)相同時(shí)，第一測試子端子與測試子信號為一一對應(yīng)的關(guān)系，以將各測試子信號輸出。當(dāng)?shù)谝粶y試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的倍數(shù)時(shí)，第一測試子端子會(huì)被平均分為多組，在每一組中，第一測試子端子與測試子信號為一一對應(yīng)的關(guān)系，以將各測試子信號輸出。

在陣列基板中各像素單元按照矩陣形式進(jìn)行分布，同一行的像素單元連接同一條掃描線，同一列的像素單元連接同一條數(shù)據(jù)線。第一測試端子121設(shè)置在第一行像素單元的上一行(該上一行為大致位置)，由于輸出信號的傳輸需要時(shí)間，因此，從第一測試端子121輸出的輸出信號會(huì)先到達(dá)第一行像素單元中(也即先到達(dá)與第一行像素連接的該行掃描線中)，最后達(dá)到最后一行像素單元中?；谏鲜鲈?，將掃描線按照測試信號到達(dá)各掃描線的時(shí)間長短進(jìn)行從大到小編號。根據(jù)各掃描線從小到大的編號，各第一測試子端子依次與各掃描線進(jìn)行連接。如有掃描線g1-g4、第一測試子端子t1和第一測試子端子t2，那么第一測試子端子t1和第一測試子端子t2依次與掃描線g1-g4連接，即第一測試子端子t1與掃描線g1和掃描線g3連接，第二測試子端子t2與掃描線g2和掃描線g4連接。

進(jìn)一步的，第二測試端子122包括多個(gè)第二測試子端子(如圖5中所示的第二測試子端子122a-122d)，第二測試子端子與第一測試子端子的個(gè)數(shù)相同，第二測試子端子與第一測試子端子一一對應(yīng)連接，以接收從相應(yīng)的第一測試子端子輸出的信號。

第二測試子端子與第一測試子端子一一對應(yīng)連接，從而獲得第一測試子端子相應(yīng)的輸出波形，以實(shí)時(shí)調(diào)整測試子信號，從而有效避免產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號rc-delay不一致出現(xiàn)水平橫紋，從而大幅度提高成盒測試的良率。在本發(fā)明另一個(gè)具體實(shí)施例中，第一測試子端子平均分為第一分組和第二分組，第一分組中的各第一測試子端子用于與掃描線中編號為奇數(shù)的掃描線進(jìn)行連接，第二分組中的各第一測試子端子用于與掃描線中編號為偶數(shù)的掃描線進(jìn)行連接。如圖6所示，如有第一測試子端子121a-121h，掃描線g1-g16(圖中未示出)，將第一測試子端子121a-121h平均分為2組，第一分組包括第一測試子端子121a-121d，第二分組包括第一測試子端子121e-121h，那么第一分組中的第一測試子端子121a-121d依次與掃描線g1、g3、g5、…、g15連接，第二分組中的第一測試子端子121e-121h依次與掃描線g2、g4、g6、…、g16連接。

進(jìn)一步的，將第二測試子端子平均分為第三分組和第四分組，其中，第三分組用于接收從第一分組中輸出的各輸出信號，第四分組用于接收從第二分組中輸出的各輸出信號。如圖6所示，以第三分組中包括第二測試子端子122a-122d為例，第一測試子端子121a與第二測試子端子122a通過線l1進(jìn)行連接，同理，第一測試子端子121b與第二測試子端子122b通過線l2(圖中未示出)進(jìn)行連接；第一測試子端子121c與第二測試子端子122c通過線l3(圖中未示出)進(jìn)行連接；第一測試子端子121d與第二測試子端子122d通過線l4(圖中未示出)進(jìn)行連接。然后通過示波器同步檢測輸出的輸出信號，根據(jù)輸出信號實(shí)時(shí)調(diào)整波形產(chǎn)生器的輸入信號，使進(jìn)入像素矩陣的各測試信號在rcdelay后基本保持一致。上述裝置可以有效避免陣列基板行驅(qū)動(dòng)(gatedriveronarray,簡稱goa)產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號信號rcdelay不一致，出現(xiàn)水平橫紋，從而大幅度提高成盒測試的良率。

圖7為測試信號的波形示意圖，在圖7中有4個(gè)測試子信號。

如圖8所示，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種液晶顯示面板檢測系統(tǒng)，包括信號發(fā)生器2、波形檢測器3及上述實(shí)施例中的液晶顯示面板1；其中，信號發(fā)生器2與第一測試端子121連接，用于生成測試信號并將測試信號發(fā)送給第一測試端子121；波形檢測器3與第二測試端子122連接，用于對從第二測試端子122輸出的輸出信號進(jìn)行檢測。

本實(shí)施例通過信號發(fā)生器2生成測試信號，通過波形檢測器3對從第二測試端子122輸出的輸出信號進(jìn)行檢測，通過對比測試信號的波形與輸出信號的波形來獲知測試信號的異常程度。信號發(fā)生器2信號發(fā)生器可按照為電腦中的外置的波形編輯器中設(shè)置的波形來產(chǎn)生相應(yīng)的輸出信號，具體的信號產(chǎn)生方法和裝置為現(xiàn)有技術(shù)范疇，本發(fā)明不再贅述。進(jìn)一步的，上述系統(tǒng)可根據(jù)輸出信號來實(shí)時(shí)調(diào)整信號發(fā)生器2生成的測試信號，使進(jìn)入像素矩陣中的各測試信號在rc-delay后基本保持一致，從而有效避免產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號rc-delay不一致出現(xiàn)水平橫紋，從而大幅度提高成盒測試的良率。

波形檢測器3優(yōu)選為示波器。如圖9所示，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種液晶顯示面板1檢測方法，應(yīng)用于上述實(shí)施例中的液晶顯示面板1檢測系統(tǒng)中，具體包括：

步驟101，信號發(fā)生器生成測試信號，并將測試信號發(fā)送給第一測試端子。信號發(fā)生器可為電腦中的波形編輯器，用于編輯測試信號。

步驟102，第一測試端子將接收到的測試信號發(fā)送給與其連接的掃描線和第二測試端子。

步驟103，第二測試端子接收輸出信號，其中，輸出信號為從信號發(fā)生器發(fā)出的測試信號經(jīng)過第一測試端子后的信號。

由于波形檢測器需要通過探針與第一測試端子接觸以使生成的測試信號輸入第一測試端子，但是探針與第一測試端子接觸后會(huì)使測試信號的波形產(chǎn)生變形，即從第一測試端子輸出的信號與測試信號存在差異。為了識別這種差異，設(shè)置了第二測試端子，以獲取從第一測試端子輸出的輸出信號。

步驟104，波形檢測器獲取從第二測試端子輸出的輸出信號，并對輸出信號的波形進(jìn)行檢測。

第二測試端子將輸出信號傳送給波形檢測器，波形檢測器對接收到的輸出信號進(jìn)行波形重現(xiàn)，波形檢測器優(yōu)選為示波器。通過對比測試信號的波形與輸出信號的波形來獲知測試信號的異常程度。

上述面板成盒檢測方法，通過對輸出信號進(jìn)行波形檢測，可實(shí)時(shí)調(diào)整信號發(fā)生器生成的測試信號，使進(jìn)入像素矩陣中的各測試信號在rcdelay后基本保持一致，從而有效避免產(chǎn)品在成盒點(diǎn)燈測試時(shí)，由于多組測試信號rcdelay不一致出現(xiàn)水平橫紋，從而大幅度提高成盒測試的良率。

進(jìn)一步的，在步驟104之后還包括：若波形檢測器上顯示的波形出現(xiàn)異常，實(shí)時(shí)調(diào)整信號發(fā)生器生成的測試信號，直到波形檢測器上顯示的波形正常。

進(jìn)一步的，測試信號包括多個(gè)測試子信號，第一測試端子包括多個(gè)第一測試子端子，第一測試子端子的個(gè)數(shù)為測試子信號的倍數(shù)，各測試子信號分別通過一個(gè)或多個(gè)第一測試子端子輸出至掃描線；根據(jù)各掃描線從小到大的編號，各第一測試子端子依次與各掃描線相連，其中，根據(jù)測試信號到達(dá)各掃描線的時(shí)間長短對各掃描線按照從大到小進(jìn)行編號。該部分與面板成盒檢測裝置相應(yīng)部分一致，具體可參見相應(yīng)的描述，在此不再贅述。

進(jìn)一步的，第二測試端子包括多個(gè)第二測試子端子，第二測試子端子與第一測試子端子的個(gè)數(shù)相同，第二測試子端子與第一測試子端子一一對應(yīng)連接，以接收從相應(yīng)的第一測試子端子輸出的信號。該部分與面板成盒檢測裝置相應(yīng)部分一致，具體可參見相應(yīng)的描述，在此不再贅述。

進(jìn)一步的，第一測試子端子平均分為第一分組和第二分組，第一分組中的各第一測試子端子用于與掃描線中編號為奇數(shù)的掃描線進(jìn)行連接，第二分組中的各第一測試子端子用于與掃描線中編號為偶數(shù)的掃描線進(jìn)行連接。該部分與面板成盒檢測裝置相應(yīng)部分一致，具體可參見相應(yīng)的描述，在此不再贅述。

雖然已經(jīng)參考優(yōu)選實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了描述，但在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，可以對其進(jìn)行各種改進(jìn)并且可以用等效物替換其中的部件。尤其是，只要不存在結(jié)構(gòu)沖突，各個(gè)實(shí)施例中所提到的各項(xiàng)技術(shù)特征均可以任意方式組合起來。本發(fā)明并不局限于文中公開的特定實(shí)施例，而是包括落入權(quán)利要求的范圍內(nèi)的所有技術(shù)方案。