面板點亮后的檢測圖像； 52、 計算所述檢測圖像與標準圖像之間的實際相似度； 53、 根據(jù)所述實際相似度判斷所述待檢測顯示面板是否為良品，當所述實際相似度在 標準相似度范圍內(nèi)時，判定所述待檢測顯示面板為良品；當所述實際相似度超出所述標準 相似度范圍時，判定所述待檢測顯示面板為次品。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括在步驟S1之前 進行的： 獲取多個良品樣本點亮后的樣本圖像，任意一個所述樣本圖像形成為所述標準圖像； 計算多對樣本圖像之間的多個標準相似度. 根據(jù)多個所述標準相似度確定所述標準相似度范圍。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，根據(jù)公式（1)至公式（3)計算所述實 際相似度或所述標準相似度：其中，SIM(A，B)為所述檢測圖像與所述標準圖像之間的實際相似度； DAu為所述檢測圖像中第i行第j列像素單元的灰度值； DBu為所述標準圖像中第i行第j列像素單元的灰度值； M為所述檢測圖像和所述標準圖像的像素單元的行數(shù)，N為所述檢測圖像和所述標準 圖像的像素單元的列數(shù)； 1《i《M，1《j《N; 或者，SIM(A,B)為一對樣本圖像之間的標準相似度； DAu為第一幅樣本圖像中第i行第j列的像素單元的灰度值； DBu為第二幅樣本圖像中第i行第j列的像素單元的灰度值； M為所述樣本圖像的像素單元的行數(shù)，N為所述樣本圖像的像素單元的列數(shù)； 1《i《M，1《j《N。4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述待檢測顯示面板上有多個檢測 點，每個檢測點均為一個像素單元，步驟S1包括獲取待檢測顯示面板中每個檢測點所對應 的灰度值； 所述標準圖像中，對應于所述多個檢測點位置處的多個像素單元的灰度值的平均值 為標準灰度值，當所述待檢測顯示面板為次品時，所述檢測方法還包括在步驟S3之后進行 的： 54、 根據(jù)所述待檢測顯示面板的檢測點所對應的灰度值和標準灰度值范圍判斷所述檢 測點的類型，當所述檢測點所對應的灰度值在所述標準灰度值范圍內(nèi)時，判定所述檢測點 為正常點；當所述檢測點所對應的灰度值超出所述標準灰度值范圍時，判定所述檢測點為 壞點。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述壞點包括亮點和暗點，在所述步 驟S4中，當所述檢測點所對應的灰度值大于所述標準灰度值范圍的最大值時，判定所述檢 測點為亮點；當所述檢測點所對應的灰度值小于所述標準灰度值范圍的最小值時，判定所 述檢測點為暗點。6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述待檢測顯示面板上的每個像素 單元均形成為一個檢測點。7. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括在步驟S1之前 進行的： 計算每個樣本圖像中對應于多個檢測點的多個像素單元的灰度值的平均值； 根據(jù)多個樣本圖像所對應的多個所述平均值確定所述標準灰度值范圍。8. 根據(jù)權(quán)利要求5至7中任意一項所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括 在步驟S4之后進行的： 55、 獲取所述壞點的位置； 56、 根據(jù)所述壞點的位置判斷所述次品出現(xiàn)的不良類型，當所述壞點包括位于同一行 或同一列的多個亮點時，判定所述次品上出現(xiàn)亮線不良，當所述壞點包括位于同一行或同 一列的多個暗點時，判定所述次品上出現(xiàn)暗線不良，當所述壞點包括位于預定直徑的區(qū)域 內(nèi)的多個亮點或位于預定直徑的區(qū)域內(nèi)的多個暗點時，判定所述次品上出現(xiàn)斑痕不良。9. 一種顯示面板的檢測裝置，其特征在于，包括： 檢測圖像獲取模塊，用于獲取待檢測顯示面板點亮后的檢測圖像； 第一計算模塊，用于計算所述檢測圖像與標準圖像之間的實際相似度； 相似度對比模塊，用于將所述實際相似度與標準相似度范圍進行對比； 質(zhì)量判斷模塊，用于根據(jù)所述相似度對比模塊的對比結(jié)果判斷所述待檢測顯示面板是 否為良品，當所述實際相似度在所述標準相似度范圍內(nèi)時，判定所述待檢測顯示面板為良 品；當所述實際相似度超出所述標準相似度范圍內(nèi)時，判定所述待檢測顯示面板為次品。10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括： 樣本圖像獲取模塊，用于獲取多個良品樣本點亮后的樣本圖像，任意一個所述樣本圖 像形成為所述標準圖像； 第二計算模塊，用于計算多對樣本圖像之間的多個標準相似度； 標準相似度范圍確定模塊，用于根據(jù)所述第二計算模塊計算得到的多個標準相似度確 定所述標準相似度范圍。11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于，所述第一計算模塊能夠根據(jù)公式 (1)至公式（3)計算所述實際相似度，所述第二計算模塊能夠根據(jù)公式（1)至公式（3)計算 所述標準相似度：(3) 其中，SIM(A,B)為所述檢測圖像與所述標準圖像之間的實際相似度； DAu為所述檢測圖像中第i行第j列像素單元的灰度值； DBu為所述標準圖像中第i行第j列像素單元的灰度值； M為所述檢測圖像和所述標準圖像的像素單元的行數(shù)，N為所述檢測圖像和所述標準 圖像的像素單元的列數(shù)； 1《i《M，1《j《N;或者，SIM(A，B)為一對樣本圖像之間的標準相似度； DAu為第一幅樣本圖像中第i行第j列的像素單元的灰度值； DBu為第二幅樣本圖像中第i行第j列的像素單元的灰度值； M為所述樣本圖像的像素單元的行數(shù)，N為所述樣本圖像的像素單元的列數(shù)； 1《i《M，1《j《N。12. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于，所述待檢測顯示面板上有多個檢 測點，每個檢測點均為一個像素單元，所述檢測圖像獲取模塊能夠獲取所述待檢測顯示面 板中每個檢測點所對應像素單元的灰度值，所述標準圖像中對應于所述多個檢測點位置處 的多個像素單元的灰度值的平均值為標準灰度值， 所述檢測裝置還包括： 灰度對比模塊，用于將次品的檢測點所對應的灰度值和標準灰度值范圍進行對比； 壞點類型判斷模塊，用于根據(jù)所述灰度對比模塊的對比結(jié)果判斷檢測點的類型，當檢 測點所對應的灰度值在標準灰度值范圍內(nèi)時，判定檢測點為正常點；當所述檢測點所對應 的灰度值超出所述標準灰度值范圍時，判定所述檢測點為壞點。13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測裝置，其特征在于，所述壞點包括亮點和暗點，當所述 檢測點所對應的灰度值大于所述標準灰度值范圍的最大值時，所述壞點類型判斷模塊判定 所述檢測點為亮點；當所述檢測點所對應的灰度值小于所述標準灰度值范圍的最小值時， 所述壞點類型判斷模塊判定所述檢測點為暗點。14. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測裝置，其特征在于，所述待檢測顯示面板上的每個像 素單元均形成為一個檢測點。15. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括： 第=計算模塊，用于計算每個樣本圖像中對應于多個檢測點的多個像素單元的灰度值 的平均值； 標準灰度值范圍確定模塊，用于根據(jù)所述第=計算模塊所計算得到的多個樣本圖像所 對應的多個平均值確定所述標準灰度值范圍。16. 根據(jù)權(quán)利要求13至15所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括： 壞點位置獲取模塊，用于獲取所述壞點的位置； 不良類型判斷模塊，用于根據(jù)所述壞點的位置判斷所述次品出現(xiàn)的不良類型，當所述 壞點包括位于同一行或同一列的多個亮點時，判定所述次品上出現(xiàn)亮線不良，當所述壞點 包括位于同一行或同一列的多個暗點時，判定所述次品上出現(xiàn)暗線不良，當所述壞點包括 位于預定直徑的區(qū)域內(nèi)的多個亮點或位于預定直徑的區(qū)域內(nèi)的多個暗點時，判定所述次品 上出現(xiàn)斑痕不良。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種顯示面板的檢測方法，包括：S1、獲取待檢測顯示面板點亮后的檢測圖像；S2、計算所述檢測圖像與標準圖像之間的實際相似度；S3、根據(jù)所述實際相似度判斷所述待檢測顯示面板是否為良品，當所述實際相似度在標準相似度范圍內(nèi)時，判定所述待檢測顯示面板為良品；當所述實際相似度超出所述標準相似度范圍時，判定所述待檢測顯示面板為次品。相應地，本發(fā)明還提供一種顯示面板的檢測裝置。本發(fā)明能夠提高檢測效率和準確率，且避免了光線對人眼的傷害。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號】CN104933978
【申請?zhí)枴緾N201510382037
【發(fā)明人】張昌
【申請人】京東方科技集團股份有限公司, 鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年7月2日