面板亮點檢測方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種檢測方法，特別是涉及一種面板亮點檢測方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002] 現(xiàn)有一種面板亮點檢測技術，為利用透射光搭配影像辨識方式進行檢測；也就是 從一面板的一側打光，在另一側擷取影像。如果該面板存在會導致亮點的內(nèi)部缺陷，該內(nèi)部 缺陷處無法阻擋光線通過，而其他正常部分阻擋了光線，則擷取的影像中對應缺陷處的亮 度便會較四周為高，借此檢測出面板亮點。
[0003] 然而該現(xiàn)有技術在面板表面存在例如微?；驂m埃等異物的情況下，若有光線穿透 面板，所述異物有可能反射光線而導致擷取的圖像映射該異物處亮度也比周圍高，因而造 成誤判。在此情況下，檢測人員無法分辨影像中哪些明亮處是亮點所導致，而哪些明亮處是 因表面存在異物而導致。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明的目的在于提供一種可分辨影像中因表面存在異物而導致的明亮處的面 板亮點檢測方法。
[0005] 本發(fā)明的另一目的在于提供一種可分辨影像中因表面存在異物而導致的明亮處 的面板亮點檢測系統(tǒng)。
[0006] 本發(fā)明面板亮點檢測方法，由一面板亮點檢測系統(tǒng)執(zhí)行，適用于檢測一面板，該系 統(tǒng)包含一取像模塊、一處理模塊、一光源模塊，及一具有一光軸的偏振鏡，該方法包含以下 步驟：
[0007] 該取像模塊擷取一透射影像，該透射影像是該光源模塊發(fā)出的光線在穿透該面板 后被該取像模塊所擷取而形成。
[0008] 該取像模塊擷取一反射影像，該反射影像是該光源模塊發(fā)出的光線在被反射形成 一反射光、該反射光通過該偏振鏡的情況下，被該取像模塊所擷取而形成，該反射光在面板 表面沒有異物的情況下是沿一第一方向偏振的線偏振光，該偏振鏡的該光軸垂直該第一方 向，該反射光在面板表面有異物且經(jīng)該異物反射的情況下是一非偏振光，該非偏振光會部 分通過該偏振鏡。
[0009] 該處理模塊執(zhí)行影像相減，將該透射影像的各畫素值減去該反射影像的各畫素值 而形成一結果影像。
[0010] 較佳地，該方法還包括在擷取反射影像前執(zhí)行的以下步驟：架設該光源模塊、該偏 振鏡及該取像模塊，使得該光源模塊發(fā)出的光線是以布魯斯特角入射該面板，并以相同的 角度反射，還使該偏振鏡及該取像模塊依序位于反射光的路徑上，并使該偏振鏡的該光軸 垂直該第一方向，該取像模塊朝向光線反射處取像，而擷取通過該偏振鏡的反射光。
[0011] 較佳地，該取像模塊是以線掃描的方式取像。
[0012] 較佳地，該方法還包括該處理模塊針對該結果影像，利用圖像處理的方法判斷該 結果影像中亮度較四周為高或亮度值超過一閾值之畫素的位置。
[0013] 本發(fā)明面板亮點檢測系統(tǒng)，適用于檢測一面板，該系統(tǒng)包含：
[0014] 位于該面板兩相反側的一透射光源及一第一取像單元，該透射光源發(fā)出的光線在 穿透該面板后會被該第一取像單元所擷取而形成一透射影像。
[0015] 位于該面板同一側的一反射光源、一第二取像單元，及一設置于該第二取像單元 之前且具有一光軸的偏振鏡，該反射光源發(fā)出的光線是以布魯斯特角入射，并以相同的角 度反射形成一反射光，而該偏振鏡及該第二取像單元依序位于反射光的路徑上，該第二取 像單元朝向該反射光源發(fā)出的光線反射處取像，而擷取通過該偏振鏡的該反射光而形成一 反射影像，該反射光在面板表面沒有異物的情況下是沿一第一方向偏振的線偏振光，該偏 振鏡的該光軸垂直該第一方向，該反射光在面板表面有異物且經(jīng)該異物反射的情況下是一 非偏振光，該非偏振光會部分通過該偏振鏡。
[0016] 一處理模塊，執(zhí)行影像相減，將透射影像的各畫素值減去反射影像的各畫素值而 形成一結果影像。
[0017] 較佳地，該第一取像單元及第二取像單元分別是一線掃描攝影機。
[0018] 較佳地，該處理模塊針對結果影像，利用圖像處理的方法判斷該結果影像中亮度 較四周為高或亮度值超過一閾值之畫素的位置。
[0019] 本發(fā)明的有益效果在于：通過擷取透射影像及反射影像，再借著影像相減，進而能 得到更為精確的亮點缺陷所在的位置，減少誤檢的機率，故確實能達成本發(fā)明的目的。
【附圖說明】
[0020] 圖1是一系統(tǒng)示意圖，說明本發(fā)明面板亮點檢測系統(tǒng)的一較佳實施例；
[0021] 圖2是一流程示意圖，說明本發(fā)明面板亮點檢測方法的一較佳實施例；
[0022] 圖3是一系統(tǒng)局部示意圖，說明該較佳實施例擷取透射影像；
[0023] 圖4是一影像示意圖，說明該較佳實施例所擷取的透射影像；
[0024] 圖5是一系統(tǒng)局部示意圖，說明該較佳實施例擷取反射影像；
[0025] 圖6是一系統(tǒng)局部示意圖，說明該較佳實施例在取像的位置有異物的情況下擷取 反射影像；
[0026] 圖7是一影像示意圖，說明該較佳實施例所擷取的有亮點畫素的反射影像；及
[0027] 圖8是一影像示意圖，說明該較佳實施例進行影像相減后的結果。
【具體實施方式】
[0028] 下面結合附圖及實施例對本發(fā)明進行詳細說明。
[0029] 參閱圖1，本發(fā)明面板亮點檢測方法之較佳實施例，由一面板亮點檢測系統(tǒng)1執(zhí) 行，適用于檢測一面板2。該面板亮點檢測系統(tǒng)1包含相連接的一取像模塊11及一處理模 塊12、一光源模塊13,及一偏振鏡14。該光源模塊13包括一透射光源131及一反射光源 132,該取像模塊11包括一配合該透射光源131的第一取像單元111及一配合該反射光源 132的第二取像單元112,第一取像單元111及第二取像單元112分別是一具有一感光耦合 元件及一鏡頭的線掃描攝影機，均是以線掃描方式取像。該偏振鏡14設置于該第二取像單 元112之前。該面板2放置在一例如是一輸送帶的載具3上，但該載具3預留有可讓光線 通過的部分(未圖示)。參閱圖2、3,該方法包含以下步驟：
[0030] 步驟Sl -該第一取像單元111擷取一透射影像。該透射光源131、面板2,及第一 取像單元111的位置概呈一直線，該透射光源131及第一取像單元111位于面板2的兩相 反側，使得透射光源131發(fā)出的光線在穿透該面板2后被會被該第一取像單元111所擷取 而形成該透射影像。
[0031] 該面板2理想上會阻擋光線通過，但如先前技術所述，若是擷取到的透射影像有 部分明亮處，則可能是亮點缺陷21或異物22所造成。舉例來說，在本步驟所取得的透射影 像如圖4,該透射影像中有三組亮點畫素？11112、？13，每組亮點畫素代表(通常為多個）相 鄰的亮度較四周為高的畫素，或是亮度值超過一閾值的畫素。
[0032] 參閱圖2、5,以下說明步驟S20及S2,需說明的是，步驟Sl與S2并不需以特定的 順序執(zhí)行，只要在兩者均執(zhí)行后再進入步驟S3即可，而步驟S20只要在步驟S2之前執(zhí)行即 可。
[0033] 步驟S20 -架設反射光源132、該偏振鏡14及第二取像單元112。反射光源132 與第二取像單元112位于面板2的同一側，反射光源132是被設置使得發(fā)出的光線以布魯 斯特角（Brewster' sangle) θ B入射該面板2,并以相同的角度θ