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      自電容觸控面板的缺陷檢測裝置及其檢測方法

      文檔序號:9472448閱讀:378來源:國知局
      自電容觸控面板的缺陷檢測裝置及其檢測方法
      【技術領域】
      [0001]本發(fā)明涉及顯示技術領域,尤其涉及一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置,還涉及一種采用該缺陷檢測裝置的檢測方法。
      【背景技術】
      [0002]隨著顯示技術的飛速發(fā)展,觸摸屏已經逐漸遍及人們的生活中。目前,內嵌式觸摸屏(In Cell Touch Panel)能夠將觸控部件內嵌至顯示屏內部,這既可以減薄模組整體的厚度,又可以大大降低觸摸屏的制作成本。因此內嵌式觸摸屏受到了各大面板廠商的青睞,同時內嵌式觸摸屏的檢測方式也成為研究的熱點。
      [0003]針對現(xiàn)有技術中的自電容式內嵌式觸摸屏,通常將可操作區(qū)(AA, Active Area)內的公共電極分成小區(qū)塊作為觸控電極。每個觸控電極都通過感測信號線(即Rx信號線)連接到觸控電路輸出端的引腳。在顯示階段,觸控電路通過Rx信號線向每個觸控電極寫入公共電極電壓。目前連接觸控電極的Rx信號線都是貫穿AA區(qū)的,在制程中會發(fā)生Rx信號線與非對應觸控電極的公共電極短路的情況?,F(xiàn)有技術中一般采用圖1所示的自電容觸控面板的缺陷檢測裝置來檢測上述短路情況。
      [0004]參照圖1,在現(xiàn)有的檢測裝置中,奇數(shù)列的Rx連接到TPDO數(shù)據(jù)線,偶數(shù)列的Rx信號線連接到TPDE數(shù)據(jù)線。在檢測時,首先通過控制TFT開關器件(由TPSW信號線控制各個TFT開關器件20的導通與關閉)來向奇、偶數(shù)列Rx信號線對應的觸控電極寫入不同電位,然后通過觀察顯示畫面來檢測是否存在Rx信號線與公共電極短路的情況。例如,檢測時首先向奇數(shù)列Rx信號線對應的觸控電極寫入4.5V電位,向偶數(shù)列Rx信號線對應的觸控電極寫入OV電位,向AA區(qū)所有的數(shù)據(jù)線寫入4.5V的信號。這樣奇數(shù)列Rx信號線對應的觸控電極區(qū)塊10應顯示黑色畫面,偶數(shù)列Rx信號線對應的觸控電極區(qū)塊10應顯示白色畫面。然后觀察顯示效果,如果有觸控電極區(qū)塊10未按預期畫面顯示,則說明此區(qū)塊的公共電極與某一級的Rx信號線發(fā)生短路。
      [0005]可見,上述檢測裝置的缺陷在于:該裝置只能檢測奇數(shù)列與偶數(shù)列之間的短路情況,而無法檢測具體是哪一根Rx信號線與公共電極發(fā)生了短路。

      【發(fā)明內容】

      [0006]本發(fā)明所要解決的技術問題是:現(xiàn)有技術中的自電容觸控面板的缺陷檢測裝置只能檢測奇數(shù)列與偶數(shù)列之間的短路情況,而無法檢測具體是哪一根Rx信號線與公共電極發(fā)生了短路。
      [0007]為了解決上述技術問題,本發(fā)明提供了一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置及其檢測方法。
      [0008]根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供了一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置,其設置有與多行觸控電極分別一一對應連接的多個驅動電路,所述驅動電路包括由順次串聯(lián)的鎖存同步單元、截止單元和輸出單元構成的主充電控制路徑、以及由彼此連接的預充單元和所述輸出單元構成的輔充電控制路徑,其中:
      [0009]所述預充單元,設置為產生為各觸控電極同時預置第一電壓的第一充電控制信號;
      [0010]所述鎖存同步單元,設置為存儲用于逐行啟動各驅動電路的觸發(fā)信號,并產生為各觸控電極逐行施加第二電壓的第二充電控制信號;
      [0011]所述輸出單元,設置為受控于所述第一充電控制信號來向所述觸控電極輸出所述第一電壓,受控于所述第二充電控制信號來向所述觸控電極輸出所述第二電壓;
      [0012]所述截止單元,設置為根據(jù)各行觸控電極所具有的電壓,控制位于該行觸控電極前面一行的觸控電極所對應的驅動電路的主充電控制路徑的開啟與關閉;
      [0013]并且,所述鎖存同步單元包括第一開關元件、第二開關元件、第一反相器、第二反相器和第三反相器,所述第一開關元件和所述第二開關元件均受控于同一時鐘信號,所述第一開關元件的輸入端連接觸發(fā)信號輸入端,所述第一開關元件的輸出端同時連接所述第一反相器的輸入端和第二反相器的輸出端,所述第一反相器的輸出端、所述第二反相器的輸入端和第三反相器的輸入端均連接所述第二開關元件的輸入端,所述第二開關元件的輸出端和所述第三反相器的輸出端均連接所述截止單元的輸入端;所述第一開關元件處于導通/截止狀態(tài)時,所述第二開關元件處于截止/導通狀態(tài)。
      [0014]優(yōu)選的是,所述第一開關元件為PMOS晶體管,且所述第二開關元件為NMOS晶體管;或者
      [0015]所述第一開關元件為NMOS晶體管,且所述第二開關元件為PMOS晶體管。
      [0016]優(yōu)選的是,當前一行觸控電極對應的驅動電路的鎖存同步單元的輸出端連接后面一行觸控電極對應的驅動電路的鎖存同步單元的輸入端。
      [0017]優(yōu)選的是,所述截止單元包括第三開關元件;當前一行觸控電極對應的驅動電路的輸出單元的輸出端連接前面一行觸控電極對應的驅動電路的截止單元的第三開關元件的控制端。
      [0018]優(yōu)選的是,所述主充電控制路徑通過所述第一電壓開啟,并通過所述第二電壓關閉。
      [0019]優(yōu)選的是,所述預充單元包括第四開關元件,其控制端連接初始控制信號輸入端,其輸入端連接初始觸發(fā)信號輸入端,其輸出端連接所述輸出單元的輸入端。
      [0020]優(yōu)選的是,所述輸出單元包括第四反相器、第五反相器和信號傳輸門,所述截止單元的輸出端通過所述第四反相器和所述第五反相器連接所述信號傳輸門的控制端,所述信號傳輸門的輸入端連接觸控信號輸入端,所述信號傳輸門的輸出端連接觸控電極。
      [0021]根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種采用如上述自電容觸控面板的缺陷檢測裝置的檢測方法,其包括:
      [0022]將所述自電容觸控面板區(qū)域內的各像素電極充電到第三電壓;
      [0023]利用所述預充單元將各觸控電極同時充電到第一電壓,以開啟各觸控電極對應的驅動電路的主充電控制路徑;
      [0024]利用所述鎖存同步單元將各觸控電極逐行充電到第二電壓;
      [0025]根據(jù)各行觸控電極區(qū)塊所對應的顯示畫面來判斷是否存在短路缺陷。
      [0026]優(yōu)選的是,根據(jù)各行觸控電極區(qū)塊所對應的顯示畫面來判斷是否存在短路缺陷,包括:
      [0027]當某行觸控電極區(qū)塊所對應的測試畫面未顯示預設的畫面時,則確定該行觸控電極與其前面至少一行和/或后面一行觸控電極之間存在短路缺陷。
      [0028]優(yōu)選的是,所述第三電壓等于所述第一電壓。
      [0029]與現(xiàn)有技術相比,上述方案中的一個或多個實施例可以具有如下優(yōu)點或有益效果:
      [0030]本發(fā)明能夠進一步檢測出存在于觸控電極矩陣中各行觸控電極之間的短路缺陷的情況,且該裝置結構簡單,可靠性高。
      [0031]本發(fā)明的其他優(yōu)點、目標,和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進行闡述,并且在某種程度上,基于對下文的考察研究對本領域技術人員而言將是顯而易見的,或者可以從本發(fā)明的實踐中得到教導。本發(fā)明的目標和其他優(yōu)點可以通過下面的說明書,權利要求書,以及附圖中所特別指出的結構來實現(xiàn)和獲得。
      【附圖說明】
      [0032]附圖用來提供對本申請的技術方案或現(xiàn)有技術的進一步理解,并且構成說明書的一部分。其中,表達本申請實施例的附圖與本申請的實施例一起用于解釋本申請的技術方案,但并不構成對本申請技術方案的限制。
      [0033]圖1示出了現(xiàn)有技術中自電容觸控面板的缺陷檢測裝置的示意圖;
      [0034]圖2示出了本發(fā)明實施例自電容觸控面板的缺陷檢測裝置的示意圖;
      [0035]圖3示出了圖2中的局部區(qū)域S的放大示意圖;
      [0036]圖4示出了本發(fā)明實施例中驅動電路的原理方框圖;
      [0037]圖5示出了本發(fā)明實施例中驅動電路的電路示意圖;
      [0038]圖6示出了本發(fā)明實施例缺陷檢測裝置的檢測時序圖;以及
      [0039]圖7示出了采用本發(fā)明實施例缺陷檢測裝置的檢測方法的流程示意圖。
      【具體實施方式】
      [0040]以下將結合附圖及實施例來詳細說明本發(fā)明的實施方式,借此對本發(fā)明如何應用技術手段來解決技術問題,并達成相應技術效果的實現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實施。本申請實施例以及實施例中的各個特征,在不相沖突前提下可以相互結合,所形成的技術方案均在本發(fā)明的保護范圍之內。
      [0041]本發(fā)明所要解決的技術問題是:現(xiàn)有技術中的自電容觸控面板的缺陷檢測裝置只能檢測奇數(shù)列與偶數(shù)列之間的短路情況,而無法檢測具體是哪一根Rx信號線與公共電極發(fā)生了短路。為解決上述技術問題,本發(fā)明實施例提供了一種自電容觸控面板的缺陷檢測
      目.ο
      [0042]參照圖2至圖6,本發(fā)明自電容觸控面板的缺陷檢測裝置包含設置在觸控電極矩陣40的邊緣
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