專利名稱：一種自動(dòng)化瑕疵檢測方法與設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及到一種自動(dòng)化瑕疵檢測方法與設(shè)備，特別指一種運(yùn)用影像攝取 裝置及具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件的中央處理單元，對一待測顯示器進(jìn) 行圖像校正及瑕疵分析與判定的方法與設(shè)備。
背景技術(shù)：
薄型顯示器的成品由顯示材料、玻璃基材及背光模塊等所多種材料及結(jié)構(gòu) 貼合而成，制造薄型液晶顯示裝置的流程非常復(fù)雜，通?？筛欧譃槿齻€(gè)階段，
依序?yàn)榫仃嚵鞒?array process )、面板組裝流程(cell process )以及模塊組裝流 程(module assembly process )。簡單來說，數(shù)組流程會在一玻璃機(jī)板上形成一 薄膜晶體管矩陣。面板流程是將一彩色濾光片基板與矩陣流程所完成的薄膜晶 體管基板貼合，并于其內(nèi)灌入液晶材料。而模塊組裝流程是將面板組裝流程所 完成的面板模塊與其它如背光模塊(backlightmodule)、驅(qū)動(dòng)電路以及外框等多 種零件進(jìn)行組裝。由于薄型液晶顯示裝置是一項(xiàng)極精密的高科技產(chǎn)業(yè)，而且制 造廠商的資本投資龐大，因此，對于產(chǎn)品的不良率非常重視，所以，在目前大 部分的流程中，都已具有一定的標(biāo)準(zhǔn)，但是，仍難避免各種瑕疵發(fā)生。
對于薄型顯示器而言，顯像上的質(zhì)量瑕疵，一般可依據(jù)瑕疵的面積與形狀 分為三類，包括點(diǎn)缺陷、線缺陷及面缺陷。早期的圖像質(zhì)量檢測，主要由人力 以目視方式判斷進(jìn)行，而目視檢測的質(zhì)量管理，不僅速度緩慢，且易因人而異， 產(chǎn)生誤判或是標(biāo)準(zhǔn)不一的情形，致使出廠產(chǎn)品的質(zhì)量受到影響。
為解決上述問題，自動(dòng)化檢測設(shè)備就應(yīng)運(yùn)而生，自動(dòng)化檢測設(shè)備可以大幅 提升液晶顯示裝置的圖像質(zhì)量檢測效率。
圖1為一現(xiàn)有的圖像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備的構(gòu)造圖，如圖所示， 一圖像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備l包括一對平行且對稱的跨架導(dǎo)軌20、 一基板30、距離檢測器 31、 CCD ( Charge Coupled Device 電荷耦合器件)攝像裝置32、 一調(diào)整機(jī)構(gòu) 組40以及一中控系統(tǒng)(圖未示)；距離檢測器31、 CCD攝像裝置32及調(diào)整機(jī) 構(gòu)40裝設(shè)在基板30上，而基板30跨接于導(dǎo)軌20之間，并可在導(dǎo)軌20所設(shè)定 的路徑上滑移，由此使距離檢測器31接近一待測物(圖未示)，并將所檢測到 的其與待測物間的距離、位置或角度偏移值，傳送到中控系統(tǒng)，經(jīng)由中控系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)調(diào)整機(jī)構(gòu)40，使基板30獲得補(bǔ)償，并對正待測物以利CCD攝像裝置32 攝取正確的4全測畫面。
圖2為上述圖像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備裝設(shè)在生產(chǎn)線的示意圖，如圖所示，圖 像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備1,透過基座IO跨設(shè)在生產(chǎn)在線的一產(chǎn)品輸送軌道11上， 軌道上承載一待測液晶顯示模塊12,當(dāng)待測液晶顯示模塊12通過該圖像質(zhì)量 檢測設(shè)備l時(shí)，需啟動(dòng)距離檢測器31后，經(jīng)由調(diào)整機(jī)構(gòu)40,調(diào)整并定位該待 測液晶顯示模塊12與圖像質(zhì)量檢測設(shè)備1的距離、位置與角度，再進(jìn)行CCD 攝像裝置32攝取;險(xiǎn)測畫面的作業(yè)。
上述檢測流程，因需經(jīng)過調(diào)整機(jī)構(gòu)對檢測設(shè)備修正與待測物的距離及角度， 往往影響了生產(chǎn)線速度，造成時(shí)間及成本上的不經(jīng)濟(jì)，而且無論利用機(jī)械、電 子或是雷射的調(diào)整機(jī)構(gòu)，均使檢測設(shè)備本身變得復(fù)雜，使得購置及維修成本增 加，有鑒于此，針對于薄型顯示器的瑕疵，有必要提出一種簡單又精準(zhǔn)的方法 與設(shè)備，方便制造廠商，對產(chǎn)品進(jìn)行瑕瘋檢測與判定，以有效達(dá)成提升生產(chǎn)線 效率及降低成本的目的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種自動(dòng)化瑕瘋檢測方法與設(shè)備，旨在解決現(xiàn)有技 術(shù)中存在的顯示器瑕疵檢測設(shè)備效率不高，成本過高的問題。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的， 一種自動(dòng)化瑕疵檢測方法，所述的方法包括如下步
驟
5(1)安裝一 自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備于顯示器的生產(chǎn)線上；
(2 )調(diào)整所述自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備與待測顯示器至一適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x；
(3)提供一影像攝取裝置，取得所述待測顯示器至少一初始顯示圖像，并
傳送至具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件的中央處理單元；
(4 )通過所述中央處理單元，將所述初始顯示圖#^奮正為 一正確的顯示圖
像；以及
(5 )利用所述中央處理單元，對所述正確的顯示圖像進(jìn)行瑕疵分析與判定。 所述的待測顯示器為液晶顯示器或者等離子顯示器。
所述的方法還包括對所述影像攝取裝置進(jìn)行初始化設(shè)定以及使所述影像 攝取裝置與所述待測物體進(jìn)行相對位置校正。
所述的方法還包括啟動(dòng)所述中央處理單元的圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件。
本發(fā)明還提供了 一種自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備，用來對待測顯示器進(jìn)行圖像瑕 瘋檢測，所述的檢測設(shè)備包括 一^夸架運(yùn)動(dòng)纟幾構(gòu)；
一驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置安裝于所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)；
一滑桿，跨接于所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)并與所述驅(qū)動(dòng)裝置相連結(jié)，所述滑
竿根據(jù)所述驅(qū)動(dòng)裝置的作用在所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上滑移；
至少一影像攝取裝置，安裝于所述滑桿上，用以攝取所述待測顯示器 的顯示圖像；以及
一中央處理單元，電性連接于所述影像攝取裝置，所述中央處理單元 具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件，用來修正所述待測顯示器的顯示圖像，并 用來對其進(jìn)行瑕疵分析及判定。
所述檢測設(shè)備還包括一機(jī)構(gòu)平臺，用以承載所述的檢測設(shè)備。 所述機(jī)構(gòu)平臺還包括一位移調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述位移調(diào)整機(jī)構(gòu)連結(jié)于所述檢測 設(shè)備，用來對所述檢測設(shè)備進(jìn)行平移調(diào)整。
6所述的位移調(diào)整機(jī)構(gòu)為 一手動(dòng)式調(diào)整機(jī)構(gòu)。
所述驅(qū)動(dòng)裝置包括一電控單元，用來控制所述驅(qū)動(dòng)裝置的作動(dòng)和開關(guān)。
所述滑桿在所述3夸架運(yùn)動(dòng);K構(gòu)的滑移為垂直軸向滑移。 所述影像攝取裝置在所述滑桿上位移調(diào)整。 所述影像攝取裝置為CCD攝像裝置。 所述中央處理單元為 一 工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案，利用簡單的檢測方法與設(shè)備，可正確而快速地判 別待測顯示器的瑕瘋位置與瑕瘋種類，提高了生產(chǎn)效率，降低了成本。


圖1是現(xiàn)有的圖像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備構(gòu)造圖2是圖1所示的圖像質(zhì)量自動(dòng)檢測設(shè)備裝設(shè)在生產(chǎn)線的示意圖
圖3是為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備的應(yīng)用配置示意圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕疵檢測方法流程圖。
具體實(shí)施例方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí) 施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅 僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
請參閱圖3，為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備結(jié)構(gòu)圖。如 圖3所示，該自動(dòng)化瑕瘋檢測設(shè)備300包括一機(jī)構(gòu)平臺310、 一檢測設(shè)備本體 320、 一跨接運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)330、 一滑桿340、 一組CCD影像攝取裝置350、 一驅(qū)動(dòng) 裝置(圖未示)以及一組工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(圖未示)。構(gòu)330上，并與上述驅(qū)動(dòng)裝置相連接，而驅(qū)動(dòng)裝置受一電控系統(tǒng)(圖未示)控 制，利用該電控系統(tǒng)可使驅(qū)動(dòng)裝置運(yùn)動(dòng)，進(jìn)而帶動(dòng)滑桿340于跨接運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)330 的軸向方向進(jìn)行滑移，從而調(diào)整該CCD影像攝取裝置350在垂直方向的位置。
上述跨接運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)330、滑桿340、 CCD影像攝取裝置350以及驅(qū)動(dòng)裝置， 一同被安裝在檢測設(shè)備本體320上，成為檢測設(shè)備本體320的主要構(gòu)件，該檢 測設(shè)備本體320架設(shè)在機(jī)構(gòu)平臺310上，并連結(jié)該機(jī)構(gòu)平臺310所包括的一手 動(dòng)式調(diào)整機(jī)構(gòu)315,利用手動(dòng)式調(diào)整機(jī)構(gòu)315,可對上述的檢測設(shè)備320進(jìn)行水 平方向的位移動(dòng)作。
請參閱圖4,為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備的應(yīng)用配置 示意圖。當(dāng)進(jìn)行一待測顯示器400的顯像瑕瘋檢測時(shí)，先將機(jī)構(gòu)平臺310推移 至生產(chǎn)線適當(dāng)位置，利用手動(dòng)式調(diào)整機(jī)構(gòu)315將檢測設(shè)備本體320與待測顯示 器400的工作距離調(diào)整適當(dāng)，經(jīng)由驅(qū)動(dòng)裝置360帶動(dòng)滑桿340上的CCD影像攝 取裝置350,并對CCD影像攝取裝置350在滑桿上的位置進(jìn)行適當(dāng)?shù)恼{(diào)整，使 CCD影像攝取裝置350得以對待測顯示器400進(jìn)行檢測所需的顯示圖像的攝取; 然后，將所攝取的初始圖像401傳輸至與CCD影像攝取裝置350電性連接的工 業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370，利用該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370內(nèi)置的圖像處理及補(bǔ)償校正功能 軟件，對所攝取的初始圖像加以修正后，取得正確的顯示圖像402,再進(jìn)行圖 像瑕瘋的分析與判定。
對應(yīng)上述的自動(dòng)化瑕瘋檢測設(shè)備，本發(fā)明相應(yīng)的提供一種自動(dòng)化瑕瘋檢測 方法，請參閱圖5，為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自動(dòng)化瑕瘋檢測方法流程圖。
如步驟810及步驟820所示，將一 自動(dòng)化瑕瘋檢測設(shè)備300安裝于一顯示 器的生產(chǎn)線上；調(diào)整自動(dòng)化瑕瘋檢測設(shè)備300與待測顯示器400至一適當(dāng)?shù)墓?作距離；繼而如步驟830以及步驟840,提供一 CCD影傳4聶取裝置350,對CCD 影像攝取裝置350進(jìn)行初始化設(shè)定以及使CCD影像攝取裝置350與待測顯示器 400進(jìn)行相對位置校正；再如步驟850及步驟860所示，利用CCD影像攝取裝 置350,取得待測顯示器400的初始顯示圖像，并將其傳送至具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件的工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370;然后，如步驟860所示，啟動(dòng)工 業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370的圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件；之后，如步驟870所示， 通過工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370，將初始顯示圖像修正為正確顯示圖像；最后，如 步驟880所示，經(jīng)由工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)370,對正確的顯示圖像402進(jìn)行瑕疵 分析與判定。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案，除了可以用來對液晶顯示器進(jìn)行瑕疵檢測，對其 他的薄型顯示器，如等離子顯示器等，也可以進(jìn)行檢測，此不贅述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā) 明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明 的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1. 一種自動(dòng)化瑕疵檢測方法，其特征在于，所述的方法包括如下步驟(1)安裝一自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備于顯示器的生產(chǎn)線上；(2)調(diào)整所述自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備與待測顯示器至一適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x；(3)提供一影像攝取裝置，取得所述待測顯示器至少一初始顯示圖像，并傳送至具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件的中央處理單元；(4)通過所述中央處理單元，將所述初始顯示圖像修正為一正確的顯示圖像；以及(5)利用所述中央處理單元，對所述正確的顯示圖像進(jìn)行瑕疵分析與判定。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的待測顯示器為液晶顯 示器或者等離子顯示器。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法還包括對所述 圖像攝取裝置進(jìn)行初始化設(shè)定以及使所述影像攝取裝置與所述待測物體進(jìn)行相 對位置校正。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法還包括啟動(dòng)所 述中央處理單元的圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件。
5. —種自動(dòng)化瑕瘋檢測設(shè)備，用來對待測顯示器進(jìn)行圖像瑕瘋檢測，其特 征在于，所述的檢測設(shè)備包括一5夸架運(yùn)動(dòng)一幾構(gòu)；一驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置安裝于所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)；一滑桿，跨接于所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)并與所述驅(qū)動(dòng)裝置相連結(jié)，所述滑 竿根據(jù)所述驅(qū)動(dòng)裝置的作用在所述跨架運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上滑移；至少一影像攝取裝置，安裝于所述滑桿上，用以攝取所述待測顯示器 的顯示圖像；以及一中央處理單元，電性連接于所述影像攝取裝置，所述中央處理單元 具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件，用來修正所述待測顯示器的顯示圖像，并用來對其進(jìn)行瑕疵分析及判定。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測設(shè)備還包括一 機(jī)構(gòu)平臺，用以承載所述的檢測設(shè)備。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述機(jī)構(gòu)平臺還包括 一位移調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述位移調(diào)整機(jī)構(gòu)連結(jié)于所述4全測設(shè)備，用來對所述檢測設(shè) 備進(jìn)行平移調(diào)整。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述的位移調(diào)整機(jī)構(gòu)為一手動(dòng)式調(diào)整機(jī)構(gòu)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括一 電控單元，用來控制所述驅(qū)動(dòng)裝置的作動(dòng)和開關(guān)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述滑桿在所述跨架 運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑移為垂直軸向滑移。
11. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述影像攝取裝置在 所述滑桿上位移調(diào)整。
12. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述影像攝取裝置為 CCD攝像裝置。
13. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測設(shè)備，其特征在于，所述中央處理單元為 一工業(yè)用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種自動(dòng)化瑕疵檢測的設(shè)備與方法，所述的方法包括如下步驟(1)安裝一自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備于顯示器的生產(chǎn)線上；(2)調(diào)整所述自動(dòng)化瑕疵檢測設(shè)備與待測顯示器至一適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x；(3)提供一影像攝取裝置，取得所述待測顯示器至少一初始顯示圖像，并傳送至具有圖像處理及補(bǔ)償校正功能軟件的中央處理單元；(4)通過所述中央處理單元，將所述初始顯示圖像修正為一正確的顯示圖像；以及，(5)利用所述中央處理單元，對所述正確的顯示圖像進(jìn)行瑕疵分析與判定。本發(fā)明提供的技術(shù)方案，利用簡單的檢測方法與設(shè)備，可正確而快速地判別待測顯示器的瑕疵位置與瑕疵種類，提高了生產(chǎn)效率，降低了成本。
文檔編號G02F1/13GK101482657SQ200810065168
公開日2009年7月15日 申請日期2008年1月8日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月8日
發(fā)明者施昱安, 王嘉村, 簡宏達(dá), 羅文期, 薛名凱 申請人:中茂電子(深圳)有限公司