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      透射光顯微鏡和用于透射光顯微鏡檢查的方法_3

      文檔序號:9563720閱讀:來源:國知局
      移管止動件的示圖,以及
      [0057]圖9是用于透射光顯微鏡檢查的方法的框圖。
      【具體實施方式】
      [0058]圖la-c示出了三個不同版本的透射光顯微鏡1,該透射光顯微鏡用于使微量滴定板2在透射光中經(jīng)受顯微鏡檢查。顯微鏡1使用成像光束路徑A在沿著光軸0A的透射光中對微量滴定板2的單獨井4成像。環(huán)狀光源3被提供用于透射光照明,所述光源從待經(jīng)受顯微鏡檢查的微量滴定板2的井4的上方照明。環(huán)狀光源3是照明光束路徑B的一部分,并且將輻射發(fā)射到井4上。能夠照亮井4的底部的光錐被編號為5。使用吸移管的尖端6,試劑被滴入位于井4中的液體8內(nèi)。吸移管的尖端6被引導(dǎo)穿過吸移管進入通道,該吸移管進入通道基本由位于光軸0A上的在環(huán)狀光源3中的開口 7形成。吸移管的尖端從而可以沿著光軸0A插入并且引入試劑,而同時地,物鏡7和照相機10在成像光束路徑中對井4進行成像并且例如還產(chǎn)生了井的底部的放大圖像。
      [0059]圖lb和lc示出了在環(huán)狀光源3的高度可以被調(diào)節(jié)的范圍內(nèi)的圖la的顯微鏡1的可選的發(fā)展例。入射輻射的角度因而改變。根據(jù)環(huán)狀光源的高度,輻射的不同部分進入光錐5中。應(yīng)當(dāng)避免如圖lb的情況,在該情況下,被開口 7確定的區(qū)域太大,由于井4的縱橫比使得沒有光到達井的底部。通過沿著光軸0A移動環(huán)狀光源3,可以確保光到達井的底部并且因而到達樣品。
      [0060]圖2示出了圖la的顯微鏡的發(fā)展例,其中為了清楚起見成像光束路徑A的元件未被示出。聚光器11在照明光束路徑B中布置在環(huán)狀光源3和微量滴定板2之間,所述聚光器具有適于開口 7的孔12。開口 7和孔12因而形成吸移管進入通道,吸移管7的尖端可以被推動穿過吸移管進入通道。同時地,聚光器11使待經(jīng)受顯微鏡檢查的井4的照明均勻。
      [0061]圖3示出了圖2的顯微鏡1的修改例,其中,取代環(huán)狀光源3,照明光束路徑B具有帶有下游物鏡14的通常的光源13,該物鏡14照射偏轉(zhuǎn)鏡15,偏轉(zhuǎn)鏡15沿著光軸0A聯(lián)接照明光束。被照射的偏轉(zhuǎn)鏡15因而承擔(dān)環(huán)狀光源3的功能,與此前類似,該偏轉(zhuǎn)鏡具有開口 7,用于清理出吸移管進入通道。
      [0062]不證自明地,偏轉(zhuǎn)鏡15還能夠在根據(jù)圖la-c的設(shè)計中用作環(huán)狀光源3的替換。
      [0063]唯一必要的是,照明元件(例如環(huán)狀光源3或偏轉(zhuǎn)鏡15)具有用于吸移管進入通道的開口 7。
      [0064]圖4示出了透射光顯微鏡1的另一個實施例。圖4的顯微鏡1同樣地被設(shè)計為使微量滴定板2經(jīng)受顯微鏡檢查。那些對應(yīng)于圖la-c、2或3的顯微鏡元件的元件在圖4中具有相同的附圖標記。
      [0065]試劑的引入和樣品經(jīng)受顯微鏡檢查在圖4的顯微鏡1中按時間進行。為此,顯微鏡1具有塊體16,該塊體具有腔17和通過通道18,該腔用于接收照明光束路徑B的元件。
      [0066]腔17在其下端處具有通路19,照明輻射可以沿著光軸0A被發(fā)射穿過該通路到達待經(jīng)受顯微鏡檢查的微量滴定板2的井4上。例如,用于發(fā)射照明輻射的光源和用于調(diào)節(jié)腔17中的照明輻射的對應(yīng)物鏡(出于簡化的考慮未在圖4中示出)被定位在那里。
      [0067]圖5示意性地示出了沿著線C-C通過塊體16的截面。如圖所示,塊體16可以圍繞旋轉(zhuǎn)軸線20旋轉(zhuǎn)。這是沿著箭頭21的運動。沿著箭頭21的旋轉(zhuǎn)運動是在兩個端位置之間移動塊體16的單一的運動。圖5示出了該兩個端位置中的第一個位置,該第一個位置定位為使得腔17對準具有照明光束路徑B的元件的光軸0A。可理解地,圖5所示僅示出了通路的一點,作為用于光軸0A。
      [0068]旋轉(zhuǎn),即沿著箭頭21的單一的運動,可以替代地移動通過通道18經(jīng)過在那里待經(jīng)受顯微鏡檢查的微量滴定板2和井4。然后,到達兩個端位置中的第二個位置,在第二個位置通過通道18位于光軸0A上,并且試劑可以被引入微量滴定板2的井4中。
      [0069]自然地,塊體16也可以被修改。因而,例如,取代在頂部處關(guān)閉的容納照明光束路徑的元件的腔17,照明通道還可以設(shè)置在塊體16中,并且如果對應(yīng)的偏轉(zhuǎn)鏡在塊體16處設(shè)置在通路19上方,則照明光束路徑的元件可以布置在塊體上方,如果塊體16移動到圖4或5示出的位置中,則只有該偏轉(zhuǎn)鏡接收輻射。
      [0070]另一個修改例包括單一的運動,并非旋轉(zhuǎn)運動,而是線性運動。然后,塊體16在兩個端位置之間移動。
      [0071]圖6和7示出了圖la-c或4的修改例。該修改例包括例如在DE102005033927A1中公開的培養(yǎng)腔22,用于顯示微量滴定板的顯微鏡。培養(yǎng)腔22具有臺部23,微量滴定板2可以在該臺部上沿著箭頭24移動。培養(yǎng)腔22覆蓋有蓋25并且通過橫向樣品保持器28關(guān)閉側(cè)面。微量滴定板2通過臺部23在培養(yǎng)腔中移動或可選地通過移動橫向接收器28而移動。后者的方案的優(yōu)點是,培養(yǎng)空間可以被保持得非常小并且因而僅需要較小的氣體體積和較短的升溫時間。
      [0072]兩個設(shè)計的優(yōu)點在于以下事實,即全部的透射光照明裝置位于培養(yǎng)空間的外側(cè)。本文給出了與DE102005033927A1的差異。結(jié)果,例如所有的電氣元件可以保持在培養(yǎng)腔22的增加的溫度和大氣濕度的區(qū)域的外側(cè)。
      [0073]培養(yǎng)腔22可以與環(huán)狀照明元件(根據(jù)圖la-c的環(huán)狀光源)或者還可以與根據(jù)圖4的顯微鏡一起使用,即按時間順序的吸移和顯微鏡成像。
      [0074]在圖la-c的設(shè)計中,有利的是,蓋25是顯微鏡的一部分并且具有透明部件25a,該透明部件25a終止于吸移管噴嘴26,該吸移管噴嘴沿著光軸0A行進通過環(huán)狀光源(或偏轉(zhuǎn)鏡15)的開口 7并且簡化了吸移管的尖端的插入。蓋25還可以用于進一步密封也在圖7的設(shè)計中的培養(yǎng)空間(當(dāng)然,這是可選的)。蓋25然后具有孔29,如果塊體16在第二端位置處則試劑可以通過該孔引入,通過通道18在該第二端位置處對準光軸0A。
      [0075]圖8示出了吸移管保持器33形式的可選的發(fā)展例,該吸移管保持器33可被用于圖la-c、2和3的設(shè)計中,或者也被用于圖4、5和7的設(shè)計中。在圖4、5和7的變形例中,保持器33位于通過通道18中,在圖la-c、2和3的變形例中,保持器33位于開口 7中。這在圖8中通過附圖標記7/18被圖示。保持器33具有接收器35,該接收器在其底端處逐漸變細進入軸環(huán)30中。軸環(huán)30用作止動件36,用于設(shè)置在吸移管的尖端6處的肩部32。如果吸移管6被推動進入接收器35中,則保持器33因而限定吸移管的尖端6的精確位置。
      [0076]如箭頭34所示,保持器33可以沿著光軸0A被調(diào)節(jié)以適應(yīng)待實施的、如已經(jīng)在說明書的綜述部分所述的吸移管的尖端的各種長度,并且確保吸移管的尖端6的底端37在微量滴定板2的井4中的液體8的液面38以下。
      [0077]本發(fā)明同樣地涉及透射光顯微鏡和用于透射光顯微鏡檢查的方法。對應(yīng)的方法步驟使用控制設(shè)備C可選地被執(zhí)行,該控制設(shè)備通過用于圖4的顯微鏡的示例而被示出,但是該控制設(shè)備也可以被提供用于顯微鏡的其它實施例。
      [0078]塊體16可以沿著表示運動路徑的箭頭21移動,控制控制設(shè)備C,其中塊體16被驅(qū)動機構(gòu)(未示出)驅(qū)動。
      [0079]圖9示意性地示出了用于透射光顯微鏡檢查的方法的框圖,其中保持器33被使用。
      [0080]在步驟S1中,首先關(guān)于吸移管的哪個尖端6被使用的檢查被執(zhí)行。有了該信息,肩部23和吸移管的尖端6的底端27之間的距離被確定。這發(fā)生在步驟S2中。
      [0081]在步驟S3中,關(guān)于需要的樣品平面是否位于物鏡6的焦點處的檢查被執(zhí)行。如果情況就是這樣("+"交叉),則方法跳到步驟S5。如果情況不是這樣("交叉),則首先在步驟S4中對物鏡進行聚焦。
      [0082]在步驟S5中,焦點位置被讀入并且樣品的高度被確定。因為還已知樣品的類型,因而從樣品的該高度,自動知道液面28的高度?,F(xiàn)在,已知底端37和肩部32之間的距離以及液面38,軸環(huán)30和保持器33的預(yù)期高度被計算(S6)。替代地,被用戶預(yù)定的吸移管的尖端在樣品平面上方的高度還可以被用作參數(shù)。然后,
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