專利名稱：運(yùn)行電磁沖擊波源的方法和按該方法運(yùn)行的電磁沖擊波源的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于運(yùn)行電磁沖擊波源的方法。此外，本發(fā)明還涉及一種根據(jù)該方法運(yùn)行的電磁沖擊波源。
背景技術(shù)：
諸如DE4125375公開(kāi)的電磁沖擊波源例如用于粉碎腎臟內(nèi)結(jié)石這樣的體外碎石。在這樣的電磁沖擊波源中，使高壓電容器通過(guò)一個(gè)平面線圈突然放電來(lái)產(chǎn)生沖擊波，在該平面線圈前設(shè)置了一金屬薄膜(通常是鋁薄膜)作為次級(jí)線圈。平面線圈和金屬薄膜通過(guò)置于中間的絕緣薄層相互間電絕緣。通過(guò)兩個(gè)線圈的相互磁排斥，薄膜沖擊地移動(dòng)，并且在相鄰的耦合介質(zhì)中產(chǎn)生平面沖擊波，該沖擊波被一個(gè)聲學(xué)透鏡聚焦在一個(gè)焦點(diǎn)上。
這樣的沖擊波源由于高機(jī)械和電負(fù)載而受到磨損，這種磨損可能導(dǎo)致進(jìn)一步惡化沖擊波的質(zhì)量。這種惡化無(wú)法被使用者直接識(shí)別出，并可能導(dǎo)致治療效果不足。此外，還可能在無(wú)法預(yù)見(jiàn)的時(shí)刻發(fā)生沖擊波源的完全失效。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種用于運(yùn)行沖擊波源的方法，利用該方法可以簡(jiǎn)單地識(shí)別出由于磨損或其它缺陷而導(dǎo)致的沖擊波源特性的惡化。此外，本發(fā)明還要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種根據(jù)該方法運(yùn)行的沖擊波源。
對(duì)于該方法，根據(jù)本發(fā)明，該技術(shù)問(wèn)題是通過(guò)一種用于運(yùn)行電磁沖擊波源的方法解決的。在這種用于運(yùn)行電磁沖擊波源的方法中，通過(guò)使充電電容器經(jīng)線圈放電來(lái)產(chǎn)生聲沖擊波，為了檢查該沖擊波源的狀態(tài)，在放電期間采集并分析該放電過(guò)程。
在此，本發(fā)明基于以下考慮，即放電過(guò)程、即放電的時(shí)間過(guò)程反映了沖擊波源的特性，因此對(duì)該放電過(guò)程的分析可以說(shuō)明沖擊波源的狀態(tài)。
本發(fā)明方法的一個(gè)重要優(yōu)點(diǎn)在于，在每次使用沖擊波源期間可以毫無(wú)問(wèn)題的實(shí)施該方法，從而可以進(jìn)行實(shí)用的持久性監(jiān)控。
優(yōu)選的，在放電期間確定放電過(guò)程的至少一個(gè)參數(shù)，并將該放電過(guò)程的參數(shù)與存儲(chǔ)的參考值進(jìn)行比較。然后根據(jù)該比較結(jié)果，也就是所確定的參數(shù)和存儲(chǔ)的參考值之間的偏差，可以推斷出沖擊波源的狀態(tài)。
在本發(fā)明方法的優(yōu)選實(shí)施方式中，從該放電過(guò)程的至少一個(gè)確定的參數(shù)中推導(dǎo)出放電回路的至少一個(gè)參數(shù)，并將該推導(dǎo)出的參數(shù)與存儲(chǔ)的參考值進(jìn)行比較。這項(xiàng)措施可以直接說(shuō)明沖擊波源的特性，因?yàn)檫@些特性是由形成沖擊波源的放電回路的參數(shù)確定的。
特別是，測(cè)量放電過(guò)程的周期持續(xù)時(shí)間來(lái)作為放電過(guò)程的參數(shù)。周期持續(xù)時(shí)間可以簡(jiǎn)單地測(cè)量，并且該周期持續(xù)時(shí)間與所存儲(chǔ)的參考值之間的偏差是衡量由于磨損導(dǎo)致的沖擊波源特性變化的重要指數(shù)。
在本發(fā)明方法的一個(gè)特別優(yōu)選的實(shí)施方式中，獲得放電回路的電感作為該放電回路的推導(dǎo)的參數(shù)。該電感對(duì)于沖擊波源的狀態(tài)是特別好的判斷依據(jù)。
在本發(fā)明的另一實(shí)施方式中，確定振蕩周期的振幅作為放電過(guò)程的其它參數(shù)。這些振幅也可以利用簡(jiǎn)單的電路直接測(cè)量出，并可以對(duì)沖擊波源的狀態(tài)作出可靠的說(shuō)明。特別是，利用這些振幅和所確定的周期持續(xù)時(shí)間，可以精確計(jì)算放電回路的電感、電容以及歐姆電阻，并由此精確計(jì)算放電回路的所有重要的電參數(shù)。
優(yōu)選的，通過(guò)由多個(gè)確定的或推導(dǎo)出的參數(shù)分別形成統(tǒng)計(jì)參數(shù)，可以提高對(duì)于沖擊波源狀態(tài)的檢查的精度。通過(guò)借助統(tǒng)計(jì)分析獲得的統(tǒng)計(jì)參數(shù)，例如算術(shù)平均值，可以平衡測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)波動(dòng)。
在一優(yōu)選實(shí)施方式中，在首次投入運(yùn)行時(shí)將所存儲(chǔ)的參考值確定為測(cè)量的或推導(dǎo)出的參數(shù)。由此，該參考值與后面測(cè)量的或確定的參數(shù)之間的偏差只能通過(guò)改變沖擊波源的狀態(tài)引起，例如通過(guò)磨損引起。由此因制造引起的差異不會(huì)產(chǎn)生影響。
特別是，為了獲得放電過(guò)程的參數(shù)而采集充電電容器上的放電電壓。這可以特別簡(jiǎn)單地以電路技術(shù)通過(guò)與充電電容器并聯(lián)的電壓分壓電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。
在特別優(yōu)選的實(shí)施方式中，為了測(cè)量或確定放電過(guò)程的參數(shù)而測(cè)量放電電流。這優(yōu)選無(wú)接觸地進(jìn)行，從而簡(jiǎn)化了為此所需的電路的結(jié)構(gòu)，因?yàn)檫@些電路與沖擊波源的高壓回路的電位是分離的。
對(duì)于沖擊波源的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明是通過(guò)一種電磁沖擊波源解決的，其中，通過(guò)經(jīng)線圈對(duì)充電電容器放電產(chǎn)生聲沖擊波，該電磁沖擊波源具有用于為檢查其狀態(tài)而采集和分析該放電過(guò)程的裝置。


為進(jìn)一步解釋本發(fā)明，下面對(duì)附圖所示實(shí)施方式進(jìn)行說(shuō)明。其中示出圖1示出根據(jù)本發(fā)明的沖擊波源的原理圖，圖2是描繪放電電流相對(duì)于時(shí)間的關(guān)系的圖，圖3是同樣以原理圖示出的根據(jù)本發(fā)明的沖擊波源的另一實(shí)施例，圖4是圖3應(yīng)用的分析電路的實(shí)施例，圖5是用于說(shuō)明圖4分析電路功能的流程圖，圖6是適用于根據(jù)本發(fā)明的沖擊波源的分析電路的特別簡(jiǎn)單的實(shí)施方式，圖7是同樣以原理圖示出的根據(jù)本發(fā)明的另一種沖擊波源，圖8是描繪出放電電壓相對(duì)于時(shí)間的關(guān)系的圖，圖9是圖7的實(shí)施例中應(yīng)用的比較電路的實(shí)施方式，圖10是用于說(shuō)明圖9中示出的比較電路功能的流程圖。
具體實(shí)施例方式
在圖1中，以電容C、歐姆電阻R和電感L的串聯(lián)電路的等效電路圖的方式示出電磁沖擊波源2的放電回路。電容量C基本上由與線圈8并聯(lián)的充電電容器4的電容確定。放電回路的電感L基本上由由線圈8(一般是平面線圈)和與該線圈相對(duì)設(shè)置的薄膜6構(gòu)成的執(zhí)行器(Aktuator)的電感確定，如在DE4125375C1中詳細(xì)描述的執(zhí)行器。歐姆電阻R既考慮了高壓電纜的歐姆電阻，又考慮了平面線圈8的歐姆電阻以及薄膜6的感應(yīng)電阻。
通過(guò)閉合開(kāi)關(guān)10，對(duì)充電電容器4進(jìn)行放電，并且在放電回路中流動(dòng)的放電電流I按照衰減的周期性振蕩的形式衰減，直到充電電容器4完全放電為止。利用裝置11采集和分析該放電過(guò)程。該裝置11包括一個(gè)作為測(cè)量值采集器的電去耦器、即與放電回路的高壓電位分離的Rogowski線圈12，該線圈提供一個(gè)與放電電流I成正比的電測(cè)量信號(hào)S，在本實(shí)施例中該信號(hào)是在Rogowski線圈12中感應(yīng)出的電壓。該測(cè)量信號(hào)S被輸入模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器14中，并作為數(shù)字化的測(cè)量信號(hào)DS傳送到分析裝置16，在本實(shí)施例中分析裝置16是計(jì)算機(jī)。在計(jì)算機(jī)中，將該數(shù)字化的測(cè)量信號(hào)DS或者直接逐點(diǎn)地與存儲(chǔ)的參考曲線RS比較，或者為此事先對(duì)該測(cè)量信號(hào)DS進(jìn)行分析，在該分析中確定再現(xiàn)放電過(guò)程的測(cè)量信號(hào)DS的信號(hào)曲線的一個(gè)或多個(gè)參數(shù)K，例如衰減振蕩的周期持續(xù)時(shí)間T，接著將這些參數(shù)分別與對(duì)應(yīng)于該參數(shù)的存儲(chǔ)的參考值RK進(jìn)行比較。這樣，測(cè)量信號(hào)DS或參數(shù)K與存儲(chǔ)的參考信號(hào)RS或參考值RK的偏差就成為對(duì)沖擊波源2的磨損狀態(tài)的一種度量。
通過(guò)對(duì)多個(gè)連續(xù)的放電過(guò)程滑動(dòng)地形成平均值而對(duì)用于比較的數(shù)字化測(cè)量信號(hào)DS或參數(shù)K消除了統(tǒng)計(jì)波動(dòng)。由于放電回路的組件(充電電容器、高壓電纜和實(shí)際的沖擊波頭(執(zhí)行器))可能具有參數(shù)差異(Exemplarstreuung)，因此在新設(shè)備投入使用或現(xiàn)場(chǎng)更換其中一個(gè)組件時(shí)要進(jìn)行訓(xùn)練過(guò)程。在此，通過(guò)在用于該特殊配置的初始化或訓(xùn)練模式中測(cè)量一個(gè)或多個(gè)放電過(guò)程來(lái)采集測(cè)量信號(hào)DS或參數(shù)K，并將它們作為參考信號(hào)RS或參考值RK存儲(chǔ)。
在圖2中繪出放電電流I對(duì)時(shí)間t的關(guān)系。在閉合開(kāi)關(guān)10之后放電以衰減振蕩的形式變化。由正比于放電電流I的測(cè)量信號(hào)S或DS的變化曲線，可以通過(guò)分析數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)或者通過(guò)直接測(cè)量確定參數(shù)K，這些參數(shù)K對(duì)于放電過(guò)程很重要，并由此對(duì)于沖擊波源的狀態(tài)也很重要。這些參數(shù)例如是上升速度(I2-I1)/Δt、第一周期的持續(xù)時(shí)間T以及電流I的第一和第二振幅Imax、Imin。可以將這些參數(shù)在分析電路16(圖1)中直接與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的參考值或額定值進(jìn)行比較。
在該實(shí)施例中，不進(jìn)行這種直接比較，而是在分析電路16中計(jì)算從參數(shù)K中推導(dǎo)出的參數(shù)AK＝R，C，L，這些參數(shù)可直接給出等效電路圖的組件的電參數(shù)(歐姆電阻、電容量、電感)。為此，在分析電路16中實(shí)施如下算法電感L=U0Imax·ω0·exp(-δ·arctanωδω)]]>電容量C=1L·ω02]]>歐姆電阻R＝2·δ·L其中的參數(shù)為ω=2·πT]]>δ=-ln·(-IminImax)·ωπ]]>ω0=ω2+δ2]]>
在此，U0是充電電容器4的充電電壓，該電壓對(duì)每個(gè)放電過(guò)程是已知的。
將這些推導(dǎo)出的參數(shù)AK＝L，C，R分別與對(duì)應(yīng)這些參數(shù)的各存儲(chǔ)的參考值RK進(jìn)行比較。在此，對(duì)這種狀態(tài)監(jiān)控重要的不是所計(jì)算的電感L值與放電回路的電感真實(shí)值一致的絕對(duì)精確，而是這些計(jì)算值的可再現(xiàn)性。
沖擊波頭的狀態(tài)的最有力判據(jù)是電感L。如果可以將C和R的值簡(jiǎn)化為已知并且設(shè)置為常數(shù)，則測(cè)量周期持續(xù)時(shí)間T就足以從中計(jì)算出L。
在圖3的實(shí)施例中，在Rogowski線圈12后連接了信號(hào)處理單元20，該單元可以根據(jù)Rogowski線圈12提供的測(cè)量信號(hào)S直接地、也就是沒(méi)有事先進(jìn)行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換和沒(méi)有計(jì)算機(jī)幫助地確定根據(jù)上述算法計(jì)算的所需參數(shù)K＝Imax、Imin和T，并將這些參數(shù)K作為模擬或數(shù)字信號(hào)提供。所測(cè)量的參數(shù)K被輸入到分析裝置22中，該裝置在模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換級(jí)22a中將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并在計(jì)算級(jí)22b中計(jì)算從這些測(cè)量的參數(shù)中推導(dǎo)出的參數(shù)AK＝L，R，C。將這些參數(shù)在比較裝置22c中與存儲(chǔ)的參考值RK進(jìn)行比較。
根據(jù)圖4，在信號(hào)處理單元20中，利用第一運(yùn)算放大器102和第二運(yùn)算放大器104將Rogowski線圈12提供并作為電壓U施加的測(cè)量信號(hào)S反向(-Uv)和不反向地(Uv)放大，并低電阻地分別傳送到采樣和保持電路106及108。采樣和保持電路106和1 08存儲(chǔ)第二半波的最大值(放電電流的最小值-Uv，min～I(xiàn)min)和第一半波的最大值(放電電流的最大值-Uv，max～I(xiàn)max)。
參考電壓為0V的第一比較器112檢測(cè)不反向放大的測(cè)量信號(hào)Uv的過(guò)零點(diǎn)，并且該第一比較器的輸出端與運(yùn)行控制電路110連接。由于根據(jù)本發(fā)明對(duì)放電曲線的第一齒形施加了干擾，因此在本實(shí)施例中將該曲線的第二和第四過(guò)零點(diǎn)用于確定周期持續(xù)時(shí)間T。只有在確信發(fā)生了放電時(shí)才應(yīng)用參考電壓UT明顯不為0、且輸出端同樣與運(yùn)行控制電路110連接的第二比較器114。
利用計(jì)數(shù)器116確定周期持續(xù)時(shí)間T，該計(jì)數(shù)器的啟動(dòng)和停止輸入端與運(yùn)行控制電路110的控制輸出端110連接。在放電曲線的第二過(guò)零點(diǎn)(從正值到負(fù)值)啟動(dòng)計(jì)數(shù)器116，在第四過(guò)零點(diǎn)(同樣的方向)停止計(jì)數(shù)器116。因此計(jì)數(shù)器狀態(tài)成為周期持續(xù)時(shí)間T的度量?；蛘?，還可以采用模擬構(gòu)造的積分器來(lái)代替計(jì)數(shù)器，該積分器提供測(cè)量的持續(xù)時(shí)間作為電壓值。
為了保證采樣和保持電路106和108只確定特定時(shí)間段內(nèi)的最大值，只在這些時(shí)間間隔內(nèi)通過(guò)運(yùn)行控制電路110提供的釋放信號(hào)EN1和EN2釋放該采樣和保持電路。原則上不需要這樣的釋放電路。
在提供參數(shù)K＝Imin，Imax，T之后，運(yùn)行控制電路110保持為待用，也就是不再輸出其它控制信號(hào)，直到整個(gè)運(yùn)行控制電路110被復(fù)位為止。復(fù)位信號(hào)R可以由信號(hào)“HV-開(kāi)”信號(hào)導(dǎo)出。在與充電部件的接口中提供了該信號(hào)“HV-開(kāi)”，利用該充電部件對(duì)充電電容器進(jìn)行充電。在復(fù)位時(shí)，對(duì)采樣和保持電路106和108的存儲(chǔ)電容器放電，將計(jì)數(shù)器116或積分器設(shè)置為0，將運(yùn)行控制電路110設(shè)置到初始狀態(tài)。
圖5示出在運(yùn)行控制電路110中處理的信號(hào)的時(shí)間變化過(guò)程，并借助下表進(jìn)行說(shuō)明


對(duì)于UT選擇一個(gè)明顯大于測(cè)量信號(hào)中的噪聲、但保證小于最小能量級(jí)時(shí)的期望最大值的電壓值，例如在最小能量級(jí)時(shí)的期望最大值的一半。
電感L的值也可以根據(jù)測(cè)量信號(hào)S～I(xiàn)的初始斜率來(lái)計(jì)算。為此只需要一個(gè)顯著簡(jiǎn)化的分析電路，該分析電路包含兩個(gè)具有兩個(gè)不同參考值I1和I2的比較器。該比較器啟動(dòng)和停止計(jì)數(shù)器電路，以確定這兩個(gè)結(jié)果之間的時(shí)間間隔Δt。從中獲得測(cè)量信號(hào)S或放電電流I的初始斜率。如果在其中進(jìn)行測(cè)量的時(shí)間間隔位于一個(gè)其上限遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于周期持續(xù)時(shí)間T的時(shí)間窗內(nèi)(為此參見(jiàn)圖2)，則該初始斜率與電感L成反比(L＝U0Δt/(I2-I1))。
如果假定電阻R為常數(shù)并已知，為了計(jì)算電感L只需測(cè)量電流最大值Imax以及該電流最大值的時(shí)間導(dǎo)數(shù)的最大值(dI/dt)max，該時(shí)間導(dǎo)數(shù)可以通過(guò)圖6中非常簡(jiǎn)單的電路獲得。為此，必要時(shí)放大的測(cè)量信號(hào)Uv可直接輸入第一采樣和保持電路120，并通過(guò)高通濾波器122輸入第二采樣和保持電路124，在這兩個(gè)采樣和保持電路的輸出端分別提供與電流最大值Imax和時(shí)間導(dǎo)數(shù)的最大值(dI/dt)max成正比的測(cè)量信號(hào)。
如果充電電容器的電容量C已知，并且假定放電回路的歐姆電阻為常數(shù)，則為了檢測(cè)電感L的變化只需在放電時(shí)測(cè)量電流最大值Imax。充電電容器的電容量C可以利用充電期間的(已知)充電電流和電壓增量獲得。
在根據(jù)圖7的另一種實(shí)施方式中，作為測(cè)量值采集器設(shè)置了與充電電容器4并聯(lián)的電壓分壓器40，利用該電壓分壓器40采集充電電容器4上的充電電壓U。該充電電壓U在后面連接的裝置11中被進(jìn)一步處理，該裝置11和圖1實(shí)施例中的一樣也可以由模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器和連接在后面的計(jì)算機(jī)組成。在這種情況下，也可以根據(jù)測(cè)量信號(hào)S的變化曲線，或者通過(guò)分析數(shù)字測(cè)量值或者通過(guò)直接測(cè)量來(lái)采集那些對(duì)放電過(guò)程很重要并由此對(duì)沖擊波源狀態(tài)很重要的參數(shù)。
在根據(jù)圖7的實(shí)施例中，與根據(jù)圖3的實(shí)施例類似地設(shè)置了信號(hào)處理單元200，該信號(hào)處理單元200在其輸出端提供周期持續(xù)時(shí)間T和電壓U的第一最小值Umin作為該電壓U的信號(hào)變化的參數(shù)，根據(jù)這些參數(shù)在計(jì)算機(jī)202中獲得導(dǎo)出的參數(shù)AK。
在根據(jù)圖8的圖中，繪出放電電壓的最大值Umax(＝U0(通過(guò)高壓源預(yù)先給定))和最小值Umin以及周期持續(xù)時(shí)間T作為對(duì)沖擊波源的狀態(tài)很重要的放電曲線參數(shù)。這些參數(shù)可以在計(jì)算機(jī)202(圖7)中直接與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)的參考值進(jìn)行比較。
在該實(shí)施例中，也可以在分析裝置中根據(jù)參數(shù)K＝Umin，T，Umax計(jì)算推導(dǎo)出的參數(shù)AK＝R，C，L，后者可以直接給出等效電路圖組件的電參數(shù)(歐姆電阻、電容量、電感)。為此，在分析裝置中實(shí)施以下算法電感L=1C·ω02]]>歐姆電阻R＝2·δ·L其中的參數(shù)為ω=2·πT]]>δ=-ln·(-UminUmax)·ωπ]]>ω0=ω2+δ2]]>對(duì)充電電容器4的充電以恒定的充電電流i進(jìn)行。對(duì)電壓U和充電電流i進(jìn)行測(cè)量。根據(jù)在時(shí)間間隔Δt內(nèi)的電壓增量ΔU可以如下計(jì)算電容量CC=i·ΔtΔU.]]>根據(jù)圖9，借助第一和第二運(yùn)算放大器206和208將來(lái)自電壓分壓器的信號(hào)(與充電電容器的電壓成正比)分別進(jìn)行反向和不反向的放大，并低阻值地傳送到連接于后面的處理級(jí)。反向信號(hào)輸入到采樣和保持電路210。該電路210存儲(chǔ)第二半波的最大值Umin(電壓的最小值)。不反向的信號(hào)輸出到兩個(gè)比較器212、214。
只有在確信發(fā)生了放電時(shí)，參考電壓(UT)明顯不為0的第一比較器212才進(jìn)行運(yùn)行控制。
第二比較器214(參考電壓0V)檢測(cè)信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)。與圖4的實(shí)施例類似，同樣用計(jì)數(shù)器216來(lái)確定周期持續(xù)時(shí)間T?；蛘?，在該實(shí)施例中也可以用模擬構(gòu)造的積分器來(lái)代替計(jì)數(shù)器，該積分器提供測(cè)量的持續(xù)時(shí)間作為電壓值。
為了保證采樣和保持電路210只確定特定時(shí)間段內(nèi)的最大值，僅在該時(shí)間間隔內(nèi)通過(guò)運(yùn)行控制電路218提供的釋放信號(hào)釋放該采樣和保持電路210。原則上在這里也不需要這樣的釋放電路。
在提供參數(shù)Umin和T之后，運(yùn)行控制電路218保持為待用，也就是不再輸出其它控制信號(hào)，直到整個(gè)運(yùn)行控制電路110被復(fù)位為止。復(fù)位信號(hào)R由信號(hào)“HV-開(kāi)”信號(hào)導(dǎo)出。該信號(hào)“HV-開(kāi)”是已有的、用于對(duì)充電電容器進(jìn)行充電的充電部件的接口的組成部分。在復(fù)位時(shí)，對(duì)采樣和保持電路210的存儲(chǔ)電容器放電，將計(jì)數(shù)器216或積分器設(shè)置為0，將運(yùn)行控制電路218設(shè)置到初始狀態(tài)。
圖10示出在運(yùn)行控制電路218中處理的信號(hào)的時(shí)間變化，并借助下表解釋

權(quán)利要求
1.一種用于運(yùn)行電磁沖擊波源(2)的方法，該沖擊波源(2)通過(guò)經(jīng)線圈(8)對(duì)充電電容器(4)放電而產(chǎn)生聲沖擊波，其中，為了檢查該沖擊波源(2)的狀態(tài)，在放電期間采集和分析該放電過(guò)程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定所述放電過(guò)程的至少一個(gè)參數(shù)(K)并將該參數(shù)(K)與存儲(chǔ)的參考值(RK)進(jìn)行比較。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，根據(jù)所述放電過(guò)程的至少一個(gè)測(cè)量的參數(shù)(K)推導(dǎo)出所述放電回路的至少一個(gè)參數(shù)(AK)，并且其中，將該推導(dǎo)的參數(shù)(AK)與存儲(chǔ)的參考值(RK)進(jìn)行比較。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法，其中，作為放電過(guò)程的參數(shù)(K)，確定一個(gè)振蕩周期的周期持續(xù)時(shí)間(T)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，作為推導(dǎo)的參數(shù)(AK)，確定所述放電回路的電感(L)。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，作為所述放電過(guò)程的參數(shù)(K)，測(cè)量振蕩周期的振幅。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，作為所述放電回路的其它推導(dǎo)的參數(shù)(AK)，確定所述放電回路的電容量(C)和歐姆電阻(R)。
8.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，根據(jù)多個(gè)測(cè)量的或推導(dǎo)的參數(shù)(K，AK)形成一個(gè)統(tǒng)計(jì)參數(shù)。
9.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，在首次投入運(yùn)行時(shí)將所存儲(chǔ)的參考值(RK)確定為測(cè)量的或推導(dǎo)的參數(shù)(K，AK)。
10.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，對(duì)所述放電過(guò)程通過(guò)測(cè)量所述放電電流(I)來(lái)采集。
11.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，對(duì)所述放電過(guò)程通過(guò)測(cè)量所述充電電容器(4)的放電電壓(U)來(lái)采集。
12.一種電磁沖擊波源(2)，其中，通過(guò)經(jīng)線圈(8)對(duì)充電電容器(4)放電產(chǎn)生聲沖擊波，該電磁沖擊波源(2)具有用于為檢查所述沖擊波源(2)的狀態(tài)而采集和分析該放電過(guò)程的裝置(11)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的電磁沖擊波源(2)，其具有用于確定所述放電過(guò)程的至少一個(gè)參數(shù)(K)的裝置(16；20；202)，以及具有用于將所采集的參數(shù)(K)與存儲(chǔ)的參考值(RW)進(jìn)行比較的裝置(16；22；204)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12或13所述電磁沖擊波源(2)，其中，所述用于采集和分析放電過(guò)程的裝置(11)包括用于采集放電電壓(U)的電壓分壓電路(40)作為測(cè)量值采集器。
15.根據(jù)權(quán)利要求12、13或14所述的電磁沖擊波源(2)，其中，所述用于采集和分析放電過(guò)程的裝置(11)包括用于采集所述放電電流(I)的Rogowski線圈(12)作為測(cè)量值采集器。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或15所述的電磁沖擊波源(2)，其中，在所述測(cè)量值采集器后面連接有信號(hào)處理單元(20；200)，在該信號(hào)處理單元(20；200)的至少一個(gè)輸出端輸出至少一個(gè)參數(shù)(K)作為電信號(hào)。
17.根據(jù)權(quán)利要求12至16中任一項(xiàng)所述的電磁沖擊波源(2)，其中，所述用于采集和處理放電過(guò)程的裝置(11)包括用于計(jì)算導(dǎo)出的參數(shù)(AK)的計(jì)算機(jī)(16；22；202)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于運(yùn)行電磁沖擊波源(2)的方法以及根據(jù)該方法運(yùn)行的電磁沖擊波源(2)，其中，通過(guò)經(jīng)線圈(8)對(duì)充電電容器(4)放電而產(chǎn)生聲沖擊波。根據(jù)本發(fā)明，為了檢查該沖擊波源(2)的狀態(tài)在放電期間采集和分析該放電過(guò)程。
文檔編號(hào)G10K15/04GK1608596SQ20041008592
公開(kāi)日2005年4月27日 申請(qǐng)日期2004年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月23日
發(fā)明者漢斯－于爾根·豪曼, 克里斯琴·邁納特, 阿尼姆·羅韋德 申請(qǐng)人:西門子公司