測量顆粒材料的參數(shù)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及用于測量顆粒材料的參數(shù)和/或?qū)︻w粒材料進(jìn)行分類的設(shè)備和方法。更具體地，本發(fā)明涉及用于測量例如為未加工的鉆石材料的寶石材料的參數(shù)和/或?qū)υ搶毷牧线M(jìn)行分類的設(shè)備和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]一批次未加工的鉆石可以作為采礦過程的輸出而獲得，在此情況下其被稱作原礦(ROM)。此外，商業(yè)上可以獲得這批次未加工的鉆石。通常，這批次未加工的鉆石將經(jīng)過篩選，使得包含在其中的顆?；疚挥谥付ǖ某叽绶秶鷥?nèi)。例如，一批次-7+5R0M的未加工的鉆石將主要包括將穿過7號篩板但不能穿過5號篩板的未加工的鉆石。在鉆石交易中這種篩板尺寸實際上是一種標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]雖然這批次鉆石通常被相對于尺寸進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，然而包含在其中的材料可能在凈度、顏色、尺寸和形狀上明顯不同。因此，考慮購買或銷售這批次鉆石的人可能對應(yīng)該達(dá)成的公平的價格知之甚少。價格將由從這批次未加工的鉆石生產(chǎn)得到的拋光寶石的價值決定。
[0004]為了評估這批次鉆石的價值，購買者必須以某種方法檢查這些鉆石，并基于對未加工的貨物的鑒定形成結(jié)論，該鑒定是耗時并容易出錯的程序。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種用于對寶石進(jìn)行鑒定的設(shè)備，所述設(shè)備包括:測量單元，所述測量單元包括測量位置和至少一個傳感器，所述至少一個傳感器被布置成當(dāng)所述寶石定位在所述測量位置處時測量寶石的一個或多個參數(shù)；以及運輸裝置，所述運輸裝置用于將所述寶石運輸至所述測量位置；其中所述運輸裝置被構(gòu)造成當(dāng)所述至少一個傳感器測量所述寶石的一個或多個參數(shù)時促使或允許所述寶石保持靜止在測量位置處。
[0006]可選地，運輸裝置為圓盤。
[0007]可選地，步進(jìn)馬達(dá)被構(gòu)造成以不連續(xù)的角度步長旋轉(zhuǎn)所述圓盤。
[0008]可選地，該設(shè)備還包括處理器，所述處理器被構(gòu)造為用于控制所述圓盤的旋轉(zhuǎn)的控制裝置。
[0009]可選地，所述圓盤包括透明的或半透明的材料，所述設(shè)備還包括光源，所述光源被構(gòu)造成當(dāng)所述寶石位于所述測量位置處時穿過輸送機(jī)照射所述寶石。
[0010]可選地，所述光源包括一個或多個LED，所述一個或多個LED被構(gòu)造成發(fā)射具有下列顏色的一種或多種的光:所述顏色例如為紅色、藍(lán)色和綠色。
[0011]可選地，所述傳感器被定位成鄰近所述測量位置并且位于所述測量位置的與所述光源大體相對的一側(cè)。
[0012]可選地，所述設(shè)備還包括進(jìn)料器，所述進(jìn)料器被構(gòu)造成將單個的寶石進(jìn)送至所述運輸裝置。
[0013]可選地，所述進(jìn)料器包括滾筒斗，所述滾筒斗包括兩個相對的滾筒，所述兩個相對的滾筒被構(gòu)造成當(dāng)所述滾筒旋轉(zhuǎn)時將寶石供應(yīng)至所述圓盤上。
[0014]可選地，所述滾筒斗被構(gòu)造成將所述寶石進(jìn)送至在所述圓盤的內(nèi)部區(qū)域中的位置，所述圓盤還包括凸輪，所述凸輪相對于所述圓盤的旋轉(zhuǎn)被固定，并且被構(gòu)造成隨著所述圓盤旋轉(zhuǎn)而將所述寶石移動到所述圓盤的外圍。
[0015]可選地，所述控制設(shè)備被構(gòu)造成基于所述圓盤的旋轉(zhuǎn)而控制所述相對的滾筒的旋轉(zhuǎn)，使得當(dāng)所述寶石被進(jìn)送至所述圓盤的內(nèi)部區(qū)域中的位置時所述寶石充分接觸。
[0016]可選地，所述至少一個傳感器包括第一照相機(jī)，所述第一照相機(jī)被構(gòu)造成當(dāng)寶石在所述測量位置處靜止時采集寶石的圖像。
[0017]可選地，所述至少一個傳感器還包括第二照相機(jī)，所述第二照相機(jī)被構(gòu)造成采集與所述第一照相機(jī)采集的圖像成直角的圖像。
[0018]可選地，所述至少一個傳感器被構(gòu)造成當(dāng)所述寶石在所述測量位置處靜止時測量多個參數(shù)。
[0019]可選地，所述多個參數(shù)包括以下的兩個或多個:顏色、凈度、尺寸、形狀、在圓盤上的熒光位置和取向。
[0020]可選地，該設(shè)備還包括分類設(shè)備，所述分類設(shè)備用于根據(jù)測量參數(shù)從用于移動的運輸裝置上將所述寶石取回至一個或多個位置。
[0021]可選地，所述分類設(shè)備包括真空吸嘴，所述真空吸嘴用于從所述運輸裝置上拾取寶石，并且其中所述運輸裝置被構(gòu)造成在通過所述真空吸嘴拾取所述寶石的位置處促使或允許所述寶石靜止。
[0022]可選地，所述分類設(shè)備包括能夠樞轉(zhuǎn)的臂，所述真空吸嘴定位在所述臂上，使得所述噴嘴能夠沿弧線擺動。
[0023]可選地，該設(shè)備還包括大體上圓形的分配器陣列，所述分配器陣列包括以大體圓形的陣列布置的多個分配容器。
[0024]可選地，所述能夠樞轉(zhuǎn)的臂被構(gòu)造成使得在所述分配器陣列的完全旋轉(zhuǎn)期間，所述吸嘴沿著擺動的弧線與多個分配容器中的每一個所經(jīng)過的點相交，并且其中所述吸嘴被構(gòu)造成在確定的時間釋放寶石，使得所述寶石被放入一個分配容器中，所述確定的時間基于所述一個或多個測量參數(shù)而確定。
[0025]可選地，所述能夠樞轉(zhuǎn)的臂被構(gòu)造成以基本等于所述分配器陣列的旋轉(zhuǎn)速度的速度旋轉(zhuǎn)，使得當(dāng)分配器陣列旋轉(zhuǎn)時所述吸嘴跟蹤分配容器的位置。
[0026]可選地，所述吸嘴以與所述分配器陣列的旋轉(zhuǎn)方向相反的方向旋轉(zhuǎn)。
[0027]可選地，所述寶石的一個或多個參數(shù)的測量是不滿意的，所述控制設(shè)備被構(gòu)造成使所述寶石重新循環(huán)到所述測量位置，以便能夠再次測量所述一個或多個參數(shù)。
[0028]可選地，測量參數(shù)包括所述寶石的在所述測量位置處的位置和/或取向，所述設(shè)備被構(gòu)造成基于所述寶石的位置和/或取向控制所述分類設(shè)備，以對準(zhǔn)所述分類設(shè)備用于所述寶石的取回。
[0029]可選地，該設(shè)備包括多個測量位置，每個所述測量位置被構(gòu)造成測量寶石的一個或多個參數(shù)。
[0030]可選地，所述分類設(shè)備包括進(jìn)料轂，所述進(jìn)料轂包括圍繞所述進(jìn)料轂的外圍定位并且用于拾取和放下寶石的多個真空吸嘴。
[0031]可選地，所述進(jìn)料轂被構(gòu)造成在第一位置處拾取寶石，并且旋轉(zhuǎn)設(shè)定量，使得所述寶石被運輸?shù)脚c一個或多個測量單元對應(yīng)的一個或多個位置。
[0032]可選地，所述多個吸嘴被間隔開，使得當(dāng)所述多個吸嘴中的一個定位在所述測量單元處時，所述多個吸嘴中的另一個位于所述第一位置處，用于拾取另一個寶石。
[0033]可選地，所述進(jìn)料轂被構(gòu)造成旋轉(zhuǎn)以將寶石運輸至多個測量單元中的每一個測量單元。
[0034]可選地，所述進(jìn)料轂被構(gòu)造成當(dāng)寶石到達(dá)所述多個測量單元中的每一個測量單元時停止旋轉(zhuǎn)。
[0035]可選地，所述進(jìn)料轂被構(gòu)造成位于用于對應(yīng)的傳感器的所述多個測量單元的一個或多個測量單元處放下寶石，以測量所述寶石的一個或多個參數(shù)。
[0036]可選地，所述進(jìn)料轂被構(gòu)造成基于在所述測量單元處執(zhí)行的測量將顆粒分類至一個或多個位置。
[0037]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種用于對寶石進(jìn)行鑒定的方法，所述方法包括:將寶石運輸至測量單元的測量位置，所述測量單元包括傳感器，所述傳感器被布置成當(dāng)所述寶石定位在所述測量位置處時測量寶石的一個或多個參數(shù)；測量所述寶石的一個或多個參數(shù)；以及當(dāng)所述至少一個傳感器測量所述寶石的一個或多個參數(shù)時促使或允許所述顆粒在所述測量位置處靜止。
[0038]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種非瞬時計算機(jī)可讀介質(zhì)，包括計算機(jī)可讀代碼，所述計算機(jī)可讀代碼被構(gòu)造成當(dāng)運行在計算機(jī)上時執(zhí)行上述方法。
[0039]本發(fā)明提供了一種用于對顆粒材料進(jìn)行檢查或鑒定的設(shè)備(和方法)。該設(shè)備提供包括感測裝置和測量位置的測量單元，在所述測量位置處感測裝置可以獲得關(guān)于在其中出現(xiàn)的任何顆?；蛎總€顆粒的一個或多個物理性質(zhì)或參數(shù)的信息。該設(shè)備可以包括用于將顆粒材料的顆粒運輸?shù)綔y量位置的運輸裝置。顆?？梢耘c運輸裝置的元件保持接觸，并且可以在進(jìn)行測量時靜止。
[0040]該設(shè)備可以用于對提供的整批次顆粒材料進(jìn)行檢查或鑒定，以提供對包含在其中的顆粒的檢查或鑒定以及可選地對所述材料的基于價格薄的估值，所述定價包括合適的公式、表格或從測量參數(shù)或物理性質(zhì)轉(zhuǎn)化為包含在其中的材料或元件的金融的或市場價值的估算的其它手段。
[0041]該設(shè)備可以用于檢查或鑒定或僅檢查一批次材料的一部分或切下來部分，并且如此獲得的鑒定或估值可以應(yīng)用于整批次材料。
[0042]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種用于對顆粒材料進(jìn)行分類的設(shè)備。所述設(shè)備可以包括具有傳感器和測量位置的測量單元。所述傳感器被布置成當(dāng)顆粒定位在所述測量位置處時測量顆粒材料的顆粒的一個或多個參數(shù)。所述設(shè)備可以包括運輸裝置，用于將顆粒材料的顆粒運輸至所述測量位置。所述設(shè)備可以包括分類設(shè)備，用于根據(jù)測量參數(shù)從用于移動的運輸裝置上將顆粒取回至一個或多個位置。所述運輸裝置可以被構(gòu)造成促使或允許所述顆粒靜止，以用于分類設(shè)備取回所述顆粒。
[0043]可選地，運輸裝置為輸送機(jī)。
[0044]可選地，進(jìn)料器被構(gòu)造成將顆粒材料的單個顆粒進(jìn)送至運輸裝置上。
[0045]可選地，所述分類設(shè)備包括真空吸嘴，所述真空吸嘴用于從所述運輸裝置上拾取顆粒材料的顆粒。所述運輸裝置可以被構(gòu)造成在可以通過所述真空吸嘴拾取所述顆粒的位置處促使或允許所述顆粒材料的顆粒靜止。
[0046]可選地，所述分類設(shè)備包括能夠樞轉(zhuǎn)的臂，所述真空吸嘴定位在所述臂上，使得所述噴嘴可以沿弧線擺動。
[0047]可選地，所述能夠樞轉(zhuǎn)的臂或其它這種裝置可以被用于將所述顆粒分配至多個位置中的參考測量參數(shù)或物理性質(zhì)而選定的一個。
[0048]替代地或額外地，所述能夠樞轉(zhuǎn)的臂或其它這種裝置可以被用于在參考測量參數(shù)或物理性質(zhì)和接收裝置的出現(xiàn)而確定的時間來在預(yù)定位置處分配顆粒。
[0049]替代地或額外地，所述能夠樞轉(zhuǎn)的臂或其它這種設(shè)備可被用于跟隨路徑，使得其在空間中的位置基本與接收裝置的參考測量參數(shù)或物理性質(zhì)選定的位置匹配，該接收裝置在一段時間內(nèi)也處于運動之中，以允許顆粒在所述時間內(nèi)的任意時刻從真空吸嘴等傳送至接收裝置，以便該顆粒能夠以相對于接收裝置可忽略的側(cè)向速度落入或直接被推入接收裝置中。
[0050]接收裝置可以包括圍繞大體圓形的分配器陣列的外圍布置的多個可移動容器中一個，分配器陣列被促使在分類過程中圍繞豎直軸線連續(xù)旋轉(zhuǎn)。
[0051]可選地，測量位置被定位為使得當(dāng)顆粒在輸送機(jī)上時傳感器能夠測量顆粒的一個或多個參數(shù)。
[0052]可選地，輸送機(jī)被構(gòu)造成當(dāng)顆粒到達(dá)測量位置時停止。
[0053]可選地，輸送機(jī)為循環(huán)的。
[0054]可選地，如果石子的一個或多個參數(shù)的測量是不滿意的，則所述輸送機(jī)被構(gòu)造成使所述顆粒重新循環(huán)到所述測量位置，以便能夠再次測量所述一個或多個參數(shù)。
[0055]可選地，測量參數(shù)包括所述顆粒的在所述測量位置處的位置和/或取向，所述裝置被構(gòu)造成基于所述顆粒的位置和/或取向來控制所述分類裝置，以對準(zhǔn)所述分類設(shè)備用于所述顆粒的取回。
[0056]可選地，所述測量單元被構(gòu)造成在取回所述顆粒以后檢測所述顆粒不再位于所述測量位置上，以驗證所述顆粒已經(jīng)被取回。
[0057]可選地，所述輸送機(jī)包括透明的或半透明的材料，所述裝置還包括光源，所述光源被構(gòu)造成當(dāng)所述顆粒在所述測量位置處時穿過輸送機(jī)照射所述顆粒。
[0058]可選地，所述傳感器被定位成在與所述光源大體相對的一側(cè)鄰近所述測量位置的位置。
[0059]可選地，顆粒材料包括未加工的鉆石，并且所述裝置被構(gòu)造成測量所述鉆石的顏色、形狀和凈度，以確定特征向量。
[0060]可選地，所述設(shè)備包括多個測量位置，所述多個測量位置中的每個測量位置被構(gòu)造成測量顆粒材料的顆粒的一個或多個參數(shù)。
[0061]可選地，所述運輸裝置和/或所述分類裝置被構(gòu)造成將顆粒材料的顆粒運輸至多個測量位置中每個。
[0062]可選地，所述分類設(shè)備包括進(jìn)料轂，所述進(jìn)料轂包括圍繞所述進(jìn)料轂的外圍定位并且用于拾取和放下顆粒材料的顆粒的多個真空吸嘴。
[0063]可選地，所