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      一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法

      文檔序號:8215597閱讀:1040來源:國知局
      一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于微米、納米半導體微加工技術(shù),尤其是一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]近年來,納米結(jié)構(gòu)因其具有獨特的電學、光學、催化以及生物特性,引起了納米材料和微納加工等領(lǐng)域科研工作者的極大興趣。納米陣列結(jié)構(gòu)不僅在科學研宄領(lǐng)域受到廣泛關(guān)注,而且已經(jīng)在光電器件、磁記錄、傳感器、生物信息等領(lǐng)域得到應(yīng)用。特別地,硅作為重要的微電子材料,為實現(xiàn)硅納米電子器件的應(yīng)用推廣,需要發(fā)展與硅工藝相兼容的方法來制備硅納米陣列結(jié)構(gòu),這正是納米半導體領(lǐng)域的研宄熱點之一。硅片表面的納米結(jié)構(gòu)也是多種多樣的,主要包括各種尺寸納米柱結(jié)構(gòu)與納米孔結(jié)構(gòu),不同的結(jié)構(gòu)形貌在不同的領(lǐng)域有著不同的應(yīng)用前景。氯化銫納米島自組裝技術(shù)是一種制作無規(guī)則的納米柱陣列的有效方法,早在2000年,Mino Green等人就開始應(yīng)用氯化銫納米島自組裝技術(shù)在娃片表面制備氯化銫納米島,然后以此為掩模,結(jié)合反應(yīng)離子刻蝕的方法制備硅的納米柱陣列,也嘗試做過幾十納米深的二氧化硅圓孔。但是,目前還沒有在硅表面應(yīng)用氯化銫納米島自組裝技術(shù)制備尺寸幾百納米深度大于I微米的納米硅孔的形貌的先例,本專利就是針對應(yīng)用氯化銫納米島自組裝技術(shù)制備硅表面的納米孔結(jié)構(gòu)的方法。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003](一 )要解決的技術(shù)問題
      [0004]有鑒于此,本發(fā)明的主要目的在于提供一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法,以簡化工藝,降低成本。
      [0005]( 二 )技術(shù)方案
      [0006]為達到上述目的,本發(fā)明提供了一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法,該方法包括:步驟1:在娃片表面制備氯化銫島結(jié)構(gòu);步驟2:在帶有氯化銫納米島結(jié)構(gòu)的娃片表面蒸鍍一層鋁金屬薄膜,放入去離子水中超聲剝離,去掉氯化銫島結(jié)構(gòu)及其上的鋁金屬薄膜,得到多孔鋁薄膜;步驟3:以多孔鋁薄膜為掩膜,在等離子體刻蝕機的刻蝕腔體內(nèi)對硅片表面進行深度刻蝕;步驟4:去除硅片表面的多孔鋁薄膜,在硅片表面得到納米孔結(jié)構(gòu)。
      [0007]上述方案中,步驟I中所述硅片,厚度0.2毫米-0.5毫米,P型,電阻率為I Ω.cm-?ο Ω.cm,表面為拋光面或粗糙面。所述在娃片表面制備氯化銫島結(jié)構(gòu),是采用氯化銫自組裝技術(shù)實現(xiàn)的,氯化銫島結(jié)構(gòu)的直徑在500-1500納米,厚度為200-7000埃。
      [0008]上述方案中,步驟2中所述在帶有氯化銫納米島結(jié)構(gòu)的硅片表面蒸鍍一層鋁金屬薄膜,是采用熱蒸發(fā)的方法實現(xiàn)的,鋁金屬薄膜的厚度為40納米。
      [0009]上述方案中,步驟3中所述以多孔鋁薄膜為掩膜在等離子體刻蝕機的刻蝕腔體內(nèi)對硅片表面進行深度刻蝕,是通過交替轉(zhuǎn)換刻蝕氣體與鈍化氣體實現(xiàn)刻蝕發(fā)生在垂直方向,而對于水平方向的刻蝕較小,側(cè)壁得以保護。所述刻蝕氣體為SF6,鈍化氣體為C4F8, He為冷卻氣體,鈍化氣體C4F8在等離子體中能夠形成氟化碳類高分子聚合物,該氟化碳類高分子聚合物沉積在硅表面阻止氟離子與硅的反應(yīng)。
      [0010]上述方案中,所述交替轉(zhuǎn)換刻蝕氣體與鈍化氣體,具體包括:刻蝕與鈍化每5到15秒轉(zhuǎn)換一個周期,在短暫的各向同性刻蝕之后立刻將刻蝕過的硅表面鈍化;在深度方向由于有離子的物理濺射轟擊,鈍化膜被剝離,使化學反應(yīng)離子刻蝕可以進一步發(fā)生;但側(cè)壁方向不會受到離子轟擊,鈍化膜保留下來,這樣下一個周期的刻蝕就不會發(fā)生側(cè)向刻蝕;通過這樣周期性“刻蝕-鈍化-刻蝕”,刻蝕只沿著深度方向進行,刻蝕所需的深度能夠通過刻蝕周期個數(shù)來控制。
      [0011]上述方案中,步驟4中所述去除硅片表面的多孔鋁薄膜,是采用質(zhì)量分數(shù)為5%的氫氧化鈉溶液實現(xiàn)的。
      [0012](三)有益效果
      [0013]本發(fā)明提供的硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法,采用真空氯化銫鍍膜、氯化銫自組裝、真空熱蒸發(fā)鍍膜、剝離技術(shù)和等離子體深度刻蝕工藝完成,利用本發(fā)明制備出的硅片表面納米孔結(jié)構(gòu),位置無序地分布在硅片表面,納米孔結(jié)構(gòu)大小不同,直徑呈高斯分布,深度相近,側(cè)壁不平滑。
      【附圖說明】
      [0014]圖1是本發(fā)明提供的制備硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的方法流程圖。
      [0015]圖2至圖7是依照本發(fā)明實施例的制備硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的工藝流程圖。
      [0016]圖8為依照本發(fā)明實施例的硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的SM平面圖。
      [0017]圖9為依照本發(fā)明實施例的硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的SEM垂直截面圖。
      【具體實施方式】
      [0018]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合具體實施例,并參照附圖,對本發(fā)明進一步詳細說明。
      [0019]本發(fā)明提出了一種硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備方法,該方法采用真空氯化銫鍍膜、氯化銫自組裝、真空熱蒸發(fā)鍍膜、剝離技術(shù)和等離子體深度刻蝕工藝完成。首先利用氯化銫納米島光刻技術(shù)完成原始氯化銫納米島結(jié)構(gòu),然后利用熱蒸發(fā)技術(shù)在氯化銫納米島表面蒸發(fā)一層厚度為40納米的鋁金屬層,再用剝離技術(shù)剝離掉氯化銫表面的鋁,在硅片表面得到鋁的多孔膜結(jié)構(gòu),接著利用反應(yīng)離子深度刻蝕技術(shù)將孔結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)移到硅材料表面,最后用稀釋的氫氧化鈉溶液去除表面的多孔鋁薄膜,至此完成納米孔結(jié)構(gòu)在硅表面的制備。
      [0020]如圖1所示,圖1是本發(fā)明提供的制備硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的方法流程圖,該方法包括以下步驟:
      [0021]步驟1:在硅片表面制備氯化銫島結(jié)構(gòu);
      [0022]在本步驟中,硅片厚度0.2毫米-0.5毫米,P型,電阻率為I Ω.cm-10 Ω.αιι,表面為拋光面或粗糙面。所述在硅片表面制備氯化銫島結(jié)構(gòu),是采用氯化銫自組裝技術(shù)實現(xiàn)的,氯化銫島結(jié)構(gòu)的直徑在500-1500納米,厚度為200埃-7000埃。
      [0023]步驟2:在帶有氯化銫納米島結(jié)構(gòu)的硅片表面蒸鍍一層鋁金屬薄膜,放入去離子水中超聲剝離,去掉氯化銫島結(jié)構(gòu)及其上的鋁金屬薄膜,得到多孔鋁薄膜,這層多孔鋁膜實現(xiàn)了圖形的翻轉(zhuǎn)即使得原來用氯化銫保護的部分暴露出來,并且鋁掩模版對干法刻蝕的耐刻性要比氯化銫掩模版好;
      [0024]在本步驟中,在帶有氯化銫納米島結(jié)構(gòu)的硅片表面蒸鍍一層鋁金屬薄膜,是采用熱蒸發(fā)的方法實現(xiàn)的,鋁金屬薄膜的厚度為40納米。
      [0025]步驟3:以多孔鋁薄膜為掩膜,在等離子體刻蝕機的刻蝕腔體內(nèi)對硅片表面進行深度刻蝕,用常規(guī)的刻蝕方法鉆蝕很嚴重,不適合做納米尺度的孔結(jié)構(gòu),應(yīng)用氯化銫納米島技術(shù)制備的鋁納米孔掩模版,只能與深度刻蝕相結(jié)合,才能實現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移,制成硅納米孔結(jié)構(gòu),也正因為這種深度刻蝕方法才使得納米孔的側(cè)壁不夠光滑,出現(xiàn)周期性的形貌;
      [0026]在本步驟中,以多孔鋁薄膜為掩膜在等離子體刻蝕機的刻蝕腔體內(nèi)對硅片表面進行深度刻蝕,是通過交替轉(zhuǎn)換刻蝕氣體與鈍化氣體實現(xiàn)刻蝕發(fā)生在垂直方向,而對于水平方向的刻蝕較小,側(cè)壁得以保護??涛g氣體為SF6,鈍化氣體為C4F8, He為冷卻氣體,鈍化氣體C4F8在等離子體中能夠形成氟化碳類高分子聚合物,該氟化碳類高分子聚合物沉積在硅表面阻止氟離子與硅的反應(yīng)??涛g與鈍化每5到15秒轉(zhuǎn)換一個周期,在短暫的各向同性刻蝕之后立刻將刻蝕過的硅表面鈍化;在深度方向由于有離子的物理濺射轟擊,鈍化膜被剝離,使化學反應(yīng)離子刻蝕可以進一步發(fā)生;但側(cè)壁方向不會受到離子轟擊,鈍化膜保留下來,這樣下一個周期的刻蝕就不會發(fā)生側(cè)向刻蝕;通過這樣周期性“刻蝕-鈍化-刻蝕”,刻蝕只沿著深度方向進行,刻蝕所需的深度能夠通過刻蝕周期個數(shù)來控制。
      [0027]步驟4:去除硅片表面的多孔鋁薄膜,在硅片表面得到納米孔結(jié)構(gòu);
      [0028]在本步驟中,去除硅片表面的多孔鋁薄膜,是采用質(zhì)量分數(shù)為5%的氫氧化鈉溶液實現(xiàn)的。
      [0029]基于圖1所示的制備硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的方法流程圖,圖2至圖7是依照本發(fā)明實施例的制備硅片表面納米孔結(jié)構(gòu)的工藝流程圖,本實施例中采用了氯化銫納米島自組裝技術(shù)與微加工的剝離及等離子體深度刻蝕技術(shù)來完成硅表面納米孔結(jié)構(gòu)的制備,該方法包括以下步驟:
      [0030]如圖2所示,將硅
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