專利名稱：一種外圍互連線的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子或通信領(lǐng)域的測(cè)試技術(shù)，具體指一種外圍互連線的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
邊界掃描技術(shù)是1985年提出來(lái)，它通過(guò)存在于器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間的邊界掃描單元提高了器件的可控性和可觀察性，通過(guò)邊界掃描技術(shù)可以對(duì)器件及其外圍電路進(jìn)行測(cè)試。1986年成立了JTAG組織，1988年JTAG提出了標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描體系結(jié)構(gòu)，名稱叫Boundary-Scan Architecture StandardProposal，Version 2.0，最后目標(biāo)是應(yīng)用到芯片、印制板與完整系統(tǒng)上的一套完善的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。1990年，IEEE正式承認(rèn)了JTAG標(biāo)準(zhǔn)，經(jīng)過(guò)補(bǔ)充和修訂以后，命名為IEEE 1149.1-90。
自從IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布以來(lái)，邊界掃描技術(shù)廣泛應(yīng)用于電路板測(cè)試、FLASH在板編程等。其實(shí)FLASH器件本身并不帶邊界掃描(BS，BoundaryScan)結(jié)構(gòu)，但是FLASH的周圍一般存在BS器件，從而可以利用周圍的BS器件實(shí)現(xiàn)FLASH加載。利用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行FLASH的在板編程既不需要占用額外的設(shè)備，也不需要產(chǎn)品增加額外的硬件，它只需要將相關(guān)的BS器件連成一條掃描鏈，并將邊界掃描接口引出來(lái)即可。通過(guò)這個(gè)接口可以控制邊界掃描鏈，進(jìn)而控制FALSH的控制線、數(shù)據(jù)線和地址線完成FLASH的讀寫等操作，如圖1所示。
在對(duì)FLASH編程之前，應(yīng)確保FLASH芯片焊接和連接正確。但是現(xiàn)在的一般做法，就是不做測(cè)試，直接加載，這樣如果存在外圍線故障將導(dǎo)致加載失敗。如果在加載完畢進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)發(fā)現(xiàn)加載失敗，然后才進(jìn)行FLASH的外圍互連測(cè)試，這樣比較浪費(fèi)時(shí)間。因?yàn)樽鲆淮瓮鈬ミB測(cè)試只要幾秒鐘，而做一次FLASH加載要幾分鐘到幾十分鐘。所以有必要在對(duì)LASH編程之前先進(jìn)行外圍互連線測(cè)試(而FLASH內(nèi)部單元測(cè)試比較花費(fèi)時(shí)間，一般為FLASH編程時(shí)間的幾倍，所以FLASH加載之前并不適宜進(jìn)行FLASH內(nèi)部單元測(cè)試，只有在FLASH加載失敗以后的故障診斷中，才有可能通過(guò)FLASH內(nèi)部單元測(cè)試來(lái)查找失效單元)。
但是現(xiàn)有的測(cè)試方法一般存在測(cè)試不完備或故障定位不準(zhǔn)確的缺點(diǎn)。在FLASH編程之前做測(cè)試，是一種比較簡(jiǎn)單的實(shí)現(xiàn)方法，就是固定地址交錯(cuò)寫入數(shù)據(jù)“01...0101”和“10...1010”，同時(shí)讀校驗(yàn)，測(cè)試數(shù)據(jù)線是否存在故障；然后選定地址“01...0101”和“10...1010”寫入兩個(gè)不同的數(shù)據(jù)，然后讀校驗(yàn)，測(cè)試地址線是否存在故障；控制線不作單獨(dú)測(cè)試，因?yàn)榭刂凭€的故障通過(guò)數(shù)據(jù)線地址線的測(cè)試即可檢測(cè)出來(lái)。
上述方法非常簡(jiǎn)單，也能測(cè)試固定邏輯故障和部分線路的短路故障，但是有大部分短路故障無(wú)法檢測(cè)到，而且它也無(wú)法區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)線故障和地址線故障。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種外圍互連線的測(cè)試方法，所述的方法不僅能夠檢測(cè)所有外圍線的故障，而且能夠?qū)收线M(jìn)行精確定位。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供如下的技術(shù)方案一種外圍互連線的測(cè)試方法，包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則測(cè)試結(jié)束；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測(cè)試。
所述步驟1)中，如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測(cè)值為全“0”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測(cè)值為全“1”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障。
所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
所述步驟2)也可采用“01”三角形數(shù)據(jù)矩陣進(jìn)行測(cè)試。
所述步驟4)和步驟5)中的地址線可先采用走步“0”矩陣后采用走步“1”矩陣進(jìn)行測(cè)試。
本發(fā)明根據(jù)FLASH器件本身的特點(diǎn)，提出了一種完備的FLASH外圍互連線測(cè)試方法，這種測(cè)試方法不僅能夠檢測(cè)到外圍互連線的所有呆滯型故障和橋接短路故障，而且能夠進(jìn)行精確的故障定位，報(bào)告故障發(fā)生位置和故障類型，還能區(qū)分1-支配型短路故障和0-支配型短路故障。該測(cè)試方案能夠保證在FLASH加載之前，F(xiàn)LASH的外圍連接關(guān)系是正常的，保障了FLASH加載的有效性，避免了不必要的時(shí)間。


圖1為利用邊界掃描技術(shù)實(shí)現(xiàn)FLASH在板編程的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。
圖2為本發(fā)明對(duì)FLASH數(shù)據(jù)線的測(cè)試流程圖。
圖3為本發(fā)明對(duì)FLASH地址線的測(cè)試流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的測(cè)試方法，可以劃分為三個(gè)大的操作步驟。根據(jù)FLASH器件的特點(diǎn)，在每一次寫操作之前需要進(jìn)行擦除操作，而且FLASH的器件特點(diǎn)是擦除以后數(shù)據(jù)為1，然后只能將數(shù)據(jù)1改寫為數(shù)據(jù)0，不能將數(shù)據(jù)0改寫為數(shù)據(jù)1，所以FLASH的外圍互連測(cè)試的整個(gè)過(guò)程如下表


第一步測(cè)試用來(lái)測(cè)試數(shù)據(jù)線是否存在開路故障和固定邏輯故障，第二步測(cè)試用來(lái)測(cè)試數(shù)據(jù)線是否存在短路故障，第三步測(cè)試用來(lái)測(cè)試地址線是否存在開路或短路故障。在第二步測(cè)試結(jié)束進(jìn)行數(shù)據(jù)線故障診斷，在第三步測(cè)試結(jié)束進(jìn)行地址線故障診斷。
第一步測(cè)試的故障診斷比較簡(jiǎn)單，在擦除某一塊以后，在該塊內(nèi)的某個(gè)固定地址應(yīng)該能讀到全1，如果沒有讀到全1，就說(shuō)明數(shù)據(jù)線存在S-A-0的故障(固定為0故障)，數(shù)值為0的數(shù)據(jù)線就是發(fā)生S-A-0的故障線位置。然后在該地址寫入全0讀全0，如果寫入全0沒有讀到全0，就說(shuō)明數(shù)據(jù)線存在S-A-1的故障(固定為1故障)，數(shù)值為1的數(shù)據(jù)線就是發(fā)生S-A-1的故障線位置。
第二步測(cè)試需要對(duì)短路故障的數(shù)據(jù)線位置和什么類型的短路故障進(jìn)行判斷，下面是第二步測(cè)試結(jié)果的一個(gè)例子，其中包含故障診斷的結(jié)果(假設(shè)數(shù)據(jù)線b3b2b1b0，測(cè)試向量r0r1...r6)

對(duì)數(shù)據(jù)線的開路故障和短路故障的診斷流程，如圖2所示，用偽程序語(yǔ)言表示如下BEGINFOR 實(shí)際測(cè)試響應(yīng)矩陣V的每一列ViIF Vi和期望響應(yīng)矩陣T的相應(yīng)列Ti不一致報(bào)告存在故障；IF Vi的每一個(gè)分量都固定為1報(bào)告第i條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障；
ELSE IF Vi的每一個(gè)分量都固定為0報(bào)告第i條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；ELSE IF 存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望響應(yīng)的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生1-支配型短路故障ELSE IF存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望響應(yīng)的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生0-支配型短路故障ELSE報(bào)告故障類型無(wú)法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生在哪一根數(shù)據(jù)線上END IFEND IFEND FORIF不存在故障報(bào)告數(shù)據(jù)線測(cè)試沒有發(fā)現(xiàn)故障；END。
在確保數(shù)據(jù)線沒有故障之后，可以進(jìn)行第三大步測(cè)試，對(duì)地址線進(jìn)行測(cè)試，下表是第三大步測(cè)試結(jié)果的一個(gè)例子，并包含故障診斷的結(jié)果


上表中，單元格中帶下劃線的數(shù)據(jù)，表示讀回?cái)?shù)據(jù)有誤。無(wú)下劃線的數(shù)據(jù)表示讀回?cái)?shù)據(jù)正常。其中黑色加重?cái)?shù)據(jù)表示對(duì)故障定位有用的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)。
對(duì)地址線開路故障和短路故障的測(cè)試診斷流程，如圖3所示，用偽程序語(yǔ)言表示如下BEGIN先分析走步1的測(cè)試響應(yīng)IF 讀到數(shù)據(jù)和期望的數(shù)據(jù)完全一致報(bào)告地址線走步1算法測(cè)試沒有發(fā)現(xiàn)故障；ELSEFOR 對(duì)除全0地址以外的每一個(gè)地址進(jìn)行分析IF 讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，而且該地址和全0地址的值相等記錄下來(lái)，可能為固定邏輯0故障，故障位置為該地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“1”的地址線ELSE IF 讀全0地址的數(shù)據(jù)與讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等記錄下來(lái)，為1支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路ELSE IF 全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)或者讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)值與期望值不一致報(bào)告故障類型無(wú)法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生哪一個(gè)地址上。
ELSE
該地址沒有發(fā)現(xiàn)故障END FOR再先分析走步0的測(cè)試響應(yīng)IF 讀到數(shù)據(jù)和期望的數(shù)據(jù)完全一致報(bào)告地址線走步0算法測(cè)試沒有發(fā)現(xiàn)故障；ELSEFOR 對(duì)除全1地址以外的每一個(gè)地址進(jìn)行分析IF 讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，而且和該地址的值相等記錄下來(lái)，可能為固定邏輯1故障，故障位置為該地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“0”的地址線ELSE IF 讀全1地址的數(shù)據(jù)與讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等記錄下來(lái)，為0支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路ELSE IF 全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)或者讀當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)值與期望值不一致報(bào)告故障類型無(wú)法判斷，同時(shí)報(bào)告故障發(fā)生哪一個(gè)地址上。
ELSE該地址沒有發(fā)現(xiàn)故障END FOR最后對(duì)診斷結(jié)果進(jìn)行綜合分析FOR 存在故障的地址線IF 該地址線被判斷為0-支配型短路故障或1-支配型短路故障則斷定該地址線為0-支配型短路故障或1-支配型短路故障
ELSE IF 該地址線被判斷為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障則斷定該地址線為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障ELSE IF 該地址線被判斷為固定邏輯0故障或固定邏輯1故障則斷定該地址線為固定邏輯故障ELSE該地址線存在無(wú)法判斷故障類型的故障END FOREND假設(shè)地址線數(shù)目為d，數(shù)據(jù)線數(shù)目為n，則一總需要對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行4*(n+d)+3次讀或?qū)懙牟僮?，另外還需要四次擦除操作。本發(fā)明方法對(duì)固定邏輯故障(Stuck-at fault)、固定開路故障(Stuck-open fault)和橋接短路故障(Short fault)的故障覆蓋率都是100％，而且能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的故障診斷，區(qū)分不同類型的短路故障，不會(huì)出現(xiàn)任何漏測(cè)情況。
另外在FLASH的外圍互連測(cè)試中，如果控制線存在故障，則讀寫操作全部錯(cuò)誤，所以根據(jù)測(cè)試結(jié)果也能診斷出來(lái)；如果數(shù)據(jù)線或地址線的故障影響了FLASH操作命令字(Command Code)的寫入，則FLASH的測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)很大的異常，也能很容易地分析出來(lái)。所以這些故障不作單獨(dú)測(cè)試，均能在數(shù)據(jù)線和地址線地測(cè)試中得到檢測(cè)。
權(quán)利要求
1.一種外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)、用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)、固定一地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)、選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)、地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)、地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則測(cè)試結(jié)束；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟1)中，如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測(cè)值為全“0”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為0的開路故障；如果某一數(shù)據(jù)線的實(shí)測(cè)值為全“1”，則報(bào)告該條數(shù)據(jù)線發(fā)生了固定為1的開路故障。
3.如權(quán)利要求1或2所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
4.如權(quán)利要求3所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
5.如權(quán)利要求1或4所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
6.一種外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“01”三角形數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則測(cè)試結(jié)束；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測(cè)試。
7.一種外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟1)用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)線的呆滯故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；2)固定一地址，用“01”或“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；3)選用一組相異地址，用走步“1”數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定短路故障位置，進(jìn)行故障排除后，再進(jìn)行下列步驟；4)地址線采用走步“0”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則進(jìn)行下列步驟；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯1 故障或0-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，再進(jìn)行下列步驟；5)地址線采用走步“1”矩陣，數(shù)據(jù)線采用走步“0”矩陣，測(cè)試地址線的故障，如果實(shí)測(cè)值與期望值相同，則測(cè)試結(jié)束；如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同，則確定相應(yīng)地址線為固定邏輯0或1-支配型短路故障，進(jìn)行故障排除，結(jié)束測(cè)試。
8.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟2)和步驟3)中，如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯或運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了1-支配型短路故障；如果存在多個(gè)列，其矢量相等，其值為這幾個(gè)列的期望值的邏輯與運(yùn)算的結(jié)果，則報(bào)告對(duì)應(yīng)列的多條數(shù)據(jù)線發(fā)生了0-支配型短路故障。
9.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟4)中，如果讀全0地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全0地址的值相等，則可能為固定邏輯0故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“1”的地址線；如果讀全0地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為1-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
10.如權(quán)利要求7所述的外圍互連線的測(cè)試方法，其特征在于所述步驟5)中，如果讀全1地址的數(shù)據(jù)出錯(cuò)，當(dāng)前測(cè)試地址與全1地址的值相等，則可能為固定邏輯1故障，故障位置為當(dāng)前測(cè)試地址對(duì)應(yīng)數(shù)字“0”的地址線；如果讀全1地址的數(shù)據(jù)與當(dāng)前地址的數(shù)據(jù)不相等，但是存在另外多個(gè)地址讀回的數(shù)據(jù)與之相等，則為0-支配型短路故障，對(duì)應(yīng)這幾個(gè)地址的相異地址位的地址線短路。
全文摘要
一種外圍互連線的測(cè)試方法，包括下列步驟固定一個(gè)地址，采用一組全“1”數(shù)據(jù)和一組全“0”數(shù)據(jù)測(cè)試FLASH數(shù)據(jù)線的呆滯型故障。固定地址，用“10”三角形數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線；然后選用一組相異地址，用走步1數(shù)據(jù)矩陣測(cè)試數(shù)據(jù)線，這樣可以檢測(cè)所有短路故障。地址采用走步1矩陣，數(shù)據(jù)采用走步0矩陣；然后地址采用走步0矩陣，數(shù)據(jù)還是采用走步0矩陣，這樣可以檢測(cè)到地址線的呆滯型故障和短路故障。本發(fā)明的測(cè)試方法不僅能夠檢測(cè)到外圍互連線的所有呆滯型故障和橋接短路故障，而且能夠進(jìn)行精確的故障定位，報(bào)告故障發(fā)生位置和故障類型。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1619326SQ20031011535
公開日2005年5月25日 申請(qǐng)日期2003年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月19日
發(fā)明者李穎悟, 游志強(qiáng) 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司