專利名稱：顯示基板及測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示基板、用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的裝置、以及用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的方法。更特別地，本發(fā)明涉及能夠簡(jiǎn)化總測(cè)試(gross test)的顯示基板、用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板、以及用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的方法。
背景技術(shù)：
一般地，液晶顯示器(“LCD”)面板模塊包括LCD面板和電連接至LCD面板以驅(qū)動(dòng)LCD面板的驅(qū)動(dòng)裝置。
LCD面板包括陣列基板、面向陣列基板的上部基板、以及置于陣列基板和上部基板之間的液晶層。在LCD面板的生產(chǎn)過(guò)程中，由粒子形成的缺陷降低了生產(chǎn)過(guò)程的成品率。特別地，由于粒子而形成在LCD面板的線路上的斷路或短路導(dǎo)致生產(chǎn)過(guò)程中成品率的降低。
首先，在生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)向陣列基板的線路施加電信號(hào)來(lái)執(zhí)行陣列測(cè)試，以測(cè)試陣列基板。陣列基板與上部基板結(jié)合，并且在陣列基板和上部基板之間注入液晶。其次，在生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)向LCD面板提供由背光組件(或前光組件)生成的光以及電信號(hào)來(lái)執(zhí)行目檢測(cè)試(visual inspection test)，以測(cè)試LCD面板。
接下來(lái)，在將驅(qū)動(dòng)裝置和LCD面板結(jié)合之前，測(cè)試LCD面板，以通過(guò)總測(cè)試來(lái)檢測(cè)像素缺陷和線路缺陷。當(dāng)在總測(cè)試中在LCD面板中沒(méi)有檢測(cè)到缺陷時(shí)，將驅(qū)動(dòng)裝置安裝在LCD面板上，從而形成LCD面板模塊。
在總測(cè)試中，測(cè)試裝置的引腳(pin)與LCD面板的焊盤(pad)接觸，以通過(guò)引腳向LCD面板施加測(cè)試信號(hào)，從而測(cè)試LCD面板。然而，當(dāng)測(cè)試裝置的引腳沒(méi)有與LCD面板的焊盤準(zhǔn)確接觸時(shí)，測(cè)試裝置的引腳和LCD面板的焊盤之間的錯(cuò)誤連接降低了總測(cè)試的可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的示例性實(shí)施例提供了一種能夠簡(jiǎn)化總測(cè)試的顯示基板。
本發(fā)明的示例性實(shí)施例還提供了一種用于測(cè)試具有上述顯示基板的顯示面板的裝置。
本發(fā)明的示例性實(shí)施例還提供了一種用于測(cè)試具有上述顯示基板的顯示面板的方法。
在本發(fā)明的示例性實(shí)施例中，顯示基板包括柵極焊盤部、源極焊盤部、第一靜電耗散部、以及第一測(cè)試部。柵極焊盤部設(shè)置在多條柵極線中的每一條的一個(gè)端子上，以向每條柵極線傳遞信號(hào)。源極焊盤部設(shè)置在多條源極線中的每一條的一個(gè)端子上，以向每條源極線傳遞信號(hào)。第一靜電耗散部向源極焊盤部散布靜電荷。用于接收第一測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試部電連接至第一靜電耗散部，從而通過(guò)第一靜電耗散部將第一測(cè)試信號(hào)施加到源極線。
第一測(cè)試部可以包括電連接至第一靜電耗散部的第一測(cè)試線、以及電連接至第一測(cè)試線并且接收第一測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試焊盤。第一測(cè)試信號(hào)可以是對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓。
顯示基板可以進(jìn)一步包括第二靜電耗散部，用于散布施加到柵極焊盤部的靜電荷；以及第二測(cè)試部，電連接至第二靜電耗散部，從而通過(guò)第二靜電耗散部將第二測(cè)試信號(hào)施加到柵極線。第二測(cè)試信號(hào)可以是用于導(dǎo)通柵極線的柵極導(dǎo)通電壓。第二測(cè)試信號(hào)和第一測(cè)試信號(hào)可以基本上同時(shí)施加到柵極線和源極線。
第二測(cè)試部可以包括電連接至第二靜電耗散部的第二測(cè)試線、以及電連接至第二測(cè)試線并接收第二測(cè)試信號(hào)的第二測(cè)試焊盤。
顯示基板可以進(jìn)一步包括由柵極線和源極線限定的多個(gè)像素部，并且第一靜電耗散部形成在源極焊盤部和像素部之間。顯示基板可以進(jìn)一步包括靜電放電部，用于將施加到第一靜電耗散部的靜電荷釋放，并且靜電放電部可以置于第一靜電耗散部和像素部之間。
第二靜電耗散部可以設(shè)置于柵極焊盤部和像素部之間。
第一靜電耗散部可以包括多個(gè)第一二極管。每個(gè)第一二極管均可以包括晶體管，該晶體管包括柵電極，電連接至第一測(cè)試部；源電極，電連接至第一測(cè)試部；以及漏電極，電連接至源極線中的一條。
第二靜電耗散部可以包括多個(gè)第二二極管。每個(gè)第二二極管均可以包括晶體管，該晶體管包括柵電極，電連接至第二測(cè)試部；源電極，電連接至第二測(cè)試部；以及漏電極，電連接至柵極線中的一條。
在本發(fā)明的另一示例性實(shí)施例中，顯示基板包括柵極焊盤部、第一靜電耗散部和第一測(cè)試部。柵極焊盤部位于多條柵極線中的每一條的一個(gè)端子上，并且向每條柵極線傳遞信號(hào)。第一靜電耗散部散布施加到柵極焊盤部的靜電荷。第一測(cè)試部接收第一測(cè)試信號(hào)，并且電連接至第一靜電耗散部。第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)第一靜電耗散部施加到柵極線。
在本發(fā)明的另一示例性實(shí)施例中，用于測(cè)試顯示面板的裝置包括多個(gè)像素部、通過(guò)第一靜電耗散部電連接至多條源極線的第一測(cè)試部、以及通過(guò)第二靜電耗散部電連接至多條柵極線的第二測(cè)試部。用于測(cè)試顯示面板的裝置包括第一信號(hào)發(fā)生器、第二信號(hào)發(fā)生器、第三信號(hào)發(fā)生器、以及第四信號(hào)發(fā)生器。第一信號(hào)發(fā)生器電連接至源極線，以向源極線施加源極測(cè)試信號(hào)。第二信號(hào)發(fā)生器電連接至柵極線，以向柵極線施加?xùn)艠O測(cè)試信號(hào)。第三信號(hào)發(fā)生器電連接至第一測(cè)試部，以向第一測(cè)試部施加第一測(cè)試信號(hào)。第四信號(hào)發(fā)生器電連接至第二測(cè)試部，以向第二測(cè)試部施加第二測(cè)試信號(hào)。
在本發(fā)明的另一示例性實(shí)施例中，提供了如下的用于測(cè)試顯示面板的方法。顯示面板包括多個(gè)像素、通過(guò)第一靜電耗散部電連接至多條源極線的第一測(cè)試部、以及通過(guò)第二靜電耗散部電連接至多條柵極線的第二測(cè)試部。分別向柵極線和數(shù)據(jù)線施加?xùn)艠O測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)，從而首先檢測(cè)顯示面板的缺陷。分別向第一測(cè)試部和第二測(cè)試部施加第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)，從而其次檢測(cè)顯示面板的缺陷。
根據(jù)顯示基板、用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的裝置、和用于測(cè)試具有該顯示基板的顯示面板的方法，對(duì)具有電連接至靜電耗散部的測(cè)試部的顯示基板執(zhí)行總測(cè)試，從而可以容易地測(cè)試到線路缺陷。


以下，通過(guò)結(jié)合附圖詳細(xì)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)地描述，本發(fā)明的上述和其他特性和優(yōu)點(diǎn)將更加顯而易見(jiàn)，在附圖中圖1是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的示例性顯示面板的平面圖；圖2是示出圖1中所示的示例性第一顯示基板的部分平面圖；圖3是沿著圖2中的線I-I’截取的橫截面圖；圖4是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第一二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖；圖5是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第一二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖；圖6是示出圖1中所示的示例性第一顯示基板的部分平面圖；圖7是沿著圖6中所示的線II-II’截取的橫截面圖；圖8是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第二二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖；圖9是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第二二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖；圖10是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的用于執(zhí)行總測(cè)試的示例性裝置的透視圖；圖11是示出圖10中所示的示例性裝置的框圖；以及圖12A和12B是示出用于使用圖11中所示的示例性裝置來(lái)總測(cè)試示例性顯示面板的示例性方法的透視圖。
具體實(shí)施例方式
下文中將參照附圖來(lái)全面描述本發(fā)明，其中，附圖中示出了本發(fā)明的實(shí)施例。然而，本發(fā)明可以以多種不同的形式來(lái)實(shí)施而不應(yīng)認(rèn)為局限于在此所述的實(shí)施例。相反，提供這些實(shí)施例，以便使公開(kāi)透徹和完整，并且向本領(lǐng)域的技術(shù)人員充分地傳達(dá)本發(fā)明的思想。在附圖中，為了清楚起見(jiàn)，放大了層和區(qū)域的厚度。
應(yīng)當(dāng)理解，當(dāng)元件或?qū)颖恢赋觥拔挥凇薄ⅰ斑B接到”、“耦合到”另一個(gè)元件或?qū)由蠒r(shí)，其可直接位于、連接到、或耦合到另一個(gè)元件或?qū)由?，或者也可以存在插入元件或?qū)?。相反，?dāng)元件被指出“直接位于”、“直接連接到”、“直接耦合到”另一個(gè)元件或?qū)由蠒r(shí)，不存在插入元件或?qū)?。通篇中相同的?biāo)號(hào)表示相同的元件。正如在此所應(yīng)用的，術(shù)語(yǔ)“和/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)所列術(shù)語(yǔ)的任何以及所有結(jié)合。
應(yīng)當(dāng)理解，盡管在此可能使用術(shù)語(yǔ)第一、第二、第三等來(lái)描述不同的元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、和/或部分，但是這些元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、和/或部分并不局限于這些術(shù)語(yǔ)。這些術(shù)語(yǔ)僅用于將一個(gè)元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、或部分與另一元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、或部分相區(qū)分。因此，在不背離本發(fā)明宗旨的情況下，下文所述的第一元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、或部分可以稱為第二元件、構(gòu)件、區(qū)域、層、或部分。
為了便于說(shuō)明，在此可能使用諸如“在...之下”、“在...下面”、“下面的”、“在...上面”、以及“上面的”等的空間關(guān)系術(shù)語(yǔ)，以描述如圖中所示的一個(gè)元件或機(jī)構(gòu)與另一元件或機(jī)構(gòu)的關(guān)系。應(yīng)當(dāng)理解，除圖中所示的方位之外，空間關(guān)系術(shù)語(yǔ)將包括使用或操作中的裝置的各種不同的方位。例如，如果翻轉(zhuǎn)圖中所示的裝置，則被描述為在其他元件或機(jī)構(gòu)“下面”或“之下”的元件將被定位為在其他元件或機(jī)構(gòu)的“上面”。因此，示例性術(shù)語(yǔ)“在...下面”包括在上面和在下面的方位。裝置可以以其它方式定位(旋轉(zhuǎn)90度或在其他方位)，并且通過(guò)在此使用的空間關(guān)系描述符進(jìn)行相應(yīng)地解釋。
在此使用的術(shù)語(yǔ)僅用于描述特定實(shí)施例而不是限制本發(fā)明。正如在此使用的，單數(shù)形式的“一個(gè)”、“這個(gè)”也包括復(fù)數(shù)形式，除非文中有其它明確指示。應(yīng)當(dāng)進(jìn)一步理解，當(dāng)在本申請(qǐng)文件中使用術(shù)語(yǔ)“包括”和/或“包含”時(shí)，是指存在所聲稱的特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、和/或部件，但是并不排除還存在或附加一個(gè)或多個(gè)其它的特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、部件、和/或其組合。
在此，參考作為本發(fā)明的理想實(shí)施例(以及中間結(jié)構(gòu))的示意圖的橫截示意圖來(lái)描述本發(fā)明的實(shí)施例。這樣，可以預(yù)料諸如制造技術(shù)和/或公差可能導(dǎo)致示意圖的變化。因此，本發(fā)明的實(shí)施例不應(yīng)該被理解為局限于在此示出的特定形狀，而且包括例如由于制造而導(dǎo)致的形狀的偏差。例如，被顯示或描述為平坦的區(qū)域，通?？赡茉谄溥吘壘哂写植诨蚍蔷€性特性和/或注入濃度梯度。同樣，通過(guò)注入形成的埋入?yún)^(qū)域可能導(dǎo)致埋入?yún)^(qū)和通過(guò)其進(jìn)行注入的表面之間的區(qū)域中的一些注入。因此，在圖中示出的區(qū)域?qū)嶋H上是示意性的，并且其形狀不用于描述區(qū)域的實(shí)際形狀，并且不用于限定本發(fā)明的范圍。
除非另有限定，在此所使用的所有術(shù)語(yǔ)(包括技術(shù)術(shù)語(yǔ)和科技術(shù)語(yǔ))具有與本發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員通常所理解的相同意思。應(yīng)當(dāng)進(jìn)一步理解，例如通用字典中限定的術(shù)語(yǔ)應(yīng)該被解釋為與相關(guān)技術(shù)上下文中的意思相一致的意思，并且除非在此進(jìn)行特別限定，其不應(yīng)被解釋為理想的或者過(guò)于正式的解釋。
下文中，將參照附圖來(lái)詳細(xì)描述本發(fā)明。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的示例性顯示面板的平面圖。
參照?qǐng)D1，顯示面板100包括第一顯示基板200、面向第一顯示基板200的第二顯示基板300、以及介于第一顯示基板200和第二顯示基板300之間的液晶層(未示出)。
第一顯示基板200包括顯示區(qū)DA和圍繞顯示區(qū)DA的外圍區(qū)PA，其中外圍區(qū)包括第一外圍區(qū)PA1和第二外圍區(qū)PA2。
顯示區(qū)DA包括沿第一方向延伸的多條源極線DL(也稱為數(shù)據(jù)線)、沿第二方向延伸的多條柵極線GL、以及由源極線DL和柵極線GL限定的多個(gè)像素部P。第二方向大致垂直于第一方向，使得像素部P呈矩陣排列。每個(gè)像素部P均包括開(kāi)關(guān)元件(例如，薄膜晶體管)TFT、液晶電容器CLC、以及存儲(chǔ)電容器CST。
柵極焊盤部220、第一二極管靜電耗散部230、以及存儲(chǔ)電壓線240形成在外圍區(qū)PA的第一外圍區(qū)PA1中。存儲(chǔ)電壓線240可以形成在柵極焊盤部220和第一二極管靜電耗散部230之間。
柵極焊盤部220包括向顯示區(qū)DA中的柵極線GL傳遞選通信號(hào)(gate line)的多個(gè)焊盤。焊盤可以與向柵極線GL散開(kāi)的連接線成組地排列。
如在下文中所述，第一二極管靜電耗散部230包括多個(gè)第一二極管，該第一二極管在顯示面板100的生產(chǎn)過(guò)程中散布來(lái)自柵極焊盤部220的靜電荷。第一二極管保護(hù)顯示區(qū)DA免受靜電荷的影響。第一二極管靜電耗散部230電連接至存儲(chǔ)電壓線240，以補(bǔ)充靜電荷。
向存儲(chǔ)電壓線240施加共電壓Vst。將施加到存儲(chǔ)電極線240的共電壓Vst施加到每個(gè)像素部P中的存儲(chǔ)電容器CST。存儲(chǔ)電壓線240可以大致平行于源極線DL延伸。
第二二極管靜電耗散部250、源極焊盤部260、第一測(cè)試部270、第二測(cè)試部280、以及靜電放電部290形成在外圍區(qū)PA的第二外圍區(qū)PA2中。第二外圍區(qū)PA2可以沿著顯示區(qū)DA的第二側(cè)延伸，該第二側(cè)大致垂直于顯示區(qū)DA的第一側(cè)，其中，第一外圍區(qū)PA1在顯示區(qū)DA的第一側(cè)上延伸。
源極焊盤部260包括向顯示區(qū)DA中的源極線DL傳遞數(shù)據(jù)信號(hào)的多個(gè)焊盤261。焊盤可以與向源極線DL散開(kāi)的連接線成組地排列。
如在下文中所述，第二二極管靜電耗散部250包括多個(gè)第二二極管，該第二二極管在顯示面板100的生產(chǎn)過(guò)程中將來(lái)自源極焊盤部260的靜電荷釋放。第二二極管保護(hù)顯示面板100的顯示區(qū)DA免受靜電荷的影響。第二二極管靜電耗散部250電連接至存儲(chǔ)電壓線240，以補(bǔ)充靜電荷。存儲(chǔ)電壓線240可以從第一外圍區(qū)PA1延伸至第二外圍區(qū)PA2中。用于接收共電壓Vst的存儲(chǔ)電壓線240的焊盤可以與第一測(cè)試部270的焊盤相鄰。
第一測(cè)試部270包括第一測(cè)試線271和第一測(cè)試焊盤272。第一測(cè)試線271電連接至第一二極管靜電耗散部230。第一測(cè)試線271可以大致平行于存儲(chǔ)電壓線240延伸。第一測(cè)試焊盤272向第一測(cè)試線271傳遞第一測(cè)試信號(hào)。將來(lái)自第一測(cè)試部270的第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)第一二極管靜電耗散部230施加到柵極線GL。
第二測(cè)試部280包括第二測(cè)試線281和第二測(cè)試焊盤282。第二測(cè)試線281可以大致平行于第一測(cè)試線271延伸。第二測(cè)試線281例如經(jīng)由連接線電連接至第二二極管靜電耗散部250。第二測(cè)試焊盤282向第二測(cè)試線281傳遞第二測(cè)試信號(hào)。來(lái)自第二測(cè)試部280的第二測(cè)試信號(hào)通過(guò)第二二極管靜電耗散部250施加到源極線DL。
靜電耗散部290形成在第二二極管靜電耗散部250和顯示區(qū)DA之間。第二二極管靜電耗散部250的一個(gè)端子電連接至存儲(chǔ)電壓線240。靜電放電部290包括分別電連接至源極線DL的多個(gè)晶體管。靜電放電部290去除從第二二極管靜電耗散部250釋放的殘余靜電荷，以防止顯示區(qū)DA中的開(kāi)關(guān)元件TFT的故障?？稍陂_(kāi)關(guān)元件TFT中形成的故障實(shí)例包括滴答聲(tick)、斷路、短路等。在嘀答聲中，顯示區(qū)域DA中的開(kāi)關(guān)元件TFT的溝道部分被分成多個(gè)部分。
圖2是示出圖1中所示的示例性第一顯示基板的部分平面圖。圖3是沿著圖2中的線I-I’截取的橫截面圖。
參照?qǐng)D1至圖3，第一顯示基板200包括底部基板201。多個(gè)像素部P、第一二極管靜電耗散部230、以及第一測(cè)試部270形成在底部基板201上。
像素部P中的一個(gè)像素部P1包括開(kāi)關(guān)元件(例如，薄膜晶體管)TFT1和像素電極216。開(kāi)關(guān)元件TFT1包括柵電極211、源電極213、以及漏電極214。柵電極211電連接至柵極線GL1。源電極213電連接至源極線DL1。漏電極214電連接至像素電極216。溝道部212形成在源電極213和漏電極214之間的柵電極211上。
另外，柵極絕緣層202形成在柵電極211和溝道部212之間。鈍化層203形成在源電極213和漏電極214上。剩余像素電極部P可以類似于像素部P1排列。
第一二極管靜電耗散部230包括多個(gè)第一二極管GD1、GD2、...，它們分別電連接至柵極線GL1、GL2、...。第一測(cè)試部270的第一測(cè)試線271電連接至第一二極管靜電耗散部230。第一測(cè)試焊盤272位于第一測(cè)試線271的一個(gè)端子上。
特別地，第一二極管GD1、GD2...中的每一個(gè)均包括柵電極231、源電極233、以及漏電極234。第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的柵電極231、源電極233電連接至第一測(cè)試線271。第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的漏電極234電連接至柵極線GL1、GL2、...中的每一條。
第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的源電極233從第一測(cè)試線271延伸，由此電連接至第一測(cè)試線271。第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的柵電極231通過(guò)第一連接圖樣235電連接至第一測(cè)試線271。第一連接圖樣235可以經(jīng)由用于露出第一測(cè)試線271和柵電極231的部分的接觸孔連接至柵電極231和第一測(cè)試線271。
第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的漏電極234通過(guò)第二連接圖樣236電連接至柵極線GL1、GL2、...。第二連接圖樣236可以經(jīng)由用于露出柵極線GL1、GL2、...和漏電極234的部分的接觸孔連接至漏電極234和柵極線GL1、GL2、...。第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)可以進(jìn)一步包括位于源電極234和漏電極231之間的柵電極231上的溝道部232。第一連接圖樣235和第二連接圖樣236由與形成在像素部P1中的像素電極216大致相同的層構(gòu)成。第一連接圖樣235和第二連接圖樣236包括導(dǎo)電材料。
另外，柵極絕緣層202形成在第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的柵電極231和溝道部232之間。鈍化層203形成在第一二極管GD1、GD2、...中的每一個(gè)的源電極233和漏電極234上。
第一測(cè)試部270的第一測(cè)試線271由與第一二極管GD1、GD2、...的源電極233和漏電極234、以及開(kāi)關(guān)元件TFT1的源電極213和漏電極214大致相同的層構(gòu)成。在圖1至圖3中，第一測(cè)試部270的第一測(cè)試線271和第一二極管GD1、GD2、...的源電極233和漏電極234、以及開(kāi)關(guān)元件TFT1的源電極213和漏電極214包括金屬層。第一測(cè)試部270的第一測(cè)試焊盤272和像素電極216、以及第一連接圖樣235和第二連接圖樣236可以包括透明導(dǎo)電材料。
圖4是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第一二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖。
參照?qǐng)D4，多個(gè)像素部P1、P2、...形成在顯示面板100的顯示區(qū)DA中。第一二極管靜電耗散部230通過(guò)柵極線GL1、GL2、...中的一個(gè)端子釋放施加到柵極線GL1、GL2、...的靜電荷，該第一二極管靜電耗散部形成在圍繞顯示區(qū)DA的外圍區(qū)PA中。第一測(cè)試部270形成在外圍區(qū)PA中。第一測(cè)試部270通過(guò)第一二極管靜電耗散部230將第一測(cè)試信號(hào)傳遞到顯示區(qū)DA。
像素部P1、P2、P3、...中的每一個(gè)均包括開(kāi)關(guān)元件TFT、液晶電容器CLC、以及存儲(chǔ)電容器CST。開(kāi)關(guān)元件TFT的柵電極電連接至其相應(yīng)的柵極線GL。開(kāi)關(guān)元件TFT的漏電極電連接至液晶電容器CLC和存儲(chǔ)電容器CST。
第一二極管靜電耗散部230包括分別電連接至柵極線GL1、GL2、GL3、...的多個(gè)第一二極管GD1、GD2、GD3、...。
第一二極管GD1、GD2、GD3、...中的每一個(gè)均具有電連接至第一測(cè)試部270的柵電極、電連接至第一測(cè)試部270的源電極、以及電連接至相應(yīng)的柵極線GL1、GL2、GL3、...的漏電極。
當(dāng)向第一測(cè)試部270施加第一測(cè)試信號(hào)T1時(shí)，通過(guò)第一測(cè)試部270將第一測(cè)試信號(hào)T1施加到第一二極管靜電耗散部230。通過(guò)第一二極管GD1、GD2、GD3、...將第一測(cè)試信號(hào)T1施加到顯示區(qū)的像素部P1、P2、P3、...。
第一測(cè)試信號(hào)T1通過(guò)電連接至第一二極管靜電耗散部230的第一測(cè)試部270被施加到柵極線GL1、GL2、GL3、...。柵極線GL1、GL2、GL3、...形成在顯示區(qū)DA中。因此，可以容易地測(cè)試柵極線GL1、GL2、GL3、...，以檢測(cè)柵極線GL1、GL2、GL3、...的斷路或短路。
圖5是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第一二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖。除了第一二極管靜電耗散部之外，圖5的顯示面板與圖4的顯示面板大致相同。因此，將省略對(duì)相同部分的描述。
參照?qǐng)D5，第一二極管靜電耗散部230’包括電連接至柵極線GL1、GL2、GL3、...中的每一條的兩個(gè)二極管GD11和GD12、GD21和GD22、GD31和GD32、...。
兩個(gè)二極管GD11和GD12、GD21和GD22、GD31和GD32、...中的每一個(gè)均具有電連接至第一測(cè)試部270的柵電極、電連接至第一測(cè)試部270的源電極、以及電連接至相應(yīng)的柵極線GL1、GL2、GL3、...的漏電極。
因此，通過(guò)第一二極管靜電耗散部230’將來(lái)自第一測(cè)試部270的第一測(cè)試信號(hào)施加到顯示區(qū)的像素部P1、P2、P3、...。
圖6是示出圖1中所示的示例性第一顯示基板的部分平面圖。圖7是沿著圖6中的線II-II’截取的橫截面圖。
參照?qǐng)D6和圖7，第一顯示基板200包括底部基板201。多個(gè)像素部P1、第二二極管靜電耗散部250、以及第二測(cè)試部280形成在底部基板201上。
雖然示出并描述了示例性的像素部P1，但是剩余的像素部P可以包括類似的排列。像素部P1包括開(kāi)關(guān)元件TFT1和像素電極216。開(kāi)關(guān)元件TFT1包括柵電極211、源電極213、以及漏電極214。開(kāi)關(guān)元件TFT1的柵電極211電連接至柵極線GL1。開(kāi)關(guān)元件TFT1的源電極213電連接至源極線DL1。開(kāi)關(guān)元件TFT1的漏電極214電連接至像素電極216。開(kāi)關(guān)元件TFT1的溝道部212形成于源電極213和漏電極214之間的柵電極211上。
此外，柵極絕緣層202形成于開(kāi)關(guān)元件TFT1的柵電極211和溝道部212之間。鈍化層203形成在源電極213和漏電極214上。
第二二極管靜電耗散部250包括電連接至源極線DL1、DL2、...的多個(gè)第二二極管DD1、DD2、...。第二測(cè)試部280的第二測(cè)試線281電連接至第二二極管靜電耗散部250。第二測(cè)試焊盤282位于第二測(cè)試線281的一個(gè)端子上。
特別地，第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)均包括柵電極251、源電極254、以及漏電極253。第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的柵電極251以及第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的源電極254均電連接至第二測(cè)試線281。第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的漏電極253電連接至源極線DL1、DL2、...。
第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的柵電極251從第二測(cè)試線281延伸，因此電連接至第二測(cè)試線281。第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的源電極254通過(guò)連接圖樣255電連接至第二測(cè)試線281。
第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的漏電極253從源極線DL1、DL2、...延伸，因此電連接至源極線DL1、DL2、...。第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)均可以進(jìn)一步包括位于源電極254和漏電極253之間的柵電極251上的溝道部252。連接圖樣255由與每個(gè)像素部P中的像素電極216大致相同的層構(gòu)成，并且包括導(dǎo)電圖樣。
此外，柵極絕緣層202形成在第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的柵電極251和溝道部252之間。即，柵極絕緣層202可以位于柵電極211和251以及溝道部212和252之間。鈍化層203形成在第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的源電極254和漏電極253上。即，鈍化層203可以位于每個(gè)像素部P的開(kāi)關(guān)晶體管TFT的源電極213和漏電極214以及第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的源電極254和漏電極253上。
第二測(cè)試部280的第二測(cè)試線281可以包括與開(kāi)關(guān)晶體管TFT1的源電極213和漏電極214以及第二二極管DD1、DD2、...中的每一個(gè)的源電極254和漏電極253大致相同的金屬。第二測(cè)試部280的第二測(cè)試焊盤282以及連接圖樣255包括與像素電極216大致相同的導(dǎo)電材料。
圖8是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第二二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖。
參照?qǐng)D8，多個(gè)像素部P1、P2、P3、...形成在顯示面板100的顯示區(qū)DA中，并且使施加到源極線DL1、DL2、DL3、...的靜電荷釋放的第二二極管靜電耗散部250形成在圍繞顯示區(qū)DA的外圍區(qū)PA中。第二測(cè)試部280形成在外圍區(qū)PA中。第二測(cè)試部280通過(guò)第二二極管靜電耗散部250向顯示區(qū)DA傳遞第二測(cè)試信號(hào)T2。
像素部P1、P2、P3、...中的每一個(gè)均包括開(kāi)關(guān)元件TFT、液晶電容器CLC、以及存儲(chǔ)電容器CST。每個(gè)開(kāi)關(guān)元件TFT的柵電極均電連接至其相應(yīng)的柵極線GL。每個(gè)開(kāi)關(guān)元件TFT的漏電極均電連接至液晶電容器CLC和存儲(chǔ)電容器CST。
第二二極管靜電耗散部250包括分別電連接至源極線DL1、DL2、DL3、...的多個(gè)第二二極管DD1、DD2、DD3、...。
第二二極管DD1、DD2、DD3、...中的每一個(gè)均包括電連接至第二測(cè)試部280的柵電極、電連接至第二測(cè)試部280的源電極、以及電連接至相應(yīng)的源極線DL1、DL2、DL3、...的漏電極。
當(dāng)向第二測(cè)試部280施加第二測(cè)試信號(hào)T2時(shí)，通過(guò)第二測(cè)試部280將第二測(cè)試信號(hào)T2施加到第二二極管靜電耗散部250。第二測(cè)試信號(hào)T2通過(guò)第二二極管DD1、DD2、DD3、...被施加到顯示區(qū)DA的像素部P1、P2、P3、...。
第二測(cè)試信號(hào)T2通過(guò)電連接至第二二極管靜電耗散部250的第二測(cè)試部280被施加到源極線DL1、DL2、DL3、...。源極線DL1、DL2、DL3、...形成在顯示區(qū)DA中。因此，可以容易地測(cè)試源極線DL1、DL2、DL3、...，以檢測(cè)源極線DL1、DL2、DL3、...的斷路或短路。
圖9是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實(shí)施例的具有示例性第二二極管靜電耗散部的示例性顯示面板的等效電路圖。除了第二二極管靜電耗散部之外，圖9的顯示面板與圖8的顯示面板大致相同。因此，將省略對(duì)相同部分的描述。
參照?qǐng)D9，第二二極管靜電耗散部250’包括電連接至相應(yīng)的源極線DL1、DL2、DL3、...中的每一條的兩個(gè)二極管DD11和DD12、DD21和DD22、DD31和DD32、...。
兩個(gè)二極管DD11和DD12、DD21和DD22、DD31和DD32、...中的每一個(gè)均具有電連接至第二測(cè)試部280的柵電極、電連接至第二測(cè)試部280的源電極、以及電連接至源極線DL1、DL2、DL3、...中相應(yīng)一條的漏電極。
因此，通過(guò)第二二極管靜電耗散部250’將來(lái)自第二測(cè)試部280的第二測(cè)試信號(hào)施加到顯示區(qū)DA的像素部P1、P2、P3。
圖10是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的用于執(zhí)行總測(cè)試的示例性裝置的示意性透視圖。圖11是示出圖10中所示的示例性測(cè)試裝置的框圖。
參照?qǐng)D1、圖10和圖11，測(cè)試裝置500包括多個(gè)信號(hào)發(fā)生器420、460、470和480以及控制器410。信號(hào)發(fā)生器420、460、470和480分別電連接至柵極焊盤部220、源極焊盤部260、第一測(cè)試部270以及第二測(cè)試部280。柵極焊盤部220、源極焊盤部260、第一測(cè)試部270以及第二測(cè)試部280形成在顯示面板100上?？刂破?10控制信號(hào)發(fā)生器420、460、470和480，以產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)。
特別地，第一信號(hào)發(fā)生器420包括多個(gè)第一輸出引腳520。第一輸出引腳520電連接至柵極焊盤部220的多個(gè)焊盤，并且向柵極焊盤部220發(fā)送柵極測(cè)試信號(hào)。
第二信號(hào)發(fā)生器460包括多個(gè)第二輸出引腳560。第二輸出引腳560電連接至源極焊盤部260的多個(gè)焊盤(圖3中示出的焊盤261)，并且向源極焊盤部260發(fā)送源極測(cè)試信號(hào)。
第三信號(hào)發(fā)生器470包括多個(gè)第三輸出(發(fā)生)引腳570，該第三輸出引腳電連接至第一測(cè)試部270并且向第一測(cè)試部270施加第一測(cè)試信號(hào)。來(lái)自第一測(cè)試部270的第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)第一二極管靜電耗散部230被施加到柵極線GL。第一測(cè)試信號(hào)是導(dǎo)通柵極線的柵極導(dǎo)通電壓。例如，第一測(cè)試信號(hào)的電平可以是約20V至約30V。
第四信號(hào)發(fā)生器480包括多個(gè)第四輸出(發(fā)生)引腳580，該第四輸出引腳電連接至第二測(cè)試部280并且向第二測(cè)試部280施加第二測(cè)試信號(hào)。來(lái)自第二測(cè)試部280的第二測(cè)試信號(hào)通過(guò)第二二極管靜電耗散部250被施加到源極線DL。第二測(cè)試信號(hào)是對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓。
控制器410基于從外部向控制器410提供的測(cè)試控制信號(hào)來(lái)控制信號(hào)發(fā)生器420、460、470和480。
特別地，當(dāng)用于檢測(cè)像素的測(cè)試信號(hào)被施加到控制器410時(shí)，控制器410控制第一信號(hào)發(fā)生器420和第二信號(hào)發(fā)生器460，以通過(guò)第一輸出引腳520和第二輸出引腳560分別向柵極焊盤部220和源極焊盤部260施加?xùn)艠O測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)。在這種情況下，控制器410控制第三信號(hào)發(fā)生器470和第四信號(hào)發(fā)生器480，以使第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)不能施加到第三信號(hào)發(fā)生器470的第三輸出引腳570和第四信號(hào)發(fā)生器480的第四輸出引腳580。
當(dāng)用于檢測(cè)線路缺陷的測(cè)試信號(hào)被施加到控制器410時(shí)，控制器410控制第三信號(hào)發(fā)生器470和第四信號(hào)發(fā)生器480，以分別通過(guò)第三輸出引腳570和第四輸出引腳580將第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)施加到第一測(cè)試部270和第二測(cè)試部280。在這種情況下，控制器410控制第一信號(hào)發(fā)生器420和第二信號(hào)發(fā)生器460，以使柵極測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)不能施加到第一信號(hào)發(fā)生器420的第一輸出引腳520和第二信號(hào)發(fā)生器460的第二輸出引腳560。
圖12A和12B是示出用于使用圖11中示出的示例性裝置來(lái)總測(cè)試示例性顯示面板的示例性方法的透視圖。
圖12A是示出使用圖11所示的示例性測(cè)試裝置來(lái)測(cè)試圖像顯示質(zhì)量的透視圖。
參照?qǐng)D11和圖12A，測(cè)試裝置500通過(guò)第一信號(hào)發(fā)生器420和第二信號(hào)發(fā)生器460向顯示面板100輸出柵極測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)，以在顯示面板100上顯示圖像圖樣501。在這種情況下，測(cè)試裝置500不向第三輸出(發(fā)生)引腳570和第四輸出(發(fā)生)引腳580輸出第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)。
第一信號(hào)發(fā)生器420通過(guò)第一輸出引腳520輸出用于導(dǎo)通顯示面板100的柵極線GL的柵極測(cè)試信號(hào)。柵極測(cè)試信號(hào)被施加到電連接至第一輸出引腳520的柵極焊盤部220。
第二信號(hào)發(fā)生器460通過(guò)第二輸出引腳560向顯示面板100的源極線DL施加對(duì)應(yīng)于圖像圖樣501的源極測(cè)試信號(hào)。因此，源極測(cè)試信號(hào)被施加到電連接至第二輸出引腳560的源極焊盤部260。
因此，用于測(cè)試顯示面板100的圖像圖樣501顯示在顯示面板100上，以利用圖像圖樣501來(lái)檢測(cè)像素和線路的缺陷。
圖12B是示出使用圖11中所示的示例性測(cè)試裝置來(lái)檢測(cè)示例性顯示面板上的線路缺陷的透視圖。
參照?qǐng)D1、圖11和圖12B，測(cè)試裝置通過(guò)第三信號(hào)發(fā)生器570和第四信號(hào)發(fā)生器580分別向顯示面板100輸出用于檢測(cè)顯示面板100的線路的第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)。在這種情況下，測(cè)試裝置500不向第一輸出引腳520和第二輸出引腳560輸出柵極測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)。
第三信號(hào)發(fā)生器570產(chǎn)生用于導(dǎo)通柵極線GL的第一測(cè)試信號(hào)，從而將第一測(cè)試信號(hào)施加到電連接至第三信號(hào)發(fā)生器570的第一測(cè)試部270。第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)電連接至柵極線GL的第一二極管靜電耗散部230施加到柵極線GL。
第四信號(hào)發(fā)生器580向電連接至第四信號(hào)發(fā)生器580的第二測(cè)試部280施加第二測(cè)試信號(hào)。第二測(cè)試信號(hào)通過(guò)電連接至源極線DL的第二二極管靜電耗散部250被施加到源極線DL。
第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)分別通過(guò)第一測(cè)試部270和第二測(cè)試部280同時(shí)施加到顯示面板100的柵極線GL和源極線DL。因此，顯示面板100顯示具有對(duì)應(yīng)于第二測(cè)試信號(hào)的預(yù)定灰度級(jí)的圖像。
當(dāng)顯示面板100的源極線DL和柵極線GL包括斷路或短路時(shí)，源極線DL和柵極線GL的缺陷LE顯示為線性形狀。
因此，使用本發(fā)明示例性實(shí)施例的測(cè)試裝置，防止了測(cè)試裝置的引腳和顯示面板的焊盤之間的斷線，從而提高了測(cè)試的可靠性。
根據(jù)本發(fā)明，第一測(cè)試部電連接至第一二極管靜電耗散部，以將施加到柵極焊盤部的靜電荷釋放，并且第二測(cè)試部電連接至第二二極管靜電耗散部，以將施加到源極焊盤部的靜電荷釋放。
第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)被施加到第一測(cè)試部和第二測(cè)試部，以在顯示面板的總測(cè)試期間檢測(cè)顯示面板的線路，以減小由于測(cè)試裝置和顯示面板的焊盤之間的斷線而形成的錯(cuò)誤。
因此，可以增加顯示面板的生長(zhǎng)率和測(cè)試的可靠性。此外，可以減小顯示面板的缺陷，從而增加顯示面板生產(chǎn)過(guò)程的成品率。另外，可以降低顯示面板的制造成本。
雖然已經(jīng)描述了本發(fā)明的示例性實(shí)施例，但是應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不局限于這些示例性實(shí)施例，在本發(fā)明的權(quán)利要求的精神和范圍之內(nèi)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以做出各種修改和替換。
權(quán)利要求
1.一種顯示基板，包括柵極焊盤部，位于多條柵極線中的每一條的一個(gè)端子上，所述柵極焊盤部向每條所述柵極線傳遞信號(hào)；源極焊盤部，位于多條源極線中的每一條的一個(gè)端子上，所述源極焊盤部向每條所述源極線傳遞信號(hào)；第一靜電耗散部，用于散布施加到所述源極焊盤部的靜電荷；以及第一測(cè)試部，用于接收第一測(cè)試信號(hào)，所述第一測(cè)試部電連接至所述第一靜電耗散部，所述第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)所述第一靜電耗散部施加到所述源極線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板，其中，所述第一測(cè)試部包括第一測(cè)試線，電連接至所述第一靜電耗散部；以及第一測(cè)試焊盤，電連接至所述第一測(cè)試線，并且接收所述第一測(cè)試信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板，其中，所述第一測(cè)試信號(hào)是對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板，進(jìn)一步包括被所述柵極線和所述源極線限定的多個(gè)像素部，其中，所述第一靜電耗散部形成于所述源極焊盤部和所述多個(gè)像素部之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示基板，進(jìn)一步包括靜電放電部，用于將施加到所述第一靜電耗散部的靜電荷釋放，其中，所述靜電放電部位于所述第一靜電耗散部和所述多個(gè)像素部之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板，其中，所述第一靜電耗散部包括多個(gè)第一二極管。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示基板，其中，每個(gè)所述第一二極管均包括晶體管，所述晶體管包括電連接至所述第一測(cè)試部的柵電極、電連接至所述第一測(cè)試部的源電極、以及電連接至所述源極線之一的漏電極。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示基板，其中，每個(gè)所述第一二極管中均包括多個(gè)晶體管，并且每個(gè)所述晶體管均包括電連接至所述第一測(cè)試部的柵電極、電連接至所述第一測(cè)試部的源電極、以及電連接至所述源極線之一的漏電極。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示基板，進(jìn)一步包括第二靜電耗散部，用于散布施加到所述柵極焊盤部的靜電荷；以及第二測(cè)試部，用于接收第二測(cè)試信號(hào)，所述第二測(cè)試部電連接至所述第二靜電耗散部，所述第二測(cè)試信號(hào)通過(guò)所述第二靜電耗散部施加到所述柵極線。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示基板，其中，所述第二測(cè)試部包括測(cè)試線，電連接至所述第二靜電耗散部；以及測(cè)試焊盤，電連接至所述測(cè)試線，并且接收所述第二測(cè)試信號(hào)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示基板，進(jìn)一步包括被所述柵極線和所述源極線限定的多個(gè)像素部，其中，所述第二靜電耗散部形成于所述柵極焊盤部和所述多個(gè)像素部之間。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示基板，其中，所述第二靜電耗散部包括多個(gè)二極管。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示基板，其中，每個(gè)所述二極管均包括晶體管，所述晶體管包括電連接至所述第二測(cè)試部的柵電極、電連接至所述第二測(cè)試部的源電極、以及電連接至所述柵極線之一的漏電極。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示基板，其中，每個(gè)所述二極管均包括多個(gè)晶體管，并且每個(gè)所述晶體管均包括電連接至所述第二測(cè)試部的柵電極、電連接至所述第二測(cè)試部的源電極、以及電連接至所述柵極線之一的漏電極。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示基板，其中，所述第二測(cè)試信號(hào)是用于導(dǎo)通所述柵極線的柵極導(dǎo)通電壓。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的顯示基板，其中，所述第一測(cè)試信號(hào)是對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的顯示基板，其中，所述第一測(cè)試信號(hào)和所述第二測(cè)試信號(hào)基本上被同時(shí)施加到所述柵極線和所述源極線。
18.一種顯示基板，包括柵極焊盤部，位于多條柵極線中的每一條的一個(gè)端子上，所述柵極焊盤部向所述柵極線中的每一條傳遞信號(hào)；第一靜電耗散部，用于散布施加到所述柵極焊盤部的靜電荷；以及第一測(cè)試部，用于接收第一測(cè)試信號(hào)，所述第一測(cè)試部電連接至所述第一靜電耗散部，所述第一測(cè)試信號(hào)通過(guò)所述第一靜電耗散部被施加到所述柵極線。
19.一種用于測(cè)試顯示面板的裝置，所述顯示面板包括多個(gè)像素部、通過(guò)第一靜電耗散部電連接至多條源極線的第一測(cè)試部、以及通過(guò)第二靜電耗散部電連接至多條柵極線的第二測(cè)試部，所述裝置包括第一信號(hào)發(fā)生器，電連接至所述源極線，以向所述源極線施加源極測(cè)試信號(hào)；第二信號(hào)發(fā)生器，電連接至所述柵極線，以向所述柵極線施加?xùn)艠O測(cè)試信號(hào)；第三信號(hào)發(fā)生器，電連接至所述第一測(cè)試部，以向所述第一測(cè)試部施加第一測(cè)試信號(hào)；以及第四信號(hào)發(fā)生器，電連接至所述第二測(cè)試部，以向所述第二測(cè)試部施加第二測(cè)試信號(hào)。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的裝置，其中，所述第一信號(hào)發(fā)生器和所述第二信號(hào)發(fā)生器分別向所述柵極線和所述源極線施加所述柵極測(cè)試信號(hào)和所述源極測(cè)試信號(hào)，從而首先檢測(cè)所述顯示面板的缺陷。
21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的裝置，其中，所述第三信號(hào)發(fā)生器和所述第四信號(hào)發(fā)生器分別向所述第一測(cè)試部和所述第二測(cè)試部施加所述第一測(cè)試信號(hào)和所述第二測(cè)試信號(hào)，從而其次檢測(cè)所所述顯示面板的缺陷。
22.根據(jù)權(quán)利要求19所述的裝置，其中，所述第一測(cè)試信號(hào)是對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓，并且所述第二測(cè)試信號(hào)是用于導(dǎo)通所述柵極線的柵極導(dǎo)通電壓。
23.根據(jù)權(quán)利要求19所述的裝置，進(jìn)一步包括用于控制所述第一、第二、第三、和第四信號(hào)發(fā)生器的控制器，其中，當(dāng)由所述第一信號(hào)發(fā)生器和所述第二信號(hào)發(fā)生器施加所述源極測(cè)試信號(hào)和所述柵極測(cè)試信號(hào)時(shí)，所述控制器控制所述第三信號(hào)發(fā)生器和所述第四信號(hào)發(fā)生器不施加所述第一測(cè)試信號(hào)和所述第二測(cè)試信號(hào)，并且當(dāng)由所述第三信號(hào)發(fā)生器和所述第四信號(hào)發(fā)生器施加所述第一測(cè)試信號(hào)和所述第二測(cè)試信號(hào)時(shí)，控制所述第一信號(hào)發(fā)生器和所述第二信號(hào)發(fā)生器不施加所述源極測(cè)試信號(hào)和所述柵極測(cè)試信號(hào)。
24.根據(jù)權(quán)利要求19所述的裝置，其中，所述第三信號(hào)發(fā)生器包括單個(gè)輸出引腳，并且所述第四信號(hào)發(fā)生器包括單個(gè)輸出引腳。
25.一種顯示面板的測(cè)試方法，所述顯示面板包括多個(gè)像素部、通過(guò)第一靜電耗散部電連接至多條源極線的第一測(cè)試部、以及通過(guò)第二靜電耗散部電連接至多條柵極線的第二測(cè)試部，所述方法包括分別向所述柵極線和所述源極線施加?xùn)艠O測(cè)試信號(hào)和源極測(cè)試信號(hào)，從而首先檢測(cè)所述顯示面板的缺陷；以及分別向所述第一測(cè)試部和所述第二測(cè)試部施加第一測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試信號(hào)，從而其次檢測(cè)所述顯示面板的缺陷。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，其中，所述首先檢測(cè)缺陷的步驟包括檢測(cè)像素缺陷。
27.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，其中，所述其次檢測(cè)缺陷的步驟包括檢測(cè)線路缺陷。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種顯示基板，其包括柵極焊盤部、源極焊盤部、第一靜電耗散部、以及第一測(cè)試部。柵極焊盤部形成在多條柵極線中的每一條的一個(gè)端子上，并且向柵極線傳遞信號(hào)。源極焊盤部形成在多條源極線中的每一條的一個(gè)端子上，并且向源極線傳遞信號(hào)。第一靜電耗散部散布流入到源極焊盤部中的靜電荷。第一測(cè)試部接收第一測(cè)試信號(hào)，與第一靜電耗散部電接觸，以及通過(guò)第一靜電耗散部向源極線傳遞第一測(cè)試信號(hào)。包括顯示基板的顯示裝置傳輸通過(guò)第一測(cè)試部均勻施加到源極線的第一測(cè)試信號(hào)，從而通過(guò)粗測(cè)試容易地檢測(cè)到缺陷。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1877666SQ20061008704
公開(kāi)日2006年12月13日 申請(qǐng)日期2006年6月12日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月10日
發(fā)明者郭相基 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社