專利名稱：用于測試和分類電子元件的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于根據(jù)電子元件的特性(characteristics)進(jìn)行測 試，和隨后分離及分類電子元件，如發(fā)光二極管的方法與裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二才及管(LED: Light Emitting Diode )是一種顯示和發(fā)光的 技術(shù)，其在市場上被廣泛地使用在電子和電氣產(chǎn)品上，因?yàn)楹蛡鹘y(tǒng)的 白熾光燈泡(incandescent light bulbs)相比較，LEDs使用低能耗，具有 更長的壽命和產(chǎn)生很少的熱量，以及發(fā)彩色光。在LED裝配之后， 在根據(jù)其確定的特性分類以前，每個(gè)LED被測試以確定其光學(xué)和電 學(xué)屬性。由于裝配后的LEDs的特性變化很廣，所以使用復(fù)雜的分類 系統(tǒng)以在LED裝配之后分類和分離它們。
在傳統(tǒng)的用于LEDs的分類系統(tǒng)中，LEDs :帔裝載在測試分類機(jī) 上。通過完成測試如光學(xué)和電學(xué)測試，LEDs的特性表征得以完成。 在進(jìn)行測試之后，LEDs在具有矩陣形式布置的容器的卸載器中被分 類。每個(gè)容器被分配來接收具有某種(些)預(yù)定屬性的LEDs。輸出 管道引導(dǎo)每個(gè)將被傳送到分配好的容器中的LED。通常，在LED被 卸載進(jìn)入容器以前，LED通過一輸出確認(rèn)傳感器，以確保LED成功 通過輸出管道。在該輸出確認(rèn)傳感器已經(jīng)確定前一個(gè)LED已被成功 地傳送之后，下一個(gè)LED才會被單獨(dú)卸載進(jìn)入通向被分配的容器的 輸出管道。
值得注意的是，當(dāng)幾百個(gè)容器可,被使用來收集正被分類的成批的 LEDs的時(shí)候，通常一些容器比其他容器使用得更為頻繁。這是因?yàn)?事實(shí)上一些LEDs具有的所展示的特性比其他LEDs更通用普遍。因 此，和這些LEDs相應(yīng)的容器被輸出管道更頻繁地訪問。在這一方面， 對于容器而言，根據(jù)較多頻繁地使用的容器和較少頻繁地使用的容器進(jìn)行分類是有用的，以便于輸出管道可以更為高效地應(yīng)用。
圖1是根據(jù)發(fā)明較佳實(shí)施例所述的在傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)中使用常
規(guī)容器盤14和在其上疊加的高速容器盤12的俯視平面圖。參考包含 有常規(guī)的容器盤14的傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)，對于輸出管道而言，從容器 a移動到容器b比從容器a移動到容器c將會花費(fèi)更長的時(shí)間，從容 器a移動到容器c的移動距離更短。而且，如果連續(xù)的裝倉有必要交 替地將LEDs傳送到容器b和容器d,那么輸出管道在容器b和容器 d之間反復(fù)移動導(dǎo)致花費(fèi)了實(shí)質(zhì)上的移動時(shí)間。因此，將更為頻繁地 使用的容器相互近距離的放置是有益處的，以便于輸出管道的移動距 離和時(shí)間最小。通過減少輸出管道從一個(gè)容器移動到另一個(gè)容器的距 離，LEDs的分類速度和產(chǎn)量得以提高。而且，通過將頻繁使用的容 器集中在一個(gè)位置，更緊湊和更快速的定位機(jī)構(gòu)可以用作為輸出設(shè) 備，該輸出設(shè)備服務(wù)于這些容器。
另外，在傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)中，每個(gè)容器被預(yù)設(shè)以收集特定數(shù)量的 LEDs。 一旦預(yù)設(shè)計(jì)數(shù)器確定容器中LEDs最大的數(shù)目已經(jīng)達(dá)到，有 必要將傳統(tǒng)的LED分類機(jī)設(shè)定為空閑以允許移去該容器。因此，最 終的停車時(shí)間降低了 LED分類的速度和產(chǎn)量。所以，在使用者移去 某些填滿了的容器的時(shí)候，分類操作允許繼續(xù)進(jìn)行是令人期望的。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種用于分類具有較普遍特性的電 子元件的方法和裝置，其和上述傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)相比，具有相對更高
的分類速度以實(shí)現(xiàn)更高的總產(chǎn)量。
因此， 一方面，本發(fā)明提供一種用于電子元件的分類裝置，該裝 置包括有測試平臺，其用于測試和確定每個(gè)電子元件的特性；第一 容器盤，其具有多個(gè)接收座，以接'收被測試的電子元件；以及第二容 器盤，其具有多于該第一容器盤的接收座，以接收被測試的電子元件； 其中，被裝載在第一容器盤的接收座中的電子元件所包含的被測試的 特性出現(xiàn)的頻率較高，而被裝載在第二容器盤的接收座中的電子元件 所包含的被測試的特性出現(xiàn)的頻率較低。
第二方面，本發(fā)明提供一種分類電子元件的方法，該方法包含有以下步驟測試電子元件，以確定每個(gè)電子元件的特性；確定電子元 件哪些被測試的特性最頻繁出現(xiàn)；將被測試的特性出現(xiàn)的頻率較高的 電子元件裝載在第一容器盤的接收座中，該第一容器盤具有多個(gè)接收 座以用于接收被測試的電子元件；將被測試的特性出現(xiàn)的頻率較低的 電子元件裝載在第二容器盤的接收座中，該第二容器盤具有的接收座 多于該第一容器盤。
參閱后附的描述本發(fā)明實(shí)施例的附圖，隨后來詳細(xì)描述本發(fā)明是 很方便的。附圖和相關(guān)的描述不能理解成是對本發(fā)明的限制，本發(fā)明 的特點(diǎn)限定在權(quán)利要求書中。


在考慮所附附圖一起考慮的時(shí)候，參考根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例的 詳細(xì)描述，本發(fā)明將會很容易地被理解，其中
圖1是根據(jù)發(fā)明較佳實(shí)施例所述的在傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)中使用常規(guī) 容器盤和在其上疊加的高速容器盤的俯視平面圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的LED測試分類機(jī)的立體示意 圖，其表明了包含有高速容器盤和常規(guī)容器盤兩種類型容器盤的位 置。
圖3是根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的LED測試分類機(jī)的俯視圖， 其包含有高速容器盤。
圖4是LED測試分類機(jī)的前視局部示意圖，其表明了高速容器盤 和常規(guī)容器盤的位置。
圖5是包含有和容器相鄰的LCD顯示面板的高速容器盤的立體示 意圖。
圖6是部分容器盤移去后的常規(guī)容器盤的立體示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明較佳實(shí)施例在此將結(jié)合所附附圖進(jìn)行描述。 圖l是根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的第一容器盤，如高速容器盤12的俯視平面圖，該第一容器盤疊加在第二容器盤，如常規(guī)容器盤14 上。高速容器盤l 和常規(guī)容器盤14具有以容器(bins)形式的接收座 (receptacles),以4妄收^皮測i式的電子元件，如LEDs。該附圖闡述了^夸 較為頻繁使用的容器設(shè)置于高速容器盤12上的優(yōu)點(diǎn)。由于高速容器盤 12具有較少的接收座，并從而小于常規(guī)容器盤14，對于輸出管道從位 于高速容器盤12中的容器a移動到容器c所花的移動距離和時(shí)間短 于從容器a移動到容器b。因此，如果位置b處較為頻繁使用的容器將 被合并到位置c的高速容器盤12中，那么具有較普通特性的LEDs的較 高的分類速度和產(chǎn)量能夠得以實(shí)現(xiàn)。
圖2是根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的分類裝置，如LED測試分類 機(jī)10的立體示意圖，其表明了包含有高速容器盤12和常規(guī)容器盤14 的位置。包含有具有較大頻率出現(xiàn)的被測試的特性的LEDs被裝載進(jìn) 入高速容器盤12的容器中，而包含有具有較低頻率出現(xiàn)的被測試的特 性的LEDs被裝載進(jìn)入常規(guī)容器盤14的容器中。該高速容器盤12包含 有足夠數(shù)量的容器以僅僅容納具有較大出現(xiàn)頻率的特性的LEDs，而 常規(guī)容器盤14包含有足夠數(shù)量的容器以接收具有各種不同特性的全 部LEDs。
圖3是根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的LED測試分類機(jī)10的俯視 圖，其包含有高速容器盤12。在被裝載入碗式進(jìn)料機(jī)(bowl feeder)18 以分配在輸送帶20之前，將被測試和分類的LEDs被放置在料斗 (hopper) 16中。每個(gè)LED由輸送帶20傳送到旋轉(zhuǎn)拾取臂模塊22上， 在此拾取臂將每個(gè)LED傳送到旋轉(zhuǎn)臺30上的吸盤24上。旋轉(zhuǎn)臺30逐步 地旋轉(zhuǎn)LED到不同的站點(diǎn)，這些站點(diǎn)包含有單元精度器(unit preciser) 26，測試站點(diǎn)如測試接觸裝置28 (testcontactor),相鄰于旋轉(zhuǎn)臺30設(shè) 置的高速容器盤12和常規(guī)容器盤14。測試接觸裝置28可被操作來測試 和確定每個(gè)LED的特性。旋轉(zhuǎn)臺30被操作來將LEDs順次從單元精度 器26移動到測試接觸裝置28，然后依次從測試接觸裝置28移動到高 速容器盤12和常規(guī)容器盤14。在到達(dá)常規(guī)容器盤14的位置之前，每個(gè) LED被設(shè)置來通過高速容器盤12的位置。在LED落入高速容器盤12或 常規(guī)容器盤14中后，旋轉(zhuǎn)臺30旋轉(zhuǎn)空閑的吸盤24回復(fù)到旋轉(zhuǎn)拾取臂模塊22的位置，在此拾取臂將另 一個(gè)LED傳送到吸盤24上。
在單元精度器26處，LED被對齊以在測試接觸裝置28處使用測試 設(shè)備定位它。諸如光學(xué)和電學(xué)測試的各種測試在測試接觸裝置28處得 以完成，以確定每個(gè)LED的特性。在本階段，如果是新的一批LEDs, 那么更加普遍的LEDs的特性不能夠被確定。因此，在測試之后，根 據(jù)LEDs的特性，所有的LEDs被自動地移動到常規(guī)容器盤14，在此這 些LEDs被落入到常規(guī)容器盤14的被分配后的容器中。
在測試完預(yù)定數(shù)目的LEDs之后，由更頻繁使用的容器組成的一 系列容器能夠被測試分類機(jī)10確定。這種更頻繁使用的容器系列包含 有大量的容器數(shù)量。 一處理器31，例如LED測試分類機(jī)10的PC機(jī)， 被操作來確定LEDs的哪一種特性出現(xiàn)得最為頻繁。同時(shí)處理器31將 容器數(shù)量分配給高速容器盤12中的容器。其后，每個(gè)已經(jīng)被測試的 LED根據(jù)LED的特性，可能或者被傳送到高速容器盤12的容器中，或 者被傳送到常規(guī)容器盤14的容器中。如果LED被分配給高速容器，那 么它將落入到高速容器盤12位置處被分配的容器中。沒有落入到高速 容器盤12的容器中的LED將會通過旋轉(zhuǎn)臺30被旋轉(zhuǎn)到常規(guī)容器盤14 ， 并落入常規(guī)容器盤14的被分配的容器中。
圖4是LED測試分類機(jī)10的前視局部示意圖，其表明了高速容器 盤12和常規(guī)容器盤14的位置。LEDs沿著由旋轉(zhuǎn)臺30的吸盤24的移動 路徑所確定的移動路徑在高速容器盤12和常規(guī)容器盤14的位置之間 可進(jìn)行傳送。由于高速容器盤12的容器設(shè)置在較高的位置，所以高速 容器盤12的容器距離移動路徑比常規(guī)容器盤14的容器更近。因此， LEDs從所述的移動路徑到高速容器盤12的容器的移動距離比到常規(guī) 容器盤14的容器的移動距離更短。利用由轉(zhuǎn)塔馬達(dá)(turretmotor) 44 所驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)臺30將吸盤24上的每個(gè)LED旋轉(zhuǎn)到高速容器盤12和常 規(guī)容器盤14的位置。 '
高速容器盤12和常規(guī)容器盤14均通過管道結(jié)構(gòu)接收LEDs。第一 管道結(jié)構(gòu)引向高速容器盤12的容器，而第二管道結(jié)構(gòu)引向常規(guī)容器盤 14的容器。該第一管道結(jié)構(gòu)較佳地包含有可移動的輸出管道46和相對 靜止(固定)的附屬管道33,而第二管道結(jié)構(gòu)包含有可移動的輸出管道38和相對靜止的附屬管道39。
當(dāng)LED^^皮分配于高速容器時(shí)，該LED落入高速容器盤12的已分配 容器中，此時(shí)可移動的輸出管道46通過高速盤旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)34設(shè)置在孔板 36上的孔洞的上方。該孔洞和引向高速容器盤12中已分配的容器的各 個(gè)附屬管道33相連?？装?6上的孔洞和附屬管道33最好設(shè)置成圓周的 形式。另外，由于高速容器盤12中的容器較少，所以孔板36是小型的。 因此，高速盤旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)34操作和定位輸出管道46比傳統(tǒng)的用于常規(guī)容 器盤14的XY平臺42相對更為快速。
當(dāng)LED沒有被分配于高速容器時(shí)，該LED會被更遠(yuǎn)地旋轉(zhuǎn)到常規(guī) 容器盤14的位置，在此該LED落入常規(guī)容器盤14的已分配的容器中， 此時(shí)可移動的輸出管道38通過XY平臺42設(shè)置在孔板37上孔洞的上 方。該孔洞和引向常規(guī)容器盤14中已分配的容器的各個(gè)附屬管道39 相連。由于常規(guī)容器盤14中的容器較多，所以常規(guī)的孔板37大于高速 的孔板36。因此，XY平臺42操作起來比用于高速容器盤12的高速盤 旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)3 4相對更為緩慢。
從這些描述中值得注意的是，可移動的輸出管道46將具有更普遍 特性的LEDs導(dǎo)？I到孔板36上，可移動的輸出管道46實(shí)質(zhì)上比導(dǎo)引具 有缺少普遍特性的LEDs到孔板37上的可移動的輸出管道38更短些。 更短的可移動的輸出管道46和更小的孔板36允許LEDs進(jìn)入高速容器 盤12中的容器更為快速。相反，更長的可移動的輸出管道38和更大的 孔板37減慢了LEDs分類進(jìn)入常規(guī)容器盤14中的處理。
而且，當(dāng)LEDs通過兩組獨(dú)立的管道結(jié)構(gòu)被引導(dǎo)到位于兩個(gè)獨(dú)立 位置處的高速容器盤12和常規(guī)容器盤14的時(shí)候，LEDs大體同步地被 裝載進(jìn)入高速容器盤12和常規(guī)容器盤14的容器中。因此，當(dāng)高速容器 盤12不作業(yè)時(shí)，常規(guī)容器盤14可以被設(shè)置來接收所有的由高速容器盤 12接收的LEDs。當(dāng)使用者需要收M已經(jīng)接收了預(yù)定數(shù)量LEDs的、顯 示已經(jīng)填滿了的高速容器時(shí)，原來打算在高速容器中卸載的LEDs能 夠繼續(xù)被分類進(jìn)入相應(yīng)的常規(guī)容器，該常規(guī)容器對于具有相同特性的 LEDs而言在常規(guī)容器盤14中仍然可用。因此，當(dāng)移去高速容器時(shí)沒 有必要中止機(jī)器，從而藉此實(shí)現(xiàn)了機(jī)器可用時(shí)間的增加。本發(fā)明較佳實(shí)施例的另一個(gè)特征是計(jì)數(shù)傳感器32、 40的設(shè)置，其 設(shè)置在移動式的輸出管道46、 38的出口處，如分別在高速盤旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu) 34和XY平臺42。該計(jì)數(shù)傳感器32、 40可被操作來確定LED何時(shí)完成 進(jìn)入了孔板36、 37，和統(tǒng)計(jì)所通過的LEDs的數(shù)量。它們提供了一種 用于連續(xù)地裝入同一個(gè)容器的快速而可靠的方法。
在傳統(tǒng)的分類系統(tǒng)中，分類機(jī)必須等待LED通過一個(gè)正好在孔板 37上方的、位于可移動的輸出管道38末端的輸出確認(rèn)傳感器，即使當(dāng) 下一個(gè)LED將被卸載在同 一個(gè)容器中的時(shí)候。在輸出確認(rèn)傳感器已經(jīng) 登記在先LED的卸載和確認(rèn)LED已經(jīng)進(jìn)入孔板37之后，下一個(gè)LED才 將會被卸載在已分配的容器中。當(dāng)同一個(gè)容器被分配到被分類的下一 個(gè)LED時(shí)，這樣延遲了LEDs的卸載和造成了不必要的時(shí)間等待。
在本發(fā)明的較佳實(shí)施例中，計(jì)數(shù)面板被有效地連接到計(jì)數(shù)傳感器 32、 40上，以統(tǒng)計(jì)LEDs通過孔板36、 37的數(shù)量。因此，在下一個(gè)LED 被引入到可移動的輸出管道46、 38以前，不再需要等待輸出確認(rèn)傳感 器登記容器中在先的LED的卸載。如果分配了同一個(gè)容器，那么當(dāng)容 器計(jì)數(shù)傳感器32、 40檢測到已經(jīng)被卸載的LEDs的數(shù)量時(shí)，下一個(gè)LED 幾乎能會被立即卸載。這加快了在同 一個(gè)容器中LEDs的連續(xù)裝載。
圖5是包含有和容器相鄰的LCD顯示面板50的高速容器盤12的立 體示意圖。在高速容器盤12中，每個(gè)LCD顯示面板50和每個(gè)容器相關(guān) 聯(lián)，并顯示該容器已被分配容器的數(shù)量。 一旦容器被作為頻繁使用的 容器標(biāo)上記號，那么和該容器相鄰的LCD顯示面板50使用已分配容器 數(shù)量被處理器31立即更新。當(dāng)卸載容器的時(shí)間來臨時(shí)，這允許使用者 迅速辨別和收集特定的已分配容器。對于LED器件的不同批次而言， LCD顯示面板50允許容器數(shù)量能被測試分類機(jī)10輕易、自動地改變。
圖6是容器盤的一部分52移去后的常規(guī)容器盤14的立體示意圖。 容器盤14的一部分52被移去以倒空蓉器中的內(nèi)容物，而當(dāng)移去容器中 的內(nèi)容物之際其可能會被空閑的容器盤所替代，以便繼續(xù)分類才喿作。
此處描述的本發(fā)明在所具體描述的內(nèi)容基礎(chǔ)上很容易產(chǎn)生變化、 修正和/或補(bǔ)充，可以理解的是所有這些變化、修正和/或補(bǔ)充都包括 在本發(fā)明的上述描述的精神和范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、 一種用于電子元件的分類裝置，該裝置包括有 測試平臺，其用于測試和確定每個(gè)電子元件的特性； 第一容器盤，其具有多個(gè)接收座，以接收被測試的電子元件；以及第二容器盤，其具有多于該第一容器盤的接收座，以接收被測試 的電子元件；其中，被裝載在第一容器盤的接收座中的電子元件所包含的被測 試的特性出現(xiàn)的頻率較高，而被裝載在第二容器盤的接收座中的電子 元件所包含的被測試的特性出現(xiàn)的頻率較低。
2、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，其中，該第一容器盤包含有足 夠數(shù)量的接收座，以僅僅接收被測試特性出現(xiàn)的頻率較高的電子元 件，而第二容器盤包含有足夠數(shù)量的接收座，以接收所有的具有各種 不同特性的電子元件。
3、 如權(quán)利要求2所述的分類裝置，其中，當(dāng)?shù)谝蝗萜鞅P不作業(yè)時(shí)， 該第二容器盤^皮設(shè)置來接收由該第一容器盤接收的所有的電子元件。
4、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，其中，該分類裝置被如此設(shè)置 以便于電子元件在到達(dá)第二容器盤位置之前，電子元件被配置來通過 第一容器盤的位置。
5、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，其中，電子元件沿著一移動路 徑在第一容器盤和第二容器盤的位置之間傳送，并且第一容器盤的接 收座距離該移動路徑近于第二容器盤的接收座。
6、 如權(quán)利要求5所述的分類裝置，其中，電子元件從所述的移動 路徑到第一容器盤的接收座的移動距離短于到第二容器盤接收座的 移動距離。
7、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 第一管道結(jié)構(gòu)，其通向第一容器盤的接收座； 第二管道結(jié)構(gòu)，其通向第二容器盤的接收座。
8、 如權(quán)利要求7所述的分類裝置，其中，該第一管道結(jié)構(gòu)和第二 管道結(jié)構(gòu)中的每個(gè)均包含有可移動的輸出管道和相對固定的附屬管 道。
9、 如權(quán)利要求8所述的分類裝置，該分類裝置包含有 旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，其用于定位通向第一容器盤的接收座的可移動的輸出管道。
10、 如權(quán)利要求8所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 計(jì)數(shù)傳感器，其和可移動的輸出管道一起被用來確定電子元件何時(shí)已經(jīng)通過可移動的輸出管道。
11、 如權(quán)利要求10所述的分類裝置，其中，該計(jì)數(shù)傳感器設(shè)置在 可移動的輸出管道的出口處。
12、 如權(quán)利要求10所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 計(jì)數(shù)面板，其#1用于連接到該計(jì)數(shù)傳感器上，以統(tǒng)計(jì)通過可移動的輸出管道的電子元件的數(shù)量。
13、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，其中，電子元件實(shí)質(zhì)上是同 時(shí)被裝載在第一容器盤的接收座和第二容器盤的接收座中。
14、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 LCD顯示器，其和第一容器盤的每個(gè)接收座相關(guān)聯(lián)，以用于顯示接收座的已分配接收座的數(shù)量。
15、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 旋轉(zhuǎn)臺，其用于將電子元件從測試平臺依次地移動到第一容器盤和第二容器盤。
16、 如權(quán)利要求l所述的分類裝置，該分類裝置還包含有 處理器，其用于確定電子元件哪個(gè)或哪些特性最頻繁出現(xiàn)。
17、 如權(quán)利要求16所述的分類裝置，其中，該處理器還用于將接 收座的數(shù)量分配給第一容器盤的接收座。
18、 一種分類電子元件的方法，該方法包含有以下步驟 測試電子元件，以確定每個(gè)電子元件的特性；確定電子元件哪些被測試的特性最頻繁出現(xiàn)；將被測試的特性出現(xiàn)的頻率較高的電子元件裝載在第 一容器盤 的接收座中，該第一容器盤具有多個(gè)接收座以用于接收被測試的電子 元件；將被測試的特性出現(xiàn)的頻率較低的電子元件裝載在第二容器盤 的"l妄收座中，該第二容器盤具有的接收座多于該第一容器盤。
19、 如權(quán)利要求18所述的方法，該方法還包含有下述步驟當(dāng)?shù)谝蝗萜鞅P的接收座不作業(yè)時(shí)，將具有各種不同特性的所有電 子元件裝載在第二容器盤的接收座中。
20、 如權(quán)利要求18所述的方法，該方法還包含有下述步驟一旦電子元件被測試的出現(xiàn)頻率較高的特性得以確定，那么將接 收座的數(shù)量分配給第一容器盤的接收座，以裝載該被測試的電子元 件。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于電子元件，如LED器件的分類系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括有測試平臺，其用于測試和確定每個(gè)電子元件的特性；第一容器盤，其具有多個(gè)接收座，以接收被測試的電子元件；以及第二容器盤，其具有多于該第一容器盤的接收座，以接收被測試的電子元件；其中，被裝載在第一容器盤的接收座中的電子元件所包含的被測試的特性出現(xiàn)的頻率較高，而被裝載在第二容器盤的接收座中的電子元件所包含的被測試的特性出現(xiàn)的頻率較低。
文檔編號G01R31/26GK101311730SQ200710123459
公開日2008年11月26日 申請日期2007年6月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月25日
發(fā)明者史澤棠, 葉晃承, 汪世杰, 蔡培偉 申請人:先進(jìn)自動器材有限公司