專利名稱：電子元件測試分類機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子元件移載機構(gòu)，特別涉及一種可易于增設(shè)取放器，并更加調(diào)整縮小各取放器的X-Y軸向間距，以利取放電子元件，而大幅提升測試產(chǎn)能以及作業(yè)便利性的電子元件測試分類機。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，是坊間電子元件測試分類機的示意圖，其是在機臺的前方設(shè)有供料裝置10以及收料裝置20，并在機臺的后方設(shè)有復(fù)數(shù)個測試裝置30，所述的供料裝置10設(shè)有至少一具有容置槽的料盤11，用來盛裝復(fù)數(shù)個待測的電子元件，收料裝置20也設(shè)有復(fù)數(shù)個具有容置槽的料盤21，用來盛裝不同等級完測的電子元件，而測試裝置30則設(shè)有具有復(fù)數(shù)個測試座32的測試電路板31，用來測試電子元件，另在機臺上設(shè)有輸送裝置40，用來在供、 收料裝置10、20以及測試裝置30間移載待測/完測的電子元件，所述的輸送裝置40是在收料裝置20與測試裝置30間設(shè)有載具41，用來載送待測/完測的電子元件，并在供、收料裝置10、20與載具41間設(shè)有具有復(fù)數(shù)個取放器421的第一移料臂42，用來移載待測/完測的電子元件，以及在測試裝置30與載具41間設(shè)有具有取放器431的第二移料臂43，用來移載待測/完測的電子元件，由于料盤11、21的各容置槽的間距與各測試座32的間距不同，即必須使第一、二移料臂42、43的各取放器421、431可作Y軸向間距調(diào)整，以便于料盤 11、21以及測試座32處取放待測/完測的電子元件；請參閱圖2、圖3，以第一移料臂42為例，其是在機架422上設(shè)有第一、二馬達423A、423B，用來各別驅(qū)動第一、兩個Z軸向皮帶輪組424A、4MB，并在第一 Z軸向皮帶輪組424A上裝配有第一取放器421A，而第二 Z軸向皮帶輪組424B上則裝配有一具有Y軸向滑槽4251的掣動架425，并以Y軸向滑槽4251供一滑動架426的凸榫4261滑置，滑動架426的前面裝配有第二取放器421B，并在背面裝設(shè)有傳動架427，且在傳動架427與滑動架426間設(shè)有相配合的Z軸向滑軌4271以及Z軸向滑座似62，另在機架422的背面設(shè)有第三馬達423C，用來驅(qū)動一位于機架422前面的Y軸向皮帶輪組4 作動，所述的Y軸向皮帶輪組4 則連結(jié)傳動架427，在調(diào)整第一、二取放器 421A、421B的Y軸向間距時，是以第一取放器421A作基準件，并控制第三馬達423C驅(qū)動Y 軸向皮帶輪組428作動，令Y軸向皮帶輪組428帶動傳動架427作Y軸向位移，傳動架427 利用Z軸向滑軌4271以及Z軸向滑座4262的傳動而驅(qū)動滑動架426以凸榫4261沿掣動架425的Y軸向滑槽4251作Y軸向位移，使滑動架似6帶動第二取放器421B相對于第一取放器421A作Y軸向位移，而調(diào)整第一、二取放器421A、421B的Y軸向間距；然而，所述的第一移料臂42雖可使第一、二取放器421A、421B作Y軸向變距調(diào)整以及Z軸向升降位移， 但第一、二取放器421A、421B作Z軸向升降位移是用來取放電子元件，并不涉及第一、二取放器421A、421B的間距調(diào)整，在第一、二取放器421A、421B的Y軸向間距調(diào)整設(shè)計上，所述的移料臂42僅以第三馬達423C驅(qū)動Y軸向皮帶輪組428，并經(jīng)傳動架427帶動第二取放器 421B作單一 Y軸向位移，然在現(xiàn)今講求高產(chǎn)能的趨勢下，業(yè)者欲在第一移料臂42上增設(shè)X 軸向平行排列的取放器，以提升取放電子元件作業(yè)的產(chǎn)能時，即必須使各列取放器可作X-Y軸向間距的調(diào)整，以應(yīng)對不同料盤的容置槽間距以及各測試座的間距，方可便利取放電子元件，但所述的第一移料臂42的設(shè)計僅可使第一、二取放器421A、421B作單一 Y軸向的間距調(diào)整，以致無法增設(shè)可作X軸向間距調(diào)整的取放器，造成取放電子元件作業(yè)產(chǎn)能受限的缺失。因此，如何設(shè)計一種易于增設(shè)取放器，并可更加調(diào)整縮小各取放器的間距而便利取放電子元件，以提升測試產(chǎn)能以及作業(yè)便利性的電子元件測試分類機，即為業(yè)者研發(fā)的標的。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種電子元件測試分類機，使其易于增設(shè)取放器，并可更加調(diào)整縮小各取放器的間距而便利取放電子元件，以提升測試產(chǎn)能以及作業(yè)便利性。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是一種電子元件測試分類機，其特征在于，包含機臺；供料裝置配置在機臺上，用來容納復(fù)數(shù)個待測的電子元件；收料裝置配置在機臺上，用來容納復(fù)數(shù)個完測的電子元件；測試裝置配置在機臺上，并設(shè)有具有復(fù)數(shù)個測試座的測試電路板，用來測試電子元件；輸送裝置配置在機臺上，并在測試裝置的前、后方各設(shè)有至少一載具，用來載送電子元件，另設(shè)有至少兩個具有復(fù)數(shù)個取放器的移料臂，用來移載電子元件，并在至少一移料臂上設(shè)有Z軸向驅(qū)動機構(gòu)、X軸向調(diào)整機構(gòu)以及Y軸向調(diào)整機構(gòu)，用來使各取放器作Z軸向升降位移以及調(diào)整X-Y軸向間距；中央控制單元是用來控制以及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。其中所述的供料裝置設(shè)有至少一具有容置槽的料盤，用來承置待測的電子元件。其中所述的收料裝置設(shè)有復(fù)數(shù)個具有容置槽的料盤，用來承置不同測試結(jié)果的完測電子元件。其中所述的輸送裝置的移料臂的Z軸向驅(qū)動機構(gòu)設(shè)有至少一 Z軸向驅(qū)動源，用來驅(qū)動復(fù)數(shù)個傳動組作Z軸向位移，其中，一傳動組設(shè)有一可作X軸向位移且具有取放器的Z 軸向滑動件，另一傳動組則設(shè)有一可作Y軸向位移且具有取放器的Z軸向滑動件，以及一傳動組設(shè)有一可作X-Y軸向位移且具有取放器的Z軸向滑動件，而X軸向調(diào)整機構(gòu)設(shè)有X軸向驅(qū)動源，用來驅(qū)動一 X軸向移動架作X軸向位移，所述的X軸向移動架則連結(jié)Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的兩個Z軸向滑動件，用來驅(qū)動兩個Z軸向滑動件以及二取放器作X軸向位移，所述的 Y軸向調(diào)整機構(gòu)設(shè)有Y軸向驅(qū)動源，用來驅(qū)動一 Y軸向移動架作Y軸向位移，所述的Y軸向移動架則連結(jié)Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的兩個Z軸向滑動件，用來驅(qū)動兩個Z軸向滑動件以及二取放器作Y軸向位移。其中所述的Z軸向驅(qū)動機構(gòu)是在Z軸向機架上裝設(shè)有第一、二、三、四驅(qū)動源，所述的第一、二、三、四驅(qū)動源包含第一、二、三、四馬達以及第一、二、三、四皮帶輪組，并以第一、二、三、四皮帶輪組各別驅(qū)動具第一、二、三、四Z軸向滑動件以及第一、二、三、四取放器的第一、二、三、四傳動組。其中第一傳動組設(shè)有一連結(jié)在第一皮帶輪組的第一傳動架，第一傳動架設(shè)有Y 軸向滑槽，供一第一 Z軸向滑動件的凸榫滑置，所述的第一 Z軸向滑動件則裝配有第一取放器，用來帶動第一取放器作Y-Z軸向位移，第二傳動組設(shè)有一連結(jié)在第二皮帶輪組的第二傳動架，第二傳動架是連結(jié)一第二 Z軸向滑動件，第二 Z軸向滑動件則裝配有第二取放器， 并使第二取放器位于第一取放器的Y軸向側(cè)方，用來帶動第二取放器作Z軸向位移，第三傳動組設(shè)有一連結(jié)在第三皮帶輪組的第三傳動架，第三傳動架設(shè)有X軸向滑槽，供一第三Z軸向滑動件的凸榫滑置，所述的第三Z軸向滑動件的底部則裝配有第三取放器，并使第三取放器位于第二取放器的X軸向側(cè)方，用來帶動第三取放器作X-Z軸向位移，第四傳動組設(shè)有一連結(jié)在第四皮帶輪組的第四傳動架，并在第四傳動架上樞設(shè)一可作X-Y軸向擺動的傳動滑軌，所述的傳動滑軌供一第四Z軸向滑動件樞設(shè)的滑座滑置，而第四Z軸向滑動件則裝配有第四取放器，并使第四取放器位于第二取放器的對角處，用來帶動第四取放器作Z軸向位移以及X-Y軸向位移。其中所述的Z軸向機架上設(shè)有二 Y軸向機架，并在二 Y軸向機架上設(shè)有第二 Z軸向滑座，供第二傳動組的第二 Z軸向滑動件滑置。其中所述的X軸向調(diào)整機構(gòu)的X軸向驅(qū)動源包含X軸向馬達以及X軸向皮帶輪組，并以X軸向皮帶輪組連結(jié)一呈Y軸向擺置的X軸向移動架，所述的X軸向移動架的一端固設(shè)有一 Z軸向滑座，供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第三Z軸向滑動件滑置連結(jié)，X軸向移動架上則滑置一間傳滑座，所述的間傳滑座設(shè)有Z軸向滑槽，供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第四Z軸向滑動件滑置連結(jié)，使得X軸向移動架可帶動Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第三、四Z軸向滑動件以及第三、四取放器作χ軸向同步位移，用來調(diào)整與第一、二取放器間的χ軸向間距。其中所述的Y軸向移動架設(shè)有Z軸向滑座以及X軸向滑軌，所述的Z軸向滑座是供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第一 Z軸向滑動件滑置連結(jié)，而X軸向滑軌則供X軸向調(diào)整機構(gòu)間傳滑座的X軸向滑座滑置，使得Y軸向移動架可帶動Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第一、四Z軸向滑動件以及第一、四取放器作Y軸向位移，以調(diào)整與第二、三取放器間的Y軸向間距。其中所述的Y軸向調(diào)整機構(gòu)的Y軸向驅(qū)動源包含Y軸向馬達以及Y軸向皮帶輪組，并以Y軸向皮帶輪組連結(jié)一呈X軸向擺置的Y軸向移動架。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是本發(fā)明提供一種電子元件測試分類機，可易于增設(shè)X軸向平行排列的取放器，并使各取放器作X-Y軸向變距而便利取放電子元件，達到大幅提升測試產(chǎn)能的實用效益。本發(fā)明提供一種電子元件測試分類機，可更加調(diào)整縮小各取放器的間距，以適用于間距微小的各容置槽以及各測試座處取放電子元件，達到提升使用效能的實用效益。


圖1是習式電子元件測試分類機各裝置的配置示意圖；圖2是習式移料裝置的外觀圖；圖3是習式移料裝置的側(cè)視圖；圖4是本發(fā)明電子元件測試分類機各裝置的配置示意圖；圖5是本發(fā)明移料裝置的示意圖6是本發(fā)明移料裝置的另一角度示意圖；圖7是本發(fā)明移料裝置的仰視圖；圖8是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(一)；圖9是第一移料臂調(diào)整縮小各取放器間距的使用示意圖；圖10是第一移料臂調(diào)整各取放器間距的仰視圖；圖11是第一移料臂的各取放器取料示意圖；圖12是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(二)；圖13是第一移料臂調(diào)整放大各取放器間距的使用示意圖；圖14是第一移料臂調(diào)整各取放器間距的仰視圖；圖15是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(三)；圖16是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(四)；圖17是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(五)；圖18是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(六)；圖19是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(七)；圖20是第二移料臂調(diào)整各取放器間距的仰視圖；圖21是本發(fā)明測試分類機的使用示意圖(八)；圖22是第二移料臂調(diào)整各取放器間距的仰視圖。附圖標記說明〔現(xiàn)有技術(shù)〕供料裝置-10；料盤-11 ；收料裝置-20 ；料盤-21 ；測試裝置_30 ；測試電路板-31 ；測試座-32 ；輸送裝置-40 ；載具-41 ；第一移料臂-42 ；取放器-421 ；第一取放器-421A ；第二取放器-421B ；機架-422 ；第一馬達-423A ；第二馬達-423B ；第三馬達-423C ；第一 Z軸向皮帶輪組-424A ；第二 Z軸向皮帶輪組-424B ；掣動架-425 ；Y軸向滑槽-4251 ；滑動架-426 ；凸榫-似61 ；Z軸向滑座-似62 ；傳動架-427 ；Z軸向滑軌-4271 ；Y 軸向皮帶輪組_4觀；第二移料臂-43 ；取放器-431 ；〔本發(fā)明〕供料裝置-50；料盤-501 ；容置槽-502 ；收料裝置_60 ；料盤-601 ；容置槽-602 ；空匣裝置-70 ；測試裝置-80 ；測試電路板-81 ；測試座-82 ；輸送裝置-90 ；第一載具-91 ；定位槽-911 ；第二載具-92 ；定位槽-921 ；第一移料臂-93 ；取放器-931 ；第一取放器-931A ；第二取放器-931B ；第三取放器-931C ；第四取放器-931D ；Z軸向機架-932 ；X軸向滑軌-9321 ；第一 Z軸向馬達-933A ；第二 Z軸向馬達-933B ；第三Z軸向馬達-933C ；第四 Z軸向馬達-933D ；第一Z軸向皮帶輪組-934A ；第二Z軸向皮帶輪組-934B ；第三Z軸向皮帶輪組-934C ；第四Z軸向皮帶輪組-934D ；第一傳動架-935A ；Y軸向滑槽-9351A ；第二傳動架-935B ；第三傳動架-935C ；X軸向滑槽-9351C ；第四傳動架-935D ；傳動滑軌-9351D ；第一 Z軸向滑動件-936A ；凸榫-9361A ；第二 Z軸向滑動件-936B ；第三Z軸向滑動件-936C ； 凸榫-9361C ；第四Z軸向滑動件-936D ；滑座-9361D ；Y軸向機架-937 ；第二 Z軸向滑座-9371 ；Y軸向滑軌-9372 ；X軸向馬達-938 ；X軸向皮帶輪組-939 ；X軸向移動架-940 ；X 軸向滑座-9401 ；Z軸向滑座-9402 ；間傳滑座-9403 ；Z軸向滑座-9404 ；X軸向滑座-9405 ； Y軸向馬達-941 ；Y軸向皮帶輪組-942 ；Y軸向移動架-943 ；Y軸向滑座-9431 ；Z軸向滑座-9432 ；X軸向滑軌-9433 ；第二移料臂-95 ；取放器-951 ；第三移料臂-96 ；取放器-961 ； 第四移料臂-97 ；取放器-971 ；電子元件-100、110。
具體實施例方式為使貴審查委員對本發(fā)明作更進一步的了解，茲舉一較佳實施例并配合圖式，詳述如后請參閱圖4，本發(fā)明電子元件測試分類機是在機臺上配置有供料裝置50、收料裝置60、空匣裝置70、測試裝置80以及輸送裝置90，所述的供料裝置50設(shè)有至少一料盤501， 所述的料盤501具有復(fù)數(shù)個容置槽502，用來承置待測的電子元件，所述的收料裝置60設(shè)有至少一料盤601，所述的料盤601具有復(fù)數(shù)個容置槽602，用來承置完測的電子元件，空匣裝置70是用來收置供料裝置50的空料盤，并將空料盤補充在收料裝置60，用來盛裝完測的電子元件，所述的測試裝置80設(shè)有具有測試座82的測試電路板81，所述的測試座82可為常開型測試座或常閉型測試座，在本實施例中，所述的測試電路板81上配置有4個常開型測試座82，用來同步執(zhí)行4個電子元件的測試作業(yè)，并以測試器(圖未示出)將測試結(jié)果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，由中央控制單元控制各裝置作動；所述的輸送裝置90包含有至少一載具以及至少兩個移料臂，所述的載具可采活動式或固定式設(shè)計，在本實施例中， 所述的輸送裝置90是在測試裝置80的前方設(shè)有可作X軸向位移的第一載具91，第一載具 91設(shè)有復(fù)數(shù)個定位槽911，例如設(shè)有4個采X-Y軸向排列的定位槽911，用來載送待測的電子元件，以及在測試裝置80的后方也設(shè)有一可作X軸向位移的第二載具92，第二載具92設(shè)有復(fù)數(shù)個定位槽921，例如設(shè)有4個采X-Y軸向排列的定位槽921，用來載送完測的電子元件，另所述的輸送裝置90是在供料裝置50與第一載具91間設(shè)有可作X-Y-Z軸向位移的第一移料臂93，用來移載待測的電子元件，在第一載具91與測試裝置80間設(shè)有可作Y-Z軸向位移的第二移料臂95，用來移載待測的電子元件，在測試裝置80與第二載具92間設(shè)有可作Y-Z軸向位移的第三移料臂96，用來移載完測的電子元件，在第二載具92與收料裝置 60間設(shè)有可作X-Y-Z軸向位移的第四移料臂97，用來移載完測的電子元件，所述的輸送裝置90可視移載電子元件作業(yè)所需，而在各移料臂上設(shè)有固定式取放器或變距式取放器，由于第一、二載具91、92的各定位槽911、921的X-Y軸向間距是相對于測試裝置80的各測試座82的X-Y軸向間距，在本實施例中，所述的第二移料臂95以及第三移料臂96可分別設(shè)置復(fù)數(shù)個固定式的取放器951、961，而供、收料裝置50、60的容置槽502、602的X-Y軸向間距，因不同待測電子元件，而可能不同在第一、二載具91、92的定位槽911、921的X-Y軸向間距，在本實施例中，所述的第一移料臂93以及第四移料臂97是可分別設(shè)置復(fù)數(shù)個變距式的取放器931、971，以配合不同電子元件進行取放作業(yè)。請參閱圖4、圖5、圖6、圖7，由于第一、四移料臂93、97的設(shè)計相同，在本實施例中，是以第一移料臂93作一說明，所述的第一移料臂93包含有Z軸向驅(qū)動機構(gòu)、X軸向調(diào)整機構(gòu)以及Y軸向調(diào)整機構(gòu)，所述的Z軸向驅(qū)動機構(gòu)是在一 Z軸向機架932上裝設(shè)有至少一 Z 軸向驅(qū)動源，在本實施例中，設(shè)有第一、二、三、四Z軸向驅(qū)動源，所述的第一、二、三、四Z軸向驅(qū)動源包含有第一、二、三、四Z軸向馬達933A、933B、933C、933D以及第一、二、三、四Z軸向皮帶輪組934A、9;MB、934C、9;MD，并以第一、二、三、四Z軸向皮帶輪組934A、9!34B、934C、 934D各別帶動第一、二、三、四傳動組作Z軸向位移，其中，第一傳動組設(shè)有一連結(jié)在第一 Z 軸向皮帶輪組934A的第一傳動架935A，第一傳動架935A設(shè)有Y軸向滑槽9351A，供一第一 Z軸向滑動件936A的凸榫9361A滑置，所述的第一 Z軸向滑動件936A的底部則裝配有第一取放器931A，使第一 Z軸向滑動件936A可帶動第一取放器931A作Y-Z軸向位移，第二傳動組設(shè)有一連結(jié)在第二 Z軸向皮帶輪組934B的第二傳動架935B，第二傳動架935B是連結(jié)一第二 Z軸向滑動件936B，第二 Z軸向滑動件936B是滑置在一固設(shè)在Y軸向機架937上的第二 Z軸向滑座9371，并在底部裝配有第二取放器931B，且使第二取放器931B位于第一取放器931A的Y軸向側(cè)方，使第二 Z軸向滑動件936B可帶動第二取放器931B作Z軸向位移， 第三傳動組設(shè)有一連結(jié)在第三Z軸向皮帶輪組934C的第三傳動架935C，第三傳動架935C 設(shè)有X軸向滑槽9351C，供一第三Z軸向滑動件936C的凸榫9361C滑置，所述的第三Z軸向滑動件936C的底部則裝配有第三取放器931C，并使第三取放器931C位于第二取放器931B 的X軸向側(cè)方，使第三Z軸向滑動件936C可帶動第三取放器931C作X-Z軸向位移，第四傳動組設(shè)有一連結(jié)在第四Z軸向皮帶輪組934D的第四傳動架935D，并在第四傳動架935D上樞設(shè)一可作水平角度擺動的傳動滑軌9351D，所述的傳動滑軌9351D供一第四Z軸向滑動件 936D樞設(shè)的滑座936ID滑置，而第四Z軸向滑動件936D的底部則裝配有第四取放器93ID， 并使第四取放器931D位于第二取放器931B的對角處，使第四Z軸向滑動件936D可帶動第四取放器931D作Z軸向位移以及X-Y軸向位移，所述的X軸向調(diào)整機構(gòu)是在Z軸向機架 932上裝設(shè)有X軸向驅(qū)動源，在本實施例中，所述的X軸向驅(qū)動源包含X軸向馬達938以及 X軸向皮帶輪組939，并以X軸向皮帶輪組939連結(jié)一呈Y軸向擺置的X軸向移動架940，在本實施例中，所述的X軸向移動架940是一滑軌，并在X軸向移動架940與Z軸向機架932 間設(shè)有相互配合的X軸向滑座9401以及X軸向滑軌9321，用來輔助X軸向移動架940作X 軸向位移，另在X軸向移動架940的一端固設(shè)有一 Z軸向滑座9402，供第三Z軸向滑動件 936C滑置連結(jié)，X軸向移動架940上則滑置一間傳滑座9403，再在間傳滑座9403上設(shè)有Z 軸向滑座9404，供第四Z軸向滑動件936D滑置連結(jié)，使得X軸向移動架940可帶動第三、 四Z軸向滑動件936C、936D以及第三、四取放器931C、931D作X軸向同步位移，以調(diào)整與第一、二取放器931A、931B的X軸向間距，所述的Y軸向調(diào)整機構(gòu)是在Z軸向機架932上裝設(shè)有Y軸向驅(qū)動源，在本實施例中，所述的Y軸向驅(qū)動源包含Y軸向馬達941以及Y軸向皮帶輪組942，并以Y軸向皮帶輪組942連結(jié)一呈X軸向擺置的Y軸向移動架943，所述的Y軸向移動架943與Y軸向機架937間設(shè)有相互配合的Y軸向滑座9431以及Y軸向滑軌9372， 用來輔助Y軸向移動架943作Y軸向位移，另在Y軸向移動架943上設(shè)有Z軸向滑座9432 以及X軸向滑軌9433，所述的Z軸向滑座9432是供第一 Z軸向滑動件936A滑置連結(jié)，而X 軸向滑軌9433則供間傳滑座9403的X軸向滑座9405滑置，使得Y軸向移動架943可帶動第一、四Z軸向滑動件936A、936D以及第一、四取放器931A、931D作Y軸向位移，以調(diào)整與第二、三取放器931B、931C間的Y軸向間距。 請參閱圖6、圖8、圖9、圖10，在使用時，所述的輸送裝置90的第一移料臂93是帶動第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D位移至供料裝置50的料盤501上方，并以第二取放器931B作為基準件，而控制X軸向馬達938以及Y軸向馬達941各別驅(qū)動X軸向皮帶輪組939以及Y軸向皮帶輪組942作動，所述的X軸向皮帶輪組939是帶動X軸向移動架940作X軸向位移，X軸向移動架940即以Z軸向滑座9402以及間傳滑座9403分別帶動第三Z軸向滑動件936C以及第四Z軸向滑動件936D作X軸向位移，并使間傳滑座9403 以X軸向滑座9405沿Y軸向移動架943的X軸向滑軌9433位移，所述的第三Z軸向滑動件936C是以凸榫9361C在第三傳動架935C的X軸向滑槽9351C滑移，并與第二 Z軸向滑動件936B作X軸向相對位移，使第三取放器931C靠合在第二取放器931B的側(cè)面，而可調(diào)整縮小第二、三取放器931B、931C的間距，又所述的Y軸向馬達941則驅(qū)動Y軸向皮帶輪組 942作動，使Y軸向皮帶輪組942帶動Y軸向移動架943作Y軸向位移，所述的Y軸向移動架943即以Z軸向滑座9432以及間傳滑座9403分別帶動第一 Z軸向滑動件936A以及第四Z軸向滑動件936D作Y軸向位移，并使間傳滑座9403在X軸向移動架940上作Y軸向位移，所述的第一 Z軸向滑動件936A是以凸榫9361A在第一傳動架935A的Y軸向滑槽9351A 滑移，并與第二 Z軸向滑動件936B作Y軸向相對位移，使第一取放器931A靠合在第二取放器931B的另一側(cè)面，而可調(diào)整縮小第一、二取放器931A、931B的間距，再者，由于第四Z軸向滑動件936D裝配在一可作水平角度擺動的傳動滑軌9351D上，當X軸向移動架940以及Y軸向移動架943分別帶動間傳滑座9403作X-Y軸向位移時，所述的間傳滑座9403可在X軸向移動架940上作Y軸向位移，并以X軸向滑座9405沿Y軸向移動架943的X軸向滑軌9433 作X軸向位移，以帶動第四Z軸向滑動件936D頂推傳動滑軌9351D作一擺動，第四Z軸向滑動件936D并以滑座9361D沿傳動滑軌9351D滑移，使得第四Z軸向滑動件936D可帶動第四取放器931D作X-Y軸向位移，即使得第四取放器931D相對于第二取放器931B作對角位移，使第四取放器931D靠合在第二取放器931B，而可調(diào)整縮小第二、四取放器931B、931D的間距，使得第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D可作一相互靠合排列，而調(diào)整X-Y 軸向的間距；請參閱第8、10、11圖，當調(diào)整第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的 X-Y軸向間距完畢后，則可控制第一、二、三、四Z軸向馬達933A、933B、933C、933D各別驅(qū)動第一、二、三、四Z軸向皮帶輪組934A、9;34B ,934C.934D，所述的第一 Z軸向皮帶輪組934A即帶動第一傳動架935A以及第一 Z軸向滑動件936A作Z軸向位移，第一 Z軸向滑動件936A 則沿Z軸向滑座9432位移，而可帶動第一取放器931A作Z軸向位移，以在料盤501的容置槽502中取出電子元件100，而第二 Z軸向皮帶輪組934B是帶動第二傳動架935B以及第二 Z軸向滑動件936B作Z軸向位移，第二 Z軸向滑動件936B則可帶動第二取放器931B作Z 軸向位移，用來取出電子元件100，所述的第三Z軸向皮帶輪組934C帶動第三傳動架935C 以及第三Z軸向滑動件936C作Z軸向位移，第三Z軸向滑動件936C則沿Z軸向滑座9402 位移，而帶動第三取放器931C作Z軸向位移，用來取出電子元件100，而第四Z軸向皮帶輪組934D經(jīng)第四傳動架935D以及傳動滑軌9351D而帶動第四Z軸向滑動件936D作Z軸向位移，第四Z軸向滑動件936D則沿Z軸向滑座9404位移，而帶動第四取放器931D作Z軸向位移，用來取出電子元件100。請參閱圖12、圖13、圖14，當?shù)谝灰屏媳?3的復(fù)數(shù)個取放器931A、931B、931C、 931D取出待測的電子元件100后，是移載至第一載具91處，由于供料裝置50的各容置槽 502的X-Y軸向間距因不同電子元件而不同在第一載具91的定位槽911的X-Y軸向間距， 所述的第一移料臂93則調(diào)整放大第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的X-Y軸向間距，在調(diào)整時，是控制X軸向馬達938經(jīng)X軸向皮帶輪組939而驅(qū)動X軸向移動架940作 X軸向向外位移，以及控制Y軸向馬達941經(jīng)Y軸向皮帶輪組942而驅(qū)動Y軸向移動架943 作Y軸向向外位移，其中，X軸向移動架940即以Z軸向滑座9402帶動第三Z軸向滑動件 936C以及第三取放器931C作X軸向向外位移，而調(diào)整放大第二、三取放器931B、931C的間距，所述的Y軸向移動架943則以Z軸向滑座9432帶動第一 Z軸向滑動件936A以及第一取放器931A作Y軸向向外位移，而調(diào)整放大第一、二取放器931A、931B的間距，又所述的X 軸向移動架940以及Y軸向移動架943可利用間傳滑座9403、第四Z軸向滑動件936D以及傳動滑軌9351D而帶動第四取放器931D作X-Y軸向位移，即使得第四取放器931D相對于第二取放器931B作對角向外位移，而調(diào)整放大第二、四取放器931B、931D的間距，使得第一、 二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的X_Y軸向間距對應(yīng)于第一載具91的定位槽911 的X-Y軸向間距，而將待測的電子元件100放置在第一載具91上。請參閱圖15，第一載具91是承載待測的電子元件100至測試裝置80的前方，第二移動臂95的各取放器951即在第一載具91的定位槽911中取出待測的電子元件100 ；請參閱圖16，第二移動臂95的各取放器951是將待測的電子元件100移載至測試裝置80的各測試座82中，各測試座82即執(zhí)行測試作業(yè)，并使測試電路板81將測試信號傳輸至測試器， 測試器再將測試結(jié)果傳輸至中央控制單元，此時，所述的第一載具91則復(fù)位承載下一待測的電子元件110 ；請參閱圖17，在測試座82的測試作業(yè)完畢后，由于第一載具91已承載下一待測的電子元件110至測試裝置80的前方，所述的第二移動臂95的各取放器951則移動至第一載具91的上方，并取出下一待測的電子元件110，此時，第三移動臂96的各取放器961是位移至測試裝置80的上方，使各取放器961在各測試座82中取出完測的電子元件100 ；請參閱圖18，第三移動臂96的各取放器961是將完測的電子元件100移載放置在第二載具92的定位槽921上，此時，第二移動臂95的各取放器951則將下一待測的電子元件110移載置入在測試裝置80的各測試座82內(nèi)而接續(xù)執(zhí)行測試作業(yè)；請參閱圖19、圖20， 第二載具92是載出完測的電子元件100，第四移動臂97是利用X軸向調(diào)整機構(gòu)以及Y軸向調(diào)整機構(gòu)驅(qū)動調(diào)整放大第一、二、三、四取放器971A、971B、971C、971D的X_Y軸向間距對應(yīng)于第二載具92的定位槽921的X-Y軸向間距，而取出完測的電子元件100 ；請參閱圖21、 圖22，第四移動臂97是將完測的電子元件100移載至收料裝置60的料盤601處，再利用X 軸向調(diào)整機構(gòu)以及Y軸向調(diào)整機構(gòu)驅(qū)動調(diào)整縮小第一、二、三、四取放器971A、971B、971C、 97ID的X-Y軸向間距對應(yīng)于料盤61的容置槽602的X-Y軸向間距，并依測試結(jié)果(如良品電子元件、不良品電子元件或次級品電子元件)，而直接將完測的電子元件100置入在料盤 601的各容置槽602中，以完成分類收置作業(yè)。據(jù)此，本發(fā)明可易于增設(shè)取放器，并更加調(diào)整縮小各取放器的X-Y軸向間距，以利取放電子元件。以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解， 在不脫離權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下，可作出許多修改、變化或等效，但都將落入本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電子元件測試分類機，其特征在于，包含機臺；供料裝置配置在機臺上，用來容納復(fù)數(shù)個待測的電子元件；收料裝置配置在機臺上，用來容納復(fù)數(shù)個完測的電子元件；測試裝置配置在機臺上，并設(shè)有具有復(fù)數(shù)個測試座的測試電路板，用來測試電子元件；輸送裝置配置在機臺上，并在測試裝置的前、后方各設(shè)有至少一載具，用來載送電子元件，另設(shè)有至少兩個具有復(fù)數(shù)個取放器的移料臂，用來移載電子元件，并在至少一移料臂上設(shè)有Z軸向驅(qū)動機構(gòu)、X軸向調(diào)整機構(gòu)以及Y軸向調(diào)整機構(gòu)，用來使各取放器作Z軸向升降位移以及調(diào)整X-Y軸向間距；中央控制單元是用來控制以及整合各裝置作動，以執(zhí)行自動化作業(yè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的供料裝置設(shè)有至少一具有容置槽的料盤，用來承置待測的電子元件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的收料裝置設(shè)有復(fù)數(shù)個具有容置槽的料盤，用來承置不同測試結(jié)果的完測電子元件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的輸送裝置的移料臂的Z軸向驅(qū)動機構(gòu)設(shè)有至少一 Z軸向驅(qū)動源，用來驅(qū)動復(fù)數(shù)個傳動組作Z軸向位移，其中，一傳動組設(shè)有一可作X軸向位移且具有取放器的Z軸向滑動件，另一傳動組則設(shè)有一可作Y軸向位移且具有取放器的Z軸向滑動件，以及一傳動組設(shè)有一可作X-Y軸向位移且具有取放器的Z軸向滑動件，而X軸向調(diào)整機構(gòu)設(shè)有X軸向驅(qū)動源，用來驅(qū)動一 X軸向移動架作X軸向位移，所述的X軸向移動架則連結(jié)Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的兩個Z軸向滑動件，用來驅(qū)動兩個Z軸向滑動件以及二取放器作X軸向位移，所述的Y軸向調(diào)整機構(gòu)設(shè)有Y軸向驅(qū)動源， 用來驅(qū)動一 Y軸向移動架作Y軸向位移，所述的Y軸向移動架則連結(jié)Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的兩個Z軸向滑動件，用來驅(qū)動兩個Z軸向滑動件以及二取放器作Y軸向位移。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的Z軸向驅(qū)動機構(gòu)是在Z軸向機架上裝設(shè)有第一、二、三、四驅(qū)動源，所述的第一、二、三、四驅(qū)動源包含第一、 二、三、四馬達以及第一、二、三、四皮帶輪組，并以第一、二、三、四皮帶輪組各別驅(qū)動具第一、二、三、四Z軸向滑動件以及第一、二、三、四取放器的第一、二、三、四傳動組。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子元件測試分類機，其特征在于第一傳動組設(shè)有一連結(jié)在第一皮帶輪組的第一傳動架，第一傳動架設(shè)有Y軸向滑槽，供一第一 Z軸向滑動件的凸榫滑置，所述的第一 Z軸向滑動件則裝配有第一取放器，用來帶動第一取放器作Y-Z軸向位移，第二傳動組設(shè)有一連結(jié)在第二皮帶輪組的第二傳動架，第二傳動架是連結(jié)一第二 Z軸向滑動件，第二 Z軸向滑動件則裝配有第二取放器，并使第二取放器位于第一取放器的Y軸向側(cè)方，用來帶動第二取放器作Z軸向位移，第三傳動組設(shè)有一連結(jié)在第三皮帶輪組的第三傳動架，第三傳動架設(shè)有X軸向滑槽，供一第三Z軸向滑動件的凸榫滑置，所述的第三Z 軸向滑動件的底部則裝配有第三取放器，并使第三取放器位于第二取放器的X軸向側(cè)方， 用來帶動第三取放器作X-Z軸向位移，第四傳動組設(shè)有一連結(jié)在第四皮帶輪組的第四傳動架，并在第四傳動架上樞設(shè)一可作X-Y軸向擺動的傳動滑軌，所述的傳動滑軌供一第四Z軸向滑動件樞設(shè)的滑座滑置，而第四Z軸向滑動件則裝配有第四取放器，并使第四取放器位于第二取放器的對角處，用來帶動第四取放器作Z軸向位移以及X-Y軸向位移。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的Z軸向機架上設(shè)有二 Y軸向機架，并在二 Y軸向機架上設(shè)有第二 Z軸向滑座，供第二傳動組的第二 Z軸向滑動件滑置。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的X軸向調(diào)整機構(gòu)的X軸向驅(qū)動源包含X軸向馬達以及X軸向皮帶輪組，并以X軸向皮帶輪組連結(jié)一呈Y軸向擺置的X軸向移動架，所述的X軸向移動架的一端固設(shè)有一 Z軸向滑座，供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第三Z軸向滑動件滑置連結(jié)，X軸向移動架上則滑置一間傳滑座，所述的間傳滑座設(shè)有 Z軸向滑槽，供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第四Z軸向滑動件滑置連結(jié)，使得X軸向移動架可帶動Z 軸向驅(qū)動機構(gòu)的第三、四Z軸向滑動件以及第三、四取放器作X軸向同步位移，用來調(diào)整與第一、二取放器間的X軸向間距。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的Y軸向移動架設(shè)有Z軸向滑座以及X軸向滑軌，所述的Z軸向滑座是供Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第一 Z軸向滑動件滑置連結(jié)，而X軸向滑軌則供X軸向調(diào)整機構(gòu)間傳滑座的X軸向滑座滑置，使得Y軸向移動架可帶動Z軸向驅(qū)動機構(gòu)的第一、四Z軸向滑動件以及第一、四取放器作Y軸向位移，以調(diào)整與第二、三取放器間的Y軸向間距。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子元件測試分類機，其特征在于所述的Y軸向調(diào)整機構(gòu)的Y軸向驅(qū)動源包含Y軸向馬達以及Y軸向皮帶輪組，并以Y軸向皮帶輪組連結(jié)一呈X軸向擺置的Y軸向移動架。
全文摘要
本發(fā)明是一種電子元件測試分類機，在機臺上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置以及輸送裝置，所述的供料裝置容納復(fù)數(shù)個待測的電子元件，收料裝置容納復(fù)數(shù)個不同等級完測的電子元件，測試裝置設(shè)有復(fù)數(shù)個測試座，所述的輸送裝置是在測試裝置的前、后方各設(shè)有至少一載具，另設(shè)有至少兩個移料臂，各移料臂設(shè)有復(fù)數(shù)個可作X-Y軸向變距以及Z軸向升降位移的取放器，用來在供料裝置、收料裝置、測試裝置以及載具間移載待測/完測的電子元件；如此，可易于增設(shè)取放器，并更加調(diào)整縮小各取放器的X-Y軸向間距，以利取放電子元件，達到大幅提升測試產(chǎn)能以及作業(yè)便利性的實用效益。
文檔編號B07C5/344GK102189082SQ20101012121
公開日2011年9月21日 申請日期2010年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月10日
發(fā)明者蔡志欣 申請人:鴻勁科技股份有限公司