專利名稱：應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可使機(jī)件受力平衡而有效防止變形，以更加提升取放電子元件的精確度以及測試品質(zhì)的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置。
背景技術(shù)：
請參閱圖1、圖2，是現(xiàn)有電子元件測試分類機(jī)的測試裝置的示意圖，是在第一、二機(jī)架101、201上分別設(shè)有第一取料機(jī)構(gòu)以及第二取料機(jī)構(gòu)，第一、二取料機(jī)構(gòu)各具有第一、 二升降結(jié)構(gòu)以及第一、二橫移結(jié)構(gòu)，其中，第一、二升降結(jié)構(gòu)是分別在第一、二機(jī)架101、201 上裝設(shè)有二支第一、二 Z軸向滑軌102、202，并設(shè)有一由第一、二 Z軸向驅(qū)動源103、203驅(qū)動作Z軸向位移的第一、二 Z軸向傳動架104、204，所述的第一、二 Z軸向傳動架104、204是在背面設(shè)有可滑置于第一、二 Z軸向滑軌102、202上的第一、二 Z軸向滑座105、205，并在前面設(shè)有第一、二 X軸向滑軌106、206，所述的第一、二 X軸向滑軌106、206的兩端則凸伸出于第一、二 Z軸向滑軌102、202的側(cè)方，并供第一、二 L型懸臂107、207的第一、二 X軸向滑座108、208滑置組裝，第一、二 L型懸臂107、207的底面則具有第一、二取放器109、209， 用來取放以及壓抵電子元件，另所述的第一、二橫移結(jié)構(gòu)是在第一、二機(jī)架101、201上分別裝設(shè)一由第一、二 X軸向驅(qū)動源110、210驅(qū)動作X軸向位移的第一、二 X軸向傳動架111、 211，所述的第一、二 X軸向傳動架111、211與第一、二 L型懸臂107、207間設(shè)有相互配合的第一、二 Z軸向滑座112、212以及第一、二 Z軸向滑軌113、213 ；在執(zhí)行取出待測電子元件作業(yè)時，以第一取料機(jī)構(gòu)為例，所述的第一取料機(jī)構(gòu)可控制第一 X軸向驅(qū)動源110經(jīng)第一 X 軸向傳動架111而帶動第一 L型懸臂107作X軸向位移，所述的第一 L型懸臂107即以第一 X軸向滑座108滑置于第一 X軸向傳動架111的第一 X軸向滑軌106的側(cè)端處，使得第一取放器109位于具待測電子元件的載臺上方，再控制第一 Z軸向驅(qū)動源103經(jīng)第一傳動架104而帶動第一 L型懸臂107作Z軸向位移，使得第一取放器109下降位移而取出待測的電子元件。然而，第一取放器109在取放電子元件時，所述的電子元件會對第一取放器109產(chǎn)生反作用力，所述的反作用力會傳導(dǎo)至第一 Z軸向傳動架104，由于第一 Z軸向傳動架104 的兩端是作用端，當(dāng)反作用力作用于第一 Z軸向傳動架104的作用端時，即會使第一 Z軸向傳動架104以第一 Z軸向滑軌102為支點，而產(chǎn)生Y軸向力矩，致使第一 Z軸向傳動架104 可能發(fā)生變形，又由于第一取放器109是配置在第一 L型懸臂107上，且第一 L型懸臂107 與第一 Z軸向傳動架104間具有一 Y軸向距離，所述的反作用力也會使第一 L型懸臂107 產(chǎn)生X軸向力矩，以致第一取放器109產(chǎn)生較差的水平度，致使第一 L型懸臂107可能發(fā)生變形，故當(dāng)測試裝置的第一 Z軸向傳動架104以及第一 L型懸臂107等機(jī)件因產(chǎn)生X-Y軸向力矩而變形時，不僅影響機(jī)件壽命，對于取放以及壓測電子元件的作業(yè)上也會有影響，以第一 Z軸向傳動架104若發(fā)生變形為例，對于取放電子元件的作業(yè)上，當(dāng)?shù)谝?L型懸臂107 帶動第一取放器109位移至第一 Z軸向傳動架104的一側(cè)作用端時，第一取放器109可能會因下降位移的高度產(chǎn)生變化，而發(fā)生無法接觸到電子元件或過度下壓接觸電子元件的情形，以致影響取放電子元件的精確度以及作業(yè)順暢性，工作人員也需繁瑣費時的調(diào)整第一取放器109的適當(dāng)下降位移高度，而造成使用上的不便，對于壓測電子元件的作業(yè)而言，將使得第一取放器109無法確保以相同的下壓力下壓待測電子元件，以致待測電子元件受力不平均，進(jìn)而影響測試品質(zhì)。因此，如何設(shè)計一種可防止機(jī)件變形，而可更加精確取放以及壓測電子元件，以提升作業(yè)便利性以及測試品質(zhì)的測試裝置，即為業(yè)者研發(fā)的標(biāo)的。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，解決現(xiàn)有技術(shù)存在的待測電子元件受力不平均，進(jìn)而影響測試品質(zhì)的問題。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是—種應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，所述的測試裝置是配置在具有測試站以及載送裝置的機(jī)臺上，載送裝置是在測試站的前、后方分別設(shè)有入、出料載臺，其特征在于，所述的測試裝置包含第一升降機(jī)構(gòu)是在第一垂直向機(jī)架上設(shè)有一由第一 Z軸向驅(qū)動源驅(qū)動作Z軸向位移的第一傳動架，第一傳動架的兩端則滑置限位于第一垂直向機(jī)架的二第一 Z軸向滑軌上，用來帶動一具第一取放器的第一直壓桿架作Z軸向位移；第二升降機(jī)構(gòu)是在第二垂直向機(jī)架上設(shè)有一由第二 Z軸向驅(qū)動源驅(qū)動作Z軸向位移的第二傳動架，第二傳動架的兩端則滑置限位于第二垂直向機(jī)架的二第二 Z軸向滑軌上，用來帶動一具第二取放器的第二直壓桿架作Z軸向位移；橫移機(jī)構(gòu)是在水平向機(jī)架上且相對第一、二升降機(jī)構(gòu)的第一、二直壓桿架兩側(cè)方設(shè)有兩個χ軸向滑軌，并具有兩個由第一、二 χ軸向驅(qū)動源驅(qū)動作X軸向位移的第一、二掣動架，第一、二掣動架的兩端滑置于兩個X軸向滑軌上，并可分別帶動第一、二直壓桿架作X 軸向位移，使得第一、二取放器能夠分別在測試站以及載送裝置的入、出料載臺間移載待測 /完測電子元件。其中所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一 Z軸向驅(qū)動源是由第一Z軸向馬達(dá)、第一皮帶輪組、第一 Z軸向螺桿以及第一 Z軸向螺座所組成，并以第一 Z軸向螺座連結(jié)第一傳動架。其中所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一傳動架是在兩端設(shè)有第一 Z軸向滑座，用來滑置于第一垂直向機(jī)架的第一 Z軸向滑軌上，另在第一傳動架與第一直壓桿架間設(shè)有相互配合的第一 X軸向滑軌以及第一 X軸向滑座。其中所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二 Z軸向驅(qū)動源是由第二 Z軸向馬達(dá)、第二皮帶輪組、第二 Z軸向螺桿以及第二 Z軸向螺座所組成，并以第二 Z軸向螺座連結(jié)第二傳動架。 5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其中，所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二傳動架是在兩端設(shè)有第二 Z軸向滑座，用來滑置于第二垂直向機(jī)架的第二 Z軸向滑軌上，另在第二傳動架與第二直壓桿架間設(shè)有相互配合的第二 X軸向滑軌以及第二 X 軸向滑座。其中所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一直壓桿架是分別在底面相對于其直桿位置的兩側(cè)設(shè)有第一取放器，又所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二直壓桿架是分別在底面相對于其直桿位置的兩側(cè)設(shè)有第二取放器。
其中所述的橫移機(jī)構(gòu)的第一 X軸向驅(qū)動源是由第一 X軸向馬達(dá)、第一皮帶輪組、 第一 χ軸向螺桿以及第一 χ軸向螺座所組成，并以第一 χ軸向螺座連結(jié)第一掣動架，又所述的第二 X軸向驅(qū)動源是由第二 X軸向馬達(dá)、第二皮帶輪組、第二 X軸向螺桿以及第二 X軸向螺座所組成，并以第二 X軸向螺座連結(jié)第二掣動架。其中所述的橫移機(jī)構(gòu)是在第一掣動架的兩端設(shè)有第一 X軸向滑座，用來滑置于水平向機(jī)架底面的二 X軸向滑軌上，另在所述的第一掣動架與第一直壓桿架間設(shè)有相互配合的第一 Z軸向滑座以及第一 Z軸向滑軌。其中所述的橫移機(jī)構(gòu)是在第二掣動架的兩端設(shè)有第二 X軸向滑座，用來滑置于水平向機(jī)架底面的二 X軸向滑軌上，另在所述的第二掣動架與第二直壓桿架間設(shè)有相互配合的第二 Z軸向滑座以及第二 Z軸向滑軌。其中所述的測試裝置在水平向機(jī)架上設(shè)有一取像機(jī)構(gòu)，該取像機(jī)構(gòu)為(XD。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是1.所述的測試裝置包含有第一、二升降機(jī)構(gòu)以及一橫移機(jī)構(gòu)，第一、二升降機(jī)構(gòu)各設(shè)有一可作Z軸向位移的第一、二傳動架，第一、二傳動架的兩端是滑置于二第一、二 Z軸向滑軌上，并可分別帶動具第一、二取放器的第一、二直壓桿架作Z軸向位移，而橫移機(jī)構(gòu)是在第一、二直壓桿架的兩側(cè)方設(shè)有二 X軸向滑軌，并具有二可作X軸向位移的第一、二掣動架，第一、二掣動架的兩端則滑置于二 X軸向滑軌上，并可分別帶動第一、二直壓桿架作X軸向位移，使得第一、二取放器可作X-Z軸向位移而執(zhí)行取放以及壓測電子元件作業(yè)；如此， 當(dāng)?shù)谝弧⒍》牌鲗㈦娮釉姆醋饔昧鲗?dǎo)至第一、二傳動架以及第一、二掣動架時，第一、二傳動架以及第一、二掣動架可分別利用兩端滑置限位于二第一、二 Z軸向滑軌以及二 X軸向滑軌而使受力平衡，使得第一、二取放器保持較佳的水平度，而以相同下壓力道壓抵待測電子元件，使待測電子元件均勻受力而執(zhí)行測試作業(yè)，達(dá)到提升測試品質(zhì)的實用效益。2.所述的測試裝置可利用第一、二傳動架以及第一、二掣動架的兩端分別滑置限位于二第一、二 Z軸向滑軌以及二 X軸向滑軌，在第一、二取放器將電子元件的反作用力傳導(dǎo)至第一、二傳動架以及第一、二掣動架時，可使得第一、二傳動架以及第一、二掣動架受力平衡，并不會產(chǎn)生X-Y軸向力矩，而可防止機(jī)件變形，使第一、二取放器可依預(yù)設(shè)值作精確下降位移取放電子元件，達(dá)到提升取放作業(yè)便利性的實用效益。3.所述的測試裝置可利用第一、二傳動架以及第一、二掣動架的兩端分別滑置限位于二第一、二 Z軸向滑軌以及二 X軸向滑軌，在第一、二取放器將電子元件的反作用力傳導(dǎo)至第一、二傳動架以及第一、二掣動架時，可使得第一、二傳動架以及第一、二掣動架受力平衡，并不會產(chǎn)生X-Y軸向力矩，而可防止機(jī)件變形，達(dá)到延長機(jī)件使用壽命的實用效益。


圖1是現(xiàn)有測試裝置的前視圖；圖2是現(xiàn)有測試裝置的側(cè)視圖；圖3是本發(fā)明應(yīng)用于測試分類機(jī)的配置圖；圖4是本發(fā)明測試裝置的前視圖；圖5是本發(fā)明測試裝置的側(cè)視圖；圖6是本發(fā)明測試裝置的俯視圖7是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(一)；圖8是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(二)；圖9是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(三)；圖10是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(四)；圖11是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(五)；圖12是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(六)；圖13是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(七)；圖14是本發(fā)明測試裝置的使用示意圖(八)。附圖標(biāo)記說明現(xiàn)有技術(shù)第一機(jī)架101 ；第一 Z軸向滑軌102 ；第一 Z軸向驅(qū)動源103 ；第一 Z軸向傳動架104 ；第一 Z軸向滑座105 ；第一 X軸向滑軌106 ；第一 L型懸臂107 ；第一 X軸向滑座108 ；第一取放器109 ；第一 X軸向驅(qū)動源110 ；第一 X軸向傳動架111 ；第一 Z軸向滑座112 ；第一 Z軸向滑軌113 ；第二機(jī)架201 ；第二 Z軸向滑軌202 ；第二 Z軸向驅(qū)動源203 ； 第二 Z軸向傳動架204 ；第二 Z軸向滑座205 ；第二 X軸向滑軌206 ；第二 L型懸臂207 ；第二 X軸向滑座208 ；第二取放器209 ；第二 X軸向驅(qū)動源210 ；第二 X軸向傳動架211 ；第二 Z軸向滑座212 ；第二 Z軸向滑軌213 ；本發(fā)明測試站30 ；測試座31 ；外罩32 ；；載送裝置40 ；第一入料載臺41 ；第一出料載臺42 ；第二入料載臺43 ；第二出料載臺44 ；測試裝置50 ；；第一垂直向機(jī)架511A ；第二垂直向機(jī)架511B ；第一 Z軸向滑軌512A ；第二 Z軸向滑軌512B ；第一 Z軸向馬達(dá)521A ； 第二 Z軸向馬達(dá)521B ；第一皮帶輪組522A ；第二皮帶輪組522B ；第一 Z軸向螺桿523A ；第二 Z軸向螺桿52 ；第一 Z軸向螺座524A ；第二 Z軸向螺座524B ；第一傳動架53IA ；第二傳動架53IB ；第一 Z軸向滑座532A ；第二 Z軸向滑座532B ；第一 X軸向滑軌533A ；第二 X 軸向滑軌53 ；第一直壓桿架MlA ；第二直壓桿架MlB ；第一 X軸向滑座M2A ；第二 X軸向滑座M2B ；第一取放器M3A ；第二取放器；第一 Z軸向滑軌M4A ；第二 Z軸向滑軌 544B ；水平向機(jī)架551 ；X軸向滑軌552 ；第一 X軸向馬達(dá)561A ；第二 X軸向馬達(dá)561B ；第一皮帶輪組562A ；第二皮帶輪組562B ；第一 X軸向螺桿563A ；第二 X軸向螺桿56 ；第一 X 軸向螺座564A ；第二 X軸向螺座564B ；第一掣動架571A ；第二掣動架571B ；第一 X軸向滑座572A ；第二 X軸向滑座572B ；第一 Z軸向滑座573A ；第二 Z軸向滑座57 ；CCD61 ；電子元件71、72。
具體實施例方式為使貴審查委員對本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉一較佳實施例并配合圖式，詳述如后請參閱圖3，本實施例的測試分類機(jī)是在機(jī)臺上配置有測試站30、載送裝置40以及測試裝置50等，所述的測試站30具有信號連接至測試機(jī)的測試座31，用來測試電子元件，載送裝置40是在測試站30的前方設(shè)有第一入、出料載臺41、42，并在后方設(shè)有第二入、 出料載臺43、44，而可執(zhí)行載送待測/完測電子元件作業(yè)，所述的測試裝置50可直接裝配在機(jī)臺上或相關(guān)裝置的上方，本實施例的測試裝置50是配置在測試站30的上方，用來執(zhí)行取放以及壓測電子元件作業(yè)。
請參閱圖3、圖4、圖5、圖6，所述的測試裝置50包含有第一、二升降機(jī)構(gòu)以及一橫移機(jī)構(gòu)，第一、二升降機(jī)構(gòu)是分別在第一、二垂直向機(jī)架511A、511B的一側(cè)面設(shè)有第一、二 Z 軸向驅(qū)動源，第一、二 Z軸向驅(qū)動源各由第一、二 Z軸向馬達(dá)521A、521B與第一、二皮帶輪組 522A、522B、第一、二 Z軸向螺桿523A、523B以及第一、二 Z軸向螺座524A、524B所組成，并以第一、二 Z軸向螺座524A、524B分別連結(jié)帶動位于第一、二垂直向機(jī)架511A、511B另一面的第一、二傳動架531A、531B作Z軸向升降位移，所述的第一、二傳動架531A、531B的兩端設(shè)有第一、二 Z軸向滑座532A、532B，用來滑置于第一、二垂直向機(jī)架511A、511B的第一、二 Z軸向滑軌512A、512B上，另在第一、二傳動架531A、531B上設(shè)有第一、二 X軸向滑軌533A、 53!3B，供滑置第一、二直壓桿架M1A、541B，所述的第一、二直壓桿架M1A、541B是以第一、 二 X軸向滑座M2A、542B滑置于第一、二 X軸向滑軌533A、53!3B上，并在底面相對于其直桿位置的兩側(cè)設(shè)有第一、二取放器M3A、543B，且在側(cè)面設(shè)有第一、二 Z軸向滑軌M4A、544B， 而橫移機(jī)構(gòu)是在一水平向機(jī)架551上設(shè)有第一、二 X軸向驅(qū)動源，第一、二 X軸向驅(qū)動源各由第一、二 X軸向馬達(dá)561A、561B、第一、二皮帶輪組562A、562B、第一、二 X軸向螺桿563A、 563B以及第一、二 X軸向螺座564A、564B所組成，并以第一、二 X軸向螺座564A、564B分別連結(jié)帶動位于水平向機(jī)架551下方的第一、二掣動架571A、571B作X軸向位移，所述的第一、二掣動架571A、571B各在第一、二直壓桿架M1A、541B的兩側(cè)方設(shè)有第一、二 X軸向滑座572A、572B，用來滑置于水平向機(jī)架551底面的二 X軸向滑軌552，另在第一、二掣動架 571A、571B上設(shè)有與第一、二直壓桿架M1A、541B的第一、二 Z軸向滑軌M4A、544B相互配合的第一、二 Z軸向滑座573A、573B，以供第一、二直壓桿架M1A、541B以及第一、二取放器 543A.543B可作Z軸向升降位移，另在水平向機(jī)架551的底面設(shè)有一為(XD61的取像機(jī)構(gòu)， 用來掃瞄測試站30的測試座31。請參閱圖7、圖8，在執(zhí)行電子元件測試作業(yè)時，所述的載送裝置40的第一入料載臺41可載送待測電子元件71至測試站30的側(cè)方，本實施例第一取放器M3A的初始狀態(tài)因位于第一傳動架531A的側(cè)端，且相對于第一入料載臺41的上方，進(jìn)而可控制第一 Z軸向馬達(dá)521A經(jīng)第一皮帶輪組522A而帶動第一 Z軸向螺桿523A旋轉(zhuǎn)，使第一 Z軸向螺桿523A 經(jīng)第一 Z軸向螺座524A而帶動第一傳動架53IA作Z軸向下降位移，第一傳動架53IA即以兩端的第一 Z軸向滑座532A沿第一 Z軸向滑軌512A位移，使第一 X軸向滑軌533A經(jīng)第一 X軸向滑座M2A而帶動第一直壓桿架MlA作Z軸向位移，所述的第一直壓桿架MlA是以第一 Z軸向滑軌M4A沿第一掣動架57IA的第一 Z軸向滑座573A作下降位移，而帶動第一取放器M3A下降位移取料，當(dāng)?shù)谝蝗》牌鱉3A接觸吸取待測電子元件71時，待測電子元件71會對第一取放器M3A產(chǎn)生反作用力，所述的反作用力經(jīng)傳導(dǎo)而作用于第一直壓桿架 M1A、第一傳動架531A以及第一掣動架571A等元件時，由于第一直壓桿架MlA是以第一 Z 軸向滑軌滑置于第一掣動架571A的第一 Z軸向滑座573A上，而第一掣動架571A的兩端又以第一 X軸向滑座572A滑置于二 X軸向滑軌552上，而可利用二 X軸向滑軌552支撐以及限位于第一掣動架571A的兩端，使得第一掣動架571A受力平衡，并不會作X軸向偏擺，而可防止第一直壓桿架MlA以及相關(guān)機(jī)件產(chǎn)生X軸向力矩以及變形，再者，由于第一傳動架531A的兩端是以第一 Z軸向滑座532A滑置于二第一 Z軸向滑軌512A上，使得第一傳動架531A的兩端并為支持端，且第一 X軸向滑軌533A可供第一直壓桿架MlA作X軸向位移的行程，即為二支第一 Z軸向滑軌512A間的距離，當(dāng)?shù)谝恢眽簵U架MlA以及第一取放器543A位于第一傳動架531A的側(cè)端時，即可利用二第一 Z軸向滑軌512A支撐限位第一傳動架531A的兩端，使第一傳動架531A不會作Y軸向偏擺，使得第一傳動架531A受力平衡，而可防止產(chǎn)生Y軸向力矩以及變形，使第一取放器M3A可精準(zhǔn)下降位移而吸取待測電子元件 71，并反向上升位移復(fù)位；此時，取像機(jī)構(gòu)的(XD61可先行掃瞄測試站30的測試座31中是否殘留有受損電子元件余屑或灰塵等異物，如掃瞄出測試座31具有異物，即可事先將異物排除，以防止后續(xù)置入的電子元件壓抵異物而造成損壞，以大幅降低IC損壞率，若無，則繼續(xù)執(zhí)行測試作業(yè)。請參閱圖9、圖10，在第一取放器M3A取出待測電子元件71后，即可控制第一 X 軸向馬達(dá)561A經(jīng)第一皮帶輪組562A驅(qū)動第一 X軸向螺桿563A，使第一 X軸向螺桿563A上的第一 X軸向螺座564A帶動第一掣動架571A作X軸向位移，所述的第一掣動架571A是以第一 X軸向滑座572A沿X軸向滑軌552位移，使得第一 Z軸向滑座573A經(jīng)第一 Z軸向滑軌M4A而帶動第一直壓桿架MlA以及第一取放器M3A作X軸向位移，所述的第一直壓桿架MlA即以第一 X軸向滑座M2A沿第一傳動架531A的第一 X軸向滑軌533A作X軸向位移，使第一取放器M3A將待測電子元件71移載至測試站30的測試座31上方。請參閱圖6、圖8、圖11，接著可控制第一 Z軸向馬達(dá)52IA經(jīng)第一皮帶輪組522A帶動第一 Z軸向螺桿523A旋轉(zhuǎn)，使第一 Z軸向螺桿523A經(jīng)第一 Z軸向螺座524A而帶動第一傳動架531A下降位移，令第一取放器M3A將待測電子元件71置入在測試站30的測試座 31中而執(zhí)行測試作業(yè)，由于第一直壓桿架MlA是使各第一取放器M3A配置在直桿的兩側(cè)， 使得各第一取放器可保持較佳的水平度，并以相同下壓力道壓抵待測電子元件71，使待測電子元件71均勻受力而執(zhí)行測試作業(yè)，以提升測試品質(zhì)，又當(dāng)?shù)谝蝗》牌鱉3A壓抵待測電子元件71執(zhí)行測試作業(yè)時，所述的載送裝置40的第二入料載臺43已承載待測電子元件72位移至測試站30的側(cè)方，由于第二取放器已位于第一傳動架531B的側(cè)端，測試裝置50即可驅(qū)動第二 Z軸向馬達(dá)521B經(jīng)第二皮帶輪組522B而帶動第二 Z軸向螺桿52!3B 旋轉(zhuǎn)，使第二 Z軸向螺桿52 經(jīng)第二 Z軸向螺座524B而帶動第二傳動架531B下降位移， 使第二取放器在第二入料載臺43中取出待測電子元件72，當(dāng)?shù)诙》牌鞒惺艽郎y電子元件72的反作用力時，由于第一、二升降機(jī)構(gòu)的設(shè)計相同，所述的第二升降機(jī)構(gòu)也可使各機(jī)件受力平衡，而防止產(chǎn)生X-Y軸向力矩以及變形，使得第二取放器M3B可精準(zhǔn)下降位移而吸取待測電子元件72，并反向上升位移復(fù)位。請參閱圖5、圖7、圖12，在測試站30的測試座31執(zhí)行測試作業(yè)完畢后，即可控制第一 Z軸向馬達(dá)52IA經(jīng)第一皮帶輪組522A、第一 Z軸向螺桿523A以及第一 Z軸向螺座524A 的傳動，而帶動第一傳動架531A以及第一直壓桿架MlA上升位移，使第一取放器M3A在測試座31中取出完測電子元件71 ；請參閱圖7、圖13、圖14，由于載送裝置40的第一出料載臺42已位移至測試站30的側(cè)方，測試裝置50即控制第一 X軸向馬達(dá)561A經(jīng)第一皮帶輪組562A、第一 X軸向螺桿563A以及第一 X軸向螺座564A的傳動，而帶動第一掣動架571A 以及第一直壓桿架MlA作X軸向位移，使第一取放器M3A將完測電子元件71移載至第一出料載臺42上方，再控制第一取放器M3A將完測電子元件71置入在第一出料載臺42上， 并反向上升復(fù)位，當(dāng)取像機(jī)構(gòu)的CCD61掃瞄測試站30的測試座31中并無殘留異物后，接著可控制第二 X軸向馬達(dá)561B經(jīng)第二皮帶輪組562B、第二 X軸向螺桿56 以及第二 X軸向螺座564B的傳動，而帶動第二掣動架571B以及第二直壓桿架MlB作X軸向位移，使第二取放器M3A將下一待測電子元件72移載至測試站30的測試座31上方，再控制第二 Z軸向馬達(dá)521B經(jīng)第二皮帶輪組522B而帶動第二 Z軸向螺桿52 旋轉(zhuǎn)，使第二 Z軸向螺桿52 經(jīng)第二 Z軸向螺座524B而帶動第二傳動架531B下降位移，使第二取放器將待測電子元件72置入壓抵測試座31內(nèi)而執(zhí)行測試作業(yè)，因此，第一、二取放器M3A、54!3B可分別作動在測試站30的測試座31以及載送裝置40的第一入、出料載臺41、42、第二入、出料載臺 43,44間移載待測/完測電子元件而依序執(zhí)行測試作業(yè)。據(jù)此，本發(fā)明的測試裝置可使各機(jī)件受力平衡而防止變形，以更加提升取放元件的精確度以及測試品質(zhì)。以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的，而非限制性的，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解， 在不脫離權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下，可作出許多修改、變化或等效，但都將落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，所述的測試裝置是配置在具有測試站以及載送裝置的機(jī)臺上，載送裝置是在測試站的前、后方分別設(shè)有入、出料載臺，其特征在于，所述的測試裝置包含第一升降機(jī)構(gòu)是在第一垂直向機(jī)架上設(shè)有一由第一 Z軸向驅(qū)動源驅(qū)動作Z軸向位移的第一傳動架，第一傳動架的兩端則滑置限位于第一垂直向機(jī)架的二第一 Z軸向滑軌上， 用來帶動一具第一取放器的第一直壓桿架作Z軸向位移；第二升降機(jī)構(gòu)是在第二垂直向機(jī)架上設(shè)有一由第二 Z軸向驅(qū)動源驅(qū)動作Z軸向位移的第二傳動架，第二傳動架的兩端則滑置限位于第二垂直向機(jī)架的二第二 Z軸向滑軌上， 用來帶動一具第二取放器的第二直壓桿架作Z軸向位移；橫移機(jī)構(gòu)是在水平向機(jī)架上且相對第一、二升降機(jī)構(gòu)的第一、二直壓桿架兩側(cè)方設(shè)有兩個X軸向滑軌，并具有兩個由第一、二 X軸向驅(qū)動源驅(qū)動作X軸向位移的第一、二掣動架， 第一、二掣動架的兩端滑置于兩個X軸向滑軌上，并可分別帶動第一、二直壓桿架作X軸向位移，使得第一、二取放器能夠分別在測試站以及載送裝置的入、出料載臺間移載待測/完測電子元件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一 Z軸向驅(qū)動源是由第一 Z軸向馬達(dá)、第一皮帶輪組、第一 Z軸向螺桿以及第一 Z軸向螺座所組成，并以第一 Z軸向螺座連結(jié)第一傳動架。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一傳動架是在兩端設(shè)有第一 Z軸向滑座，用來滑置于第一垂直向機(jī)架的第一 Z軸向滑軌上，另在第一傳動架與第一直壓桿架間設(shè)有相互配合的第一 X軸向滑軌以及第一 X軸向滑座。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二 Z軸向驅(qū)動源是由第二 Z軸向馬達(dá)、第二皮帶輪組、第二 Z軸向螺桿以及第二 Z軸向螺座所組成，并以第二 Z軸向螺座連結(jié)第二傳動架。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其中，所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二傳動架是在兩端設(shè)有第二 Z軸向滑座，用來滑置于第二垂直向機(jī)架的第二 Z軸向滑軌上，另在第二傳動架與第二直壓桿架間設(shè)有相互配合的第二 X軸向滑軌以及第二 X軸向滑座。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的第一升降機(jī)構(gòu)的第一直壓桿架是分別在底面相對于其直桿位置的兩側(cè)設(shè)有第一取放器， 又所述的第二升降機(jī)構(gòu)的第二直壓桿架是分別在底面相對于其直桿位置的兩側(cè)設(shè)有第二取放器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的橫移機(jī)構(gòu)的第一 X軸向驅(qū)動源是由第一 X軸向馬達(dá)、第一皮帶輪組、第一 X軸向螺桿以及第一 χ軸向螺座所組成，并以第一 χ軸向螺座連結(jié)第一掣動架，又所述的第二 χ軸向驅(qū)動源是由第二 X軸向馬達(dá)、第二皮帶輪組、第二 X軸向螺桿以及第二 X軸向螺座所組成，并以第二 X軸向螺座連結(jié)第二掣動架。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的橫移機(jī)構(gòu)是在第一掣動架的兩端設(shè)有第一 X軸向滑座，用來滑置于水平向機(jī)架底面的二X軸向滑軌上，另在所述的第一掣動架與第一直壓桿架間設(shè)有相互配合的第一 Z軸向滑座以及第一 Z軸向滑軌。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的橫移機(jī)構(gòu)是在第二掣動架的兩端設(shè)有第二 X軸向滑座，用來滑置于水平向機(jī)架底面的二 X軸向滑軌上，另在所述的第二掣動架與第二直壓桿架間設(shè)有相互配合的第二 Z軸向滑座以及第二 Z軸向滑軌。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，其特征在于所述的測試裝置在水平向機(jī)架上設(shè)有一取像機(jī)構(gòu)，該取像機(jī)構(gòu)為CCD。
全文摘要
本發(fā)明是一種應(yīng)用于電子元件測試分類機(jī)的測試裝置，所述的測試裝置包含有第一、二升降機(jī)構(gòu)以及一橫移機(jī)構(gòu)，其各設(shè)有一可作Z軸向位移的第一、二傳動架，傳動架的兩端是滑置于第一、二Z軸向滑軌上，而橫移機(jī)構(gòu)是在第一、二直壓桿架的兩側(cè)方設(shè)有兩個X軸向滑軌，并具有兩個可作X軸向位移的第一、二掣動架，掣動架的兩端則滑置于X軸向滑軌上。如此，當(dāng)?shù)谝?、二取放器將電子元件的反作用力傳?dǎo)至第一、二傳動架以及第一、二掣動架時，第一、二傳動架以及第一、二掣動架可分別利用兩端滑置限位于二第一、二Z軸向滑軌以及二X軸向滑軌而使受力平衡，以防止產(chǎn)生X-Y軸向力矩以及機(jī)件變形，達(dá)到提升取放元件精確性以及測試品質(zhì)的實用效益。
文檔編號G01R31/01GK102233335SQ201010152990
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月21日
發(fā)明者林正龍 申請人:鴻勁科技股份有限公司