專利名稱：X熒光測厚光譜儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種微量元素檢測儀器，尤其是一種獨(dú)特的上照式設(shè) 計，方便對尺寸范圍較大的部件上進(jìn)行鍍層厚度和含量的逐點(diǎn)測量，并具
有開放式樣品腔的x熒光光譜儀。
背景技術(shù)：
本發(fā)明人于2006年申請了名稱為一種自動定位X熒光能量色散光譜儀 的專利，專利申請?zhí)枮?00620014536.X。如圖1所示，該專利為一種真空檢 測X熒光能量色散光譜儀，包括機(jī)身和與之相連的電腦，其中，所述機(jī)身內(nèi) 安裝有光源系統(tǒng)、探測器系統(tǒng)以及信號處理系統(tǒng)，其中，所述光源系統(tǒng)包 括高壓單元和X光管，光源系統(tǒng)發(fā)射出X射線，X射線作用在樣品上后，樣品 中的各個原子會被激發(fā)出特征X熒光，這些X熒光被探測器系統(tǒng)所接收，分 析轉(zhuǎn)化為電信號，電信號經(jīng)過MCA模塊系統(tǒng)的處理，再傳輸?shù)诫娔X中，在機(jī) 身和與之相連的電腦的用戶界面上顯示出來，其特征在于所述真空檢測X 熒光能量色散光譜儀的機(jī)身包括一金屬框架和一外殼，其中，所述光源放 射系統(tǒng)、探測器系統(tǒng)、以及信號處理系統(tǒng)均固定于所述金屬框架上，所述 外殼罩在所述金屬框架外起保護(hù)作用，所述金屬框架的上部還設(shè)有一樣品 臺，所述樣品放置于該樣品臺上，所述樣品臺、光源放射系統(tǒng)、探測器系 統(tǒng)、以及信號處理系統(tǒng)構(gòu)成一測量單元。
但本發(fā)明人經(jīng)過實(shí)踐，發(fā)現(xiàn)上述專利存在以下幾個方面的缺點(diǎn)需要改
進(jìn)
一、該X熒光光譜儀，樣品腔設(shè)計為封閉式的樣品腔，在大尺寸樣品 的測量時十分不便。
二、 該X熒光光譜儀，沒有移動平臺這樣的裝置，在移動樣品時完全依 靠手工操作。在移動距離很小時，很難達(dá)到微調(diào)的效果。
三、 該X熒光光譜儀，針對不同的樣品調(diào)整準(zhǔn)直器和濾光片時，都是手 工進(jìn)行操作，這樣每次都必須開蓋進(jìn)行操作，可能會有灰塵進(jìn)入光路系統(tǒng)， 或者手動調(diào)整時是依靠人眼的標(biāo)準(zhǔn)，難免會有一些偏差，而這些偏差反應(yīng) 到測試樣品上，就會對測試結(jié)果產(chǎn)生影響。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述X熒光光譜儀的眾多缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的是提供一
種X熒光測厚光譜儀，采用獨(dú)特的上照式設(shè)計并具有開放式樣品腔的X熒
光光譜儀。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是 一種X熒光測厚光譜儀，包括機(jī)身和
與之相連的電腦，所述機(jī)身包括外殼(1)、機(jī)身(2)和樣品腔(3)，其中， 所述外殼(1)罩在所述機(jī)身(2)外面，所述樣品腔(3)設(shè)在所述機(jī)身(2) 內(nèi)，其特征在于所述樣品腔(3)包括可上下活動的透明屏蔽罩(4)。
所述機(jī)身內(nèi)設(shè)有樣品腔(3)，所述樣品腔包括升降平臺(33)、電機(jī)、 導(dǎo)軌(31)和按鍵(32)，升降平臺(33)在電機(jī)拉動下，沿著導(dǎo)軌(31) 上下平穩(wěn)地移動，移動的方向和距離通過按鍵(32)控制。
所述機(jī)身上設(shè)有支架和氣撐，所述透明屏蔽罩(4)與機(jī)身支架上的左、 右氣撐連接，在左、右氣撐的力作用下，借助把手，沿著固定在支架上的 導(dǎo)軌上下移動。
所述X熒光測厚光譜儀還設(shè)有移動平臺(5)，所述移動平臺(5)包括 拉板(53)、切口 (54)和導(dǎo)軌(55)，其中，所述移動平臺(5)裝配在兩 層4條導(dǎo)軌(55)上，通過前面板上的中間的按鍵控制，移動平臺(5)可
前后左右平穩(wěn)地移動，拉板(53)用來定位樣品，其上設(shè)有切口 (54)，當(dāng) 待測點(diǎn)與豎直激光對齊后，手動扣住其上的切口。
所述X熒光測厚光譜儀設(shè)有準(zhǔn)直器濾光片自動調(diào)節(jié)裝置(6)，該裝置包 括電機(jī)(63)、準(zhǔn)直器(61)和濾光片(62)。通過兩頭的兩個電機(jī)(63) 驅(qū)動，其中一個電機(jī)往左拉動準(zhǔn)直器，另一個電機(jī)往右拉動濾光片，精確 定位準(zhǔn)直孔與濾光片。
本實(shí)用新型的有益效果是
第一、采用獨(dú)特的上照式設(shè)計，結(jié)合可上下移動的結(jié)構(gòu)，以及精準(zhǔn)的移 動平臺裝置，通過三維精確定位樣品測量點(diǎn)，方便對尺寸范圍較大的部件 上進(jìn)行鍍層厚度和含量的逐點(diǎn)測量。
第二、設(shè)有自動切換準(zhǔn)直器和濾光片調(diào)節(jié)裝置，最大限度減少人操作的 麻煩性和不精確性。
第三、有著精準(zhǔn)的移動平臺裝置，通過X與Y兩個軸精確定位樣品，給 客戶提供方便。
第四、設(shè)有開放式樣品腔，可上下活動的玻璃屏蔽罩，既避免了測試的 X射線外泄，又方便測量。

圖l本實(shí)用新型透明罩及升降平臺上移圖； 圖2本實(shí)用新型整體示意圖； 圖3本實(shí)用新型內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖4本實(shí)用新型透明罩沿著固定在支架上的導(dǎo)軌上下移動示意圖； 圖5本實(shí)甩新型移動平臺結(jié)構(gòu)示意圖； . 圖6本實(shí)用新型準(zhǔn)直器濾光片自動調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中l(wèi)、外殼；2、機(jī)身；3、樣品腔；31、導(dǎo)軌；32、按鍵；33、升 降平臺；4、透明屏蔽罩；5、移動平臺；53拉板；54、切口； 55、導(dǎo)軌；6、
準(zhǔn)直器濾光片自動調(diào)節(jié)裝置；61、準(zhǔn)直器；62、濾光片；63、電機(jī)。
具體實(shí)施方式
如圖l、圖2、圖3、圖4、圖5、和圖6所示的一種X熒光測厚光譜儀， 包括機(jī)身和與之相連的電腦，所述機(jī)身包括外殼(1)機(jī)身(2)和樣品腔 (3)，其中，所述外殼(1)罩在所述機(jī)身(2)外面，所述樣品腔(3)設(shè) 在所述機(jī)身(2)內(nèi)，所述樣品腔包括可上下活動的透明屏蔽罩(4)。
所述機(jī)身內(nèi)設(shè)有樣品腔(3)，所述樣品腔包括升降平臺(33)、電機(jī)、 導(dǎo)軌(31)和按鍵(32)，升降平臺(33)在電機(jī)拉動下，沿著導(dǎo)軌(31) 上下平穩(wěn)地移動，移動的方向和距離通過按鍵(32)控制。
所述機(jī)身上設(shè)有支架和氣撐，所述透明屏蔽罩(4)與機(jī)身支架上的左、 右氣撐連接，在左、右氣撐的力作用下，借助把手，沿著固定在支架上的 導(dǎo)軌上下移動。
所述X熒光測厚光譜儀還設(shè)有移動平臺(5)，所述移動平臺(5)包括 拉板(53)、切口 (54)和導(dǎo)軌(55)，其中，所述移動平臺(5)裝配在兩 層4條導(dǎo)軌(55)上，通過前面板上的中間的按鍵控制，前后左右平穩(wěn)地 移動，所述移動平臺之上的拉板(53)用來定位樣品，其上設(shè)有切口 (54)， 當(dāng)待測點(diǎn)與豎直激光對齊后，手動扣住其上的切口 (54)。
所述X熒光測厚光譜儀設(shè)有準(zhǔn)直器濾光片自動調(diào)節(jié)裝置(6)，該裝置包 括電機(jī)(63)、準(zhǔn)直器(61)和濾光片(62)。通過兩頭的兩個電機(jī)，其中 一個往左拉動準(zhǔn)直器，另一個往右拉動濾光片，精確定位準(zhǔn)直孔與濾光片。 另外，目前市場上推出的X熒光光譜儀，有些配套測量軟件是由其他
軟件改編而來，操作界面十分繁復(fù)，對操作人員的要求很高，給儀器購買 商造成了不小的麻煩。
因此，本實(shí)用新型面向用戶的操作需求開發(fā)了操作軟件，方便用戶進(jìn)行 測試方面的操作，其工作原理如下
一、 儀器校正
調(diào)整儀器放大倍數(shù)，消除峰漂的影響，確保待測樣品與標(biāo)注樣品條件一 致。
二、 工作曲線
根據(jù)樣品的成分和基材不同，把工作曲線分為六大類即測塑料中的
CrCl;測鋼鐵中的CrCdPbHg,測銅鋅中的Cr， Cd， Pb, Hg，測焊錫中的 CrCdPbHg，自定義。每一大類根據(jù)實(shí)際需要可任意添加多條曲線。
三、強(qiáng)度計算
這里采用峰背比的方法，峰面積用高斯擬合計算。即: / = ^; Ip為峰的面積，Ib為背景面積。
(n0)2
峰的左邊界 峰的右邊界 峰的高度。
5
X:峰道址 X。峰的中心道址 S :與峰的寬度有關(guān)的參數(shù)
四、計算含量
含量按公式OaW+b計算。 系數(shù)a，b用最小二乘法給出。
<formula>formula see original document page 8</formula>
Ci是標(biāo)準(zhǔn)樣品/的濃度。
Ii是標(biāo)準(zhǔn)樣品/的強(qiáng)度。
七、報告結(jié)果
可以把測量的結(jié)果保存到所需要的文件夾。
權(quán)利要求1、一種X熒光測厚光譜儀，包括機(jī)身和與之相連的電腦，所述機(jī)身包括外殼(1)、機(jī)身(2)和樣品腔(3)，其中，所述外殼(1)罩在所述機(jī)身(2)外面，所述樣品腔(3)設(shè)在所述機(jī)身(2)內(nèi)，其特征在于所述樣品腔(3)包括可上下活動的透明屏蔽罩(4)。
2、 據(jù)權(quán)利要求1所述的X熒光測厚光譜儀，其特征在于所述機(jī)身內(nèi) 設(shè)有樣品腔(3)，所述樣品腔(3)包括升降平臺(33)、電機(jī)、導(dǎo)軌(31) 和按鍵(32)，升降平臺(33)在電機(jī)拉動下，沿著導(dǎo)軌(31)上下平穩(wěn)地 移動，移動的方向和距離通過按鍵(32)控制。
3、 據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X熒光測厚光譜儀，其特征在于所述機(jī) 身上設(shè)有支架和氣撐，所述透明屏蔽罩(4)與機(jī)身支架上的左、右氣撐連 接，在左、右氣撐的力作用下，借助把手，沿著固定在支架上的導(dǎo)軌上下 移動。
4、 據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X熒光測厚光譜儀，其特征在于所述X 熒光測厚光譜儀設(shè)有移動平臺(5)，所述移動平臺(5)包括拉板(53)、 切口 (54)和導(dǎo)軌(55)，其中，所述移動平臺(5)裝配在兩層4條導(dǎo)軌(55)上，通過機(jī)身前面板上的中間的按鍵控制。
5、 據(jù)權(quán)利要求4所述的X熒光測厚光譜儀，其特征在于所述X熒光 測厚光譜儀設(shè)有準(zhǔn)值器濾光片自動調(diào)節(jié)裝置(6)，該裝置包括電機(jī)(63)、 準(zhǔn)直器(61)和濾光片(62)。
專利摘要一種X熒光測厚光譜儀，包括機(jī)身和與之相連的電腦，其特征在于所述機(jī)身包括外殼機(jī)身和樣品腔，其特征在于所述樣品腔包括可上下活動的透明屏蔽罩。所述機(jī)身內(nèi)設(shè)有樣品腔，所述樣品腔包括升降平臺、電機(jī)、導(dǎo)軌和按鍵，升降平臺在電機(jī)拉動下，沿著導(dǎo)軌上下平穩(wěn)地移動，移動的方向和距離通過按鍵控制。
文檔編號G01B15/02GK201177501SQ20072019652
公開日2009年1月7日 申請日期2007年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月27日
發(fā)明者劉召貴, 剛 應(yīng), 胡曉斌 申請人:江蘇天瑞信息技術(shù)有限公司