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      一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法及裝置的制作方法

      文檔序號(hào):5833102閱讀:312來源:國(guó)知局
      專利名稱:一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法及裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種電子技術(shù)檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及電池電壓釆樣的校準(zhǔn)方法 及裝置。
      背景技術(shù)
      由于成本等諸多因素的原因,現(xiàn)在用于對(duì)便攜設(shè)備電池監(jiān)測(cè)大多采用的是設(shè)備的片上模數(shù)轉(zhuǎn)換外設(shè),即集成在處理器ARM (Advanced RISC Machines,進(jìn)階精簡(jiǎn)指令集機(jī)器,微處理器/技術(shù)/公司)上的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊, 而這些轉(zhuǎn)換模塊不能提供與分立模數(shù)轉(zhuǎn)換器相當(dāng)?shù)牟蓸有阅?,直接使用這些 轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行采樣數(shù)據(jù)校準(zhǔn)時(shí),會(huì)出現(xiàn)采樣值不準(zhǔn)和跳動(dòng)問題。所以使用片 上的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊在對(duì)電池采樣數(shù)據(jù)校準(zhǔn)時(shí),不能采用原來針對(duì)分立模數(shù)轉(zhuǎn) 換器的簡(jiǎn)單的處理方法。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法及裝置, 解決在使用指標(biāo)相對(duì)較差的片上模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊采樣監(jiān)測(cè)電池電壓時(shí),造成的 采樣不準(zhǔn)和跳動(dòng)問題。為了解決上述問題,本發(fā)明提供了一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法,包括利用所述電池所在設(shè)備的采樣模塊對(duì)可控電壓源的輸出電壓進(jìn)行采樣 得到參考采樣值,可控電壓源的輸出電壓記為表征電壓值,表征電壓值和對(duì) 該電壓進(jìn)行采樣得到的參考采樣值構(gòu)成一個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓 源的輸出電壓再次進(jìn)行采樣,獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電壓采樣值,才艮據(jù)所述電池電壓采樣值和所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng) 的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。進(jìn)一步地,所述采樣模塊為模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊,所述采樣值為模擬數(shù)字 轉(zhuǎn)換值。進(jìn)一步地,對(duì)所述電池電壓進(jìn)行采樣得到多個(gè)電池電壓采樣值后,計(jì)算 電池電壓采樣平均值,根據(jù)該電池電壓采樣平均值和所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中得到電池電壓。進(jìn)一步地,將采樣得到的多個(gè)電池電壓采樣值進(jìn)行中值濾波后,再計(jì)算 得到電池電壓采樣平均值。進(jìn)一步地,計(jì)算得到電池電壓采樣平均值后,在所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中確定的直線上,找到所述電池采樣模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換平均值對(duì)應(yīng)的電壓值作為電 池電壓。進(jìn)一步地,所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中相鄰表征電壓值的間隔為固定間隔。 進(jìn)一步地,所述方法適用于需監(jiān)測(cè)電池電壓的便攜設(shè)備。為了解決上述問題,本發(fā)明提供了一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)裝置,包括 主控模塊,可控電壓源和電池所在設(shè)備,所述主控模塊,用于向所述可控電壓源發(fā)送控制命令;所述可控電壓源,用于收到所述主控模塊發(fā)送的控制命令后,向所述電 池所在設(shè)備輸出電壓,該電壓記為表征電壓值;所述電池所在設(shè)備,包含一采樣模塊,該采樣^t塊對(duì)所述可控電壓源輸 出的電壓進(jìn)行采樣,得到參考采樣值,與該表征電壓值相對(duì)應(yīng),每個(gè)參考采 樣值和其對(duì)應(yīng)的表征電壓值構(gòu)成一電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出 電壓,進(jìn)行多次采樣后獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);該電池所在設(shè)備還用于通過采樣模塊對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電 壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓采樣值和電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。進(jìn)一步地,所述電池所在設(shè)備,還用于通過采樣模塊按照對(duì)電池電壓進(jìn) 行采樣得到多個(gè)電池電壓采樣值,根據(jù)采樣得到的多個(gè)電池電壓采樣值計(jì)算 電池電壓采樣平均值,根據(jù)所述電池電壓釆樣平均值和電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與到電池電壓。進(jìn)一步地,所述電池所在設(shè)備,還用于計(jì)算得到電池電壓采樣平均值后, 在所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣平均值相鄰的兩個(gè)參考采樣 值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值確定的直線上,找到所述電池采樣模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換平 均^f直對(duì)應(yīng)的電壓<直作為電池電壓。采用本發(fā)明的方法和裝置,可以解決在使用指標(biāo)相對(duì)較差的片上模數(shù)轉(zhuǎn) 換模塊采樣監(jiān)測(cè)電池電壓時(shí),造成的采樣不準(zhǔn)和跳動(dòng)問題,并防止片上模數(shù) 轉(zhuǎn)換模塊引入的數(shù)值偏移量的問題。


      圖l是本發(fā)明中電池電壓采樣的校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)連接框圖; 圖2是本發(fā)明中電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)設(shè)置方法的流程圖; 圖3是本發(fā)明中采樣算法校準(zhǔn)方法的流程圖; 圖4是本發(fā)明中校準(zhǔn)算法曲線圖。
      具體實(shí)施方式
      本發(fā)明的方法主要包括利用電池所在設(shè)備的采樣模塊對(duì)可控電壓源的 輸出電壓進(jìn)行采樣得到參考采樣值,可控電壓源的輸出電壓記為表征電壓 值,表征電壓值和對(duì)該電壓進(jìn)行采樣得到的參考采樣值構(gòu)成一個(gè)電壓參考基 準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出電壓再次進(jìn)行采樣,獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn); 對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓釆樣值和所述 電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。如圖l所示,以手機(jī)為例,電池電壓采樣的校準(zhǔn)裝置包括,可控電壓源(101),待校準(zhǔn)手機(jī)(102)和主控模塊(103)??煽仉妷涸春痛?zhǔn)手機(jī)通過電 源線相連,待校準(zhǔn)手機(jī)和主控模塊間以及可控電壓源和主控模塊間通過連接 線相連。所述主控模塊,用于向所述可控電壓源發(fā)送控制命令;所述可控電壓源,用于收到所述主控模塊發(fā)送的控制命令后,向所述電 池所在設(shè)備輸出電壓,該電壓記為表征電壓值;所述電池所在設(shè)備,包含一采樣模塊,該采樣模塊對(duì)所述可控電壓源輸 出的電壓進(jìn)行采樣,得到參考采樣值,與該表征電壓值相對(duì)應(yīng),每個(gè)參考采 樣值和其對(duì)應(yīng)的表征電壓值構(gòu)成一電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出 電壓,進(jìn)行多次釆樣后獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);該電池所在設(shè)備還用于通過采樣模塊對(duì)電池電壓進(jìn)行釆樣得到電池電 壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓釆樣值和電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采 樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。所述主控模塊可以是安裝校準(zhǔn)軟件的電腦,所述可控電壓源可以是可控 精密電壓源。如圖2所示,電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)的設(shè)置方法包括以下步驟步驟201,確定各個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)的表征電壓值;電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)由采樣值(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值,Analog-Digital Converter , 簡(jiǎn)稱ADC)和表征電壓值組成,可控電壓源的輸出電壓記為表征電壓值。例 如某個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)為(0XA3, 4000),其中,0XA3為采樣值,4000 為表征電壓值,由采樣值可以計(jì)算出與之對(duì)應(yīng)的實(shí)際電壓值。電壓參考基準(zhǔn) 點(diǎn)的設(shè)定可根據(jù)具體情況而定。如在本實(shí)施方案中,電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中的表征電壓值設(shè)置在 4200mv~3300mv的區(qū)間內(nèi),按照lOOmv的間隔進(jìn)行劃分,電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中表征電壓值取4200mv 3300mv范圍內(nèi)按照固定電壓間隔1 OOmv劃分處的 值,即4200, 4300……3200, 3300。在其它實(shí)施例中,電壓間隔可以為不 固定的間隔。電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中表征電壓值的設(shè)置通過經(jīng)驗(yàn)值確定,作為默 認(rèn)值。步驟202,主控模塊向待校準(zhǔn)手機(jī)發(fā)送進(jìn)入設(shè)置模式命令;步驟203,待校準(zhǔn)手機(jī)接收到上述命令后進(jìn)入設(shè)置模式;并向主控模塊 返回應(yīng)答消息;步驟204,主控模塊向可控電壓源發(fā)送控制命令;步驟205,可控電壓源按照設(shè)定的電壓區(qū)間及間隔輸出相應(yīng)參照基準(zhǔn)點(diǎn) 電壓值;例如,可控電壓源根據(jù)設(shè)定的電壓區(qū)間4200mv—3300mv (毫伏)及間 隔100mv,輸出參照基準(zhǔn)點(diǎn)電壓值4200, 4300……3200, 3300。步驟206,主控模塊向待校準(zhǔn)手機(jī)發(fā)送設(shè)置控制命令;步驟207,待校準(zhǔn)手機(jī)接收到命令后,其采樣模塊對(duì)可控電壓源的輸出 電壓進(jìn)行采樣得到參考釆樣值,并將可控電壓源的輸出電壓和確定的參考釆 樣值保存到非易失性存儲(chǔ)器中,使上述數(shù)據(jù)在手機(jī)掉電后不會(huì)丟失,以供正 常開機(jī)時(shí)使用;步驟208,判斷是否完成所有電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)的設(shè)置,如果是,流程結(jié) 束;否則,轉(zhuǎn)到步驟204,繼續(xù)進(jìn)行設(shè)置。如圖3所示,根據(jù)設(shè)置的電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)手機(jī)電壓采樣校準(zhǔn)的方法包 括以下步驟步驟301,電池所在設(shè)備的采樣模塊間隔一定時(shí)間對(duì)電池電壓采樣;步驟302,對(duì)采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行初步的處理,丟棄明顯異常的數(shù)據(jù);此步驟是軟件中的一個(gè)容錯(cuò)處理部分。采樣失敗時(shí),采樣得到的值會(huì)是 一個(gè)明顯的異常數(shù)據(jù),大多數(shù)情況為"0X0"或"OXff,。在此類錯(cuò)誤值的 基礎(chǔ)上進(jìn)行計(jì)算,明顯會(huì)影響校準(zhǔn)結(jié)果。所以需丟棄此類明顯異常的數(shù)據(jù)。步驟303,將采樣數(shù)據(jù)保存到一個(gè)環(huán)形隊(duì)列中,并維持隊(duì)列更新;當(dāng)隊(duì)列數(shù)據(jù)滿時(shí),存入新的數(shù)據(jù)時(shí),丟棄掉最老的采樣數(shù)據(jù)以存入新的 數(shù)據(jù),保持?jǐn)?shù)據(jù)在滑動(dòng)的更新。取小于或等于滿隊(duì)列時(shí)間,作為平滑時(shí)間段。 例如采樣數(shù)據(jù)更新間隔為2秒,隊(duì)列可容納采樣數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為4個(gè),則可 以設(shè)置平滑時(shí)間段為8秒。步驟304,按照中值濾波的原理,每次釆樣后對(duì)隊(duì)列中的數(shù)據(jù)進(jìn)行中值 濾波(去除最大值和最小值后),計(jì)算出平均值為sample—adc。需要計(jì)算得 到的值是sample—voltage 。步驟305,與設(shè)置的電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)比較,找到與此平均值相鄰的兩個(gè) ADC值對(duì)應(yīng)的電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);如圖4所示為相鄰的兩個(gè)參考點(diǎn)的ADC值為ref—adcl, ref—adc2 ,與之對(duì) 應(yīng)的電壓值是ref—voltagel和ref—voltage2 。步驟306,根據(jù)直線公式得到校準(zhǔn)后的電池電壓。如圖4所示,找到電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與此平均值相鄰的兩個(gè)采樣值對(duì)應(yīng) 的電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)后,在這兩個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)確定的直線上,找到此平均 值對(duì)應(yīng)的電壓寸直。按照下面的7〉式計(jì)算得到經(jīng)過才交準(zhǔn)后的sample_voltage :sample—voltage = re/一 vo/togel + s""^&一"dcW — x (ref— voitage2陽ref— voltagel) — 一 r^/"一adc2 — r^ — a^/cl — —橫軸為模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的采樣值,縱軸電壓的單位為mv (毫伏), 采用的固定間隔100mv時(shí),上式可簡(jiǎn)化為 sample—voltage 二 — w/鄉(xiāng)el +-~=--x 100通過對(duì)手機(jī)的電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)的進(jìn)行設(shè)置,保證手機(jī)的電壓與實(shí)際的電池電壓偏差最大不超過^:定的電壓間隔(100 mv),這樣就可以忽略片上才莫 數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的精度不足引入的采樣值偏移量問題。上述方法除了可用于手機(jī)設(shè)備外,還可用于其它需要監(jiān)測(cè)電池的便攜設(shè) 備上。本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例,在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況 些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
      權(quán)利要求
      1、一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括利用所述電池所在設(shè)備的采樣模塊對(duì)可控電壓源的輸出電壓進(jìn)行采樣得到參考采樣值,可控電壓源的輸出電壓記為表征電壓值,表征電壓值和對(duì)該電壓進(jìn)行采樣得到的參考采樣值構(gòu)成一個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出電壓再次進(jìn)行采樣,獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓采樣值和所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。
      2、 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述采樣模塊為模擬數(shù)字 轉(zhuǎn)換模塊,所述采樣值為模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值。
      3、 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,對(duì)所述電池電壓進(jìn)^f亍采樣得到多個(gè)電池電壓采樣值后,計(jì)算電池電壓采 樣平均值,根據(jù)該電池電壓采樣平均值和所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池 電壓釆樣平均值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電 壓。
      4、 如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,將采樣得到的多個(gè)電池電壓釆樣值進(jìn)行中值濾波后,再計(jì)算得到電池電 壓采樣平均值。
      5、 如權(quán)利要求3或4所述的方法,其特征在于,計(jì)算得到電池電壓采樣平均值后,在所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池上,找到所述電池采樣模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換平均值對(duì)應(yīng)的電壓值作為電池電壓。
      6、 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中相鄰表征電壓值的間隔為固定間隔。
      7、 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于, 所述方法適用于需監(jiān)測(cè)電池電壓的便攜設(shè)備。
      8、 一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)裝置,其特征在于,包括主控模塊,可 控電壓源和電池所在設(shè)備,所述主控模塊,用于向所述可控電壓源發(fā)送控制命令;所述可控電壓源,用于收到所述主控模塊發(fā)送的控制命令后,向所述電 池所在設(shè)備輸出電壓,該電壓記為表征電壓值;所述電池所在設(shè)備,包含一采樣模塊,該采樣模塊對(duì)所述可控電壓源輸 出的電壓進(jìn)行采樣,得到參考采樣值,與該表征電壓值相對(duì)應(yīng),每個(gè)參考采 樣值和其對(duì)應(yīng)的表征電壓值構(gòu)成一電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出 電壓,進(jìn)行多次采樣后獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);該電池所在設(shè)備還用于通過采樣模塊對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電 壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓采樣值和電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采 樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。
      9、 如權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述電池所在設(shè)備,還用于通過采樣模塊按照對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到 多個(gè)電池電壓采樣值,根據(jù)采樣得到的多個(gè)電池電壓采樣值計(jì)算電池電壓采 樣平均值,根據(jù)所述電池電壓采樣平均值和電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電 壓采樣平均值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。
      10、 如權(quán)利要求9所述的校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述電池所在i殳備,還用于計(jì)算得到電池電壓采樣平均值后,在所述電 壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣平均值相鄰的兩個(gè)參考采樣值及其對(duì) 應(yīng)的表征電壓值確定的直線上,找到所述電池采樣才莫擬數(shù)字轉(zhuǎn)換平均值對(duì)應(yīng) 的電壓值作為電池電壓。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種電池電壓采樣的校準(zhǔn)方法及裝置,包括利用所述電池所在設(shè)備的采樣模塊對(duì)可控電壓源的輸出電壓進(jìn)行采樣得到參考采樣值,可控電壓源的輸出電壓記為表征電壓值,表征電壓值和對(duì)該電壓進(jìn)行采樣得到的參考采樣值構(gòu)成一個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn),改變可控電壓源的輸出電壓再次進(jìn)行采樣,獲得多個(gè)電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn);對(duì)電池電壓進(jìn)行采樣得到電池電壓采樣值,根據(jù)所述電池電壓采樣值和所述電壓參考基準(zhǔn)點(diǎn)中與所述電池電壓采樣值相鄰的參考采樣值及其對(duì)應(yīng)的表征電壓值,計(jì)算得到電池電壓。采用上述方法,可解決在使用性能相對(duì)較差的片上模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊采樣電池電壓時(shí),造成的采樣不準(zhǔn)和跳動(dòng)問題,防止片上模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊引入的數(shù)值偏移量問題。
      文檔編號(hào)G01R31/36GK101221225SQ20081000424
      公開日2008年7月16日 申請(qǐng)日期2008年1月24日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月24日
      發(fā)明者川 葉, 春 張, 闕石峰 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司
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