專利名稱::用于數(shù)字x射線檢測器的暗校正的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
:本發(fā)明涉及在電池供電的數(shù)字射線照相檢測器中為圖像數(shù)據(jù)異常提供補償?shù)姆椒ú⑶腋貏e地涉及在數(shù)字射線照相中用于暗校正(darkcorrection)的方法。
背景技術(shù):
:數(shù)字射線照相(DR)作為基于依靠感光膠片介質(zhì)的膠片成像技術(shù)的替代正逐漸被接收。采用DR,檢測器面板或平板檢測器(FPD)提供的傳感電路陣列將在放射敏感層上采集的放射曝光級別轉(zhuǎn)換成電子圖像數(shù)據(jù)。圖像光敏元件通常為金屬絕緣半導(dǎo)體(MIS)二極管或PIN(P型,本征,N型)二極管或其他一些光敏元件類型。然后將從DR檢測器獲得的圖像像素數(shù)據(jù)陣列存儲到存儲電路,以便之后的讀出、處理和在合適的電子圖像顯示設(shè)備上顯示。圖1示出具有平板檢測器20的常規(guī)DR面板10的截面剖視圖。閃爍體14具有諸如札氧硫化物(gadoliniumoxisulfide),Gd202S:Tb(GOS)或銫碘化物(cesiumiodide)的材料,吸收入射到其的X射線并將X射線能量轉(zhuǎn)換為可見光光子。平板檢測器20物理上接近于閃爍體(GOS)層并包括以行和列的矩陣形式安排的光敏像素24陣列。該像素24連接到讀出元件25。如圖1中放大的區(qū)域E所示,每個像素24具有一個或多個光敏元件22(例如PIN二極管或其他光敏部件)和一些類型的相關(guān)聯(lián)的開關(guān)元件26(例如薄膜晶體管(TFT))。通常采用氫化非晶硅(a-Si:H)形成平板檢測器20。在該a-Si:H陣列上的像素24記錄GOS或其他閃爍體14層吸收X射線所輸出的光強。a-Si:H像素的光敏部件將入射光轉(zhuǎn)換成存儲到像素24的內(nèi)部電容里的電荷。存儲的電荷數(shù)量與激發(fā)光的強度相關(guān),而該激發(fā)光的強度又與入射X射線的強度相關(guān)。圖像信息的讀出由外圍電子電路執(zhí)行,其中該外圍電子電路連接到a-Si:H陣列邊緣并且在圖1中用讀出元件25表示。從每個單獨像素讀出的電荷在連接到讀出電路的模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)中轉(zhuǎn)換成數(shù)字值。然后,通過標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)通信手段(例如有線或無線數(shù)據(jù)鏈接)將該數(shù)字值傳遞到外部系統(tǒng)。常規(guī)的DR面板從外部源接收它的工作功率,該外部源借助電纜、線纜(tether)或其他互連設(shè)備路由到面板。在常規(guī)的布置中,向DR面板持續(xù)地提供工作功率。這種工作方式適用于常規(guī)的、大型的數(shù)字射線照相裝置,其中將FPD永久性地安裝在預(yù)定的最佳固定位置用于患者成像。通常設(shè)置這種類型的裝置用于獲取日常大量患者所需的放射圖像的標(biāo)準(zhǔn)集。繼電源啟動后的預(yù)熱階段之后,DR面板達到穩(wěn)定的工作狀態(tài),其在一組患者的成像過程中和之間得以保持。即使當(dāng)面板不在采集圖像時,它也經(jīng)歷一個自動序列中的重置/更新、集成和讀出功能的重復(fù)循環(huán)。大多數(shù)面板也執(zhí)行自動的周期性暗標(biāo)度來補償可影響圖像質(zhì)量的溫度漂移和其它因素。本領(lǐng)域已知即使持續(xù)地運行,在靈敏性和暗電流(darkcurrent)方面,F(xiàn)PD也會顯示出像素到像素的變化。這些變化,有時被稱為固定模式噪聲,可導(dǎo)致在診斷X射線圖像中可察覺的不均勻并且因此干擾了疾病特征的檢測。因此,補償算法是必需的,例如如下文獻所描述的那些算法JamesA.Seibert,JohnM.Boone,和KarenK丄indfors的"Flat-fieldcorrectiontechniquefordigitaldetectors",Proc.SPIEVol.3336,1998,第348-354頁;Jean-PierreMoy和B.Bosset的"Howdoesrealo付setandgaincorrectionaffecttheDQEinimagesfromx-rayflatdetectors",Proc.SPIE,3659,1999,第90-97頁;和Hans-AloysWischmann,HansA.Luijendijk,HenkJ.Meulenbrugge,MichaelOverdick,RalfSchmidt,andKouroshKiani的"Correctionofamplifiernonlinearity,o付setgain,temporalartifacts,anddefectsforflat-paneldigitalimagingdevices",Proc.SPIEVol.4682,2002,第427-437頁。最基本的標(biāo)度和修正算法通常包括2個步驟。第一,獲得檢測器的暗信號(即沒有任意X射線膝光時的信號)。檢測器暗信號的像素間變化被特征化以形成包含暗變化的暗圖或偏置圖。然后在一個稱為暗校正或偏置修正的過程中從X射線曝光中減去偏置圖。第二,特征化像素靈敏性的變化。這一步通過采集一個或多個平面場膝光(flatfieldexposures)完成,平面場膝光隨后被偏置修正(offset-corrected)。得到的圖像是增益圖。在增益修正步驟中,用增益圖劃分偏置修正的X射線曝光。理想情況下,這兩步程序補償了由檢測器引入的任意固定模式噪聲。雖然這兩步操作看起來簡單明了,但增益圖和偏置圖兩者具有一些固有的噪聲,兩者可能隨時間漂移,并且它們可能顯露出差異,這些差異取決于檢測器先前進行的膝光。這些變化中的一些涉及非晶硅的溫度靈敏性和這種材料捕獲之前曝光的電荷的能力(tendency)(例如見Street,RobertA.的Technologyandapplicationsofamorphoussilicon,Berlin:SpringerVerlag;1999,第4章)。同樣,讀出電子電路也可能導(dǎo)致發(fā)生漂移。因此,專門為改進增益和偏置修正的性能和效率已經(jīng)花費了相當(dāng)大的力氣。例如,如本領(lǐng)域內(nèi)所熟知的,單獨的暗采集和平面場膝光分別包含電子和X射線量子噪聲。因此,必需對每項的多次采集作平均化以得到具有減少的噪聲電平的增益和偏置圖。那些修正圖中的固有噪聲將傳播到最終修正的x射線曝光并可能潛在地干擾臨床診斷。取平均的需要i皮下文先行揭示(anticipated):MoyandBosset、PieterG.Roos等人的"Multiple-gain陽rangingreadoutmethodtoextendthedynamicrangeofamorphoussiliconflat-panelimagers",Proc.ofSPIE,5368,2004,第139-149頁;以及TadeoEndo的美國專利No.7,113,565B2"Radiologicalimagingapparatusandmethod"。圖2和圖3的方框圖示出了用于執(zhí)行偏置修正的常規(guī)的方法。采用圖2所示的序列,在實際曝光E之后獲得數(shù)量為n的暗圖像D。然后采用所示的計算平均化暗圖像D并且從曝光E數(shù)據(jù)減去該平均值以得到偏置修正曝光圖像。在圖3所示的序列中,在曝光E之前得到n幅暗圖像D并且使用同樣的組合邏輯來得到偏置修正膝光圖像。已經(jīng)做出了一些努力在不對修正圖像中的噪聲產(chǎn)生負(fù)面影響的前提下使為增益和偏置修正需要而采集的平面場和暗圖像最少。這些解決方案包括頻率分解以減少增益圖中的高頻噪聲(BrianG.Rodricks,DennyL.Lee,MichaelG.Hoffberg和CornellL.Williams"Filteredgaincalibrationanditse付ectonDQEandimagequalityindigitalimagingsystems"Proc.SPIEVol.3977第476-485頁)和對已有偏置圖作周期性的加權(quán)更新,如Granfors等人題為"Methodandapparatusforacquiringandstoringmultipleo付setcorrectionsforamorphoussiliconflatpaneldetector"的美國專利申請公告No.US2003/0223539。后一種方法十分適用于在穩(wěn)定環(huán)境中持續(xù)運行的常規(guī)FPD,在該方法中,在曝光之間周期性地采集單個暗圖像并以現(xiàn)有偏置圖對其進行加權(quán)。在該環(huán)境中,Granfors等人的,539公開所描述的方法釆集長期的漂移,與此同時通過平均多個暗釆集減少噪聲。在偏置修正中減去適當(dāng)?shù)陌敌盘柺侵匾模驗樵谄毓馄陂g存在的實際暗級別和減去的偏置圖之間任何偏差會被后來的修正7步驟放大??筛淖兂掷m(xù)運行FPD的暗級別的機制之一是圖像滯后,這是一個診斷成像領(lǐng)域的專業(yè)人員所熟悉的問題。圖像滯后是幀之間不期望的電荷保持,源于光敏二極管的不完全讀出、閃爍體的余輝、a-Si光二極管中捕獲的電荷和/或其他原因。對于在圖像采集之后獲得暗圖像的情形,可能對圖像滯后有些擔(dān)心。殘留圖像以可預(yù)測的方式隨著時間的推移而衰減并可以如下的美國專利揭示的方式,皮修正Partain等人題為"Methodandapparatusforcorrectingexcesssignalsinanimagingsystem."的美國專利No.7,208,717。圖像滯后與曝光成比例,并且它的大小可以通過取曝光后已知的時間間隔上采集的兩個暗幀的差異而估算得到。滯后修正主要被熒光鏡(fluoroscopic)模式下持續(xù)運行的面板和在高劑量射線照相圖像和低劑量熒光鏡圖像之間轉(zhuǎn)換的面板所關(guān)注。雖然增益和偏置修正使持續(xù)運行FPD面臨一些挑戰(zhàn),但是預(yù)計修正算法將變得更復(fù)雜,因為工作條件穩(wěn)定性較差的便攜式無線纜DR面板的使用越來越普遍。無線纜DR操作為改進患者治療帶來了一些希望,其優(yōu)點包括改進的工作流程和設(shè)備適應(yīng)性。在無線纜操作中,可容易地將便攜式FPD設(shè)置在患者身后,而不用要求患者為成像而取一個笨拙的位置。在許多情況下,無線纜平板檢測器可取代多個常規(guī)檢測器的需要,因為該同樣的檢測器可位于墻面安裝(wall-mount)位置和水平桌面位置。便攜式、電池供電的FPD具有為DR成像可方便和快速地移動到任意合適的位置的靈活性,同時仍然提供對所得的X射線圖像的立即訪問。便攜式、暗盒類型FPD允許使用更小和更便攜的X射線成像系統(tǒng)。在一些情況下,便攜式DR面板可用在常規(guī)的線纜DR面板不適合于患者成像的地方,并且可以避免重新使用舊技術(shù)的需要,例如使用存儲磷計算射線照相(CR)(storagephosphorcomputedradiography)X射線暗盒。電池電源提供可觀的好處,但是也有伴隨電池使用而來的缺點,包括當(dāng)不使用時保存電池功能的需要。電池保存的意思是提供一些"待命"類型的功率級別,使得DR面板可以保持在準(zhǔn)備就緒狀態(tài)而不用提取工作所需的全額的電池電流直到必要時。但是,任何類型的電源模式轉(zhuǎn)換可對圖像質(zhì)量產(chǎn)生負(fù)面的影響。因為前面提到的非晶硅的溫度靈敏度(參見R.AStreet的引用),功率模式的轉(zhuǎn)變(例如提供"待命"和操作模式)隨之而來的是在整個監(jiān)測區(qū)域上溫度曲線(temperatureprofiles)可能發(fā)生快速變化。這包括全部和局部變化,因為一些電子部件升溫快于其他部件。溫度的快速的局部或全局的變化很可能造成一定范圍的成像異常。緊隨工作功率的變化,可能能夠測得DR面板的成像特性與幾分鐘之后的成像特性的不同。這就是為什么圖2和圖3的筒單明了的修正序列達不到便攜DR應(yīng)用對暗校正的要求的一個原因。首先,工作流程的考慮事項可能限制在曝光之前可得到的暗圖像的數(shù)量。理想地,檢測器從待命模式轉(zhuǎn)變后必需盡快作好X射線釆集的準(zhǔn)備。此外,如果有快速變化的溫度曲線,則在曝光之后立即得到的暗圖像可能并不能代表在曝光期間實際存在的暗電平。由于DR面板自身使用和操作的性質(zhì),為便攜式電池供電的DR面板正確地特征化和補償成像性能的變化的任務(wù)使復(fù)雜的。面板可以用于不同的房間和不同的任務(wù)(隨使用模式和溫度環(huán)境變化)。例如在加護病房(ICU)中,可能沒有標(biāo)準(zhǔn)的使用模式或常規(guī)的時間調(diào)配(timing),而這些可能有助于對任意特定點上所需的補償量的預(yù)測。相反,DR面板的使用可能更隨機化和不同步,因而需要一些自適應(yīng)的方法進行適當(dāng)?shù)奶卣骰托U?。因此,盡管便攜式電池供電的DR面板在操作員流程和患者看護的改善等方面的優(yōu)點是顯而易見的,但是這些設(shè)備對獲得高質(zhì)量的診斷圖像的任務(wù)提出了特別的挑戰(zhàn)。為DR面板采用板上(on-board)電池電源所引入的成堆的新問題要求這樣的解決方案使功率循環(huán)和不均勻的熱積聚對所得到的圖像數(shù)據(jù)的沖擊最小。v
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一個目的是在便攜的、電池供電的數(shù)字射線照相檢測器中解決改進暗校正的需要。根據(jù)考慮中的這個目的,本發(fā)明提供了一種用于形成來自數(shù)字x射線檢測器的偏置修正啄光圖像的修正方法。該方法包括a)獲得初始膝光圖像和關(guān)于采集瀑光圖像的采集條件的相關(guān)的曝光元數(shù)據(jù);b)通過獲得一幅或多幅與初始啄光圖像相關(guān)的暗圖像和從初始曝光圖像減去一幅或多幅暗圖像的平均值形成中間偏置修正曝光圖像;c)根據(jù)相關(guān)的膝光元數(shù)據(jù),通過組合來自一幅或多幅先前采集的暗圖像的存儲的暗圖像數(shù)據(jù)來形成偏置調(diào)整圖;以及d)將偏置調(diào)整圖與中間偏置修正膝光圖像組合以形成偏置修正曝光圖像。另一方面,本發(fā)明提供一種數(shù)字射線照相檢測器,其包括響應(yīng)入射輻射的閃爍體層;包括多個傳感器的檢測器陣列,布置每個傳感器以提供對應(yīng)于從閃爍體層接收的光量的信號;嵌入式控制電路,被以指令編程為得到初始爆光圖像和關(guān)于采集膝光圖像的采集條件的相關(guān)的膝光元數(shù)據(jù),通過獲得一幅或多幅與初始膝光圖像相關(guān)的暗圖像和從初始膝光圖像減去一幅或多幅暗圖像的平均值以形成初始偏置修正曝光圖像,根據(jù)相關(guān)的曝光元數(shù)據(jù),通過組合來自一幅或多幅先前釆集的暗圖像的存儲的暗圖像數(shù)據(jù)以形成偏置調(diào)整圖;和將偏置調(diào)整圖與初始偏置修正曝光圖像組合以形成偏置修正曝光圖像Ed。該數(shù)字射線照相檢測器還包括向檢測器陣列的電子部件供電的電池。優(yōu)選地,在上述方法中,X射線檢測器是電池供電的。優(yōu)選地,在上述方法中,該存儲的暗圖像數(shù)據(jù)來自一幅或多幅先前采集的暗圖像并且偏置圖像圖由以下步驟生成釆集暗圖像集;處理釆集的暗圖像集以形成至少一個存儲的偏置調(diào)整圖;以及將至少一個存儲的偏置調(diào)整圖與存儲的元數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián),其中該存儲的元數(shù)據(jù)涉及至少一些處理過的、采集的暗圖像的采集。優(yōu)選地,在上述方法中,釆用為單個存儲的元數(shù)據(jù)的集而獲取的一個或多個先前采集和處理的暗圖像集的平均值來形成該至少一個存儲的偏置調(diào)整圖。優(yōu)選地,在上述方法中,處理先前采集的暗圖像集以形成至少一個存儲的偏置調(diào)整圖進一步包括將至少一個存儲的偏置調(diào)整圖分解成高頻率圖和低頻率圖。優(yōu)選地,在上述方法中,進一步包括對高頻率圖或低頻率圖的至少一個施加平滑操作。優(yōu)選地,在上述方法中,進一步包括選擇至少一個存儲的偏置調(diào)整圖作為基準(zhǔn)偏置調(diào)整計算和存儲所選的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和至少一個存儲的偏置調(diào)整圖內(nèi)的數(shù)值的差異以形成具有關(guān)聯(lián)的存儲的元數(shù)據(jù)的對應(yīng)的差異偏置調(diào)整圖;以及存儲該基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和差異偏置調(diào)整圖和它們關(guān)聯(lián)的元數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,在上述方法中,更新至少以自動方式和周期性方式之一進行。優(yōu)選地,在上述方法中,更新使用了存儲的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和新獲得的暗圖像數(shù)據(jù)間的加權(quán)值。優(yōu)選地,在上述方法中,加權(quán)值基于時間、經(jīng)過的時間、溫度和在存儲的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和新獲得的暗圖像數(shù)據(jù)之間的統(tǒng)計差異測量中的一個或多個。優(yōu)選地,在上述方法中,進一步包括通過將更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖與存儲的差異偏置調(diào)整圖集中的一個組合來更新至少一個存儲的偏置調(diào)整圖。優(yōu)選地,在上述方法中,在制造數(shù)字X射線檢測器時獲得先前采集的暗圖像集。優(yōu)選地,在上述方法中,數(shù)字X射線檢測器上的嵌入式電路執(zhí)行下列步驟至少之一獲得先前采集的暗圖像集、處理先前采集的暗圖像集和將至少一個存儲的偏置調(diào)整圖與存儲的元數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。優(yōu)選地,在上述方法中,存儲的偏置調(diào)整圖從在特征化步驟獲得的先前釆集的暗圖像形成,特征化步驟至少部分地由數(shù)字X射線檢測器上ii的嵌入式電路執(zhí)行。優(yōu)選地,在上述方法中,在特征化步驟獲得的先前采集的暗圖像在一定條件下采集,該條件與涉及初始曝光圖像的曝光元數(shù)據(jù)的離散集對應(yīng)。優(yōu)選地,在上述系統(tǒng)中,進一步包括用戶輸入,用于輸入指令以在功率狀態(tài)間交替。本發(fā)明的特征在于,其適于電池供電的DR檢測器的功率模式轉(zhuǎn)變。本發(fā)明的優(yōu)點在于,其為便攜式DR檢測器中的偏置信號變化提供自動修正。在閱讀下面優(yōu)選實施例的詳細(xì)說明及附加權(quán)利要求和參考附圖后將能更清楚地理解和認(rèn)識本發(fā)明的這些以及其他的方面、目的、特點和優(yōu)勢。雖然說明書以特別指出和清楚聲明本發(fā)明主題的權(quán)利要求書作為結(jié)束,但是通過下面結(jié)合附圖的描述將可以更好地理解本發(fā)明。圖1為常規(guī)數(shù)字射線照相面板的部分分解的視圖。圖2是示出獲得用于修正曝光圖像的暗圖像的常規(guī)序列的方框圖。圖3是示出獲得用于修正啄光圖像的暗圖像的替代的常規(guī)序列方框圖。圖4是示出根據(jù)本發(fā)明笫一實施例的包括平板檢測器的X射線系統(tǒng)方框圖。圖5是示出圖4中檢測器的嵌入式電子電路的單元的方框圖。圖6是示出完整的圖像采集周期的時序圖,其包括在采用兩個不同功率狀態(tài)的實施例中的便攜的、電池供電的DR面板的暗圖像采集。圖7是示出完整的圖像采集周期的時序圖,其包括在這樣的實施例中對單個患者圖像作研究的暗圖像采集,其中便攜式電池供電的DR面板支持三種不同的功率狀態(tài)。圖8A是示出在多采集模式下單次曝光的序列的方框圖。圖8B是示出與圖8A的序列類似的序列的方框圖,其中曝光由暗圖像采集代替,通過嵌入式電子電路觸發(fā)暗圖像采集而無需用戶的介入。圖9為邏輯流程圖,示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的釆用曝光后(post-exposure)暗圖像和存儲的偏置調(diào)整圖來產(chǎn)生偏置修正膝光圖像的序列。圖10為邏輯流程圖,示出一實施例中偏置調(diào)整圖像的形成。圖11為邏輯流程圖,示出產(chǎn)生偏置調(diào)整圖的代替序列。圖12為方框圖,示出使用元數(shù)據(jù)以將元數(shù)據(jù)內(nèi)插到來自存儲的偏置調(diào)整圖集的偏置調(diào)整圖。圖13為方框圖,示出使用元數(shù)據(jù)以借助元數(shù)據(jù)來選擇來自存儲的偏置調(diào)整圖集的偏置調(diào)整圖。圖14示出為形成偏置調(diào)整圖的具有兩種功率狀態(tài)的特征時間序列的例子,其中用在高功率狀態(tài)的時間是變化的。圖15示出為形成偏置調(diào)整圖的具有兩或三種功率狀態(tài)的特征時間序列的例子,其中研究內(nèi)的圖像間的時間是變化的。圖16示出采用頻率分解技術(shù)形成偏置調(diào)整圖的序列。圖17示出元數(shù)據(jù)集和對應(yīng)的偏置調(diào)整圖到基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和差異偏置調(diào)整圖集的轉(zhuǎn)換。圖18示出元數(shù)據(jù)集和對應(yīng)的偏置調(diào)整圖到基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖的轉(zhuǎn)換以及預(yù)測來自元數(shù)據(jù)的偏置調(diào)整圖的統(tǒng)計測量的函數(shù)。圖19是示出采集用于更新偏置調(diào)整圖的暗圖像集序列的方框圖。圖20是示出采集用于更新偏置調(diào)整圖的暗圖像集代替序列的方框圖。圖21示出基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖的更新函數(shù)。圖22是示出從更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖和工廠差異偏置調(diào)整圖集計算更新的偏置調(diào)整圖的方法的方框圖。具體實施例方式本發(fā)明通過提供一種更有效和更準(zhǔn)確的對采集的x射線圖像執(zhí)行偏置修正的方法解決了便攜的電池供電的DR檢測器的改進圖像質(zhì)量的需要。盡管將就關(guān)于在便攜的DR檢測器中保存能量以延長電池壽命的方面討論本發(fā)明的優(yōu)選實施例,但是應(yīng)該理解這里描述的方法和技術(shù)在保持"綠色"和能量節(jié)約精神下對于例如常規(guī)的、插座式檢測器也是有用的。在本公開內(nèi)容的上下文中,術(shù)語"研究(study)"表示在單次過程中為一個患者所拍攝的一幅或多幅的圖像的組。例如,給定患者的研究可包括左膝蓋的一幅或多幅從各個面和角度拍攝的圖像。圖像之間的時間間隔是可變的。通常患者成像的每個研究平均為三幅圖像,但更小和更多的數(shù)量也是有可能的。其中一個隨機變量是"一個研究內(nèi)圖像間的時間"?;颊?研究)間的時間也是隨機變量。這意味著出于普通射線照相目的的DR檢測器10的典型用法中,以隨機的時間間隔異步拍攝患者圖像。本發(fā)明的實施例通過考慮用于DR檢測器功能的各種操作和定時因素向采用便攜的、電池供電的檢測器進行數(shù)字射線照相所獲得的圖像提供暗校正。例如,在獲得特征信息中,本發(fā)明的實施例在給定的圖像釆集的條件下嘗試匹配膝光周期的時間以提供更精確的暗曝光數(shù)據(jù)。如下描述,本發(fā)明的實施例可釆用關(guān)于用戶事件的元數(shù)據(jù)或關(guān)于曝光條件的使用歷史(history)以如下所述地選擇合適的已存儲的暗圖像數(shù)據(jù)。如
背景技術(shù):
部分中所討論的,便攜的無線纜DR面板需要板上電池電源。即使使用可充電電池,用戶仍然期望這些電池能在合理的時間長度內(nèi)工作而不用充電,例如在醫(yī)院內(nèi)滿8個小時輪班地工作。為達到期望的電池壽命,檢測器必需支持至少兩種功率狀態(tài)當(dāng)?shù)却齺碜杂脩舻拿顣r的待命或低功率狀態(tài);用于圖像獲取的高功率狀態(tài),在此期間開啟了所有到檢測器的電源。在手持電子設(shè)備中也常規(guī)地實現(xiàn)類似的電源管理,例如數(shù)碼照相機和蜂窩手機。沒有多種功率狀態(tài),便攜DR檢測器預(yù)期的電池電源的持續(xù)時間少于一小時。必需平衡許多與保存電池電源的需要矛盾的檢測器要求。至于本發(fā)明,特別關(guān)注以下幾點(1)電池壽命,總功率消耗的函數(shù);(2)工作流程要求,特別強調(diào)用戶需要方面的患者成像DR面板的準(zhǔn)備就緒的需要;以及(3)圖像質(zhì)量,適用于醫(yī)學(xué)診斷,在修正的圖像中具有低電平的隨機或固定模式噪聲。為理解這些需要,對DR系統(tǒng)的一些基本功能部件進行總結(jié)是有幫助的。圖4的方框圖示出數(shù)字射線照相系統(tǒng)100。主計算機116提供管理系統(tǒng)所有的高層功能的控制邏輯處理器。這包括管理用戶交互、與外圍設(shè)備的通信、觸發(fā)X射線曝光和圖像獲取、從平板檢測器20接收圖像、執(zhí)行圖像處理和顯示功能、管理患者數(shù)據(jù)和其他功能。平板檢測器20具有嵌入式的電子電路28(更詳細(xì)的顯示在圖5中)并通過電源29供電,即優(yōu)選實施例中的電池。主計算機116經(jīng)過通信鏈路119與平板檢測器20通信,經(jīng)過通信鏈路121通過接口114控制X射線產(chǎn)生器112。通信鏈路119,121所采用的標(biāo)準(zhǔn)通信方法可包括例如有線以太網(wǎng)、USB和無線協(xié)議。準(zhǔn)備/曝光控制120提供操作員指令以啟動產(chǎn)生器旋轉(zhuǎn)和曝光操作。圖4示出連接到接口盒114的準(zhǔn)備/啄光控制120。代替地,準(zhǔn)備/曝光控制120和/或X射線產(chǎn)生器112可連接到主計算機116。用戶使用用戶界面118將患者數(shù)據(jù)和其他信息和指令輸入到主計算機116。系統(tǒng)啟動時,DR系統(tǒng)100進入待命模式,準(zhǔn)備產(chǎn)生曝光。X射線產(chǎn)生器112處于待命模式,連接到平板檢測器10的嵌入式電子電路28的部分開啟。檢測器20的功率狀態(tài)至少支持通過通信鏈路119與主計算機的標(biāo)準(zhǔn)通信功能。在一個優(yōu)選實施例中,為釆集患者圖像而與該系統(tǒng)的用戶交互以如下方式進行。當(dāng)按下準(zhǔn)備/曝光控制120開關(guān)并保持半程位15置(half-wayposition)時,產(chǎn)生器開始旋轉(zhuǎn)X射線管轉(zhuǎn)子并使管燈絲升溫到正確的曝光溫度。然后檢測器20從"待命"狀態(tài)轉(zhuǎn)換到"準(zhǔn)備"狀態(tài),并發(fā)送信號到主機通知已經(jīng)做好接收爆光的準(zhǔn)備。當(dāng)準(zhǔn)備/曝光控制120全部按下時,發(fā)送信號到與嵌入式電路28通信的主計算機116以驗證檢測器20做好了接收曝光的準(zhǔn)備。當(dāng)檢測器20準(zhǔn)備好接收X射線信號時,嵌入式電路28傳送"檢測器準(zhǔn)備好"信號到主計算機116。主計算機116通過接口盒114傳輸信號到產(chǎn)生器112并且X射線束被開啟。當(dāng)自動曝光控制(AEC)或其他控制設(shè)備表明對于給定類型的患者檢查已經(jīng)傳輸了合適的X射線曝光時,曝光終止。如果選擇手動曝光技術(shù),當(dāng)達到指定的mAs設(shè)置時,膝光終止。檢測器20上的信號積分(integration)或者在X射線束關(guān)閉后終止,或者積分時間在設(shè)置在主計算機116或存儲在嵌入式電路28的寄存器中的固定時間間隔之后結(jié)束。在所有情況下,積分時間必需略微長于曝光,使得檢測器20可以充分地積聚X射線信號。檢測器20讀出圖像,圖像可能臨時存儲在嵌入式電路28的存儲器302(圖5)中。初始修正操作(例如偏置、可能的增益和缺陷修正)可在圖像通過標(biāo)準(zhǔn)通信鏈路119被傳送到主計算機116之前由嵌入式電路28執(zhí)行。進一步的圖像處理發(fā)生在主計算機116。然后將全尺寸圖像和/或子采樣預(yù)覽圖像通過用戶界面118顯示給用戶。在此過程的最后,檢測器20已經(jīng)做好接收另一次曝光的準(zhǔn)備。以下三項術(shù)語指用于獲取患者圖像的目的操作X射線產(chǎn)生器的典型序列準(zhǔn)備階段:采用典型的DR系統(tǒng),操作員通過輸入命令或按下"準(zhǔn)備"按鈕啟動曝光序列。在準(zhǔn)備階段期間,產(chǎn)生器旋轉(zhuǎn)并發(fā)送做好曝光準(zhǔn)備的信號到主計算機116。為特定的成像技術(shù)或患者,準(zhǔn)備階段間隔(也稱作準(zhǔn)備時間)可被操作員延長超過來自產(chǎn)生器112的準(zhǔn)備信號。例如,對一個小孩成像,操作員可能需要等待一個當(dāng)小孩沒有在移動的合適的時刻。因此,準(zhǔn)備時間也是隨機變量,盡管2到15秒的時間周期較為常見。曝光:當(dāng)操作員發(fā)布膝光命令啟動X射線曝光時這個階段開始。在大多數(shù)裝置中準(zhǔn)備和曝光功能由準(zhǔn)備/瀑光控制120實施為兩階段按鈕。在DR系統(tǒng)中,基本的一點是直到檢測器20發(fā)送準(zhǔn)備好啟動積分階段并因此準(zhǔn)備好記錄X射線啄光的信號,產(chǎn)生器112才開始曝光。檢測器20可能需要在積分開始前完成一些更新和準(zhǔn)備功能。束選通(beamon):在這個階段期間,患者接收X射線曝光并且檢測器20上的光敏二極管積分從它的閃爍體14(圖1)發(fā)射出的光量子。由操作員發(fā)出的曝光命令和開始"束選通"之間的延遲被稱為"膝光延遲"。短曝光延遲(優(yōu)選地低于500ms)是理想的。支持多種功率狀態(tài)的DR面板的工作序列面板的工作由嵌入式電子電路28控制,嵌入式電子電路28通過標(biāo)準(zhǔn)通信鏈路119與主計算機116通信。參考圖5,示出了一個實施例的嵌入式電路28的基本結(jié)構(gòu)。嵌入式電路28包括以下一個或多個嵌入式控制器300、控制寄存器304和圖像存儲器302,其中嵌入式控制器300例如為微處理器、一個或多個FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)或CPLD(復(fù)雜可編程邏輯器件)。適當(dāng)?shù)墓碳?zhí)行面板工作周期并使面板功率狀態(tài)和工作周期與外部用戶事件同步。嵌入式電路28在不同的功率狀態(tài)中在檢測器20上執(zhí)行可重復(fù)的工作序列。例如,當(dāng)面板處于高功率狀態(tài)時,嵌入式電路28可以以更新、準(zhǔn)備、積分和讀出功能(下面定義更多細(xì)節(jié)),執(zhí)行與常規(guī)有線纜DR面板相似的可重復(fù)序列。此外,嵌入式電路28管理功率狀態(tài),與主計算機116通信以開始和停止某些面板操作,例如開啟電源或關(guān)閉電源,開始積分,面板讀出,臨時存儲和圖像傳輸。圖6和7示出在兩個不同實施例中獲得單個患者圖像的DR面板操作的時序。圖6示出一個實施例,在其中DR面板具有兩種功率狀態(tài),即低功率和高功率。圖7示出一個實施例中,其具有三種功率狀態(tài),即低功率,中功率和高功率。對于圖6和圖7中的實施例,檢測器10的功率狀態(tài)定義如下低功率狀態(tài):在這種功率狀態(tài)中幾乎沒有電壓供應(yīng)到檢測器陣列,但是嵌入式控制器300在運行并且一些通信功能被支持。中功率狀態(tài):在這種功率狀態(tài)下,為檢測器陣列供應(yīng)了一定的電壓。高功率狀態(tài):在這種功率狀態(tài)下,為檢測器陣列供應(yīng)所有電壓并且所有讀出電子電路是激活的。圖6中的實施例只具有低功率和高功率狀態(tài)。在高功率狀態(tài)下,本領(lǐng)域所知的大多數(shù)DR檢測器執(zhí)行最少下列三個基本功能(但也可能有附加功能)更新和準(zhǔn)備周期:這是一個檢測器工作的序列,它在每個積分周期的開始將檢測器置于可重復(fù)的工作狀態(tài)。因為非晶硅(a-Si:H)的一些基本性質(zhì),這些周期是必需的。一項性質(zhì)涉及材料能帶隙中的亞穩(wěn)定狀態(tài),它能釆集電荷并且影響平板成像器的電學(xué)性質(zhì)。一種將a-Si:H材料在每次曝光之前置于可再生狀態(tài)的方法是使用背光(backlight)更新面板,該背光更新面板以可見光照滿平面板成像器以在a-Si:H中填充大部分的誘捕位置。在另一實施例中,接通或關(guān)閉(switch)各像素中的光敏二極管和TFT偏置電壓以按照可預(yù)測的方式填滿和抽空電荷陷阱??赡苄枰嘤谝粋€的更新周期來完成可重復(fù)的結(jié)果。該準(zhǔn)備操作初始化用于讀出的面板。積分:接通或關(guān)閉各個像素上的光敏二極管的偏置電壓(門驅(qū)動器),使得光敏二極管或其他光敏元件部件將入射光轉(zhuǎn)換成存儲在像素單元的內(nèi)部電容里的電荷。讀出:圖像信息的讀出由連接到a-Si:H陣列邊緣的讀出元件25(圖1)的外圍電子電路執(zhí)行。從各個單個像素中讀出的電荷在模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)中轉(zhuǎn)換成數(shù)字值,其中模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器為讀出電路的一部分。參考圖6的實施例,其中檢測器20支持兩種功率狀態(tài),當(dāng)不拍攝圖像時檢測器20處于低功率狀態(tài);只開啟外部通信功能。當(dāng)按下產(chǎn)生器準(zhǔn)備開關(guān)時,檢測器20從低功率狀態(tài)轉(zhuǎn)換到高功率狀態(tài)。在激活準(zhǔn)備開關(guān)后,檢測器在短時間內(nèi)(最好低于2秒)做好啄光準(zhǔn)備。在此期間,開啟所有到檢測器20的電源。執(zhí)行一個或多個更新周期和一個準(zhǔn)備周期;由于在準(zhǔn)備階段的持續(xù)時間的變化,精確的數(shù)字隨逐個圖像而變化。在操作員啟動曝光開關(guān)之后,檢測器20完成電流更新和準(zhǔn)備周期,開始積分階段并且發(fā)送信號到產(chǎn)生器112以開啟X射線束。"束選通"周期必需全部落入積分階段中,使得患者的所有X射線曝光由面板積分。在積分的最后,嵌入式電子電路28啟動圖像讀出到存儲器302(圖5)中的臨時存儲器。在圖6所示的實施例中,檢測器20保持在高功率狀態(tài)并在曝光之后拍攝兩幅暗圖像。這總計三次的沒有功率轉(zhuǎn)變的釆集被稱作"多采集模式下的圖像獲取"。在拍攝各個后暗(post-dark)圖像之前,檢測器至少完全地運行一個或可能多個更新周期。在最后一次讀出結(jié)束時,檢測器返回到低功率狀態(tài)并且圖像通過標(biāo)準(zhǔn)通信鏈路119傳輸?shù)街饔嬎銠C116(圖6中例如為TCP/IP圖像傳輸)。最后,檢測器做好下一次圖像獲取的準(zhǔn)備。在工作流程方面,用曝光后采集用于偏置修正的暗圖像來代替采集所謂的前暗圖像(pre-dark)是有利的。在與主計算機116上的控制臺交互之后,檢測器20就馬上做好進入準(zhǔn)備階段的準(zhǔn)備并且在啟動準(zhǔn)備開關(guān)之后的短時間內(nèi)就可進行曝光。通過釆集單個后暗圖像,可以縮短顯示最后的修正和處理的圖像的時間,以及減少功率消耗。這些優(yōu)點必需與稍微更高的圖像噪聲小心地平衡,噪聲往往導(dǎo)致較低的圖像質(zhì)量。當(dāng)然,也可以拍攝多于兩幅的暗圖像以進一步減少電子噪聲對圖像質(zhì)量的影響。圖7示出基于研究概念的實施例,其中為單個患者獲得多個圖像。該實施例包括中功率狀態(tài),它是在研究時間階段期間的默認(rèn)功率狀態(tài)。在如圖6的實施例中,檢測器20在研究之間處于低19功率狀態(tài)。當(dāng)用戶與控制臺交互以開始新的研究并輸入患者數(shù)據(jù)時,發(fā)送"開始研究"命令到嵌入式電路28。檢測器20從低功率狀態(tài)轉(zhuǎn)變到中功率狀態(tài),也就是,開啟由固件決定的一些檢測器電壓。這種類型的工作流程使得在操作員輸入患者數(shù)據(jù)時能采集有限數(shù)量的前曝光暗圖像。在產(chǎn)生器準(zhǔn)備階段,檢測器保持在中功率狀態(tài)。在這個場景中,開始研究和準(zhǔn)備命令之間的時間間隔和準(zhǔn)備階段的持續(xù)時間是變化的。根據(jù)圖7實施例,當(dāng)按下曝光按鈕時,檢測器從中功率狀態(tài)轉(zhuǎn)變到高功率狀態(tài)。所有電源都是穩(wěn)定的并且嵌入式電路28至少執(zhí)行一個但可能更多的更新周期和一個準(zhǔn)備周期。這造成了約500ms的曝光延遲。最后,檢測器10開始積分階段并發(fā)送信號到產(chǎn)生器112以開啟X射線束。這一點之前的所有高功率狀態(tài)下的操作與圖6中所示的類似,除了在高功率狀態(tài)下圖像之間的更新周期的優(yōu)選數(shù)量可能不同,其中存在三種功率狀態(tài)。在最后圖像讀出結(jié)束時,檢測器返回到中功率狀態(tài)。然后,將三幅在多采集模式下釆集的圖像全部通過通信鏈路119傳送到主計算機116。檢測器20保持在中功率狀態(tài)直到接收到下一曝光信號并且圖像采集周期重復(fù)進行,或者直到發(fā)送"結(jié)束研究"命令,該命令導(dǎo)致到低功率狀態(tài)的轉(zhuǎn)變。如果采用圖2和圖3中所示的標(biāo)準(zhǔn)方法,則由于下列方面可能會造成不完全的偏置修正圖6和圖7中示出的定時序列的幾個單元以及在其中使用便攜的電池供電的DR平面板檢測器的物理環(huán)境,加上周圍環(huán)境溫度的潛在改變。圖6和圖7示出的在曝光之前執(zhí)行的更新周期的數(shù)量可能不同于后暗圖像的優(yōu)化數(shù)量。對于圖6所示的實施例,對于每次的釆集,準(zhǔn)備時間的變化轉(zhuǎn)變?yōu)槊姘逶诟吖β薁顟B(tài)上所待的時間的變化。在圖7所示的實施例中,面板在每次多采集圖像獲取期間,在高功率狀態(tài)上花費相同的時間。但是,多釆集序列之間的中功率的時間是變化的。因此,全局和局部加熱曲線和電荷分布根據(jù)各種功率狀態(tài)的定時,在曝光和后暗圖像之間可能不同。通常,與曝光對應(yīng)的暗圖像和先或后暗圖像之間看起來存在不同,其中與曝光對應(yīng)的暗圖像即是為了全偏置修正和最佳圖像質(zhì)量需要從曝光中減去的的暗圖像,該先或后暗圖像可以實現(xiàn)偏置修正。但是,作為在這里被稱作"用戶和圖像元數(shù)據(jù)"的普通用戶和環(huán)境參數(shù)的函數(shù),特征化和修正這些系統(tǒng)差異是可能的。用戶元數(shù)據(jù)30通常涉及由操作員執(zhí)行的定時和事件控制。用戶元數(shù)據(jù)的通常的例子包括操作員控制的變量,例如準(zhǔn)備時間以及研究中設(shè)置的多采集圖像之間的時間。另一方面,圖像元數(shù)據(jù)32通常包括操作員直接控制之外的變量,例如周圍環(huán)境溫度,來自面板內(nèi)部的溫度傳感器的數(shù)據(jù)和之前特征化為溫度函數(shù)的暗采集的平均值或中間值。元數(shù)據(jù)也可以包括檢測器標(biāo)識,其為主計算機識別正在提供信息的檢測器。當(dāng)多個檢測器與單個主計算機通信時,這一點十分有幫助。在本發(fā)明的實施例中,可對檢測器20編程以復(fù)制用戶事件的可能序列的定時。嵌入式電路28基于它的可從主計算機116進行編程的控制寄存器304設(shè)置(圖5)觸發(fā)開始研究、準(zhǔn)備、曝光和功率轉(zhuǎn)換命令。嵌入式電路28觸發(fā)的暗采集代替由用戶觸發(fā)的對應(yīng)序列的X射線曝光。即使在實時患者圖像采集中,后暗圖像采集也由嵌入式電路28自動觸發(fā)。在圖6對應(yīng)的例子中,嵌入式電路28可觸發(fā)準(zhǔn)備命令并使檢測器20轉(zhuǎn)變到高功率狀態(tài)??刂萍拇嫫?04設(shè)置指示嵌入式控制器300以按照給定的時間延遲曝光信號。該延遲對應(yīng)于在患者圖像釆集中的準(zhǔn)備時間。圖8A和8B示出了由用戶觸發(fā)的患者的X射線采集和具有由嵌入式電路28觸發(fā)的具有暗圖像的相同定時序列之間的相似性。因此,例如,如果采集三幅暗圖像44,則第二與笫三暗圖像的平均值和第一暗圖像1之間的系統(tǒng)性差異可以被特征化并作為用戶和圖像元數(shù)據(jù)的函數(shù)存儲。"偏置調(diào)整圖"是表示這些系統(tǒng)差異的圖像,用于預(yù)先組合表示實際成像條件的曝光和用戶元數(shù)據(jù)。在圖8A中,一個或多個用戶(操作員)事件產(chǎn)生用戶元數(shù)據(jù)30。用戶元數(shù)據(jù)30涉及由操作員執(zhí)行的定時和事件控制。然后,曝光元數(shù)據(jù)32涉及諸如溫度數(shù)據(jù)的周圍環(huán)境條件和用于功率模式設(shè)置的模式定時。獲得n個數(shù)量的暗圖像44并對其平均化。以與參考圖3描述類似的方式從曝光中減去平均值,形成暗校正曝光50。圖8B示出所形成的作下面之用的偏置調(diào)整圖60。通過獲得具有附帶的圖像元數(shù)據(jù)32的單個暗圖像54和用戶元數(shù)據(jù)52形成該調(diào)整圖60。然后獲得大量的暗圖像44并對其平均化。從暗圖像54的值中減去該平均值以提供偏置調(diào)整圖60。所描述的平均、加、減、乘、除和其他操作圖像的行為通常為本領(lǐng)域所熟知。盡管這些功能一般逐個像素實現(xiàn),但并不要求這樣。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到以這里描述的方式操作圖像的其他方法。圖9的邏輯流程圖示出了根據(jù)本發(fā)明的用于偏置修正的基本步驟。步驟S100獲得初始膝光圖像E和對應(yīng)的關(guān)于在何種條件下采集圖像E的曝光元數(shù)據(jù),例如用戶和圖像元數(shù)據(jù)106。然后在步驟S110中獲得一個或多個暗圖像D??稍诓襟ES100中獲得瀑光圖像E之前或之后獲得部分或所有的暗圖像。在步驟S120中,通過對暗圖像讀數(shù)(readings)取平均和從曝光圖像E數(shù)據(jù)減去它們形成中間偏置修正曝光圖像Ec。仍然參考圖9,步驟S130從已存儲的偏置調(diào)整圖102集和對應(yīng)的已存儲的元數(shù)據(jù)104得到偏置調(diào)整圖,縮寫為DDx(暗差異,"DarkDifference"),下面將會對偏移調(diào)整圖102和所存儲的元數(shù)據(jù)104進行更詳細(xì)的描述。在步驟S140中,通過將中間修正瀑光圖Ec與所選的偏置調(diào)整圖組合形成最終的偏置修正膝光圖ED。例如,兩圖像可相加到一起。步驟S140標(biāo)記偏置修正過程的結(jié)束。隨后,執(zhí)行其他通常的圖像^"正步驟,例如,增益和錯誤像素修正(例如如WischmannMoy和Bosset和Seibert,Boone和Lindfors所描述的)。通常修正的圖像也可如下列文獻所迷,以軟拷貝顯示或硬拷貝打印的方式呈現(xiàn)IsaacAAjewole和RalphSchaetzing的題為"Tone-scalegenerationmethodandapparatusfordigitalx-rayimages"的專利No.US5046118,以及MaryE.Couwenhoven,RobertA.Senn和DavidH.Foos的"Enhancementmethodthatprovidesdirectandindependentcontroloffundamentalattributesofimagequalityforradiographicimagery,,(Proc.SPIEVol.5367,2004第474-481頁)。圖10和11是示出圖9步驟S130中所選擇的偏置調(diào)整圖DDX如何形成的實施例的圖。首先參考圖10,使用兩種類型的元數(shù)據(jù)106(即如圖8A所描述的用戶元數(shù)據(jù)30和圖像元數(shù)據(jù)32)幫助選擇合適用于修正X射線曝光圖像的偏置調(diào)整圖DDx。如上所述,用戶元數(shù)據(jù)30與用戶事件相關(guān)聯(lián),圖像元數(shù)據(jù)32與瀑光相關(guān)聯(lián)。采用通常參考圖8B所示的過程,從先前采集的暗圖像形成存儲的偏置調(diào)整圖DDX102的集合,該集合根據(jù)關(guān)聯(lián)的存儲的用戶元數(shù)據(jù)和/或圖像元數(shù)據(jù)104在存儲器或存儲設(shè)備中作索引。下面參照圖16、17、19和20解釋這些圖在工廠標(biāo)度步驟中的生成和利用標(biāo)度程序在某些時間間隔對這些圖的可能更新。當(dāng)獲得曝光后(圖7中的步驟S100),記錄對應(yīng)該曝光的伴隨的用戶和圖像原數(shù)據(jù)30,32(組合為元數(shù)據(jù)106)。在比較步驟36中,所記錄的元數(shù)據(jù)106與對應(yīng)于存儲的偏置調(diào)整圖102的元數(shù)據(jù)104進行比較。然后通過選擇或內(nèi)插過程38從存儲的偏置調(diào)整圖102集合形成選擇的偏置調(diào)整圖DDX,下面將參考圖12和13對此進行更詳細(xì)的描述。圖11的邏輯流程圖示出在一個可選實施例中選擇存儲的偏置調(diào)整圖的序列。在這個例子中,存儲單個基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖DD108,其的產(chǎn)生如下圖17、18所描述,更新在圖21中示出。這幅圖使附加的基準(zhǔn)偏置所必需的二維模式特征化(S130),在這個例子中其不受元數(shù)據(jù)的影響。但是,所需的偏置調(diào)整圖的一些統(tǒng)計測量值(例如圖像均值)作為用戶和圖像元數(shù)據(jù)30,32的函數(shù)而變化。利用如圖14和圖15所示的程序,再次特征化這個函數(shù)表34(也可以實現(xiàn)為一維或多維查詢表(LUT)),并且存儲23該函數(shù)的參數(shù)。在以下例子中,偏置調(diào)整圖的平均值m是準(zhǔn)備時間t的指數(shù)函數(shù)w=巧+x2.(1—exp(—a./))("存儲參數(shù)x,到X3,存儲的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108具有零平均值和已知的偏置(以16位整數(shù)格式存儲),在加入根據(jù)等式1計算的平均值之前減去已知的偏置。因此,通過將存儲的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108(轉(zhuǎn)換為零平均)和預(yù)測的平均轉(zhuǎn)換函數(shù)表34相加來計算形成于步驟S130的偏置調(diào)整圖40,其中平均轉(zhuǎn)換函數(shù)表34通過將當(dāng)前曝光的元數(shù)據(jù)106插入等式(1)計算獲得。該函數(shù)表34當(dāng)然可以依賴用戶和/或曝光元數(shù)據(jù)30、32。為了得到更高的計算效率,可以對等式34編碼并將其作為單維或多維查詢表(LUT)應(yīng)用。圖12和13中更詳細(xì)地示出了選擇或內(nèi)插過程38。在圖12的實施例中,使用內(nèi)插來形成偏置調(diào)整圖40。圖12示出n個存儲的元數(shù)據(jù)104(MrMn)集和對應(yīng)的偏置調(diào)整圖102,其中偏置調(diào)整圖102根據(jù)圖8B產(chǎn)生并隨后參考圖14和15對其進行描述。比較當(dāng)前曝光的元數(shù)據(jù)106與存儲的元數(shù)據(jù)104集。如果元數(shù)據(jù)106落在具有指數(shù)k和k+1的兩個存儲集之間,那么就根據(jù)內(nèi)插子程序110所示的等式執(zhí)行在偏置調(diào)整圖DDk和DDk+1中的編碼值之間的線性內(nèi)插。如果元數(shù)據(jù)106落在存儲的元數(shù)據(jù)104的范圍之外,如前所述,則選擇偏置調(diào)整圖DD,或DDn。同樣地,可以為任意的落在前述特征范圍之外的元數(shù)據(jù)106設(shè)計外插法。結(jié)合元數(shù)據(jù)的內(nèi)插法先前已被用于增益圖,主要用于三維成像,但還沒有被用于偏置圖(見SchmidgunstC,RitterD和LangE.的"Calibrationmodelofadualgainflatpaneldetectorfor2Dand3Dx-rayimaging,"MedPhys.34(2007),3649國64;StefanMaschauer、DieterRitter和ChristianSchmidtgunst的題為"Methodforcorrectinganimagedataset";和授予Maschauer的題為"Methodforgeneratinganimagedataset,andmethodforgeneratinganimagecorrectedthereby"的美國專利申請No.2007/0065038A1)。圖13中的用于偏置調(diào)整圖40的選擇方法與圖12中的類似,但沒有內(nèi)插。以元數(shù)據(jù)的足夠小的增量方式來存儲偏置調(diào)整圖102,使得如果元數(shù)據(jù)106落在指數(shù)為k和k+1的存儲的元數(shù)據(jù)104之間,根據(jù)選擇子程序122選擇具有相對于元數(shù)據(jù)106的最小絕對差的集。例如,如果當(dāng)前曝光的元數(shù)據(jù)更接近于存儲的元數(shù)據(jù)集合k而不是集合k+1,則選擇偏置調(diào)整圖DDk。在這些方法的任意一種方法中,可以使用任意或所有類型的元數(shù)據(jù)來決定合適的偏置調(diào)整圖。在特征化步驟中偏置調(diào)整圖的初始集的產(chǎn)生最初在圖8B引入的偏置調(diào)整圖可以在工廠標(biāo)定程序中,在制造時為特定DR平板檢測器而首次生成。在多采集模式下獲得暗圖像集的匯集(collection),每個預(yù)期當(dāng)為產(chǎn)生偏置調(diào)整圖102的目而使用DR面板時可能遭遇的特殊條件。圖14和15示出特征化序列的兩個實施例。圖14示出的序列中,面板支持兩種不同的功率狀態(tài),與圖6的實施例類似,并且在發(fā)生器的準(zhǔn)備階段期間,面板處于高功率狀態(tài)。在特征化序列中修改的用戶變量是準(zhǔn)備時間,它具有k種不同的設(shè)置。數(shù)字n與每次曝光將要獲得的暗圖像的數(shù)量有關(guān)。圖14中黑色矩形的寬表示在每次單獨特征化事件中,面板花在高功率狀態(tài)下的時間。下面的序列用于產(chǎn)生一個K幅偏置調(diào)整圖的集(i)在一個固定的時間段里工作在低功率狀態(tài);(ii)轉(zhuǎn)換到高功率狀態(tài)并在多釆集模式下采集一個n+1幅暗圖像的集(對于變量n的定義見圖8A和8B以及附帶的說明),其中暗圖像1使用特定的準(zhǔn)備時間釆集;(m)為了減少任何建立在偏置調(diào)整圖中的電子噪聲,可選地,在步驟(i)和(ii)之間循環(huán)M>1次;以及(iv)在步驟(i)和(iii)之間循環(huán)以在K種不同的準(zhǔn)備時間獲得暗圖像集。如圖14所示對在多采集模式下得到的每個暗圖像集合取平均并且進行處理以形成K個工廠偏置調(diào)整圖102的集DDk。相應(yīng)的元數(shù)據(jù)104隨這些圖存儲。在圖15示出的實施例中,感興趣的元數(shù)據(jù)為研究內(nèi)的圖像間的時間,這些圖像經(jīng)一系列的M次重復(fù),范圍從1到K。在此實施例中,根據(jù)圖6和圖7中描述的實施例,DR檢測器面板可支持兩種或三種功率狀態(tài)。通過對圖像(k=1...K)間的每個時間間隔取平均,再次獲取偏置調(diào)整圖DDk60。圖14和15中的例子示出了一些實施例,其中在相同環(huán)境下采集多個暗圖像集并對其進行平均化。對于一些實施方案,該過程可能太耗時。圖16的方框圖示出一個獲得偏置調(diào)整圖的替換方法370,其在給定的元數(shù)據(jù)設(shè)置k上無需執(zhí)行多次重復(fù)。代之以在多采集模式下獲得暗圖像的單個集或小數(shù)量的集。釆用頻率分解方法提供高頻率和低頻率圖以減少建立在偏置調(diào)整圖中的噪聲和由此的偏置修正圖上的噪聲。合適的濾波方法例如包括二維中值濾波和諸如以下所建議的濾波方案,例如Gindele的題為"Multiresolutionbasedmethodforremovingnoisefromdigitalimages"的美國專利No.6,937,772中所提議的為更有效減少噪聲的濾波方案。也可以采用圖像處理領(lǐng)域內(nèi)技術(shù)人員熟悉的圖像濾波技術(shù)對高頻率和低頻率圖執(zhí)行平滑(smoothing)操作。在圖16中,根據(jù)圖8B示出的過程獲得初始偏置調(diào)整圖DDj60并釆用低通濾波器70對其進行處理。這樣形成了低通圖DDi66。通過從初始偏置調(diào)整圖DDj中減去低通結(jié)果,產(chǎn)生高通圖72。通過計算局部平均值74(例如逐列計算圖像平均值),并且在所有行上復(fù)制結(jié)果以形成一個全尺寸的二維圖像,產(chǎn)生一個平均的高通偏置調(diào)整圖DDh,a78,從而減少高通圖中的噪聲。然后通過組合低通濾波圖與平均的高通偏置調(diào)整圖78形成最終偏置調(diào)整圖DD80。26在一實施例中,偏置調(diào)整圖集和對應(yīng)的根據(jù)圖14產(chǎn)生的元數(shù)據(jù)可被簡單地存儲用于將來在圖9所示的圖像修正步驟S130中使用。如果偏置調(diào)整圖不隨著時間改變的話,這種簡單的程序?qū)亲詈线m的。但是,就如當(dāng)DR檢測器面板老化時增益圖像會改變一樣(如Luijendijk、JohannesA.、Steinhauser、Heidrun、和Menser、Bernd的題為"TemperatureArtifactCorrection"的國際申請公開No.WO2007/110798A1中描述的),預(yù)計偏置調(diào)整圖像也隨著時間改變,即使并不是十分迅速。因此,必需在提供在現(xiàn)場更新偏置調(diào)整圖的方法。在面板制造的首次特征化的全部使用條件下重復(fù)全部初始特征化將會非常耗時。另外,面板校準(zhǔn)所用的時間會干擾醫(yī)院或診所的正常工作流程,因此必需保持盡可能地短。因此,通常有利的是僅在單一使用條件下完成偏置調(diào)整圖的現(xiàn)場更新。對應(yīng)于這種條件下的元數(shù)據(jù)和偏置調(diào)整圖被稱作"基準(zhǔn)元數(shù)據(jù)"和"基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖"。關(guān)于基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖的現(xiàn)場更新的更多細(xì)節(jié)將在圖19-22中給出。隨著這種類型的現(xiàn)場校準(zhǔn)的需要,有利的是基于基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖的概念,將根據(jù)圖14,15所示方法產(chǎn)生的偏置調(diào)整圖DDk轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪桓袷?。圖17和18示出這種轉(zhuǎn)變的兩個實施例。在第一實施例中,如圖17所示,存儲基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108和差異偏置調(diào)整圖130集以及對應(yīng)的基準(zhǔn)元數(shù)據(jù)109,其中差異偏置調(diào)整圖130集表示在使用條件k(元數(shù)據(jù)82)下獲得的偏置調(diào)整圖84DDk和基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的差異。選擇地,任意移位值可以加入差異偏置調(diào)整圖以便以無符號整數(shù)的格式存儲。圖18示出一個序列,通過該序列從為了使用條件(元數(shù)據(jù)82)k獲得的偏置調(diào)整圖DDk84中選擇基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108和對應(yīng)的元數(shù)據(jù)109。然后可以在一組圖84上實行圖像分析86以產(chǎn)生統(tǒng)計測量,例如平均值或中間值。然后,從這個分析結(jié)果和元數(shù)據(jù)82的值產(chǎn)生一個預(yù)期函數(shù),前面以函數(shù)表34給出。偏置調(diào)整圖的更新功能預(yù)計偏置調(diào)整圖隨著時間的改變而改變的。因此,圖的更新(特別是基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的更新)必需以規(guī)則的時間間隔執(zhí)行。這些更新必需在沒有使用面板或患者圖像不需要面板時執(zhí)行。對于電池供電的檢測器,另一個要求是盡量少地執(zhí)行更新以節(jié)約電池電源。圖19和20示出基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的更新如何適應(yīng)工作流程使得在患者圖像之間執(zhí)行它們的兩個例子。圖19示出在一個實施例中提供代替現(xiàn)有基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖210的更新過程。一個方便完成基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108更新的工作流程階段是在患者的研究218開始的時候,在此期間要求操作員在主計算機上輸入患者數(shù)據(jù)222。一幅或多幅在多采集模式下獲得的暗圖像224(如19所示的前暗圖像)在患者的首次曝光之前獲得,即在為準(zhǔn)備開始226的這次曝光啟動準(zhǔn)備按鈕(圖4中的準(zhǔn)備/曝光控制120)之前。輸入當(dāng)前基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108和采集的前暗圖像224到更新功能200,該功能200產(chǎn)生更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖210。將在圖21中更詳細(xì)的描述更新功能200??梢詫γ總€患者研究218重復(fù)該過程,或者根據(jù)一些決定更新頻率的預(yù)先定義的邏輯進行周期性地重復(fù)。圖20示出更新現(xiàn)有基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的替代序列。在這個序列中,在不同患者的研究218之間獲得在多采集模式下釆集的暗圖像228。輸入當(dāng)前基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108和在多采集模式下采集的暗圖像228到更新功能200,該更新功能200產(chǎn)生更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖210。可以對每個患者研究218重復(fù)該過程,或者根據(jù)一些決定更新頻率的預(yù)先定義的邏輯進行周期性地重復(fù)。圖21示出在更新功能200中用于更新基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的方框圖。從在多采集模式下采集的暗圖像228中計算偏置調(diào)整圖60,其中暗圖像228如之前參考圖8B示出的暗圖像44。可以使用頻率分解用法減少圖中的噪聲,其中該頻率分解用法例如為結(jié)合圖16的空間頻率處理方法370所述,用于獲得偏置調(diào)整圖60。選擇地,可以比較偏置調(diào)整圖60與基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108,并且形成差異圖像338,從中計算統(tǒng)計測量340。200910165049.1說明書第26/31頁在圖21的實施例中,分析產(chǎn)生的差異圖338的均勻性并且計算至少一個統(tǒng)計測量值Xi,其中i為測量值的指數(shù),i>=1。如果兩幅圖除了電子噪聲之外都相同,那么差異圖338將會是有些許噪聲的平坦區(qū)域。因為偏置調(diào)整圖60隨著時間改變,差異圖338中預(yù)計就會有一些少量的不均勻。但是如果對于每個測量值Xi,這些差異超出一定的閥值TV那么DR檢測器10可能已經(jīng)發(fā)生了故障并且基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的更新是不理想的,直到該問題被解決并校正。在比較358中,校準(zhǔn)軟件確定偏置調(diào)整圖60是否與基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108相一致。如果在差異圖像338上計算出的統(tǒng)計測量值340低于預(yù)先設(shè)定的閥值,那么就執(zhí)行更新。反之則向用戶顯示警告消息360并且不執(zhí)行更新。更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖210作為存儲的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108和偏置調(diào)整圖372的加權(quán)平均值進行計算。加權(quán)值可落在的范圍內(nèi),其中0對應(yīng)于偏置調(diào)整圖372對基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖108的代替,1對應(yīng)于沒有執(zhí)行更新的情況??梢愿鶕?jù)在比較358中使用的統(tǒng)計測量值和閥值之間的差異預(yù)設(shè)或計算加權(quán)因子w。一種對差異圖338中非均勻性進行特征化的方法是將圖像分成感興趣的矩形區(qū)域并為每個感興趣的區(qū)域計算平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。閥值測量的一個例子是所有的感興趣區(qū)域(ROI,RegionofInterest)相對于所有的ROI的均值的結(jié)果之中的最大差異。為了加快偏置修正算法的計算速度,也可以更新存儲的偏置調(diào)整圖102的集(圖9)。圖22示出用于從更新的基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖210和工廠差異偏置調(diào)整圖130(見圖17)中計算更新的偏置調(diào)整圖230的方框圖。如圖所示,為所有的存儲的元數(shù)據(jù)104的集產(chǎn)生更新的偏置調(diào)整困230。例子研究如上詳細(xì)的討論,本發(fā)明的一般目的在于節(jié)約電源,優(yōu)選地,是在電池供電的檢測器中延長電池壽命。因為必需在電池壽命與檢測器性能標(biāo)準(zhǔn)之間作平衡,所以電池電源的使用提出了獨特的挑戰(zhàn)。理想地,不需要持續(xù)地更換電池,從電池供電的檢測器得到的圖像應(yīng)該與那些從滿栽功率的或插入式檢測器得到的圖像一樣好。在諸如根據(jù)本發(fā)明的電池供電的檢測器中,在檢測器達到穩(wěn)定的狀態(tài)之前獲取圖像。例如,當(dāng)檢測器從低功率轉(zhuǎn)變到高功率時,其由于諸如整流器和讀出ASIC之類的電子元件經(jīng)歷明顯的局部升溫。與在曝光之后拍攝的暗圖相比,該曝光處于該升溫曲線更陡峭的部分。此外,在該曝光之前的檢測器操作的持續(xù)時間與在后曝光暗圖像之前的類似操作的持續(xù)時間并不匹配,導(dǎo)致兩種情況下電荷分布的不同。匹配兩者時間將會明顯地延遲圖像的可用性至較長的準(zhǔn)備時間。這些差異在對應(yīng)于啄光的暗圖像和用于偏置修正的后曝光暗圖像之間的均值位移和二維非均勻中表露無遺。如果不校正的話,它們可能會影響到疾病特征的檢測能力。通過在15到35°C之間的周圍環(huán)境溫度下運行新的基于MIS光敏二極管的35x43crT^的便攜式數(shù)字X射線檢測器的應(yīng)用例,來評估本發(fā)明的檢測器特征化和偏置修正算法的效果。該應(yīng)用例包括72次平面場膝光,其采集于多采集模式(在RQA-5的束條件下為0.2mR),使研究之間的時間(1到70分鐘)、研究中圖像之間的時間(2到120秒)和在實際限制內(nèi)的準(zhǔn)備時間(2到15秒)隨機化。在圖像上應(yīng)用增益和偏置修正。通過為檢測器設(shè)置最小時間限制以便在曝光之前穩(wěn)定下來并且通過在暗圖像積分之前優(yōu)化檢測器更新操作的持續(xù)時間以便管理a-Si:H的亞穩(wěn)定狀態(tài),減少了差異。對應(yīng)曝光的暗圖像和用于偏置補償?shù)暮蟀祱D像之間的系統(tǒng)差異被特征化為準(zhǔn)備時間的函數(shù)。來自用戶的準(zhǔn)備和曝光信號被來自檢測器的嵌入式電子電路的等價信號代替,這樣一來,在相同的條件下采集暗圖像來代替曝光。在多采集模式下釆集多個圖像集,對其平均化并存儲為"偏置調(diào)整圖"。這些圖在低功率狀態(tài)下不受圖像之間的時間的影響。通過將圖像劃分為3x3cm部分重疊的感興趣區(qū)域(ROI)得到相關(guān)的圖像質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),例如信號穩(wěn)定性、圖像噪聲和圖像均勻度。標(biāo)準(zhǔn)偏差和ROI平均值的中間值作為全體信號和噪聲的量度。整個應(yīng)用例過程中的信號穩(wěn)定性表示為以整個膝光的信號標(biāo)準(zhǔn)偏差除以平均值。不均勻度的評估基于信號的全局變化(GVS)和噪聲的全局變化(GVN),其中信號的全局變化被定義為所有ROI的最大值和最小值之間的差異除所有ROI的平均值,類似地釆用ROI的標(biāo)準(zhǔn)偏差代替平均值定義了噪聲的全局變化(GVN)。在該應(yīng)用例中也對GVN和GVS求平均值。表1示出將下列檢測器比較得到的功率消耗、關(guān)鍵工作流程和圖像質(zhì)量參數(shù)的比較結(jié)果電池供電檢測器與基于相同的MIS光敏二極管技術(shù)和在高功率狀態(tài)下相同檢測器工作周期的滿栽功率的檢測器。對于便攜式檢測器,比較兩種圖像修正選項(1)基于簡單的減去平均化的后暗圖像的偏置修正,和(2)采用增加準(zhǔn)備時間基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖的偏置修正。用于電池供電的檢測器的功率消耗的評估每小時平均30次膝光的應(yīng)用例,其具有兩幅后暗圖像,每幅圖像三秒加上平均1秒鐘的附加準(zhǔn)備時間。在工作流程方面,與滿載功率面板相比較,除了需要最小準(zhǔn)備時間和更長的圖像顯示的時間,相對而言作出的折衷較少。但是,實際的完成時間落在市場上的數(shù)字射線照相面板的典型范圍之內(nèi)。在圖像噪聲方面做出了小的折衷。與單個圖像采集相比,平均來看,周期性更新暗圖像內(nèi)的電子噪聲的水平至少低10倍(afactorof10)。假定電子噪聲在不同的采集之間是隨機的,則來自兩幅暗圖像的偏置圖只是比來自單次采集的噪聲低1.4倍。這從在0.2mR的曝光下5.5%的總體噪聲增加(由滿栽功率到電池供電形式)中表露無遺。在信號穩(wěn)定性和圖像均勻度上,電池供電的檢測器的修正選項2達到了與滿載功率的穩(wěn)定檢測器相似的性能。公制滿栽功率電池供電池供電(1)電(2)平均使用功率(Wh)253.53.5最小準(zhǔn)備時間(s)01.51.5曝光延遲(ms)<240<240<24031<table>tableseeoriginaldocumentpage32</column></row><table>表1:滿載功率和電池供電的a-Si:H檢測器的關(guān)鍵工作流程、功率和圖像質(zhì)量參數(shù)的比較。參考特定的優(yōu)選實施例對本發(fā)明進行了詳細(xì)的說明,但是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員會理解在不脫離本發(fā)明的范圍下,在上述說明和所附的權(quán)利要求書所述的本發(fā)明的范圍內(nèi)的變化和修改也是有效的。例如,各種類型的用戶事件和膝光元數(shù)據(jù)可以與存儲的偏置調(diào)整圖關(guān)聯(lián)。因此,提供了一種在數(shù)字射線照相中用于暗信號校正的方法。部件列表10.DR面板檢測器14.閃爍體20.平板檢測器22.光傳感器24.像素25.讀出元件26.開關(guān)元件28.嵌入式電子電路29.電源30.用戶元數(shù)據(jù)32.圖像元數(shù)據(jù)34.函數(shù)表或LUT36.比較38.選擇或內(nèi)插過程40.偏置調(diào)整圖44.暗圖像50.暗校正曝光52.用戶元數(shù)據(jù)54.暗圖像60.偏置調(diào)整圖66.低通圖70.低通濾波器72.高通圖74.局部平均78.平均高通圖80.最終偏置調(diào)整圖82.元數(shù)據(jù)84.偏置調(diào)整圖86.圖像分析100.數(shù)字射線照相系統(tǒng)102,108.偏置調(diào)整圖104.存儲的元數(shù)據(jù)106.元數(shù)據(jù)108.基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖109.基準(zhǔn)元數(shù)據(jù)110.內(nèi)插算法112.產(chǎn)生器114.接口盒116.主計算機118.用戶界面119,121.通信鏈路120.準(zhǔn)備/膝光控制122.選擇算法ISO-差異偏置調(diào)整圖ZOO.更新功能210.更新基準(zhǔn)偏置調(diào)整圖218.研究222.患者數(shù)據(jù)224.暗圖像集226.準(zhǔn)備開始228.暗圖像集230.更新的偏置調(diào)整圖300.嵌入式控制器302.圖像存儲器304.控制寄存器338.差異圖像340.統(tǒng)計測量358.比較360.警告消息370.計算偏置調(diào)整圖的方法372.偏置調(diào)整圖S100.步驟S110.步驟S120.步驟S130.步驟S140.步驟E.放大區(qū)域權(quán)利要求1.一種形成偏置修正曝光圖像的方法,包括獲得初始曝光圖像和與該初始曝光圖像相關(guān)的曝光元數(shù)據(jù);通過獲得一幅或多幅與該初始曝光圖像相關(guān)聯(lián)的暗圖像和從該初始曝光圖像減去一幅或多幅暗圖像的平均值形成中間偏置修正曝光圖像;以及通過將偏置調(diào)整圖與該中間偏置修正曝光圖像組合以形成偏置修正曝光圖像。2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于采用存儲的暗圖像數(shù)據(jù)和相關(guān)聯(lián)的存儲的元數(shù)據(jù)生成該偏置調(diào)整圖。3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于該相關(guān)聯(lián)的啄光元數(shù)據(jù)包括在功率狀態(tài)內(nèi)的一個或多個時間間隔、從數(shù)字X射線檢測器最后一次曝光起經(jīng)過的時間、溫度測量結(jié)果、X射線曝光前的準(zhǔn)備時間的持續(xù)時間和檢測器識別。4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于偏置調(diào)整圖通過在先前存儲的偏置調(diào)整圖之間內(nèi)插編碼值形成。5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于^f吏用預(yù)測函數(shù)和查詢表之一內(nèi)的該曝光元數(shù)據(jù)來形成該偏置調(diào)整圖,其中該預(yù)測函數(shù)和查詢表從一個或者多個先前采集的暗圖像及其相關(guān)聯(lián)的元數(shù)據(jù)形成。6.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于形成該偏置調(diào)整圖進一步包括采用新獲得的暗圖像數(shù)據(jù)更新先前采集的暗圖像數(shù)據(jù)。7.—種數(shù)字射線照相系統(tǒng),包括數(shù)字射線照相檢測器,適于采集初始膝光圖像和一個或多個與初始膝光圖像相關(guān)的暗圖像,并生成涉及初始膝光圖像的曝光元數(shù)據(jù)和涉及與初始曝光圖像相關(guān)聯(lián)的一個或多個暗圖像的暗圖像元數(shù)據(jù);電源,為數(shù)字射線照相檢測器提供電能;主計算機,與便攜式數(shù)字射線照相檢測器通信;在數(shù)字射線照相檢測器和主計算機中的至少一個中的存儲器,存儲多個存儲的暗圖像和與存儲的暗圖像對應(yīng)的存儲的元數(shù)據(jù);以及在便攜式數(shù)字射線照相檢測器和主計算機中的一個或兩個中可使用;第一處理器,通過借助一幅或多幅暗圖像的平均值修改初始曝光圖像,形成初始偏置修正曝光圖像;第二處理器,采用多個存儲的暗圖像和存儲的元數(shù)據(jù)得到偏置調(diào)整圖;以及第三處理器,通過將偏置調(diào)整圖和初始偏置修正曝光圖像組合來形成偏置修正啄光圖像。8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其特征在于多個存儲的暗圖像包括多個偏置調(diào)整圖。9.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其特征在于電源為電池并且數(shù)字射線照相檢測器通過無線連接與主計算機通信。10.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),進一步包括顯示設(shè)備,顯示包括偏置修正曝光圖像的最終圖像。全文摘要一種形成偏置修正曝光圖像的方法,包括獲得初始曝光圖像和涉及初始曝光圖像的曝光元數(shù)據(jù)。通過獲得一幅或多幅與初始曝光圖像關(guān)聯(lián)的暗圖像和從初始曝光圖像減去一幅或多幅暗圖像的平均值形成中間偏置修正曝光圖像。通過將偏置調(diào)整圖與中間偏置修正曝光圖組合獲取偏置修正曝光圖像。文檔編號G01T1/20GK101683269SQ200910165049公開日2010年3月31日申請日期2009年7月24日優(yōu)先權(quán)日2008年7月24日發(fā)明者J·W·德霍里蒂,K·托普菲爾,R·T·斯科特申請人:卡爾斯特里姆保健公司