專利名稱：制造具有預定校準特性的測試條組的方法和系統(tǒng)的制作方法
制造具有預定校準特性的測試條組的方法和系統(tǒng)相互參照本專利申請涉及以下共同待審的專利申請美國專利申請No. 61/022218 [代 理人案卷號 DDI5156USPSP]，其名稱為 “A Method ofManufacturing Test Strip Lots Having A Predetermined CalibrationCharacteristic”(制造具有預定校準特性的測 試條組的方法)，提交于2008年1月18日；和美國專利申請No.61/029301[代理人案 卷號 DDI5159USPSP]，其名稱為“A Method of Preparing Test Strip LotsHaving A Signal Response With A Reduced Variability”(制備具有變率減小的信號響應的測 試條組的方法)，提交于2008年2月15日；美國專利申請No. 61/043080[代理人案卷 號 DDI5165USPSP]，其名稱為"Methodand System of Manufacturing Test Strip Lots Having A PredeterminedCalibration Characteristic”(制造具有預定校準特性的測試 條組的方法和系統(tǒng))，提交于2008年4月7日；美國專利申請No. 61/043086 [代理人案卷號 DDI5166USPSP],其名稱為"Test Strips Having Low-Variability in Screen-Printing of Electrode Patterns with MethodTherefore”(在電極圖案的絲網(wǎng)印刷中具有低變率 的測試條及用于其的方法)，提交于2008年4月7日；美國專利申請No. 61/051285[代理 人案卷號 DDI5167USPSP]，其名稱為 “Method and System of ManufacturingTest Strip Lots Having a Predetermined CalibrationCharacteristic”(制造具有預定校準特性的 測試條組的方法和系統(tǒng))，提交于2008年5月7日；美國專利申請No. 61/060353[代理人案 卷號DDI5156USPSP1]，其名稱為“Method and System of Manufacturing TestStrip Lots having a Predetermined Calibration Characteristic”(制造具有預定校準特性的測試 條組的方法和系統(tǒng))，提交于2008年6月10日，這些專利申請以引用方式并入本文中。
背景技術：
電化學葡萄糖測試條(例如用在0neTouch Ultra 全血測試套件(可得自 LifeScan公司)中的那些)被設計用于測量患有糖尿病的患者的血樣中的葡萄糖濃度。葡 萄糖的測量可基于葡萄糖氧化酶(GO)對葡萄糖的選擇性氧化來進行。葡萄糖測試條中可 發(fā)生的反應由下面的等式1和2概括。等式1葡萄糖+G0(。x)—葡萄糖酸+GOfred)等式2G0(red)+2Fe (CN) — G0(ox)+2Fe (CN)如等式1中所示，葡萄糖被葡萄糖氧化酶的氧化形式(G0(。x))氧化成葡萄糖酸。應 該指出的是，G0(ox)還可被稱為“氧化酶”。在等式1的反應過程中，氧化酶G0(。x)被轉化為 其還原狀態(tài)，其被表示為GOfad)(即，“還原酶”)。接著，如等式2中所示，還原酶GOfad)通過 與Fe (CN) 63_ (被稱作氧化介體或鐵氰化物)的反應而被再氧化回G0(。x)。在GOfad)重新生成 回其氧化狀態(tài)G0(。x)的過程中，F(xiàn)e (CN)63-被還原成Fe (CN)64-(被稱作還原介體或亞鐵氰化 物)。用加于兩個電極之間的測試電壓進行上述反應時，可通過在電極表面處還原介體 的電化學再氧化而生成測試電流。因此，由于在理想環(huán)境下，上述化學反應過程中生成的亞鐵氰化物的量與布置在電極之間的樣品中葡萄糖的量成正比，所以生成的測試電流將與樣 品的葡萄糖含量成比例。諸如鐵氰化物的介體是能夠接受來自酶(例如葡萄糖氧化酶)的 電子并隨后將所述電子供給電極的化合物。隨著樣品中的葡萄糖濃度增加，所形成的還原 介體量也增加；因此，源自還原介體的再氧化的測試電流與葡萄糖濃度之間存在直接關系。 具體地講，電子在整個電界面上的遷移致使測試電流流動(每摩爾被氧化的葡萄糖對應2 摩爾的電子)。因此，由于葡萄糖的引入而產(chǎn)生的測試電流可被稱為葡萄糖電流。由于獲知血液中(尤其是患有糖尿病的人的血液中)的葡萄糖濃度會非常重要， 已經(jīng)利用上述原理開發(fā)出測試儀，以使普通人能夠在任何給定的時間對其血液進行采樣和 測試，以便確定其葡萄糖濃度。通過測試儀檢測所產(chǎn)生的葡萄糖電流，并利用借助簡單的 數(shù)學公式將測試電流與葡萄糖濃度聯(lián)系起來的算法將其轉換為葡萄糖濃度讀數(shù)。通常，測 試儀與一次性測試條結合起來工作，除了酶(例如，葡萄糖氧化酶)和介體(例如，鐵氰化 物)之外，所述一次性測試條還可包括樣品接納室以及設置在樣品接納室內(nèi)的至少兩個電 極。在使用中，使用者可戳刺其手指或其他方便的部位以引起出血，然后將血樣引入樣品接 納室中，從而起始上述化學反應。在電化學方面，測試儀的功能有兩部分。首先，其提供極化電壓(在 OneTouch Ultra 的情況下為大約400mV)，該電壓使電界面極化并允許電流在碳工作 電極表面流動。其次，其測量在陽極(工作電極)與陰極(參考電極)之間的外部電路中 流動的電流。因此，該測試儀可認為是在雙電極模式下工作的簡單電化學系統(tǒng)，然而實際上 可在測試儀中使用三個、甚至四個電極以便于葡萄糖的測量和/或執(zhí)行其他功能。如公知的，可用測試條來進行葡萄糖測試，以利用從特定測試條組的制備確定的 批(batch)校準信息(例如，批斜率和批截距值)來確定血糖濃度。因此，當使用者利用特 定測試條組進行葡萄糖測試時，批斜率和批截距信息必須被輸入到測試儀中。在一個方案 中，使用者可利用按鈕在測試儀上選擇校準代碼，其中所述校準代碼與測試條的批斜率和 批截距對應。在另一方案中，使用者可將計算機芯片放入測試儀中，其中所述計算機芯片具 有對應的測試條的批斜率和截距。在這兩種方案中，使用者均必須記得輸入正確的校準信 息。如果在使用某一新組的測試條時，使用者忘記更改校準因子，則可能產(chǎn)生不正確的分析 物結果。另外的背景技術可見于PCT公開No. W02004/040287[代理人案卷號 DDI5019PCT],其名稱為“Splicing/Unsplicing Substrate in a Processfor the Manufacture of Electrochemical Sensors”(制造電化學傳感器的工藝中的拼合/非 拼合基片)，提交于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/040948 [代理人案卷號 DDI5020PCT],胃 g 禾爾 % "Apparatus andMethod for Controlling Registration of Print Steps in a ContinuousProcess for the Manufacture of Electrochemical Sensors”(在制造電化學傳感器的連續(xù)工藝中控制印刷步驟的對準的設備和方法)， 提交于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/040005 [代理人案卷號DDI5021PCT]， 其名禾爾為"Cooling Stations for Use in a Web Processfor the Manufacture of Electrochemical Sensors"(在制造電化學傳感器的幅材工序中使用的冷卻工位)，提 交于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/039600 [代理人案卷號DDI5022PCT]，其 名禾爾 % "EnzymePrint Humidification in a Continuous Process for ManufactureofElectrochemical Sensors"(制造電化學傳感器的連續(xù)工藝中的酶的印刷濕化)，提交 于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/040290 [代理人案卷號DDI5023PCT]，其名稱為 "Moveable Flat Screen Printing forUse in a Web Process for the Manufacture of ElectrochemicalSensors”(在制造電化學傳感器的幅材工序中使用的可移動平板絲網(wǎng)印 刷)，提交于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/040285 [代理人案卷號DDI5024PCT]， 其名禾爾為"Pre—conditioning of a Substrate in aContinuous Process for Manufacture of Electrochemical Sensors”(在制造電化學傳感器的連續(xù)工藝中基片的預處理)，提交 于2003年10月30日；PCT公開No. W02004/039897 [代理人案卷號DDI5025PCT]，其名稱 為"Fast Ink Drying in a Continuous Process for Manufacture ofElectrochemical Sensors"(在制造電化學傳感器的連續(xù)工藝中的快速油墨干燥)，提交于2003年10月30 日；以及PCT公開No. W02001/73109 [代理人案卷號DDI0010PCT]，其名稱為‘‘Continuous Process forManufacture of Disposable Electrochemical Sensors，，(用于造一次j"生 電化學傳感器的連續(xù)工藝)，提交于2001年3月28日。提交于2007年10月30日并公布于2008年3月20日的美國專利申請 No. US2008/0066305描述了一種經(jīng)校準調整的傳感器以及制作該傳感器的方法。提交于 2005年2月4日的美國專利申請NO.US2007/0045126描述了一種作為生物傳感器的內(nèi)部基 準的可氧化物質及其使用方法。

發(fā)明內(nèi)容
申請人:已經(jīng)發(fā)現(xiàn)這樣一種技術的各種實施例，用該技術可制備不需要使用者在進 行測試測量之前輸入任何校準信息的測試條組。具體地講，申請人發(fā)現(xiàn)在總體良好控制的 測試條制造過程中，可制造高百分比的具有相對恒定的批斜率和批截距的測試條組。通常，對每一批建立批截距和斜率。如果對某一批建立的批截距和斜率落在與特 定校準代碼相關的批斜率和截距的范圍內(nèi)，則該校準代碼和相關校準信息可被分配給該 批。分配給該批的相關校準信息通常包括可用來取代所建立的批斜率和截距的該校準代碼 的典型批斜率和截距信息。向使用者提供具有基本相同的批斜率和批截距值的測試條將使得使用者無需將 校準代碼信息輸入到測試儀。結果，獲得不精確的葡萄糖濃度的風險將降低，因為使用者在 使用來自某一新組的測試條進行測試時不再須要記住輸入正確的校準代碼信息。在一個實施例中，按照工藝的測試條具有落在批斜率和批截距的預定目標范圍內(nèi) (例如，落在預定校準代碼的批斜率和批截距的的預定目標范圍內(nèi))的批斜率和批截距值。在另一個實施例中，按照工藝的測試條具有基本上與預定的目標批斜率和預定的 目標批截距相同的批斜率和批截距。在一個方面，本發(fā)明提供了一種制造測試條的方法。所述方法可通過如下步驟實 現(xiàn)將預定量的還原介體加到試劑油墨中，并將所述試劑油墨設置在工作電極上，以輸出落 在預定目標批截距范圍內(nèi)的批截距；以及調整工作電極面積，以輸出落在預定的目標批斜 率范圍內(nèi)的批斜率。在一個方面，本發(fā)明提供了一種制造測試條的方法。所述方法可通過如下步驟實 現(xiàn)將預定量的還原介體加到試劑油墨，并將所述試劑油墨設置在工作電極上，以輸出基本上等于預定目標批截距的批截距；和/或調整工作電極面積，以輸出基本上等于預定的目 標批斜率的批斜率。在又一個方面，本發(fā)明提供了一種測試條，其包括第一和(在一個示例性實施例 中)第二工作電極以及試劑層。第一工作電極和第二工作電極(如果提供的話)均具有 約0. 55毫米至約0. 85毫米或者約0. 6mm至約0. 8mm的寬度。試劑層鄰近工作電極設置。 試劑層包括氧化介體、還原介體和酶。還原介體不大于還原介體和氧化介體的總重量的約 0.6%,使得測試條具有預定的目標批斜率和預定的目標批截距。在再一個方面，本發(fā)明提供了一種測試條，其包括第一工作電極和(在一個示例 性實施例中)第二工作電極以及試劑層。第一工作電極和第二工作電極(如果提供的話) 均具有約0. 44mm2至約0. 68mm2或約0. 48mm2至約0. 64mm2的面積。試劑層鄰近工作電極設 置。試劑層包括氧化介體、還原介體和酶。還原介體不大于還原介體和氧化介體的總重量 的約0. 8%，使得測試條具有預定的目標批斜率和預定的目標批截距。在又一個方面，本發(fā)明提供了一種制造多個測試條的方法。所述方法可通過如下 步驟實現(xiàn)制造第一多個測試條，每個測試條包括具有第一面積的工作電極；對所述第一 多個測試條進行校準，以確定第一斜率和第一截距；基于所述第一斜率和預定的目標斜率 計算第二面積；制造第二多個測試條，每個測試條包括具有算出的第二面積的工作電極。在另一個方面，申請人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)一種技術的各種實施例，用該技術可制備具有變 率降低的信號響應的測試條組。具體地講，申請人發(fā)現(xiàn)通過控制配制試劑的密度可制造具 有相對恒定的批斜率的高百分比的測試條組。降低批斜率的變率將減少表征測試條組所需 的校準代碼的數(shù)量。在一個實施例中，一種制造配制試劑的方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將包含流 變控制劑的溶液混合一段預定時間；(ii)測量所述溶液的密度；(iii)如果所述密度不大 于閾值，則將所述配制試劑繼續(xù)混合一段預定時間，使得所述密度約等于或大于所述閾值； 以及(iv)當所述密度約等于或大于所述閾值時，將介體和酶與所述溶液共混以形成配制 試齊LU在又一個實施例中，一種制造多個測試條的方法可通過以下步驟實現(xiàn)將膠態(tài)懸 浮液的密度調整到目標密度；將介體和酶加到所述膠態(tài)懸浮液中，以形成配制試劑；將所 述配制試劑設置在所述多個測試條中的每個測試條的工作電極上；對所述多個測試條進行 校準，以確定批斜率；以及輸出基本上等于目標批斜率的批斜率。在另一個實施例中，一種制造配制試劑的方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將包括 流變控制劑、介體和酶的溶液混合一段預定時間；ii)測量所述溶液的密度；以及(iii)如 果所述密度不大于閾值，則繼續(xù)混合所述溶液一段預定時間，使得所述密度約等于或大于 所述閾值。在又一個實施例中，一種制造配制試劑的方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將包含 流變控制劑的溶液混合一段預定時間；(ii)測量所述溶液的密度；(iii)如果所述密度不 在目標范圍內(nèi)，則繼續(xù)混合所述溶液一段預定時間，使得所述密度在所述目標范圍內(nèi)；以及 (iv)當所述密度在所述目標范圍內(nèi)時，使介體和酶與所述溶液共混以形成配制試劑。在另一個實施例中，一種制造多個測試條的方法可通過以下步驟實現(xiàn)制造第一 多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第一密度的配制試劑；對所述第一多個測試條進行校準，以確定第一斜率；基于所述第一斜率和目標斜率計算第二 密度；制造第二多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第二密度 的配制試劑。在再一個示例性實施例中，可在使用前通過混合或本文所述的其他方式進行調整 密度的步驟。另外，在一個示例性實施例中，可就在預期使用配制試劑之前(例如，24小時 內(nèi)，或者優(yōu)選地12小時內(nèi)，或者更優(yōu)選地約4至6小時內(nèi))添加介體和酶。因此，申請人已 經(jīng)認識到，主要活性成分(介體和酶)對密度幾乎沒有影響，從而允許密度調整步驟與成分 添加步驟在時間上能夠分離。由于一旦添加了活性成分，配制試劑的壽命就成為有限，因此 這種將配制試劑制造工序預先進行一半的能力有利于制造工序的組織。在另一個方面，申請人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)這樣一種技術的各種實施例，用該技術可制備具 有變率降低的信號響應的測試條組。具體地講，申請人發(fā)現(xiàn)通過控制與絲網(wǎng)印刷工藝有關 的各種參數(shù)、測試條的基片上的碳電極的參數(shù)和組分，可制造高百分比的具有相對恒定的 批斜率的測試條組。降低批斜率的變率將減少表征測試條組所需的校準代碼的數(shù)量。在一個方面，本發(fā)明提供了一種制造測試條的方法。所述方法可通過以下步驟實 現(xiàn)(i)將導電油墨分配在金屬絲網(wǎng)上；(ii)將基片鄰近金屬絲網(wǎng)布置；(iii)用刮墨刀將 所述導電油墨轉印到所述基片上；(iv)計算使批斜率基本上等于預定的目標批斜率的工 作電極面積；(ν)將絕緣油墨轉印到導電層上，以形成具有算出的工作電極面積的工作電 極。在另一些實施例中，下面的步驟(Vi)和(Vii)可以作為上面的步驟(iv)和(V)的輔 助步驟或者替代步驟；(Vi)計算使批截距基本上等于預定的目標批截距的還原介體量；以 及(Vii)將試劑油墨轉印到工作電極上，所述試劑油墨包含算出的還原介體量。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種制造測試條的方法。所述方法可通過以下步驟 實現(xiàn)(i)將導電油墨分配在絲網(wǎng)上，所述絲網(wǎng)由受到大于4巴的壓強(例如從4巴至機器 的極限)時不發(fā)生不可逆變形的材料制成；(ii)將所述基片靠近所述絲網(wǎng)布置；(iii)用 刮墨刀將所述導電油墨轉印到所述基片上。另外的步驟可包括(iv)計算使批斜率基本上 等于預定的目標批斜率的工作電極面積；(ν)將絕緣油墨轉印到導電層上，以形成具有算 出的工作電極面積的工作電極。另外的或可供選擇的其他步驟可包括(vi)計算使批截距 基本上等于預定的目標批截距的還原介體量；以及(vii)將試劑油墨轉印到工作電極上， 所述試劑油墨包含算出的還原介體量。因此，機器可以包括絲網(wǎng)、框架、刮墨刀以及用刮墨 刀向絲網(wǎng)施加壓強的機械裝置。在另一個方面，申請人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)這樣一種技術的各種實施例，用該技術可制備具 有變率降低的信號響應的測試條組。具體地講，申請人發(fā)現(xiàn)通過控制與絲網(wǎng)印刷工藝有關 的各種參數(shù)、測試條的基片上的碳電極的參數(shù)和組分，可制造高百分比的具有相對恒定的 批斜率的測試條組。降低批斜率的變率將減少表征測試條組所需的校準代碼的數(shù)量。在一個方面，本發(fā)明提供了一種將導電油墨絲網(wǎng)印刷到基片上以形成測試條的方 法。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將導電油墨分配在金屬絲網(wǎng)上；(ii)將所述基片鄰 近金屬絲網(wǎng)布置；以及(iii)用刮墨刀將導電油墨轉印到基片上，所述刮墨刀的硬度大于 肖氏A級硬度55。在又一個方面，本發(fā)明提供了一種將導電油墨絲網(wǎng)印刷到基片上以形成測試條的 方法。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將導電油墨分配在絲網(wǎng)上，所述絲網(wǎng)由受到大于4巴的壓強(例如從4巴至機器的極限)時不發(fā)生不可逆變形的材料制成；(ii)將所述基 片靠近所述絲網(wǎng)布置；以及(iii)用刮墨刀將導電油墨轉印到基片上，所述刮墨刀的硬度 大于肖氏A級硬度55。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種將圖像印到基片上的絲網(wǎng)印刷裝置。所述裝置 包括輥、金屬絲網(wǎng)、碳素油墨和刮墨刀。所述輥構造成可支承和傳送基片。作為另外一種選 擇，可用平坦壓板(platten)來代替輥。金屬絲網(wǎng)網(wǎng)片上形成具有電極軌道的圖像掩模，所 述絲網(wǎng)網(wǎng)片在輥附近與基片接觸。優(yōu)選地，碳素油墨設置在所述網(wǎng)片上，所述油墨的粘度為 約10，000厘沲/秒至約40，000厘沲/秒。優(yōu)選地，刮墨刀包括肖氏A級硬度特性大于55 的材料，并且構造成可通過向所述刮墨刀施加大于4巴的壓強來迫使所述碳素油墨透過所 述絲網(wǎng)網(wǎng)片，以在基片上形成電極軌道的圖像。優(yōu)選地，所述裝置構造成可形成電極軌道的 圖像，使得碳電極軌道的長度相對于預定長度的任何變化小于約3. 5%，或者在一個實施例 中小于約2.5%。例如，碳工作電極的長度可以是沿著垂直于碳工作電極的兩個側邊的虛擬 線(virtualline)測量的距離。優(yōu)選地，作為另外一種選擇或作為補充，所述裝置構造成可 使得任何兩個工作電極軌道之間的任何最小間隙相對于預定間隙的變化不大于約30 %。在一個示例性實施例中，刮墨刀具有肖氏A級硬度55至95的硬度，在另一個示例 性實施例中，刮墨刀具有肖氏A級硬度55至85的硬度，在又一個示例性實施例中，刮墨刀 具有肖氏A級硬度60至80的硬度，在再一個示例性實施例中，刮墨刀具有肖氏A級硬度55 至75的硬度。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種被分析物測試條，其包括基片和碳素油墨，所述 碳素油墨通過刮墨刀透過金屬絲網(wǎng)而設置在所述基片上，以限定碳電極軌道，每個碳電極 軌道沿縱軸延伸，使得一個測試條中的沿著垂直于碳電極軌道的兩個側邊之間的縱軸的虛 擬線測量的碳電極軌道的長度與預定測試條樣品中的其他測試條中的碳電極軌道的長度 相比的任何變化小于約2. 5%在另一個方面，本發(fā)明提供了一種被分析物測試條，其包括基片以及多個碳電極 軌道，所述碳電極軌道通過用大于肖氏A級硬度55的刮墨刀使碳素油墨透過金屬絲網(wǎng)沉積 而設置在基片上，使得任何兩個工作電極軌道之間的任何最小間隙相對于預定值的變化不 大于30%。在再一個方面，本發(fā)明提供了一種被分析物測試條，其包括基片和碳素油墨，所 述碳素油墨通過刮墨刀透過金屬絲網(wǎng)而設置在所述基片上，以限定具有沿著垂直于所述至 少一個碳電極軌道的兩個側邊之間的縱軸的虛擬線延伸的至少一個碳電極軌道，其中所述 長度與至少一個其他測試條的另一印刷碳軌道的另一長度相比的任何變化小于約2. 5%。在一個方面，本發(fā)明提供了一種制造測試條批的方法。所述方法可通過以下步驟 實現(xiàn)基于目標斜率和先前批斜率算出工作電極面積，所述先前批斜率得自先前制備的測 試條批；將工作電極面積調整到算出的工作電極面積。優(yōu)選地，所述方法還包括基于目標截 距、還原介體雜質百分比和背景截距計算還原介體添加量；以及將所述量的還原介體加到 試劑油墨。在再一個方面，本發(fā)明提供了一種制造多個測試條批的方法，其中每個測試條批 具有目標斜率和目標截距。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)在某一時間段期間制備第一多 個測試條批；對所述第一多個測試條批進行校準，以對每個測試條批確定批斜率和批截距； 基于目標斜率和先前批斜率來計算第一工作電極面積，所述先前批斜率得自先前制造的測
15試條批；基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算第一還原介體添加量；制備 包含所述第一還原介體添加量的第一試劑油墨；用第一算出的工作電極面積和第一試劑油 墨制備第二多個測試條；對所述第二多個測試條進行校準，以確定第二批斜率和第二批截 距；如果第二批斜率和第二批截距基本上等于目標斜率和目標截距，則用第一算出的工作 電極面積和第一試劑油墨制備第三多個測試條批。在另一個實施例中，如果第二批斜率不 是基本上等于目標斜率，則所述方法還包括基于第二批斜率與目標斜率之差計算第二工作 電極面積，然后制備包含第二算出的工作電極面積的第四多個測試條。在另一個實施例中， 如果第二批截距不是基本上等于目標截距，則所述方法還包括基于第二批截距與目標截距 之差計算第二還原介體添加量，然后制備包含第二試劑油墨的第四多個測試條，所述第二 試劑油墨具有所述第二還原介體添加量。在另一個實施例中，如果第二批截距不是基本上等于目標截距，則所述方法包括 (作為替代或輔助)基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算第二還原介體量。 在另一個實施例中，考慮第二算出的工作電極面積而(如果需要)調整所述背景截距和/ 或定常系數(shù)。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種制造多個測試條批的方法，其中每個測試條批 具有目標斜率。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)在某一時間段期間制備第一多個測試條批； 對所述第一多個測試條批進行校準，以針對每個測試條批確定批斜率；基于目標斜率和先 前批斜率來計算第一工作電極面積，所述先前批斜率得自先前制備的測試條批；制備具有 第一算出的工作電極面積的第二多個測試條；對所述第二多個測試條進行校準，以確定第 二批斜率；如果第二批斜率基本上等于目標斜率，則用第一算出的工作電極面積制備第三 多個測試條批。在另一個實施例中，如果第二批斜率不是基本上等于目標斜率，則所述方法 還包括基于第二批斜率與目標斜率之差計算第二工作電極面積，然后制備包含第二算出的 工作電極面積的第四多個測試條。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種制造多個測試條批的方法，其中每個測試條批 具有目標截距。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)在某一時間段期間制備第一多個測試條批； 對所述第一多個測試條批進行校準，以針對每個測試條批確定批截距；基于目標截距、還原 介體雜質百分比和背景截距計算第一還原介體添加量；制備包含所述第一還原介體添加 量的第一試劑油墨；用第一試劑油墨制備第二多個測試條；對所述第二多個測試條進行校 準，以確定第二批截距；如果第二批截距基本上等于目標截距，則用第一試劑油墨制備第三 多個測試條批。在另一個實施例中，如果第二批截距不是基本上等于目標截距，則所述方法 還包括基于第二批截距與目標截距之差計算第二還原介體添加量，然后制備包含第二試劑 油墨的第四多個測試條，所述第二試劑油墨具有所述第二還原介體添加量。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種制造具有目標斜率和目標截距的測試條批的方 法。所述方法可通過以下步驟實現(xiàn)(i)將導電油墨分配在金屬絲網(wǎng)上；(ii)將基片鄰近金 屬絲網(wǎng)布置；(iii)用刮墨刀將所述導電油墨轉印到所述基片上，以形成導電層；(iv)基于 目標斜率和先前批斜率算出工作電極面積，使得所得批斜率基本上等于目標斜率，所述先 前批斜率得自先前制備的測試條批；(ν)將絕緣油墨轉印到導電層上，以形成具有算出的 工作電極面積的工作電極；(Vi)基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算還原 介體添加量，以使得所得的批截距基本上等于目標截距；(Vii)制備包含算出的添加量的還原介體的試劑油墨；(viii)如果試劑油墨不具有目標范圍內(nèi)的密度，則通過將試劑油墨 混合一段時間和/或添加流變控制劑來調整試劑的密度；以及(ix)將試劑油墨轉印到工作 電極上。在另一個方面，本發(fā)明提供了一種制造酶油墨的方法。所述方法可通過以下步驟 實現(xiàn)基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算還原介體量；以及將所述量的 還原介體加到酶油墨中。在另一個方面，本發(fā)明提供了多個測試條批，其中每個測試條包括基片、導電層和 試劑層。導電層設置在基片上。試劑層設置在導電層上。試劑層包含還原介體添加量Fadd， 使得每個測試條批的批截距基本上等于目標截距Btawt，還原介體添加量Fadd通常由關系式
權利要求
一種制造多個測試條的方法，所述方法包括調整工作電極面積，以輸出落在預定的目標批斜率范圍內(nèi)的批斜率；和/或調整試劑油墨中的介體的量，以輸出落在預定的目標批截距范圍內(nèi)的批截距。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，所述方法包括調整工作電極面積，以輸出落在預定的目標批斜率范圍內(nèi)的批斜率； 以及調整試劑油墨中的介體的量，以輸出落在預定的目標批截距范圍內(nèi)的批截距。
3.根據(jù)權利要求1或權利要求2所述的方法，其中所述調整工作電極面積的步驟包括調整工作電極面積以輸出基本上等于預定的目標 批斜率值的批斜率值； 和/或所述調整介體的量的步驟包括調整介體的量以輸出基本上等于預定的目標批截距值 的批截距值。
4.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述調整介體的量的步驟包括將預定量 的介體加到試劑油墨中。
5.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述調整介體的量的步驟包括調整還原 介體。
6.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括將某個量的還原介體加到多個測試條批中，使得多個批截距具有小于約15%的變化。
7.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括計算使所述批斜率基本上等于預定的目標批斜率的工作電極面積。
8.根據(jù)權利要求7所述的方法，包括將絕緣油墨轉印到導電層上以形成具有算出的工 作電極面積的工作電極。
9.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括計算使所述批截距基本上等于預定目標 批截距的還原介體量。
10.根據(jù)權利要求9所述的方法，包括將所述試劑油墨轉印到所述工作電極上，所述試 劑油墨包含算出的還原介體量。
11.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括制造第一多個測試條，每個測試條包括具有第一面積的工作電極面積； 對所述第一多個測試條進行校準，以確定第一斜率和第一截距； 基于所述第一斜率和預定的目標斜率計算第二面積； 制造第二多個測試條，每個測試條包括具有算出的第二面積的工作電極。
12.根據(jù)權利要求11所述的方法，包括對第二多個測試條進行校準，以確定第二斜率和第二截距，其中所述第二斜率基本上 等于所述預定的目標斜率，并且所述第二截距基本上等于所述預定的目標截距。
13.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中測試條批具有目標斜率和目標截距，所 述方法還包括在某一時間段期間制備第一多個測試條批；對所述第一多個測試條批進行校準，以對每個測試條批確定批斜率和批截距； 基于所述目標斜率和先前批斜率來計算第一工作電極面積，所述先前批斜率得自先前 制造的測試條批； 和/或基于所述目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算第一還原介體添加量； 制備包含所述第一還原介體添加量的第一試劑油墨； 用所述第一算出的工作電極面積和所述第一試劑油墨制備第二多個測試條； 對所述第二多個測試條進行校準，以確定第二批斜率和第二批截距。
14.根據(jù)權利要求13所述的方法，而且其中如果所述第二批斜率和/或所述第二批截 距基本上等于所述目標斜率和/或所述目標截距，則用所述第一算出的工作電極面積和/ 或所述第一試劑油墨制備第三多個測試條批。
15.根據(jù)權利要求13所述的方法，其中如果所述第二批斜率不是基本上等于所述目標 斜率，則基于所述第二批斜率與所述目標斜率之差計算第二工作電極面積，然后制備包括 所述第二算出的工作電極面積的第四多個測試條。
16.根據(jù)權利要求13或權利要求15所述的方法，還包括如果所述第二批截距不是基 本上等于所述目標截距，則基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算第二還原 介體添加量，然后制備包括所述第二算出的工作電極面積的第四多個測試條。
17.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括基于目標截距、還原介體雜質百分比和背景截距計算還原介體添加量；以及 將所述添加量的還原介體加到所述試劑油墨中。
18.根據(jù)權利要求17所述的方法，其中所述計算的步驟包括基于所述目標截距、所述 還原介體雜質百分比、所述背景截距和常量確定所述還原介體添加量。
19.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括添加通過計算所述目標截距和所述背 景截距之差，再除以常量，然后減去還原介體雜質量而確定的某個量的還原介體。
20.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述還原介體添加量Fadd大致由關系式定義，其中Btogrt是所述目標截距，B0是所述背景截距，Kint是常量，以及Fimp是與氧化 介體相關的作為雜質的還原介體的量。
21.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中調整所述介體添加量以顧及經(jīng)調整的 工作電極面積。
22.根據(jù)任何權利要求21所述的方法，其中調整所述背景截距和/或所述常量以顧及 經(jīng)調整的工作電極面積。
23.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所添加的介體包括亞鐵氰化物或亞鐵 氰化鉀。
24.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中基于所述第一斜率和所述預定的目標 斜率之差乘以與每單位斜率的面積改變有關的值來計算所述第二工作電極面積。
25.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，當所述前述任一項權利要求從屬于權利要求13至權利要求24中的任一項時，還包括還原介體雜質量包括與乘以所述還原介體雜質 百分比的所述試劑油墨中的氧化介體量大致相等的量。
26.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，當所述前述任一項權利要求從屬于權利要 求13至權利要求25中的任一項時，其中所述背景截距包括基于得自先前制備的測試條批 的多個批截距的平均值。
27.根據(jù)權利要求13或權利要求15所述的方法，包括如果所述第二批截距不是基本 上等于所述目標截距，則基于第二批截距與目標截距之差計算第二還原介體量，并且制備 包含第二試劑油墨的第四多個測試條，所述第二試劑油墨具有所述第二介體添加量。
28.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中對于包含至少兩個流程的某些流程的 循環(huán)、某個循環(huán)或(一些)流程，預設調整工作電極和調整介體的量的手段中的一者或二 者ο
29.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述試劑油墨中的所述還原介體不大 于所述試劑油墨的重量的0. 2%。
30.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述試劑油墨包括還原介體和氧化介 體，其中所述還原介體不大于所述還原介體和所述氧化介體的總重量的約0. 8%。
31.根據(jù)權利要求30所述的方法，其中所述還原介體不大于所述還原介體和所述氧化 介體的總重量的約0.6%。
32.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，而且其中通過改變所述工作電極的寬度來 調整所述工作電極面積。
33.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述工作電極的所述寬度為約0.6mm 至約0. 8mmο
34.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述工作電極面積為約0.44mm2至約 0. 68mm2 ο
35.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中至少提供第一工作電極和第二工作電 極，并且所述第一工作電極和第二工作電極均具有約0. 55mm至約0. 85mm的寬度。
36.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述目標截距大于所述第一截距。
37.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，包括在所述第二多個測試條的所述工作電極上施加具有大致為矩形或大致為方形的孔的 絕緣層，以形成算出的第二面積。
38.根據(jù)權利要求37所述的方法，包括以約25微米的增量來調整所述形狀的寬度；確定可提供與所述算出的所述第二面積最接近的兩個面積值的兩個增量；和選擇可提供比所述算出的第二面積大的面積的增量。
39.根據(jù)權利要求37所述的方法，包括以約25微米的增量來調整所述形狀的寬度；確定可提供與所述算出的第二面積最接近的兩個面積值的兩個增量；和選擇可提供比所述算出的第二面積小的面積的增量。
40.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，當所述前述任一項權利要求從屬于權利要 求6時，其中所述多個測試條批包括約10批至約100批。
41.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，當所述前述任一項權利要求從屬于權利要 求6時，其中通過對約500至約600或者更多的測試條進行校準來確定15%或更小的批截距變化。
42.根據(jù)前述任一項權利要求所述的制造多個測試條的方法，或者一種制備用于這種 方法的配制試劑油墨的方法，包括a)制備試劑油墨；b)如果所述試劑油墨的密度沒有超過目標閾值或在目標范圍之內(nèi)，則調整所述試劑油 墨的密度。
43.根據(jù)權利要求42所述的方法，包括通過以下步驟調整所述試劑油墨的密度將所述試劑油墨或所述試劑油墨的組分混合一段時間，和/或將流變控制劑加到所述試劑油墨或所述試劑油墨的組分中；和/或使所述試劑油墨或所述試劑油墨的組分經(jīng)受減小的壓力。
44.根據(jù)權利要求42或權利要求43所述的方法，其中如果所述密度不大于閾值或在目 標范圍內(nèi)，則繼續(xù)調整所述密度，使得所述密度約等于或大于所述閾值或在目標范圍內(nèi)。
45.根據(jù)權利要求42至權利要求44中任一項所述的方法，包括i)將包含流變控制劑的溶液混合一段預定時間； )測量所述溶液的密度；iii)如果所述密度不大于閾值或在目標范圍內(nèi)，則繼續(xù)再混合所述配制試劑一段預定 時間，使得所述密度約等于或大于所述閾值或在目標范圍內(nèi)。
46.根據(jù)權利要求45所述的方法，而且其中所述混合步驟包括將包含流變控制劑、介 體和酶的溶液混合一段預定時間。
47.根據(jù)前述任一項權利要求所述的制造多個測試條的方法，或者一種制造多個測試 條的方法，所述方法包括制造第一多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第一密度 的配制試劑；對所述第一多個測試條進行校準，以確定第一斜率；基于所述第一斜率和目標斜率計算第二密度；制造第二多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第二密度 的配制試劑。
48.根據(jù)權利要求42至權利要求47中任一項所述的方法，還包括預先制備給定密度 的第一溶液，在使用前制備包含所述第一溶液以及酶和介體的第二溶液。
49.根據(jù)權利要求48所述的方法，而且其中所述第二溶液在使用前1至24、1至12、1 至6、2至6或2至4小時制備。
50.根據(jù)權利要求42至權利要求49中任一項所述的方法，還包括當所述密度約等于或 大于閾值或在目標范圍內(nèi)時，將介體和酶與所述第一溶液共混，以形成所述配制試劑。
51.一種根據(jù)權利要求42至權利要求50中任一項所述的方法，還包括將所述膠態(tài)懸浮液的密度調整到目標密度；將介體和酶加到所述膠態(tài)懸浮液中，以形成配制試劑；將所述配制試劑設置在所述多個測試條中的每個測試條的工作電極上； 對所述多個測試條進行校準，以確定批斜率；以及輸出基本上等于目標批斜率的批斜率。
52.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，還包括制造第一多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第一密度 的所述配制試劑；對所述第一多個測試條進行校準，以確定第一斜率； 基于所述第一斜率和目標斜率計算第二密度；制備第二多個測試條，每個測試條包括工作電極，所述工作電極上涂覆具有第二密度 的配制試劑。
53.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述調整步驟包括改變混合時間的持 續(xù)長度和/或添加額外量的流變控制劑。
54.根據(jù)權利要求42至53中任一項所述的方法，其中所述目標密度通過從目標批斜率 減去第二常量，然后除以第三常量來計算。
55.根據(jù)權利要求54所述的方法，其中所述目標密度P通過如下定義的等式來計算
56.根據(jù)權利要求42至權利要求55中任一項所述的方法，其中所述流變控制劑包含羥 基乙基纖維素和/或具有親水和疏水基團的二氧化硅。
57.根據(jù)權利要求42至權利要求56中任一項所述的方法，其中所述預定的混合時間段 為約3至30分鐘，和/或為約4分鐘或為約16分鐘。
58.根據(jù)權利要求42至權利要求57中任一項所述的方法，其中所述目標密度具有約 0. 87g/cm3的閾值，或者所述目標密度范圍為約0. 7g/cm3至約1. lg/cm3之間的任何值，或者 為約0. 92g/cm3至約0. 96g/cm3之間的任何值，或者為約lg/cm3至約1. 25g/cm3之間的任何 值，或者為約1. 00g/cm3+/-0. 015g/cm3的限度內(nèi)的任何值。
59.根據(jù)權利要求42至權利要求58中任一項所述的方法，其中用攪拌槳以每分鐘約 3，000轉執(zhí)行所述混合步驟。
60.根據(jù)權利要求42至權利要求59中任一項所述的方法，其中所述目標批斜率M—為 約16毫微安/毫克/分升至約30毫微安/毫克/分升的任何值，和/或其中所述第二常 量k2為約7毫微安/毫克/分升至約10毫微安/毫克/分升之間的任何值，和/或其中 所述第三常量k3為約10毫微安/毫克/分升/克/厘米3至約12毫微安/毫克/分升/ 克/厘米3之間的任何值。
61.根據(jù)前述任一項權利要求所述的制造多個測試條的方法，或者一種將導電油墨絲 網(wǎng)印刷到基片上以形成測試條的方法，所述方法包括i)將所述導電油墨分配在金屬絲網(wǎng)上，和/或將所述導電油墨分配在絲網(wǎng)上，所述絲 網(wǎng)由在經(jīng)受刮墨刀施加大于4巴的壓強時發(fā)生不可逆變形的材料制成； )將所述基片靠近所述絲網(wǎng)布置；iii)用刮墨刀將所述導電油墨轉印到所述基片上。
62.根據(jù)權利要求61所述的方法，包括用刮墨刀將導電油墨絲網(wǎng)印刷到基片上以形成 測試條，所述刮墨刀的硬度大于肖氏A級硬度55。
63.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，還包括將導電油墨分配在金屬絲網(wǎng)上。
64.根據(jù)權利要求63所述的方法，其中所述刮墨刀包含硬度在肖氏A級硬度約60至約 75的范圍內(nèi)的材料。
65.根據(jù)權利要求64所述的方法，其中所述刮墨刀包含硬度為肖氏A級硬度約65或肖 氏A級硬度約75的材料。
66.根據(jù)權利要求61至權利要求65中任一項所述的方法，其中所述刮墨刀包含聚氨
67.根據(jù)權利要求61至權利要求66中任一項所述的方法，其中轉印所述導電油墨的步 驟包括將所述刮墨刀以某一壓強施加到所述絲網(wǎng)上，所述壓強大于約4巴。
68.根據(jù)權利要求67所述的方法，其中轉印所述導電油墨的步驟包括將某一壓強加到 所述刮墨刀上，所述壓強大于約5巴。
69.根據(jù)權利要求61至權利要求68中任一項所述的方法，其中所述刮墨刀包含對所述 導電油墨中含有的溶劑具有低吸收率的材料。
70.根據(jù)權利要求69所述的方法，其中所述刮墨刀包含以低于在一小時內(nèi)約2%的速 率或以低于在21小時內(nèi)約8%的速率吸收所述導電油墨中含有的溶劑的材料。
71.根據(jù)權利要求61或權利要求70中任一項所述的方法，其中所述刮墨刀包括不吸收 任何碳材料的材料。
72.根據(jù)權利要求61至權利要求71中任一項所述的方法，其中在轉印所述導電油墨期 間，所述基片和所述絲網(wǎng)的框架被保持在固定距離，所述固定距離的范圍為約0. 6毫米至 約0. 75毫米。
73.根據(jù)權利要求72所述的方法，其中所述固定距離為約0.7毫米。
74.根據(jù)權利要求61至權利要求73中任一項所述的方法，其中所述絲網(wǎng)聯(lián)接于框架， 此時絲網(wǎng)張力的范圍為約20N/cm至約30N/cm。
75.根據(jù)權利要求61至權利要求74中任一項所述的方法，其中所述絲網(wǎng)的材料在與碳 素油墨中的溶劑接觸時不發(fā)生不可逆變形。
76.根據(jù)權利要求61至權利要求75中任一項所述的方法，其中所述金屬絲網(wǎng)包括各自 具有約0. 03毫米直徑的多條不銹鋼絲，所述鋼絲以約45度的網(wǎng)角交織而形成網(wǎng)目，所述網(wǎng) 片具有每厘米125的網(wǎng)目數(shù)，網(wǎng)目開口為50微米，開口面積為約39%，網(wǎng)片厚度為大約47 微米。
77.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中所述長度(Y2)或工作電極為大約0.84 毫米，和/或兩個或更多個工作電極之間的預定間隙為大約150微米。
78.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，其中一種測試條包括以下部分，或者一種被 分析物測試條包括以下部分基片；和碳素油墨，所述碳素油墨通過刮墨刀透過金屬絲網(wǎng)而設置在所述基片上，以限定具有 各碳電極軌道的若干碳電極軌道，使得一個測試條中的沿著基本上垂直于碳電極軌道的兩個側邊(15A或15B)之間的軸線(Li或L2)的虛擬線測量的碳電極軌道的長度(Y2)與所 述預定測試條樣品中的其他測試條中的碳電極軌道的長度相比的任何變化小于約2. 5%。
79.根據(jù)權利要求78所述的方法或被分析物測試條，其中所述碳電極軌道是碳工作電極。
80.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法或被分析物測試條，而且其中任何兩個碳電 極軌道之間的任何間隙相對于預定間隙的變化不大于約30%。
81.根據(jù)權利要求61至權利要求79中任一項所述的方法或一種被分析物測試條，還包 括這樣的布置使得測試條中的沿著垂直于碳電極軌道的兩個側邊之間的軸線的虛擬線測 量的所述碳電極軌道的長度相對于預定長度的任何變化小于約3. 5%或2. 5%。
82.根據(jù)權利要求61至權利要求81中任一項所述的方法，或者一種將圖像印刷到基片 上的絲網(wǎng)印刷裝置，包括金屬絲網(wǎng)，所述金屬絲網(wǎng)上形成有電極圖案的圖像掩模；設置在所述絲網(wǎng)上的碳素油墨，所述油墨的粘度為約10，000厘沲/秒至約40，000厘 沲/秒；刮墨刀，通過向所述刮墨刀施加壓強來迫使所述碳素油墨透過所述絲網(wǎng)。
83.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法，或者一種執(zhí)行被分析物測量的方法，所述方 法包括將測試條插入測試儀中，所述測試儀構造成不接收校準輸入，所述測試條根據(jù)前述任 一項權利要求所述的方法制造，所述測試條具有算出的酶工作面積和/或在所述工作電極 的所述試劑層中的還原介體添加量；將血樣施加到所述測試條的入口，測量被分析物濃度。
84.根據(jù)權利要求83所述的方法，還包括將測試條插入測試儀中，所述測試儀構造成可使用預定校準輸入來工作，所述測試條 具有暴露于血樣的算出的工作電極面積以及加到所述算出的工作電極面積上的所述試劑 層的還原介體添加量，使所述測試條被校準成所述預定校準輸入；將血樣施加到所述測試條的入口，測量被分析物濃度。
85.—種構造成可測量被分析物的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括測試儀，所述測試儀包括測試條口連接器、處理器和存儲器，其中所述處理器連接到所 述存儲器，測試條根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法制造并包括基片；設置在所述基片上的導電層；以及設置在所述導電層上的試劑層，所述試劑層包含某 個量的還原介體，使得多個批截距的變化小于約15 %。
86.根據(jù)權利要求85所述的系統(tǒng)，還包括顯示器，并且其中所述處理器連接到所述顯 不器。
87.根據(jù)權利要求83至權利要求86中任一項所述的方法或系統(tǒng)，其中所述校準輸入包 括校準信息。
88.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法、系統(tǒng)或測試條，其中所述基片包含聚合物， 所述聚合物選自基本上由聚酯、聚對苯二甲酸乙二醇酯及其組合組成的組。
89.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法、系統(tǒng)或測試條，其中提供基片，所述基片包 含聚合物，為卷筒形式，其具有約350微米的厚度，寬約370毫米，長約660米。
90.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法、系統(tǒng)或測試條，其中所述測試條的基片具有 大致平坦的構造，其具有大約0. 35毫米的厚度、約5. 5毫米的寬度以及約27. 5毫米的長度。
91.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法、系統(tǒng)或測試條，其中所述導電油墨包括碳素油墨。
92.根據(jù)前述任一項權利要求所述的方法、系統(tǒng)或測試條，其中所述試劑包括葡萄糖氧化酶。
全文摘要
本發(fā)明涉及制造具有預定校準特性的測試條組的方法和系統(tǒng)。一種技術，使用該技術可以制備不需要使用者在測試之前輸入任何校準信息的測試條組。具體地講，在總體上良好控制的測試條制造過程中，可生產(chǎn)高百分比的具有相對恒定的批斜率和批截距的測試條組。在第一方面，提供一種制造多個測試條的方法，所述方法包括調整工作電極面積以輸出落在預定目標批斜率范圍內(nèi)的批斜率；和/或調整試劑油墨中的介體的量，以輸出落在預定目標批截距范圍內(nèi)的批截距。在另一方面，本發(fā)明提供了一種制造多個測試條的方法，所述方法包括調整工作電極面積以輸出基本上等于預定的目標批斜率值的批斜率；和/或調整試劑油墨中的介體的量，以輸出基本上等于預定的目標批截距值的批截距。在另一方面，本發(fā)明提供了一種制備用于這樣的方法中的試劑油墨的方法，包括a)制備試劑油墨；b)如果所述試劑油墨的密度沒有超過目標閾值或在目標范圍內(nèi)，則調整所述試劑油墨的密度。
文檔編號G01N33/487GK101978258SQ200980109440
公開日2011年2月16日 申請日期2009年1月15日 優(yōu)先權日2008年1月18日
發(fā)明者G·麥菲, K·德拉尼, K·杜富斯, M·拉麥卡, M·阿爾瓦雷斯-伊卡扎, N·菲彭, R·拉塞爾, R·馬沙爾, T·賈維斯 申請人:生命掃描蘇格蘭有限公司