專利名稱：監(jiān)測腐蝕元件的腐蝕架和方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于支撐被用于監(jiān)測工業(yè)場所的各種材料的退化效應的測試試 樣的裝置。本發(fā)明顯示用于通過試樣的使用而連貫且長期收集數(shù)據(jù)的方法和裝置，以輔助 監(jiān)測和調節(jié)化學性質從而減少設備中材料的退化。
背景技術：
這里描述的發(fā)明關于一種被簡單地結合到設備中并允許監(jiān)測環(huán)境中材料的退化 并更好地允許工業(yè)界著手材料和器械的退化問題的架。使用方法的基本原理在于本發(fā)明允 許以相同的水平高度和位置連貫地放置腐蝕試樣以允許準確地測量環(huán)境中的腐蝕元件。多年來，已經(jīng)發(fā)展了大量的方法以提供工業(yè)應用中材料退化的測量。評價材料退 化的直接方法可分為兩類，包括侵入技術和非侵入技術。一種侵入技術為暴露到感興趣的 環(huán)境的測試試件的使用。諸如金屬或塑料等材料的試樣或代表性樣品為用于評估退化的最 典型的測試試件之一。試樣為用于監(jiān)測退化的最古老且最簡單的設備之一，且已經(jīng)發(fā)展了 許多用于特定應用的標準。根據(jù)感興趣的應用，試樣可以多種形式制造，且類型包括矩形、盤形、圓柱形和U 形彎曲。試樣暴露的最佳實踐要求使用測試架，測試架通常由將架附接到系統(tǒng)中的部件上 的支撐結構和將試樣保持到支撐件上的緊固件組成。架的目的是為了可再生產(chǎn)地將試樣以 適當?shù)姆轿粦覓煸诃h(huán)境中感興趣的位置。合適的架需要滿足多種要求，包括足夠堅固以支 撐試樣試件、抵抗環(huán)境的結構材料、試樣對作用環(huán)境的合適的暴露、金屬試樣彼此之間及架 的電絕緣(以防止原電池反應)以及防止退化產(chǎn)品的一個試樣與另一個試樣的相互作用。 已經(jīng)用于工業(yè)應用的普通的試樣架包括扁桿架、線軸架、管線的插入式架和“滑移式”或可 收縮式保持器。本發(fā)明的創(chuàng)造性在于它包括允許試樣正交安裝的正方形支撐梁。本發(fā)明被開發(fā)用于在大氣環(huán)境中安裝腐蝕試樣。使用試樣的標準的大氣腐蝕測試 通常使用平坦的板式試樣。用于大氣腐蝕測試的最廣泛使用的板式試件的尺寸為4英寸乘 6英寸(100mm乘150mm)。在大多數(shù)大氣退化腐蝕中，大量的板利用絕緣按鈕而被緊固在大 的、結實的框架上。然而，許多工業(yè)應用不具有在感興趣的環(huán)境中安裝大的框架結構的可用 空間。本發(fā)明相對較小的尺寸允許在可用空間成問題的環(huán)境中懸掛大量的腐蝕試樣。架的 設計還允許易于安裝在工業(yè)裝置中使用的典型的器械。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明描述了下列關鍵的方面
1、本發(fā)明的優(yōu)點在于提供在不同的方位和水平高度處的試樣的位置的穩(wěn)定性。2、本發(fā)明的優(yōu)點在于使用本發(fā)明需要有限的空間。3、本發(fā)明的優(yōu)點在于提供本裝置與工業(yè)器械的容易的安裝。4、提供一種用于不間斷且連貫的效果的方法。


圖1 支架的前視圖。圖2:支架的側視圖。圖3:支架的俯視圖。
具體實施例方式本發(fā)明涉及一種用于放置試樣的裝置，通過使用處于單個或不同的方位的一個或 更多個測試試樣來測試材料所處的環(huán)境，該裝置包括支架附接構件4，連接構件5，支架調 節(jié)構件6，支架穩(wěn)定器7，一個或更多個試樣附接構件11，以及試樣附接部位12。本發(fā)明允 許多種不同的支架附接構件4，但是優(yōu)選為u形桿。試樣附接構件10包含一個或更多個試 樣附接部位11。本發(fā)明用連接構件5將試樣附接構件10連接到支架附接構件4。本發(fā)明 的連接構件5可調節(jié)以允許裝置移動，從而適合多個位置。本裝置進一步具有包括一個或 更多個試樣附接部位11的試樣附接構件10。本發(fā)明具有優(yōu)選的實施例，其中試樣附接構件10為正方形以允許試樣以正交方 式的放置。本發(fā)明進一步包括一種用于抽樣調查制造設備中的材料的退化效應的方法，其中 所述裝置被放置在該設備中，且有一個或更多個試樣附接到試樣附接部位11，所述試樣允 許與環(huán)境反應，并便于在預定期間收集樣品，然后重新放置新的試樣。本發(fā)明與打算測量因 氣態(tài)暴露而退化的元件的試樣一起使用。本方法進一步允許使用附接到試樣附接構件10 的多個測試試樣。測試試樣以不同的水平高度和角度放置在試樣附接構件10上允許環(huán)境的完全測 試。一旦測試的設定時段完成，試樣被移除并在相同的位置替換新的試樣以允許長期測試。 該方法使用的試樣附接構件11為正方形桿以允許以正交方式放置多個試樣。應該理解的是，這里描述的目前優(yōu)選的實施例的各種變化和變型對于本領域技術 人員是明顯的。在不偏離本發(fā)明的精神和范圍且不縮小其預期的優(yōu)點的情況下，可以做出 這種變化和變型。因此，意味著所附權利要求涵蓋了這種變化和變型。
權利要求
1.一種用于放置試樣的裝置，通過使用處于單個或不同方位的一個或更多個測試試樣 來評估材料所處的環(huán)境，該裝置包括(a)支架附接構件，(b)連接構件，(c)支架調節(jié)構件，(d)支架穩(wěn)定器，(e)一個或更多個試樣附接構件，以及(f)試樣附接部位。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述支架附接構件為u形桿。
3.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述試樣附接構件包含一個或更多個試樣附接部位。
4.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述試樣附接構件利用所述連接構件被附接到所 述支架附接構件。
5.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述連接構件是可調節(jié)的。
6.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述試樣附接構件具有一個或更多個試樣附接部位。
7.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中所述試樣附接構件為正方形。
8.根據(jù)權利要求7所述的裝置，其中所述試樣以正交方式附接到所述裝置。
9.一種用于抽樣調查制造設備中材料的退化效應的方法，其中權利要求1所述的裝置 被放置在設備中，且有一個或更多個試樣附接到所述試樣附接部位，所述試樣允許與環(huán)境 反應，并便于在預定的暴露時間之后收集樣品，然后重新放置新的試樣。
10.根據(jù)權利要求9所述的方法，其中所述材料試樣測量因氣態(tài)暴露而退化的元件。
11.根據(jù)權利要求9所述的方法，其中存在多個測試試樣。
12.根據(jù)權利要求11所述的方法，其中所述多個測試試樣以不同的水平高度和角度放置。
13.根據(jù)權利要求9所述的方法，其中所述測試試樣在設定時間之后被收集，并且新的 試樣被放置在相同的位置以用于長期測試。
14.根據(jù)權利要求9所述的方法，其中所述試樣附接構件為正方形桿。
15.根據(jù)權利要求14所述的方法，其中所述正方形支架附接構件允許以正交方式放置 多個試樣。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于與測試試樣一起使用，以允許連貫且長期地監(jiān)測設備中的腐蝕元件的支架。本發(fā)明能夠具有附接到單一支架上的多個試樣，以允許測試不同的腐蝕元件。此外，該試樣可被以不同的角度和位置放置，以允許對環(huán)境的更完全的分析。
文檔編號G01N17/04GK102066902SQ200980122360
公開日2011年5月18日 申請日期2009年6月18日 優(yōu)先權日2008年6月19日
發(fā)明者保羅·B·德施, 帕特里克·J·馬庫赫 申請人:納爾科公司