專(zhuān)利名稱(chēng)：電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電性能檢測(cè)機(jī)，特別涉及一種電性能如絕緣性、耐高壓性的自動(dòng) 檢測(cè)機(jī)。
背景技術(shù)：
目前在電子電氣行業(yè)內(nèi)，各類(lèi)產(chǎn)品都必須具備一定的電氣性能要求指標(biāo)，而這些 性能要求的檢測(cè)必須使用相關(guān)檢測(cè)設(shè)備。此類(lèi)產(chǎn)品的電性能要求是絕緣電阻1000ΜΩ以 上，耐電壓2. 5kv以上。目前傳統(tǒng)使用的都是手動(dòng)檢測(cè)機(jī)，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程分四個(gè)工序，第一、 將產(chǎn)品按順序擺放在電檢框中，第二、用手握著絕緣檢測(cè)棒挨個(gè)檢測(cè)其絕緣電阻性，第三、 手握耐壓檢測(cè)棒檢測(cè)其耐電壓性，第四、用手將已檢測(cè)好的產(chǎn)品放入指定存放箱中。傳統(tǒng)手 工檢測(cè)存在以下兩個(gè)缺點(diǎn)，一是效率低，不適合批量檢測(cè)；二是安全性低，容易發(fā)生觸電傷 人事故。因此，如何解決上述問(wèn)題，成為亟待解決的問(wèn)題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，不僅能保證生產(chǎn)檢 測(cè)安全性，而且極大的提高了檢測(cè)效率和降低了檢測(cè)成本。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，包括測(cè)試儀、探針，探 針與測(cè)試儀的測(cè)試輸出端電連接，探針是豎直設(shè)置的探針組，在探針組的下方設(shè)有水平的 轉(zhuǎn)盤(pán)裝置，轉(zhuǎn)盤(pán)裝置的轉(zhuǎn)盤(pán)圓周位于探針組的正下方，轉(zhuǎn)盤(pán)圓周上設(shè)有與被測(cè)產(chǎn)品相配合 的卡槽，當(dāng)轉(zhuǎn)盤(pán)上的卡槽旋轉(zhuǎn)至探針組的正下方時(shí)，探針組與被測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)部位電接觸， 測(cè)試儀測(cè)試回路端與被測(cè)產(chǎn)品的另一待測(cè)部位電接觸，探針組相鄰側(cè)轉(zhuǎn)盤(pán)圓周內(nèi)上方設(shè)有 推桿裝置。上述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，所述的測(cè)試儀為絕緣電阻測(cè)試儀和耐壓測(cè)試儀兩種， 分別與兩個(gè)不同的探針組電連接，所述的兩個(gè)探針組相鄰側(cè)分別設(shè)有一個(gè)推桿裝置。上述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，所述的轉(zhuǎn)盤(pán)的卡槽上安裝有被測(cè)產(chǎn)品的支撐座。上述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，所述的推桿裝置通過(guò)氣缸驅(qū)動(dòng)推桿動(dòng)作的。本實(shí)用新型的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，采用了轉(zhuǎn)盤(pán)裝置和推桿裝置，轉(zhuǎn)盤(pán)裝置中轉(zhuǎn)盤(pán) 可以通過(guò)變頻可調(diào)的電機(jī)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)，當(dāng)待測(cè)產(chǎn)品輸送到轉(zhuǎn)盤(pán)邊時(shí)，由轉(zhuǎn)盤(pán)上的卡槽將產(chǎn)品 卡住并帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)，運(yùn)行到探針組下面時(shí)，測(cè)試儀開(kāi)始檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到不合格時(shí)，推桿裝置上 的推桿自動(dòng)將被測(cè)產(chǎn)品推出轉(zhuǎn)盤(pán)。故采用此種結(jié)構(gòu)的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，不僅提高了安全 性和檢測(cè)的效率，而且減少了人工，直接降低了檢測(cè)成本，從而實(shí)現(xiàn)了機(jī)器化和流水線操作 檢驗(yàn)。

下面將結(jié)合附圖中的具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)說(shuō)明，但不構(gòu)成對(duì) 本實(shí)用新型的任何限制。[0010]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的主視圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的俯視圖。
具體實(shí)施方式
如圖1、圖2所示，電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)包括絕緣電阻測(cè)試儀la、耐壓測(cè)試儀lb，分 別與不同的探針組2a、2b電連接，探針組的下方為轉(zhuǎn)盤(pán)裝置，轉(zhuǎn)盤(pán)3通過(guò)變頻可調(diào)的電機(jī)帶 動(dòng)旋轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)盤(pán)3圓周剛好位于探針組2a、2b正下方，在圓周上開(kāi)有多個(gè)均布的與被測(cè)產(chǎn)品 外形相適合的卡槽31，卡槽31上安裝有待測(cè)產(chǎn)品的支撐座32，用來(lái)支撐夾持被測(cè)產(chǎn)品；在 兩個(gè)探針組2a、2b相鄰側(cè)轉(zhuǎn)盤(pán)3圓周內(nèi)上方設(shè)有兩個(gè)推桿裝置4a、4b，推桿裝置4a、4b通 過(guò)氣缸驅(qū)動(dòng)推桿來(lái)回動(dòng)作；當(dāng)轉(zhuǎn)盤(pán)3旋轉(zhuǎn)，卡槽31上的待測(cè)產(chǎn)品轉(zhuǎn)到探針組2a、2b正下方 時(shí)，探針與產(chǎn)品的上部電接觸，即產(chǎn)品的上部與測(cè)試儀的測(cè)試輸出端電連接，產(chǎn)品的下部與 測(cè)試儀la、lb的測(cè)試回路端電連接，測(cè)試儀la、lb進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到不合格的產(chǎn)品時(shí)，推 桿裝置4a、4b動(dòng)作，位于轉(zhuǎn)盤(pán)3圓周上的推桿將不合格產(chǎn)品推出轉(zhuǎn)盤(pán)。綜上所述，以上所舉實(shí)施例僅用來(lái)方便舉例說(shuō)明本實(shí)用新型，并非對(duì)本實(shí)用新型 作任何形式上的限制，如推桿還可以通過(guò)機(jī)械連桿實(shí)現(xiàn)動(dòng)作，還以在轉(zhuǎn)盤(pán)旁邊增加計(jì)數(shù)器 等儀器。任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者，若在不脫離本實(shí)用新型所提技術(shù)特征的范 圍內(nèi)，利用本實(shí)用新型所揭示技術(shù)內(nèi)容所作出局部更動(dòng)或修飾的等效實(shí)施例，并且未脫離 本實(shí)用新型的技術(shù)特征內(nèi)容，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)特征的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求一種電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，包括測(cè)試儀、探針，探針與測(cè)試儀的測(cè)試輸出端電連接，其特征在于所述的探針是豎直設(shè)置的探針組，在探針組的下方設(shè)有水平的轉(zhuǎn)盤(pán)裝置，所述的轉(zhuǎn)盤(pán)裝置的轉(zhuǎn)盤(pán)圓周位于探針組的正下方，所述的轉(zhuǎn)盤(pán)圓周上設(shè)有與被測(cè)產(chǎn)品相配合的卡槽，當(dāng)轉(zhuǎn)盤(pán)上的卡槽旋轉(zhuǎn)至探針組的正下方時(shí)，所述的探針組與被測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)部位電接觸，所述的測(cè)試儀測(cè)試回路端與被測(cè)產(chǎn)品的另一待測(cè)部位電接觸，所述的探針組相鄰側(cè)轉(zhuǎn)盤(pán)圓周內(nèi)上方設(shè)有推桿裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，其特征在于所述的測(cè)試儀為絕緣電阻 測(cè)試儀和耐壓測(cè)試儀兩種，分別與兩個(gè)不同的探針組電連接，所述的兩個(gè)探針組相鄰側(cè)分 別設(shè)有一個(gè)推桿裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，其特征在于所述的轉(zhuǎn)盤(pán)的卡槽上 安裝有被測(cè)產(chǎn)品的支撐座。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，其特征在于所述的推桿裝置通過(guò)氣缸 驅(qū)動(dòng)推桿動(dòng)作的。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，包括測(cè)試儀、探針，探針與測(cè)試儀的測(cè)試輸出端電連接，探針是豎直設(shè)置的探針組，在探針組的下方設(shè)有水平的轉(zhuǎn)盤(pán)裝置，轉(zhuǎn)盤(pán)裝置的轉(zhuǎn)盤(pán)圓周位于探針組的正下方，轉(zhuǎn)盤(pán)圓周上設(shè)有與被測(cè)產(chǎn)品相配合的卡槽，當(dāng)轉(zhuǎn)盤(pán)上的卡槽旋轉(zhuǎn)至探針組的正下方時(shí)，探針組與被測(cè)產(chǎn)品的待測(cè)部位電接觸，測(cè)試儀測(cè)試回路端與被測(cè)產(chǎn)品的另一待測(cè)部位電接觸，探針組相鄰側(cè)轉(zhuǎn)盤(pán)圓周內(nèi)上方設(shè)有推桿裝置；本實(shí)用新型用于電子產(chǎn)品的電性能，如絕緣性、耐高壓性的自動(dòng)檢測(cè)，采用此種結(jié)構(gòu)的電性能自動(dòng)檢測(cè)機(jī)，提高了安全性和檢測(cè)的效率，減少了人工，直接降低了檢測(cè)成本。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201681128SQ20102016417
公開(kāi)日2010年12月22日 申請(qǐng)日期2010年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月14日
發(fā)明者李勇 申請(qǐng)人:惠州市嘉泰電氣有限公司