專利名稱：電子產(chǎn)品測試機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型與電子產(chǎn)品的制造設(shè)備有關(guān)，特別是關(guān)于一種電子產(chǎn)品測試機。
背景技術(shù)：
所謂的封測工藝，包含有封裝與測試兩部份。所謂封裝(packaging)是指將集成 電路與阻抗、電容器等被動組件焊裝在電路基板上，并以連接器(connector)連接各部，最 后將其裝設(shè)在一封閉容器中，以形成一電子產(chǎn)品。在封裝工藝后，尚須對該電子產(chǎn)品進行測 試，以確定電子產(chǎn)品的電路是否正常運作。過去的測試作業(yè)是將電子產(chǎn)品(以下以儲存卡為例說明)由tray盤取出放置于 一測試盤中。接著將該測試盤放置于一測試機中。該測試機具有若干探針卡(probe card), 可壓抵于儲存卡的金手指，以檢測儲存卡。測試完畢后，測試機會顯示哪些儲存卡是不正常 的，需要被移除。較新的檢測技術(shù)可讓儲存卡直接在tray盤上進行檢測，如此可大幅降低檢測的 時間，以提高生產(chǎn)率。然如何使tray盤上儲存卡的金手指能夠確實的接觸探針卡，這是一 個需要克服的問題。另外，檢測完畢后，需要依據(jù)檢測的結(jié)果，將不良品取出。傳統(tǒng)的方法是作業(yè)員依 據(jù)計算機顯示的結(jié)果，一個一個將不良品取出。然，一般的tray盤上有96個、98個或是120 個儲存卡；以人工的方式進行常常會發(fā)生錯誤的情形。也有以自動機械手臂自tray盤中將 不良品挑出?？焖?、正確是自動化的優(yōu)點；然自動化機械的成本高，確是另一個問題。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種電子產(chǎn)品測試機，其可正確且快速的檢測電此產(chǎn) 品的電路功能。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供的電子產(chǎn)品測試機，用以檢測放置在一承載裝 置上的多數(shù)個電子產(chǎn)品，該測試機具有一機座，其上具有一工作臺面，而該工作臺面上具有 一檢測區(qū)；該檢測區(qū)設(shè)置有一檢測裝置，而該檢測裝置包含有一檢測器，具有若干對應(yīng)于承載裝置上的電子產(chǎn)品的探針；一臺板，用以放置該承載裝置；一揚升機，連接至該臺板，用以推動該臺板朝向該檢測器移動；以及一導引件，用以在該臺板接近該檢測器時，將該承載裝置定位于預定位置，令該檢 測器的探針可確實接觸電子產(chǎn)品。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該導引件具有若干個導引塊設(shè)置于該檢測器上；各 導引塊上具有一斜面，且相鄰二導引塊上斜面的外端之間的距離大于斜面的內(nèi)端之間的距
1 O所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該臺板上具有凹槽，對應(yīng)于導引塊。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該臺板上具有一放置承載裝置的凹部；該些凹槽設(shè)置于凹部的周圍，并與該凹部連通。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該些導引塊為承L形的塊體，對應(yīng)于承載裝置的四 個端角，在其內(nèi)側(cè)面上設(shè)置有該斜面。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該檢測器具有一固定座，至少一探針座，其上設(shè)置有 該些探針，以及一電連接器，與該些探針電連接；該探針座與該電連接器分別固定于該固定 座上。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該固定座具有一開口，而開口的周緣具有一垣部，該 探針座裝設(shè)于該開口中，并抵靠于該垣部。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該電連接器上設(shè)置有連接墊，分別直接與探針座上 的探針接觸。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該工作臺面上具有一挑檢區(qū)，該挑撿區(qū)中設(shè)置有一 挑檢裝置，連接至該檢測裝置，接收檢測的結(jié)果；該挑檢區(qū)位于該檢測區(qū)的前方，較為接近 操作人員。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該工作臺面在挑檢區(qū)處設(shè)置有一透明板片，其下方 則設(shè)置有該挑檢裝置的顯示器。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該透明板片上設(shè)置有對應(yīng)于該承載盤的定位座，該 承載盤移動至貼靠于定位座，以定位該承載裝置。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該定位座與該承載裝置上分別設(shè)有可相互嵌合的凸 塊與凹槽。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該顯示器顯示與該承載裝置的承載區(qū)對應(yīng)的區(qū)塊， 令該承載裝置移動至該透明板片上時，其上的電子裝置分別具有一部分與對應(yīng)的區(qū)塊重 迭；且該些區(qū)塊可根據(jù)檢測裝置的檢測結(jié)果而分別產(chǎn)生預定的色光。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中各區(qū)塊的尺寸大于電子產(chǎn)品。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該承載裝置為透明或半透明材料。所述的電子產(chǎn)品測試機，其中該承載裝置具有孔位于電子產(chǎn)品旁邊，供色光穿過。綜上所述，本實用新型的測試區(qū)提供了導引器，讓封裝完畢的電子產(chǎn)品可無需進 行任何轉(zhuǎn)換動作，直接放在檢測裝置中進行檢測，而且檢測裝置也可根據(jù)電子產(chǎn)品的規(guī)格 進行更換，大大的提高了測試機的應(yīng)用范圍。而在挑撿區(qū)中，本實用新型利用空間的兼容性 (space compatibility)，讓要被挑出的電子產(chǎn)品直接被不同的光所標示，因此作業(yè)員無須 經(jīng)過認知上的轉(zhuǎn)換，即可將特定的電子產(chǎn)品挑出，俾以達成迅速、正確且成本低廉的檢測與 挑檢工藝。

圖1為本實用新型一較佳實施例的立體圖；圖2為本實用新型一較佳實施例的檢測裝置的立體圖；圖3為本實用新型一較佳實施例的檢測器的分解圖；圖4為本實用新型一較佳實施例的另一規(guī)格的檢測器的分解圖；圖5至圖8為本實用新型一較佳實施例的檢測裝置剖視圖，顯示偏移的承載裝置 受到導引塊的作用而回復到正中位置；[0033]圖9為本實用新型的挑檢區(qū)的示意圖；以及圖10為承載盤放至于挑撿區(qū)上，進行挑檢不良品作業(yè)。附圖中主要組件符號說明10承載裝置，12電子產(chǎn)品(儲存卡)，14機座，16工作臺面，18測試區(qū)，20挑檢區(qū)， 22外框，24立架，26,26'檢測器，28臺板，30揚升機，32固定座，34,34'探針座，36,36'電 連接器，38開口，40垣部，42、42，探針，46插槽，52導引塊，54斜面，56凹部，58凹槽，62顯 示器，64鼠標，66鍵盤，68透明板片，70定位座，72凸塊，74凹槽，76信息區(qū)，78操作區(qū)，80 標示區(qū),82區(qū)塊。
具體實施方式
本實用新型所提供的電子產(chǎn)品測試機，用以檢測放置在一承載裝置上的多數(shù)個電 子產(chǎn)品，該測試機具有一機座，其上具有一工作臺面，而該工作臺面上具有一檢測區(qū)；該檢 測區(qū)設(shè)置有一檢測裝置，而該檢測裝置包含有一檢測器，具有若干對應(yīng)于承載裝置上的電 子產(chǎn)品的探針；一臺板，用以放置該承載裝置；一揚升機，連接至該臺板，用以推動該臺板 朝向該檢測器移動；以及一導引件，用以在該臺板接近該檢測器時，將該承載裝置定位于預 定位置，令該檢測器的探針可確實接觸電子產(chǎn)品。在一實施例中，本實用新型的檢測裝置具有可更換的檢測器，以供不同供格的電 子產(chǎn)品測試用。在一實施例中，本實用新型的測試機還具有一挑檢區(qū)，其中具有一挑檢裝置，接收 該檢測裝置的檢測結(jié)果，以將不良產(chǎn)品或是需要挑檢出的產(chǎn)品挑出。由此，電子產(chǎn)品可無需進行任何轉(zhuǎn)換動作，直接放在檢測裝置中進行檢測。另外在 挑撿區(qū)中，本實用新型讓作業(yè)員無須經(jīng)過認知上的轉(zhuǎn)換，即可將特定的電子產(chǎn)品挑出，以達 到迅速、正確且成本低廉的檢測與挑檢工藝。
以下結(jié)合附圖作詳細說明。請參閱圖1所示，本實用新型一較佳實施例所提供的電子產(chǎn)品測試機，是供檢測 與挑檢一承載裝置10上的電子產(chǎn)品12。在本實施例中，電子產(chǎn)品12是以micro-SD儲存卡 為例說明，而該承載裝置10與一般tray盤相同，上面放置有120(15X8)個儲存卡12。該 測試機具有一機座14，其上具有一工作臺面16，該工作臺面16上具有一測試區(qū)18以及一 挑檢區(qū)20。在該測試區(qū)18設(shè)置有一檢測裝置，該挑檢區(qū)20則設(shè)置有一挑檢裝置。請參閱圖2所示，該測試區(qū)18的上方設(shè)置有一外框22，其中設(shè)置有二立架M ；檢 測裝置包括有一檢測器沈設(shè)置在該二立架M的上端，一臺板28位于該二立架M之間，以 及一揚升機30。請參閱圖3所示，該檢測器沈包括一固定座32、五個探針座34以及一電連接器 36。該固定座32為一矩形板件，利用螺栓(未顯示)固定于該二立架M的頂端。該固定座 32的中央具有一矩形開口 38，而在開口 38的周緣具有一垣部40。該開口 38的形狀與尺寸 約略與承載裝置10相同。各該探針座34上設(shè)置有若干探針42。該些探針42的位置是根據(jù) 承載裝置10上的電子產(chǎn)品12的位置所設(shè)置。在本實施例中，每一探針座34有M(15X8) 組探針。當探針座；34放置在固定座32的開口 38中，令其周緣抵靠在該垣部40上，再以螺 栓固定后，該些探針42的配置恰對應(yīng)于裝設(shè)在承載裝置10上的儲存卡12的金手指。該電連接器36為一電路板，其上具有若干插槽46，而下方具有若干連接墊(未顯示)與插槽46 電連接，而這些連接墊的位置是對應(yīng)于探針座34上的探針。該電連接器36位于該固定座 32的上方，并以螺栓與固定座32連接固定，使連接墊直接接觸該些探針42 ；電連接器36的 插槽46上插設(shè)有測試板(未顯示)，再通過排線(未顯示)，或其它類似傳輸裝置(例如插 槽)，與挑檢裝置電性連接。在類似的產(chǎn)品中，使用TSOP封裝技術(shù)的內(nèi)存的尺寸通常比micro-SD大，在相同尺 寸的承載裝置上只能放置96(12X8)個內(nèi)存。本實用新型所提供的測試機在檢測這樣的內(nèi) 存時，僅需要更換不同規(guī)格的檢測器。圖4顯示一個應(yīng)用于測試TSOP內(nèi)存的檢測器沈’具 有一與的前相同的固定座32、四個探針座34’，每一探針座34’具有M (3X8)組探針42’， 以及一電連接器36’。當本實用新型的測試機應(yīng)用于檢測不同的電子產(chǎn)品時，僅要更換整組 的檢測裝置即可，可提高測試機的應(yīng)用范圍。實際上，除前述形態(tài)的電子產(chǎn)品外，任何形式的電子產(chǎn)品，例如隨身碟、SD、CF、 T-flash、ULGA，或是任何電子產(chǎn)品在封裝后需要測試其電路者，均可應(yīng)用本實用新型的測 試機。在實際操作上，僅需要有配合產(chǎn)品的承載裝置以及探針座即可。此外，檢測器是以固定座、探針座以及電連接器所組成，其主要目的在于提供當探 針或某一零件損壞或故障時方便維修的用。請參閱圖5，在該固定座32的底側(cè)設(shè)置有導引件。該導引件具有4個位于該開口 的端角處的導引塊52。各導引塊52為L形的塊體，而面向該開口 38的一側(cè)(內(nèi)側(cè)面)具 有斜面M。相鄰導引塊52上兩斜面M外端之間的距離，大于內(nèi)端之間的距離。該臺板觀 的上側(cè)具有一凹部56，且在該凹部56的四個角落各設(shè)有一凹槽58，與凹部56連通。各凹 槽58對應(yīng)于該固定座32底端的導引塊52。該揚升機30在本實施例中為一氣壓缸，設(shè)置于 工作臺面16的下方，并且其軸桿穿過工作臺面16而連接至臺板28，由此，啟動該揚升機30 后可驅(qū)動該臺板28上下移動。完成封裝工藝后，直接將裝有封裝后的儲存卡12的承載裝置10放置于該測試區(qū) 的臺板觀的凹部56中。無論是利用人工或是自動化裝置，承載裝置10均會或多或少偏離 預定位置。接著啟動該揚升機30，上升該臺板觀，使其朝向該檢測器沈移動。當該承載裝 置10接近該檢測器沈時，首先承載裝置10的端角會先接觸某一或數(shù)個導引塊52的斜面 M。請參閱圖6所示，其中顯示承載裝置10偏向一側(cè)，此時，承載裝置10的一側(cè)會先接觸 到導引塊52的斜面M ；當揚升機30繼續(xù)推動臺板觀時，斜面M會使承載裝置10回復到 正中的位置，最后四個導引塊52會進入臺板觀上的凹槽58，使承載裝置10定位于所設(shè)定 的位置，如圖7與圖8所示，讓其上的儲存卡12的金手指能確實與探針座34上的探針42 接觸，以進行檢測作業(yè)。當檢測完畢后，檢測裝置即會將檢測結(jié)果，通過排線，傳至挑檢裝置。在本實施例 中，該挑撿裝置為一計算機，具有一主機(未顯示)、一顯示器62、一鼠標64以及一鍵盤66。 挑揀區(qū)位于測試區(qū)的前方，比較靠近作業(yè)員。該工作臺面16在挑檢區(qū)處設(shè)置有一塊透明板 片68，且其上設(shè)置有定位座70，其形狀對應(yīng)于承載裝置10。該定位座70上設(shè)置有二凸塊 72，對應(yīng)于承載裝置10上的凹槽74。實務(wù)上，亦可制作為定位座上是凹槽而承載裝置上是 凸塊。應(yīng)用于此的承載裝置10是以透明的材質(zhì)所制成。請參閱圖9所示，顯示器62位于挑檢區(qū)的透明板片68的下方，用以顯示檢測的結(jié)果。顯示器62所呈現(xiàn)的畫面有信息區(qū)76、操作區(qū)78與標示區(qū)80。畫面左上方的信息區(qū) 76顯示檢測的相關(guān)信息，例如檢測開始時間、結(jié)束時間、不良品數(shù)量等；右上方的操作區(qū) 78具有一個下拉式選單，作業(yè)員可依需要或指示，利用鼠標64與鍵盤66，選擇所需要的選 項。例如可依據(jù)不同的Bin別選擇。畫面下方為標示區(qū)80，其具有與承載裝置等尺寸的 圖樣，而且劃分有120個對應(yīng)于儲存卡12位置的區(qū)塊82。每個區(qū)塊82的尺寸大于承載裝 置10上的儲存卡12的大小。區(qū)塊82中有編號，并且會依據(jù)測試結(jié)果而顯示特定的顏色。 舉例而言，當某一承載裝置10中的儲存卡12在測試區(qū)中進行檢測作業(yè)后，該檢測裝置將檢 測結(jié)果為不良品的儲存卡，在其顯示器上所對應(yīng)的區(qū)塊82中，以特定的色光(例如紅色光) 或是閃爍光標示的。圖中顯示標號第2、觀、48、65與110號的區(qū)塊82為不良品的位置。檢測完畢后，將承載裝置10由測試區(qū)18移動至挑檢區(qū)20。由于測試區(qū)18與挑檢 區(qū)20在同一工作臺面16上，因此只需要將承載裝置10沿著工作臺面161自檢測區(qū)18移 動至挑檢區(qū)20，并且使承載裝置10受到該定位座70的拘束(凸塊72與凹槽74的對合)， 如此即完成承載裝置10定位于挑檢區(qū)20的動作。此時，請參閱圖10所示，承載裝置10位 于顯示器62的標示區(qū)80的正上方，而各儲存卡12也位于對應(yīng)的區(qū)塊82上方，成重迭的狀 態(tài)。當檢測結(jié)果顯示于顯示器62上時，相關(guān)的信息(檢測開始時間、結(jié)束時間、不良品 數(shù)量)會顯示于信息區(qū)76。而檢測為不良品的儲存卡也會在對應(yīng)的區(qū)塊82上，以紅色顯 示。因此，當承載裝置10移動至挑檢區(qū)20后，由于區(qū)塊62的尺寸大于儲存卡12，且承載裝 置10是透明的，不良的儲存卡周圍會有紅色光的標記，以為作業(yè)員以視覺的方式察覺。接 著，作業(yè)員僅需要將下方有紅色光標記的儲存卡挑出，即完成了挑檢作業(yè)。需要說明的是，透明承載裝置的最主要功能是讓標示區(qū)的區(qū)塊的色光能穿過承載 裝置而為作業(yè)員所查覺。因此，任何能讓光通過的手段，例如半透明的承載裝置或是在承 載裝置上位于電子產(chǎn)品旁邊設(shè)置能讓光穿過的孔，均為本實用新型可使用的方式。另外，標 示區(qū)的區(qū)塊是以矩形且整面發(fā)光為例，實際上，標示區(qū)的區(qū)塊可為任何形狀，發(fā)光的方式亦 可為局部發(fā)光、或是閃爍光。實際上推薦的方式為要保留的區(qū)塊以藍色、綠色等較為黯淡 的顏色顯示；而要移除的區(qū)塊則以紅色、黃色等較為鮮明的顏色顯示。如此可更清楚的標示 效果。
權(quán)利要求1.一種電子產(chǎn)品測試機，用以檢測放置在一承載裝置上的多數(shù)個電子產(chǎn)品，該測試機 具有一機座，其上具有一工作臺面，而該工作臺面上具有一檢測區(qū)；其特征在于，該檢測區(qū) 設(shè)置有一檢測裝置，而該檢測裝置包含有一檢測器，具有若干對應(yīng)于承載裝置上的電子產(chǎn)品的探針；一臺板，用以放置該承載裝置；一揚升機，連接至該臺板，用以推動該臺板朝向該檢測器移動；以及一導引件，用以在該臺板接近該檢測器時，將該承載裝置定位于預定位置，令該檢測器 的探針可確實接觸電子產(chǎn)品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該導引件具有若干個導 引塊設(shè)置于該檢測器上；各導引塊上具有一斜面，且相鄰二導引塊上斜面的外端之間的距 離大于斜面的內(nèi)端之間的距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該臺板上具有凹槽，對應(yīng) 于導引塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該臺板上具有一放置承 載裝置的凹部；該些凹槽設(shè)置于凹部的周圍，并與該凹部連通。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該些導引塊為承L形的塊 體，對應(yīng)于承載裝置的四個端角，在其內(nèi)側(cè)面上設(shè)置有該斜面。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該檢測器具有一固定座， 至少一探針座，其上設(shè)置有該些探針，以及一電連接器，與該些探針電連接；該探針座與該 電連接器分別固定于該固定座上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該固定座具有一開口，而 開口的周緣具有一垣部，該探針座裝設(shè)于該開口中，并抵靠于該垣部。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該電連接器上設(shè)置有連 接墊，分別直接與探針座上的探針接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該工作臺面上具有一挑 檢區(qū)，該挑撿區(qū)中設(shè)置有一挑檢裝置，連接至該檢測裝置，接收檢測的結(jié)果；該挑檢區(qū)位于 該檢測區(qū)的前方，較為接近操作人員。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該工作臺面在挑檢區(qū)處 設(shè)置有一透明板片，其下方則設(shè)置有該挑檢裝置的顯示器。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該透明板片上設(shè)置有 對應(yīng)于該承載盤的定位座，該承載盤移動至貼靠于定位座，以定位該承載裝置。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該定位座與該承載裝 置上分別設(shè)有可相互嵌合的凸塊與凹槽。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該顯示器顯示與該承 載裝置的承載區(qū)對應(yīng)的區(qū)塊，令該承載裝置移動至該透明板片上時，其上的電子裝置分別 具有一部分與對應(yīng)的區(qū)塊重迭；且該些區(qū)塊可根據(jù)檢測裝置的檢測結(jié)果而分別產(chǎn)生預定的 色光。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中各區(qū)塊的尺寸大于電子廣品。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該承載裝置為透明或 半透明材料。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電子產(chǎn)品測試機，其特征在于，其中該承載裝置具有孔位 于電子產(chǎn)品旁邊，供色光穿過。
專利摘要一種電子產(chǎn)品檢測機，具有一測試區(qū)以及一挑檢區(qū)。測試區(qū)中具有一檢測器，下方具有一臺板，供放置一裝有電子產(chǎn)品的tray盤。臺板受一揚升機的驅(qū)動，將tray盤朝向檢測器移動。檢測器的下方設(shè)置有導引塊，將tray盤調(diào)整至預定位置，讓檢測器進行檢測。挑揀區(qū)中具有一顯示器，其中顯示有與tray盤上電子產(chǎn)品相同配置的區(qū)塊。測試完畢的墊子產(chǎn)品，連同tray盤直接移動至挑檢區(qū)，讓電子產(chǎn)品與區(qū)塊重疊，已由操作員將接特別顯示的區(qū)塊上的墊子產(chǎn)品挑檢出。
文檔編號G01R31/28GK201867468SQ201020564410
公開日2011年6月15日 申請日期2010年10月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月15日
發(fā)明者吳傅祺, 楊睿軒 申請人:王立民