專利名稱：一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法、系統(tǒng)及測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于嵌入式技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法、系統(tǒng)及測試裝置。
背景技術(shù)：
系統(tǒng)級芯片(SoC, System-on-Chip)是一個有專用目標的集成電路，可以是一完整的系統(tǒng)，例如微處理器ARM、知識產(chǎn)權(quán)核(IP核)和存儲器。同時SoC芯片也是一種技術(shù)的統(tǒng)稱，用以實現(xiàn)從確定系統(tǒng)功能開始，到軟/硬件劃分，并完成設(shè)計的整個過程。目前，SoC芯片已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于各種各樣的手持設(shè)備中，例如數(shù)碼相機、智能手機等，這就要求SoC芯片具備低功耗的特性，為了降低SoC芯片的功耗，較為有效的方法是關(guān)閉SoC芯片中暫時不用的模塊的電源，使得SoC芯片進入到空閑(idle)狀態(tài)，當SoC芯片處于空閑狀態(tài)時，除了時鐘(RTC)、電源管理模塊(PMU)、內(nèi)部隨機存取存儲器(RAM)和外部RAM外，其它模塊則可以進行斷電處理，其中內(nèi)部RAM用來存儲斷電前芯片的配置，斷電的模塊重新工作時用來恢復(fù)其配置，外部RAM用來保存程序和數(shù)據(jù)。SoC芯片可以通過軟件的方式進入idle狀態(tài)，也可以通過軟件/硬件/定時的方式退出idle狀態(tài)，一種進入方式和一種退出方式為一種組合，每種組合情況都需要進行測試驗證。在SoC芯片設(shè)計中，測試驗證是SoC芯片設(shè)計流程中最復(fù)雜、最耗時的環(huán)節(jié),大約占用了整個芯片開發(fā)周期的一半以上，采用先進的設(shè)計與測試方法成為SoC芯片設(shè)計成功的關(guān)鍵。為了測試SoC芯片進入/退出idle狀態(tài)方法的可靠性，現(xiàn)有的測試方法在進行SoC芯片的進入/退出idle狀態(tài)的測試時，一次只能對一個測試用例進行測試，當需要測試的SoC芯片的進入/退出idle狀態(tài)的測試用例較多時，測試系統(tǒng)需要較多的時間開銷進行測試用例的編譯，且在測試過程中，需要處理多個不同的仿真波形文件，降低了測試系統(tǒng)的測試效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的目的在于提供一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法、系統(tǒng)及測試裝置，旨在解決由于現(xiàn)有測試方法無法進行多個測試用例的持續(xù)測試，導致測試系統(tǒng)處理數(shù)據(jù)增加，測試系統(tǒng)的測試效率降低的問題。本發(fā)明實施例是這樣實現(xiàn)的，一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法，所述方法包括下述步驟A、進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號；B、根據(jù)所述標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為所述SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例；C、判斷所述測試用例的標識號是否為空字符，是則退出所述SoC芯片的測試，否則根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟A。本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括標識號獲取單元，用于進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號；
標識號計算單元，用于根據(jù)所述標識號獲取單元獲取的標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例；標識號判斷單元，用于判斷所述標識號計算單元計算得到的測試用例的標識號是否為空字符；退出單元，用于當測試用例的標識號為空字符時，退出SoC芯片的測試；以及測試單元，用于當測試用例的標識號不為空字符時，根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置。本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種包括上述SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)的SoC測試裝置。本發(fā)明實施例在對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例進行測試時，通過SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號，根據(jù)該標識號計算測試用例的標識號，判斷測試用例的標識號是否為空字符，是則退出SoC芯片的測試，否則根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，循環(huán)執(zhí)行直至測試用例全部被測試，從而實現(xiàn)對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例的批量測試，提高測試系統(tǒng)的測試效率，減少了數(shù)據(jù)的處理量。


圖I是本發(fā)明第一實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法的實現(xiàn)流程圖；圖2是本發(fā)明第二實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法的實現(xiàn)流程圖；圖3是本發(fā)明第三實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明實施例在對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例進行測試時，通過SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號，根據(jù)該標識號計算測試用例的標識號，判斷測試用例的標識號是否為空字符，是則退出SoC芯片的測試，否則根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，循環(huán)執(zhí)行直至測試用例全部被測試，從而實現(xiàn)對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例的批量測試，提高測試系統(tǒng)的測試效率，減少了數(shù)據(jù)的處理量。本發(fā)明實施例提供了一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法，所述方法包括下述步驟A、進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號；B、根據(jù)所述標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例；C、判斷所述測試用例的標識號是否為空字符，是則退出所述SoC芯片的測試，否則根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟A。本發(fā)明實施例還提供了一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括標識號獲取單元，用于進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號；標識號計算單元，用于根據(jù)所述標識號獲取單元獲取的標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例；標識號判斷單元，用于判斷所述標識號計算單元計算得到的測試用例的標識號是否為空字符；退出單元，用于當測試用例的標識號為空字符時，退出SoC芯片的測試；以及測試單元，用于當測試用例的標識號不為空字符時，根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置。本發(fā)明實施例還提供了一種包括上述SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)的SoC測試裝置。本發(fā)明實施例在對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例進行測試時，通過SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號，根據(jù)該標識號計算測試用例的標識號，根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，循環(huán)執(zhí)行直至測試用例全部被測試，從而實現(xiàn)對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例的批量測試，提高測試系統(tǒng)的測試效率，減少了數(shù)據(jù)的處理量。以下結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的具體實現(xiàn)進行詳細描述實施例一:在本發(fā)明實施例中，將SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的全部測試用例保存在隨機存取存儲中，建立標識號與全部測試用例的一一對應(yīng)關(guān)系，通過在SoC芯片啟動過程中執(zhí)行測試用例，直至所有的SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的全部測試用例被測試完。圖I示出了本發(fā)明第一實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法的實現(xiàn)流程，詳述如下在步驟SlOl中，進行SoC芯片的上電復(fù)位，當SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號。、
SoC芯片為具有一定功能的系統(tǒng)級芯片，可以包括控制邏輯模塊、微處理器/微控制器CPU內(nèi)核模塊、數(shù)字信號處理器DSP模塊、嵌入的存儲器模塊和外部進行通訊的接口模塊等，在本發(fā)明實施例中，首先在預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中預(yù)先設(shè)置的位置中存儲一個標識號，該標識號為本次之前一次的SoC芯片的測試用例的標識號，若本次測試為第一次對SoC芯片進行測試，則該標識號可以為預(yù)先設(shè)置的特定的標識號，例如設(shè)置為O。SoC芯片進行上電復(fù)位，對SoC芯片進行初始化，對SoC芯片復(fù)位完成后，執(zhí)行SoC芯片中的啟動代碼(Boot代碼)獲取存儲的標識號。在步驟S102中，根據(jù)標識號計算測試用例的標識號，該測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例。在本發(fā)明實施例中，在步驟SlOl中獲取到存儲的標識號后，根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置的計算方式計算本次測試用例的標識號，例如，加I運算或通過其它一元一次函數(shù)來計算本次測試用例的標識號，較優(yōu)地，由于測試用例在隨機存取存儲器上是順序存儲的，因此通過加I運算來計算本次測試用例的標識號。 在步驟S103中，判斷測試用例的標識號是否為空字符，是則執(zhí)行步驟S105，否則執(zhí)行步驟S104。在步驟S104中，根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟SlOl。在步驟S105中，退出SoC芯片的測試。本發(fā)明實施例中，判斷步驟S102中計算得到的測試用例的標識號是否為空字符，是則退出SoC芯片的測試，退出SoC芯片的測試時，可以將SoC芯片置于正常狀態(tài)，各個組成部件供電均處于正常供電狀態(tài)，或?qū)oC芯片置于預(yù)設(shè)的狀態(tài)，在此不用以限制本發(fā)明。當標識號不為空字符，表明還有測試用例尚未測試，此時根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，為下次測試計算測試用例的標識號提供條件，寫入后自動進行SoC芯片的上電復(fù)位，即跳轉(zhuǎn)至步驟SlOl繼續(xù)執(zhí)行測試用例。在本發(fā)明實施例中，應(yīng)預(yù)先建立并存儲測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系，以方便系統(tǒng)根據(jù)測試用例的標識號獲取測試用例的所在隨機存取存儲器的地址。在本發(fā)明實施例中，在預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置存儲一標識號，且SoC芯片的啟動(Boot)代碼中保存有測試用例的標識號與存儲測試用例的對應(yīng)關(guān)系，即測試用例的標識號與存儲測試用例的隨機存取存儲器的地址的關(guān)聯(lián)關(guān)系，當讀取到存儲的標識號后，將SoC芯片的控制權(quán)交給隨機存取存儲器中測試用例，進行測試用例的測試，測試完成后更新預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置存儲的標識號，繼續(xù)測試直至所有測試用例全部被測試，測試完成后所有測試用例形成一個測試波形圖，而不會單獨輸出為多個文件，從而減少了測試過程中測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理量，進一步提高測試系統(tǒng)的測試效率。實施例二 :圖2示出了本發(fā)明第二實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法的實現(xiàn)流程，詳述如下在步驟S201中，對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器。在本發(fā)明實施例中，預(yù)先對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器，從而提高測試系統(tǒng)的測試效率。在步驟S202中，建立并存儲測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系。在步驟S203中，進行SoC芯片的上電復(fù)位，當SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號。SoC芯片為具有一定功能的系統(tǒng)級芯片，可以包括控制邏輯模塊、微處理器/微控制器CPU內(nèi)核模塊、數(shù)字信號處理器DSP模塊、嵌入的存儲器模塊、和外部進行通訊的接口模塊以及電源提供和功耗管理模塊等，在本發(fā)明實施例中，首先在預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器 中預(yù)先設(shè)置的位置中存儲一個標識號，該標識號為本次之前一次的SoC芯片的測試用例的標識號，若本次測試為第一次對SoC芯片進行測試，則該標識號可以為預(yù)先設(shè)置的特定的標識號，例如設(shè)置為O。SoC芯片進行上電復(fù)位，對SoC芯片進行初始化，對SoC芯片復(fù)位完成后，執(zhí)行SoC芯片中的啟動代碼(Boot代碼)獲取存儲的標識號。在步驟S204中，根據(jù)標識號計算測試用例的標識號，該測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例。在本發(fā)明實施例中，在步驟S203中獲取到存儲的標識號后，根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置的計算方式計算本次測試用例的標識號，例如，加I運算或通過其它一元一次函數(shù)來計算本次測試用例的標識號，較優(yōu)地，由于測試用例在隨機存取存儲器上是順序存儲的，因此可以通過加I運算來計算本次測試用例的標識號。在步驟S205中，判斷測試用例的標識號是否為空字符，是則執(zhí)行步驟S207，否則執(zhí)行步驟S206。在步驟S206中，根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟S203。在步驟S207中，退出SoC芯片的測試，本發(fā)明實施例中，判斷步驟S204中計算得到的測試用例的標識號是否為空字符，是則退出SoC芯片的測試，退出SoC芯片的測試時，可以將SoC芯片置于正常狀態(tài)，各個組成部件供電均處于正常供電狀態(tài)，或?qū)oC芯片置于預(yù)設(shè)的狀態(tài)，在此不用以限制本發(fā)明。當標識號不為空字符，表明還有測試用例尚未測試，此時根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，為下次測試計算測試用例的標識號提供條件，寫入后自動進行SoC芯片的上電復(fù)位，即跳轉(zhuǎn)至步驟S203繼續(xù)執(zhí)行測試用例。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如R0M/RAM、磁盤、光盤等。實施例三:圖3示出了本發(fā)明第三實施例提供的SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。該SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)可以用于測試SoC芯片的空閑狀態(tài)功能的測試平臺中，或者具有SoC芯片的空閑狀態(tài)測試的SoC測試裝置中，可以是運行于這些SoC測試裝置內(nèi)的軟件單元，也可以作為獨立的掛件集成到這些SoC測試裝置中或者運行于這些SoC測試裝置的應(yīng)用系統(tǒng)中，其中測試用例編譯單元31對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器。在本發(fā)明實施例中，預(yù)先對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器，從而提高測試系統(tǒng)的測試效率。對應(yīng)關(guān)系建立單元32建立并存儲測試用例編譯單元31編譯后的測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系。標識號獲取單元33進行SoC芯片的上電復(fù)位，當SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號。 SoC芯片為具有一定功能的系統(tǒng)級芯片，可以包括控制邏輯模塊、微處理器/微控制器CPU內(nèi)核模塊、數(shù)字信號處理器DSP模塊、嵌入的存儲器模塊、和外部進行通訊的接口模塊以及電源提供和功耗管理模塊等，在本發(fā)明實施例中，首先在預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中預(yù)先設(shè)置的位置中存儲一個標識號，該標識號為本次之前一次的SoC芯片的測試用例的標識號，若本次測試為第一次對SoC芯片進行測試，則該標識號可以為預(yù)先設(shè)置的特定的標識號，例如設(shè)置為O。SoC芯片進行上電復(fù)位，對SoC芯片進行初始化，對SoC芯片復(fù)位完成后，執(zhí)行SoC芯片中的啟動代碼(Boot代碼)獲取存儲的標識號。標識號計算單元34根據(jù)標識號獲取單元33獲取的標識號計算測試用例的標識號，該測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例。在本發(fā)明實施例中，在步驟S203中獲取到存儲的標識號后，根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置的計算方式計算本次測試用例的標識號，例如，加I運算或通過其它一元一次函數(shù)來計算本次測試用例的標識號，較優(yōu)地，由于測試用例在隨機存取存儲器上是順序存儲的，因此可以通過加I運算來計算本次測試用例的標識號。具體地，標識號計算單元34包括有標識號計算子單341，標識號計算子單341用于對標識號獲取單元33獲取的標識號進行加I運算，將運算結(jié)果作為測試用例的標識號。標識號判斷單元35判斷標識號計算單元34計算得到的測試用例的標識號是否為
空字符。測試單元36當測試用例的標識號不為空字符時，根據(jù)測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入前述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置中。退出單元37當測試用例的標識號為空字符時，退出SoC芯片的測試。本發(fā)明實施例在對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例進行測試時，通過SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號，根據(jù)該標識號計算測試用例的標識號，根據(jù)測試用例的標識號與測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，循環(huán)執(zhí)行直至測試用例全部被測試，從而實現(xiàn)對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例的批量測試，提高測試系統(tǒng)的測試效率，減少了數(shù)據(jù)的處理量。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改 、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟 A、進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號； B、根據(jù)所述標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為所述SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例； C、判斷所述測試用例的標識號是否為空字符，是則退出所述SoC芯片的測試，否則根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟A。
2.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，在所述步驟C之前，所述方法還包括下述步驟 對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器。
3.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，在所述步驟C之前，所述方法還包括下述步驟 建立并存儲測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系。
4.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述步驟B具體為 對步驟A中獲取的標識號進行加I運算，將運算結(jié)果作為測試用例的標識號，所述測試用例為所述SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例。
5.一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括 標識號獲取單元，用于進行SoC芯片的上電復(fù)位，當所述SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號； 標識號計算單元，用于根據(jù)所述標識號獲取單元獲取的標識號計算測試用例的標識號，所述測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例； 標識號判斷單元，用于判斷所述標識號計算單元計算得到的測試用例的標識號是否為空字符； 退出單元，用于當測試用例的標識號為空字符時，退出SoC芯片的測試；以及測試單元，用于當測試用例的標識號不為空字符時，根據(jù)所述測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系獲取所述測試用例的地址，執(zhí)行所述測試用例，測試完成后將所述測試用例的標識號寫入所述預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置。
6.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 測試用例編譯單元，用于對待測試的測試用例進行編譯，將編譯后的測試用例保存到預(yù)先設(shè)置的隨機存取存儲器。
7.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 對應(yīng)關(guān)系建立單元，用于建立并存儲測試用例的標識號與所述測試用例的對應(yīng)關(guān)系。
8.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括 標識號計算子單元，用于對所述標識號獲取單元獲取的標識號進行加I運算，將運算結(jié)果作為測試用例的標識號，所述測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例。
9.一種SoC測試裝置，其特征在于，所述SoC測試裝置包括權(quán)利要求5至8任一項所述的SoC芯片的空閑 狀態(tài)測試系統(tǒng)。
全文摘要
本發(fā)明適用于嵌入式技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種SoC芯片的空閑狀態(tài)測試方法、系統(tǒng)及測試裝置，所述方法包括A、進行SoC芯片的上電復(fù)位，當SoC芯片上電復(fù)位后，從預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)位置獲取一標識號；B、計算測試用例的標識號，該測試用例為SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例；C、判斷測試用例的標識號是否為空字符，是則退出SoC芯片的測試，否則獲取測試用例的地址，執(zhí)行測試用例，測試完成后將測試用例的標識號寫入預(yù)設(shè)的隨機存取存儲器中的預(yù)設(shè)的位置，并跳轉(zhuǎn)至步驟A。本發(fā)明實現(xiàn)了對SoC芯片進入/退出空閑狀態(tài)的測試用例的批量測試，提高了測試系統(tǒng)的測試效率，減少了數(shù)據(jù)的處理量。
文檔編號G01R31/28GK102736013SQ201110090778
公開日2012年10月17日 申請日期2011年4月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月12日
發(fā)明者王恒軍, 胡勝發(fā) 申請人:安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司