專利名稱：一種片狀檢測(cè)樣品的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種片狀檢測(cè)樣品。二背景技術(shù)：
光譜分析是常用的一種能夠快速準(zhǔn)確的分析出材料中元素組成的方法，通常通過(guò)光譜分析儀來(lái)完成。但光譜分析儀對(duì)樣品的規(guī)格有特殊的要求。例如GB/T7999-2007對(duì)樣品要求是長(zhǎng)38 42mm，寬33 37mm，高2(T30mm的方柱體樣品或直徑35 60mm，高2(T30mm 的圓柱體樣品。為了確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確，一般還要先用車床將待測(cè)面上的氧化層去掉，形成光潔平面后，再用光譜儀分析。但一些帶、片狀的樣品，例如只有廣2mm厚的母線軟帶或薄鋁板等鋁材，由于無(wú)法滿足上述規(guī)格要求，不能直接用光譜儀分析，只能通過(guò)重熔后，塑成上述規(guī)格后再分析，而重熔不但會(huì)造成熔融損失和環(huán)境污染，一些沸點(diǎn)較低的元素也會(huì)發(fā)生損失，直接影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。三、發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)合理，可以直接用光譜分析儀進(jìn)行分析，無(wú)需重熔的片狀檢測(cè)樣品。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為該樣品包括片狀樣品，其特點(diǎn)是在片狀樣品的下面粘接有符合光譜儀規(guī)格要求的底座。由于本實(shí)用新型采用了符合光譜儀規(guī)格要求的底座，使得片狀樣品可以直接放入光譜分析儀中進(jìn)行分析，并可以如方柱體或圓柱體樣品一樣用車床對(duì)待測(cè)面進(jìn)行加工，去除待測(cè)面上的氧化層，形成光潔平面，從而保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時(shí)，還避免了重熔所造成的熔融損失和環(huán)境污染。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)合理，可在各類板材、箔材的實(shí)物分析中使用，添補(bǔ)了此類分析樣品的空白，值得廣泛的推廣應(yīng)用。四
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1俯視圖。五具體實(shí)施方式
如圖所示，本實(shí)用新型包括片狀樣品1，該片狀樣品1可為母線軟帶或薄鋁板等薄片狀鋁材。在片狀試樣1的下面粘接有底座2，該底座2完全符合光譜儀規(guī)格要求，可以是長(zhǎng)38 42mm，寬33 37mm，高2(T30mm的方柱體；也可以是直徑35^60mm,高2(T30mm的圓柱體。本實(shí)施方式中采用的是圓柱體底座2。試樣1的上面為可用轉(zhuǎn)速為700左右的車床進(jìn)行加工的待測(cè)面3。本實(shí)用新型的制作過(guò)程為先將片狀樣品剪切成40mm左右的小片，然后用臺(tái)鉗子壓平，再用502膠粘接在底座2上，待完全干透即可。
權(quán)利要求1.一種片狀檢測(cè)樣品，包括片狀樣品(1 )，其特征是在片狀樣品(1)的下面粘接有符合光譜儀規(guī)格要求的底座(2 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片狀檢測(cè)樣品，其特征是所述的底座(2)為長(zhǎng) 38 42mm，寬33 37mm，高20 30mm的方柱體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片狀檢測(cè)樣品，其特征是所述的底座(2)為直徑 35"60mm,高 2(T30mm 的圓柱體。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種片狀檢測(cè)樣品，包括片狀樣品，在片狀樣品的下面粘接有符合光譜儀規(guī)格要求的底座。由于本實(shí)用新型采用了符合光譜儀規(guī)格要求的底座，使得片狀樣品可以直接放入光譜分析儀中進(jìn)行分析，并可以如方柱體或圓柱體樣品一樣用車床對(duì)待測(cè)面進(jìn)行加工，去除待測(cè)面上的氧化層，形成光潔平面，從而保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時(shí)，還避免了重熔所造成的熔融損失和環(huán)境污染。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)合理，可在各類金屬板材、箔材的實(shí)物分析中使用，添補(bǔ)了此類分析樣品的空白，值得廣泛的推廣應(yīng)用。
文檔編號(hào)G01N21/01GK202033281SQ20112006056
公開(kāi)日2011年11月9日 申請(qǐng)日期2011年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月10日
發(fā)明者吳玉春, 段云龍, 湯振明, 計(jì)春雷, 金正哲 申請(qǐng)人:撫順?shù)X業(yè)有限公司