專(zhuān)利名稱(chēng)：發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，涉及阻抗測(cè)試儀，尤其是涉及一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
目前測(cè)量發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗是判斷轉(zhuǎn)子繞組是否有匝間短路的有效辦法，當(dāng)發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組出現(xiàn)匝間短路，轉(zhuǎn)子繞組有效匝數(shù)就會(huì)減小，其交流阻抗就會(huì)減小，損耗會(huì)有所增大。所以國(guó)標(biāo)規(guī)定做轉(zhuǎn)子交流阻抗試驗(yàn)，測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組交流阻抗和功率損耗，與歷次試驗(yàn)數(shù)據(jù)相比較。由于測(cè)量發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗需要電流表、電壓表、功率表、頻率表等較多儀表，所以接線(xiàn)很繁瑣，容易接錯(cuò)線(xiàn)造成財(cái)產(chǎn)損失。而且測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試人員要手動(dòng)記錄不同電壓下的各種數(shù)據(jù)，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，勞動(dòng)強(qiáng)度大。為此，人們進(jìn)行了長(zhǎng)期的探索，提出了各種各樣的解決方案。例如，中國(guó)專(zhuān)利文獻(xiàn)公開(kāi)了一種高精度交流阻抗測(cè)試裝置[申請(qǐng)?zhí)?01020597688. 3]，包括一微處理器，微處理器連接有正弦波發(fā)生器、人機(jī)交互裝置、顯示裝置、外接通訊接口、標(biāo)準(zhǔn)電阻輸出電路和被測(cè)電阻輸出電路；標(biāo)準(zhǔn)電阻輸出電路包括依次連接的標(biāo)準(zhǔn)交流電阻器、第一程控交流放大器、第一相敏檢波器、第一 A/D轉(zhuǎn)換器；被測(cè)電阻輸出電路包括依次連接的被測(cè)交流電阻、第二程控交流放大器、第二相敏檢波器、第二 A/D轉(zhuǎn)換器；微處理器分別通過(guò)兩個(gè)程控開(kāi)關(guān)控制標(biāo)準(zhǔn)電阻器和被測(cè)電阻，微處理器分別控制兩個(gè)程控交流放大器和兩個(gè)相敏檢波器，標(biāo)準(zhǔn)電阻器和被測(cè)電阻串聯(lián)連接，兩個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器的輸出端分別輸出到微處理器。上述方案在一定程度上提高了測(cè)試的精度，但是存在著結(jié)構(gòu)復(fù)雜，制造成本高，操作使用不夠方便，功能不夠完善等技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對(duì)上述問(wèn)題，提供一種功能完善，接線(xiàn)簡(jiǎn)單，操作使用方便，自動(dòng)化程度高，工作可靠性好的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用了下列技術(shù)方案本發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，本測(cè)試儀包括信號(hào)處理電路，在信號(hào)處理電路上連接有采樣電路，所述的采樣電路與中央處理器相連，在中央處理器上連接有顯示屏、打印機(jī)、控制信號(hào)輸入裝置和通訊模塊。本實(shí)用新型集成了電壓、電流、功率、頻率采集和顯示功能。接線(xiàn)簡(jiǎn)單，操作簡(jiǎn)便， 不需要手工計(jì)算，縮短測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試的可靠性。中央處理器通對(duì)過(guò)采集的數(shù)據(jù)FFT 變換，計(jì)算出電壓、電流有效值和電壓、電流之間的夾角，從而計(jì)算出有功功率。再通過(guò)公式計(jì)算出電機(jī)轉(zhuǎn)子交流的阻抗。中央處理器通過(guò)與用戶(hù)設(shè)置的保護(hù)電流、電壓閥值比較來(lái)確定是否切斷測(cè)量回路，中央處理器把有用數(shù)據(jù)保存在非易失性存儲(chǔ)器中，避免測(cè)試人員手動(dòng)記錄，從而實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)采集，簡(jiǎn)化操作的目的。在上述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀中，所述的采樣電路為16位雙通道A/D轉(zhuǎn)換芯片。采樣頻率25KHZ，可對(duì)50HZ的工頻信號(hào)實(shí)現(xiàn)每周波500點(diǎn)的采樣率。在上述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀中，所述的顯示屏為液晶顯示屏，所述的中央處理器為32位CorteX-M3高性能低功耗微處理器。在上述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀中，所述的通訊模塊包括RS232接口和USB 接口中的任意一種或兩者的組合。在上述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀中，所述的信號(hào)處理電路包括電壓互感器、 電流互感器運(yùn)算放大器和比較器。采樣的電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)精密電壓互感器把高壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為低壓信號(hào)，再經(jīng)過(guò)精密運(yùn)算放大器驅(qū)動(dòng)整形。采樣的電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)精密電流互感器把大電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為小電流信號(hào)，再經(jīng)過(guò)運(yùn)算放大器轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)。與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)在于設(shè)計(jì)合理，布局合理，功能完善，接線(xiàn)簡(jiǎn)單，操作使用方便，自動(dòng)化程度高，工作可靠性好。

圖I是本實(shí)用新型提供的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中，信號(hào)處理電路I、采樣電路2、中央處理器3、顯示屏4、打印機(jī)5、控制信號(hào)輸入裝置6、通訊模塊7。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀包括信號(hào)處理電路1，在信號(hào)處理電路 I上連接有采樣電路2，所述的采樣電路2與中央處理器3相連，在中央處理器3上連接有顯示屏4、打印機(jī)5、控制信號(hào)輸入裝置6和通訊模塊7。采樣電路2為16位雙通道A/D轉(zhuǎn)換芯片。顯示屏4為液晶顯示屏，所述的中央處理器3為32位Cortex-M3高性能低功耗微處理器。通訊模塊7包括RS232接口和USB接口中的任意一種或兩者的組合。信號(hào)處理電路I包括電壓互感器、電流互感器運(yùn)算放大器和比較器。本文中所描述的具體實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型精神作舉例說(shuō)明。本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)所描述的具體實(shí)施例做各種各樣的修改或補(bǔ)充或采用類(lèi)似的方式替代，但并不會(huì)偏離本實(shí)用新型的精神或者超越所附權(quán)利要求書(shū)所定義的范圍。盡管本文較多地使用了信號(hào)處理電路I、采樣電路2、中央處理器3、顯示屏4、打印機(jī)5、控制信號(hào)輸入裝置6、通訊模塊7等術(shù)語(yǔ)，但并不排除使用其它術(shù)語(yǔ)的可能性。使用這些術(shù)語(yǔ)僅僅是為了更方便地描述和解釋本實(shí)用新型的本質(zhì)；把它們解釋成任何一種附加的限制都是與本實(shí)用新型精神相違背的。
權(quán)利要求1.一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，本測(cè)試儀包括信號(hào)處理電路(1)，在信號(hào)處理電路(I)上連接有采樣電路(2)，所述的采樣電路(2)與中央處理器(3)相連，在中央處理器(3)上連接有顯示屏(4)、打印機(jī)(5)、控制信號(hào)輸入裝置(6)和通訊模塊(7)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，所述的采樣電路(2)為16位雙通道A/D轉(zhuǎn)換芯片。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，所述的顯示屏(4)為液晶顯示屏，所述的中央處理器(3)為32位Cortex-M3高性能低功耗微處理器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，所述的通訊模塊(7)包括RS232接口和USB接口中的任意一種或兩者的組合。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀，其特征在于，所述的信號(hào)處理電路(I)包括電壓互感器、電流互感器運(yùn)算放大器和比較器。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型屬于測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，涉及阻抗測(cè)試儀，尤其是涉及一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀。它解決了現(xiàn)有技術(shù)設(shè)計(jì)不夠合理等技術(shù)問(wèn)題。本測(cè)試儀包括信號(hào)處理電路，在信號(hào)處理電路上連接有采樣電路，所述的采樣電路與中央處理器相連，在中央處理器上連接有顯示屏、打印機(jī)、控制信號(hào)輸入裝置和通訊模塊。與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)在于設(shè)計(jì)合理，布局合理，功能完善，接線(xiàn)簡(jiǎn)單，操作使用方便，自動(dòng)化程度高，工作可靠性好。
文檔編號(hào)G01R27/02GK202351325SQ201120433538
公開(kāi)日2012年7月25日 申請(qǐng)日期2011年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月3日
發(fā)明者張韜, 田俊偉 申請(qǐng)人:杭州高電科技有限公司