專利名稱：一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電容觸摸屏，特別是涉及一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法及其移動(dòng)終端。
背景技術(shù)：
電容觸摸屏一般是由多條發(fā)送通道(X軸)和多條接收通道(Y軸)交叉分布形成一個(gè)電容矩陣，當(dāng)手指觸摸屏幕時(shí)，通過X、Y軸的掃描，檢測(cè)到觸摸位置的電容變化，從而計(jì)算出觸摸點(diǎn)坐標(biāo)。當(dāng)沒有手指觸摸時(shí)，電容矩陣中的每一個(gè)點(diǎn)都存在一個(gè)基準(zhǔn)電容值。正常情況下，一款觸摸屏的電容矩陣基準(zhǔn)值是固定在一個(gè)范圍以內(nèi)的，矩陣中每個(gè)點(diǎn)的基準(zhǔn)值都有一個(gè)上限和下限，如果基準(zhǔn)值超出上限或下限，我們則判定觸摸屏這個(gè)點(diǎn)有問題。
目前對(duì)于單體觸摸屏的測(cè)試，一般都有專用的測(cè)試治具，能夠快速檢測(cè)觸摸屏是否正常。但是當(dāng)觸摸屏組裝到整機(jī)上時(shí)，單體觸摸屏測(cè)試治具已經(jīng)無法使用。一般廠家在生產(chǎn)線整機(jī)測(cè)試觸摸屏或者實(shí)驗(yàn)環(huán)境下批量測(cè)試整機(jī)觸摸屏?xí)r，會(huì)采用實(shí)際觸摸操作(t匕如劃線)來檢測(cè)觸摸屏是否正常。這種測(cè)試方法測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，并且無法保證測(cè)試到觸摸屏每一個(gè)點(diǎn)，容易產(chǎn)生漏測(cè)、誤測(cè)等現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法及其移動(dòng)終端，采用在設(shè)備終端讀取觸摸屏電容矩陣每個(gè)點(diǎn)電容基準(zhǔn)值的辦法，根據(jù)在整機(jī)中設(shè)置好的上下限，判斷觸摸屏是否正常，這種方法測(cè)試速度快，測(cè)試準(zhǔn)確度高。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是，一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，所述方法應(yīng)用于移動(dòng)終端，包括以下步驟
步驟I、設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存；
步驟2、進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU;
步驟3、將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較；
步驟4、顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。進(jìn)一步的，步驟I所述的觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值為矩陣形式，且為兩個(gè)二維矩陣，一個(gè)上限值矩陣，一個(gè)下限值矩陣，上限值矩陣或下限值矩陣中每個(gè)值對(duì)應(yīng)電容觸摸屏發(fā)送與接收通道交叉處電容值上限或下限。進(jìn)一步的，步驟2所述的CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC，且觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU是CPU通過I2C、SPI通訊接口與觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC相互通訊實(shí)現(xiàn)的。進(jìn)一步的，步驟2所述的讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為二維矩陣，且讀取電容觸摸屏上所有的電容矩陣基準(zhǔn)值。進(jìn)一步的，將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較包括設(shè)置電容觸摸屏的基準(zhǔn)值的上限數(shù)值為MAX[X] [Y]，下限數(shù)值為MIN[X] [Y]，讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為M[X] [Y]，X、Y表示觸摸屏的發(fā)送和接收通道數(shù)，MAX [X] [Y]、MIN[X][Y]為二維矩陣的其中一個(gè)數(shù)值；
MIN[X] [Y]〈M[X] [Y] <MAX[X] [Y]則為該電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，否則不在正常范圍以內(nèi)。進(jìn)一步的，所述的比較結(jié)果包括
若觸摸屏所有的電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是良品，若存在一個(gè)電容矩陣基準(zhǔn)值不在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是不良品。一種所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試系統(tǒng)，包括
上下限設(shè)置模塊，用于設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存在系統(tǒng)CPU 中；
電容矩陣基準(zhǔn)值獲取模塊，用于在進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU，CPU傳送給判斷模塊；
判斷模塊，用于將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較，并將結(jié)果傳送給執(zhí)行模塊；
執(zhí)行模塊，用于顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是在整機(jī)觸摸屏測(cè)試項(xiàng)中，讀取觸摸屏電容矩陣中每個(gè)點(diǎn)的基準(zhǔn)值，判斷是否在正常范圍以內(nèi)，從而判斷觸摸屏是否正常，測(cè)試速度快，準(zhǔn)確度高。


圖I為本發(fā)明的方法流程 圖2為本發(fā)明的二維矩陣分布 圖3為本發(fā)明的發(fā)送和接收通道結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合實(shí)施例參照附圖進(jìn)行詳細(xì)說明，以便對(duì)本發(fā)明的技術(shù)特征及優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行更深入的詮釋。本發(fā)明的方法流程圖如圖I所示，一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，所述方法應(yīng)用于移動(dòng)終端，包括以下步驟
步驟I、設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存；
步驟2、進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU;
步驟3、將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較；
步驟4、顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。進(jìn)一步的，步驟I所述的觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值為矩陣形式，且為兩個(gè)二維矩陣，一個(gè)上限值矩陣，一個(gè)下限值矩陣，上限值矩陣或下限值矩陣中每個(gè)值對(duì)應(yīng)電容觸摸屏發(fā)送與接收通道交叉處電容值上限或下限。如圖2所示，這里面所提到的上下限矩陣是指兩個(gè)二維矩陣，一個(gè)上限矩陣，一個(gè)下限矩陣。電容觸摸屏的發(fā)送通道和接收通道如下圖所示(x為發(fā)送通道，Y為接收通道)。發(fā)送通道(X軸)和接收通道(Y軸)交叉分布形成一個(gè)電容矩陣，電容矩陣中的每一個(gè)值對(duì)應(yīng)其中一條X軸和其中一條Y軸交叉點(diǎn)的電容值。例如矩陣中第二行第三列的數(shù)值就表示X2與Y3交叉點(diǎn)的電容值。MIN [X] [Y]、MAX [X] [Y]是M行N列的矩陣。本發(fā)明的發(fā)送和接收通道結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示，X為發(fā)送通道，發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)，比如一定頻率的正弦波或方波'Y為接收通道，由于發(fā)送通道驅(qū)動(dòng)信號(hào)的影響，發(fā)送通道與接收通道交叉處會(huì)存在耦合電容，接收通道感應(yīng)耦合電容大小，具體是將耦合電容轉(zhuǎn)換為電壓或電流信號(hào)經(jīng)IC內(nèi)部ADC處理后，變成數(shù)字信號(hào)。進(jìn)一步的，步驟2所述的CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC，且觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU是CPU通過I2C、SPI通訊接口與觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC相互通訊實(shí)現(xiàn)的。 進(jìn)一步的，步驟2所述的讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為二維矩陣，且讀取電容觸摸屏上所有的電容矩陣基準(zhǔn)值。進(jìn)一步的，將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較包括
設(shè)置電容觸摸屏的基準(zhǔn)值的上限數(shù)值為MAX[X] [Y]，下限數(shù)值為MIN[X] [Y]，讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為M[X] [Y]，X、Y表示觸摸屏的發(fā)送和接收通道數(shù)，MAX [X] [Y]、MIN[X][Y]為二維矩陣的其中一個(gè)數(shù)值；
MIN[X] [Y]〈M[X] [Y] <MAX[X] [Y]則為該電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，否則不在正常范圍以內(nèi)。進(jìn)一步的，所述的比較結(jié)果包括
若觸摸屏所有的電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是良品，若存在一個(gè)電容矩陣基準(zhǔn)值不在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是不良品。一種所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試系統(tǒng)，包括
上下限設(shè)置模塊，用于設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存在系統(tǒng)CPU
中；
主要是將觸摸屏模組廠家提供的上下限數(shù)值寫入到手機(jī)軟件中，上下限數(shù)值由一個(gè)上限矩陣MAX[X] [Y]和一個(gè)下限矩陣MIN[X] [Y]組成。上下限是固化的程序里面的，每次觸摸屏測(cè)試時(shí)，都調(diào)用這個(gè)上下限數(shù)值矩陣。(X、Y表示觸摸屏的發(fā)送和接收通道數(shù)。MIN[X] [Y]、MAX[X] [Y]是M行N列的矩陣)
電容矩陣基準(zhǔn)值獲取模塊，用于在進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU，CPU傳送給判斷模塊；
此模塊主要是CPU通過I2C、SPI等通訊接口與觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC之間相互通訊，獲取電容觸摸屏的電容矩陣基準(zhǔn)值。進(jìn)入觸摸屏測(cè)試系統(tǒng)后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，要求獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，則去讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU。電容矩陣基準(zhǔn)值同樣是一個(gè)矩陣M[X] [Y]。判斷模塊，用于將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較，并將結(jié)果傳送給執(zhí)行模塊；例如M
[O]與 ΜΙΝ
[O]、ΜΑΧ
[O]進(jìn)行比較，M
[I]與 ΜΙΝ
[I] ^ MAX [O][I]進(jìn)行比較，判斷是否ΜΙΝ
< Μ

<ΜΑΧ
[O], ΜΙΝ
[I] < M
[I]<ΜΑΧ
，判斷觸摸屏所有的基準(zhǔn)值是否在正常范圍之內(nèi)。執(zhí)行模塊，用于顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。以下是實(shí)驗(yàn)觸摸屏的上下限值數(shù)值該觸摸屏有15*12個(gè)通道，上限值矩陣和下限值矩陣分別為 MAX[15] [12]、MIN[15] [12]。
權(quán)利要求
1.一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，所述方法應(yīng)用于移動(dòng)終端，包括以下步驟 步驟I、設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存； 步驟2、進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU; 步驟3、將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較； 步驟4、顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，其特征在于步驟I所述的觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值為矩陣形式，且為兩個(gè)ニ維矩陣，ー個(gè)上限值矩陣，ー個(gè)下限值矩陣，上限值矩陣或下限值矩陣中每個(gè)值對(duì)應(yīng)電容觸摸屏發(fā)送與接收通道交叉處電容值上限或下限。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，其特征在于步驟2所述的CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC，且觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU是CPU通過I2C、SPI通訊接ロ與觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC相互通訊實(shí)現(xiàn)的。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，其特征在于步驟2所述的讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為ニ維矩陣，且讀取電容觸摸屏上所有的電容矩陣基準(zhǔn)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，其特征在于，將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較包括 設(shè)置電容觸摸屏的基準(zhǔn)值的上限數(shù)值為MAX[X] [Y]，下限數(shù)值為MIN[X] [Y]，讀取的觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值為M[X] [Y]，X、Y表示觸摸屏的發(fā)送和接收通道數(shù)，MAX [X] [Y]、MIN[X][Y]為ニ維矩陣的其中一個(gè)數(shù)值； MIN[X] [Y]〈M[X] [Y] <MAX[X] [Y]則為該電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，否則不在正常范圍以內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，其特征在于，所述的比較結(jié)果包括 若觸摸屏所有的電容矩陣基準(zhǔn)值均在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是良品，若存在一個(gè)電容矩陣基準(zhǔn)值不在正常范圍以內(nèi)，則判定觸摸屏是不良品。
7.ー種根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括 上下限設(shè)置模塊，用于設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存在系統(tǒng)CPU中； 電容矩陣基準(zhǔn)值獲取模塊，用于在進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)1C，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU，CPU傳送給判斷模塊； 判斷模塊，用于將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較，并將結(jié)果傳送給執(zhí)行模塊； 執(zhí)行模塊，用于顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。
全文摘要
一種移動(dòng)終端電容觸摸屏的快速測(cè)試方法，所述方法應(yīng)用于移動(dòng)終端，包括以下步驟步驟1、設(shè)置觸摸屏電容矩陣的基準(zhǔn)值的上下限數(shù)值，并保存；步驟2、進(jìn)入電容觸摸屏測(cè)試后，CPU發(fā)命令給觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC，發(fā)出獲取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值命令，觸摸屏驅(qū)動(dòng)IC收到命令后，讀取觸摸屏電容矩陣基準(zhǔn)值，讀取完成后再將數(shù)據(jù)回傳給CPU；步驟3、將讀取的觸摸屏基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)與上下限數(shù)值進(jìn)行比較；步驟4、顯示比較結(jié)果，觸摸屏為良品或不良品。且公開了測(cè)試系統(tǒng)包括上下限設(shè)置模塊、電容矩陣基準(zhǔn)值獲取模塊、判斷模塊、執(zhí)行模塊。本發(fā)明讀取觸摸屏電容矩陣中每個(gè)點(diǎn)的基準(zhǔn)值，判斷是否在正常范圍以內(nèi)，從而判斷觸摸屏是否正常，測(cè)試速度快，準(zhǔn)確度高。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102866317SQ201210356759
公開日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2012年9月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月24日
發(fā)明者周輝 申請(qǐng)人:廣東歐珀移動(dòng)通信有限公司