專利名稱：功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型設(shè)計一種實驗室用可靠性評測裝置，具體為功率器件高溫反偏試驗裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有用于測試晶體管的高溫反偏試驗裝置由高溫烘箱、偏置板、反偏電源及其控制、顯示系統(tǒng)等部分組成。該裝置包括電源、主控制系統(tǒng)、輔助控制系統(tǒng)、計算機、顯示器、接插件、偏置板、恒溫室，集中一起，設(shè)備體積龐大，價格昂貴，對于安裝場所進門大小和高度有特殊要求，所以該裝置使用條件受到很大制約。同時由于高溫反偏性能是評估半導(dǎo)體功率器件可靠性的一項重要試驗，所以無論產(chǎn)品制造方還是用戶，工程師門都需要有一套研究開發(fā)使用的高溫反偏試驗系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容針對上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供的高溫反偏試驗系統(tǒng)，體積小，尤其適用于實驗室使用，具體的技術(shù)方案為功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)，包括烘箱、晶體管特性圖示儀、被測器件插座板，被測器件插座板通過高溫導(dǎo)線與晶體管特性圖示儀電源輸出端口連接，所述的被測試器件插座板至于烘箱內(nèi)。晶體管特性圖示儀既是反偏試驗的電源，又是反偏試驗結(jié)果的顯示裝置，被測器件插座板的底板為印刷線路板，印刷線路板上分布有高壓線和接地線，線路板上連接有被測器件保護電阻和與被測器件匹配的插座。常溫下或者高溫下，當(dāng)被測器件為肖特基二極管、快恢復(fù)二極管、雙極晶體管、金屬氧化物場效應(yīng)晶體管和絕緣柵雙極晶體管時，將被測器件插在被測器件插座板上，只要調(diào)節(jié)晶體管特性圖示儀上輸出電壓為試驗規(guī)定電壓，晶體管特性圖示儀顯示屏就會顯示被測器件的反向漏電流曲線。如果顯示屏上顯示的是直線，則表示被測器件合格，如果是曲線，則表明被測器件中存在失效的產(chǎn)品。常溫下或者高溫下，當(dāng)被測器件為穩(wěn)壓集成電路時，將被測器件插在被測器件插座板上，只要調(diào)節(jié)晶體管特性圖示儀上輸出電壓為試驗規(guī)定電壓，晶體管特性圖示儀顯示屏就會顯示被測器件的穩(wěn)壓曲線，則表示被測器件合格，如果不是穩(wěn)壓曲線，則表明被測器件中存在失效的廣品。本發(fā)明提供的小型高溫功率器件反偏試驗系統(tǒng)，體積小，操作方便，經(jīng)濟實惠。根據(jù)試驗溫度和時間，就能定性或定量評價產(chǎn)品性能指標。

圖1，本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖；圖2，本實用新型的被測器件插座板結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1，功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)，包括烘箱I、晶體管特性圖示儀2、被測器件插座板3，被測器件插座板3通過高溫導(dǎo)線4與晶體管特性圖示儀2電源輸出端口連接，如圖2所示，所述的被測器件插座板3，底板為印刷線路板3-1，印刷線路板3-1上分布有高壓線3-4和接地線3-5，線路上連接有保護電阻3-3和與被測器件匹配的插座3-2，所述的被測試器件插座板3至于帶溫度自動控制烘箱I內(nèi)。試驗時，所需要的500V至2000V的高壓偏置電壓由晶體管特性圖示儀2上的高壓輸出端2-1提供，500V以下偏置電壓由晶體管特性圖示儀2上的集電極-發(fā)射極電壓2-2提供，被測器件5按電極極性插入被測器件插座板3上，被測器件插座板3與晶體管特性圖示儀2的偏置電源的連接使用高溫導(dǎo)線4。常溫下測試D13003這樣的常用開關(guān)晶體管，將被測器件5插在被測器件插座板3上，只要調(diào)節(jié)晶體管特性圖示儀2上輸出電壓為試驗規(guī)定電壓600V反偏電壓時，反向漏電流應(yīng)該小于10 μ A，晶體管特性圖示儀顯示屏2-3就會顯示被測器件的反向漏電流曲線2-3-1直線。如果顯示的是2-3-2那樣曲線，說明該器件在規(guī)定的600V反偏電壓下，漏電流已經(jīng)嚴重超標(>> ΙΟμΑ)，則表明被測器件5中存在失效的產(chǎn)品，需要排查原因。常溫下測試正常的情況下，再將帶有被測器件5的被測器件插座板3放入烘箱I中，并將烘箱I溫度升至140°C 160°C，晶體管特性圖示上顯示屏2-3的曲線就會發(fā)生變化。對于D13003這樣的常用開關(guān)晶體管，產(chǎn)品規(guī)范是環(huán)境溫度140°C時，600V反偏漏電流小于50 μ Α,實際只有Γ3 μ Α,所以即使在140°C烘箱中，只有一個產(chǎn)品時，由于一般晶體管特性圖示議顯示靈敏度在5 μ A以上，所以在顯示屏2-3出現(xiàn)的曲線仍然如2-3-1那樣的一根直線，但是如果有幾十個到數(shù)百個產(chǎn)品并聯(lián)反偏試驗時，只要有一個產(chǎn)品反向漏電流增大或超標，在顯示屏2-3出現(xiàn)的曲線，就不是如2-3-1那樣的一根直線，而是出現(xiàn)2-3-2那樣的曲線。說明被檢測器件5中有不合格的產(chǎn)品。
權(quán)利要求1.功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)，其特征在于，包括烘箱、晶體管特性圖示儀、被測器件插座板，被測器件插座板通過高溫導(dǎo)線與晶體管特性圖示儀電源輸出端口連接，所述的被測試器件插座板置于烘箱內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述的被測器件插座板的底板為印刷線路板，印刷線路板上分布有高壓線和接地線，線路板上連接有被測器件保護電阻和與被測器件匹配的插座。
專利摘要本實用新型涉及一種實驗室用功率器件可靠性評測裝置，具體為功率器件高溫反偏試驗系統(tǒng)。其特征在于，包括烘箱、晶體管特性圖示儀、被測器件插座板，晶體管特性圖示儀既是反偏試驗的電源，又是反偏試驗結(jié)果的顯示裝置，被測器件插座板通過高溫導(dǎo)線與晶體管特性圖示儀電源輸出端口連接，所述的被測試器件插座板至于烘箱內(nèi)。本實用新型提供的小型高溫反偏試驗系統(tǒng)，體積小，操作方便，經(jīng)濟實惠。根據(jù)試驗溫度和時間，就能定性或定量評價產(chǎn)品性能指標。
文檔編號G01R31/26GK202631688SQ20122020968
公開日2012年12月26日 申請日期2012年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月11日
發(fā)明者趙振華 申請人:無錫羅姆半導(dǎo)體科技有限公司, 趙振華