一種測定樣品濁點的方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種測定樣品濁點的方法。該方法利用集成CCD相機的顯微鏡觀察拍攝測試樣品在不同溫度下的數(shù)字圖像，通過測定各數(shù)字圖像的平均灰度值而計算出所對應(yīng)溫度下該樣品的光學(xué)透過率，該光學(xué)透過率隨溫度的變化線中光學(xué)透過率開始下降處所對應(yīng)的溫度即為該樣品的濁點。與現(xiàn)有的測定樣品濁點的目測法相比，該方法在測定樣品濁點時能夠很大程度上減小由于人眼觀測而造成的誤差，提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
【專利說明】—種測定樣品濁點的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于材料檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種測定樣品濁點的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]透明樣品在一定條件下開始出現(xiàn)渾濁的溫度稱為該樣品的濁點。如油類、清漆等液體樣品由透明溶液狀態(tài)下逐漸冷卻，至一定溫度出現(xiàn)渾濁，這一溫度即為該液體樣品的濁點。非離子型表面活性劑在水溶液中的溶解度隨溫度上升而降低，從透明溶液狀態(tài)下逐漸升溫，至一定溫度出現(xiàn)渾濁，這一溫度即為該表面活性劑的濁點。此外，有些高分子溶液或高分子混合物在一定條件下呈均相透明狀態(tài)，隨著溫度的降低或升高，至一定溫度逐漸變渾濁，這一溫度也稱為該物質(zhì)的濁點。
[0003]目前，濁點的測量方法普遍采用目測法，即:將樣品置于試管或燒杯中，插入溫度計，放置于水浴或油浴中，調(diào)節(jié)溫度使樣品處于透明狀態(tài)，然后逐漸緩慢降溫或升溫，觀察樣品變化，當(dāng)至一定溫度樣品開始出現(xiàn)渾濁，這一溫度即為該樣品的濁點。這種方法對人眼有較高的依賴性，尤其對于某些高分子溶液或高分子共混物樣品，由均相透明狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)闇啙釥顟B(tài)比較緩慢，因而均相透明狀態(tài)和渾濁狀態(tài)的界限不是很明顯，濁點的定位就相對困難。同時由于人眼具有個體差異，采用目測法測定濁點在精確度上難以達到理想效果。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的技術(shù)目的是針對目測法測定樣品濁點時的不足，提出一種測定樣品濁點的新方法，該方法具有較高的測試準(zhǔn)確性。
[0005]本發(fā)明實現(xiàn)上述目的所采用的技術(shù)方案為:一種測定樣品濁點的方法，包括以下步驟:
[0006]步驟1:將待測樣品置于溫度可控的樣品池中，利用集成CCD (charge-coupledDevice)相機的顯微鏡對樣品進行觀察拍攝，具體為:首先，調(diào)節(jié)顯微鏡參數(shù)以及CCD相機參數(shù)，并且固定這些參數(shù)；然后，調(diào)節(jié)樣品池溫度為不同值，在該溫度調(diào)節(jié)過程中，集成CCD相機的顯微鏡對樣品進行觀察拍攝，并用圖像捕捉軟件獲取樣品在不同溫度條件下的數(shù)字圖像；
[0007]步驟2:對所述的數(shù)字圖像進行分析，測定不同溫度條件下數(shù)字圖像的平均灰度值& ;然后通過以下公式計算出不同溫度條件下樣品的光學(xué)透過率τ i:
[0008]
【權(quán)利要求】
1.一種測定樣品濁點的方法，其特征是:包括以下步驟: 步驟1:將待測樣品置于溫度可控的樣品池中，利用集成CCD相機的顯微鏡對樣品進行觀察拍攝，具體為:首先，調(diào)節(jié)顯微鏡參數(shù)和CCD相機參數(shù)，并固定該參數(shù)；然后，調(diào)節(jié)樣品池溫度為不同值，在該溫度調(diào)節(jié)過程中，集成CCD相機的顯微鏡對樣品進行觀察拍攝，并且用圖像捕捉軟件獲取樣品在不同溫度條件下的數(shù)字圖像； 步驟2:對所述的數(shù)字圖像進行分析，測定不同溫度條件下數(shù)字圖像的平均灰度值Gi ；然后通過以下公式計算出不同溫度條件下樣品的光學(xué)透過率T1:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定樣品濁點的方法，其特征是:所述步驟I中的待測樣品包括油類、清漆類、非離子型表面活性劑、高分子溶液、高分子共混物。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定樣品濁點的方法，其特征是:所述的步驟I中，顯微鏡的參數(shù)包括焦距、光圈大小、光源強度，CCD相機的參數(shù)包括曝光強度、曝光時間、增益。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定樣品濁點的方法，其特征是:所述的步驟2中，每張數(shù)字圖像的平均灰度值Gi由圖像處理軟件測定得出。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一權(quán)利要求所述的測定樣品濁點的方法，其特征是:所述步驟3中，變化線中樣品的光學(xué)透過率開始下降的位置為該變化線中光學(xué)透過率下降前后所對應(yīng)的兩段趨勢線的切線的交點。
【文檔編號】G01N25/02GK103529069SQ201310505206
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月22日
【發(fā)明者】莫高明, 張若愚, 王艷菲, 楊建行 申請人:中國科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所