一種amt系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于機(jī)動車AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)【技術(shù)領(lǐng)域】，具體提供了一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的溫度；對非通電狀態(tài)試驗(yàn)樣品以及需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品各自的試驗(yàn)方法要求進(jìn)行功能檢測；試驗(yàn)祥品在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)且采用高氣流速度循環(huán)；本試驗(yàn)是以溫度作為一個主要的考量點(diǎn)，對被檢對象AMT系統(tǒng)進(jìn)行測試，試驗(yàn)條件為環(huán)境溫度25±5℃；交流電源電壓220±2V50Hz；交流電源電壓380±2V50Hz；氣壓值為當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸１驹囼?yàn)主要針對其硬件和機(jī)械機(jī)構(gòu)方面進(jìn)行試驗(yàn)，確保了AMT系統(tǒng)在經(jīng)過設(shè)定低溫貯存一定時間后能正常工作。
【專利說明】一種AMT系統(tǒng)低溫!^存試驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于機(jī)動車AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)主要是檢測那些要求在整個溫度環(huán)境下都要通電運(yùn)行的設(shè)備。溫度環(huán)境試驗(yàn)要達(dá)到以下主要試驗(yàn)?zāi)康?
a)試驗(yàn)結(jié)果指導(dǎo)AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)；
b)僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)行、運(yùn)輸或貯存的能力。
[0003]低溫貯存試驗(yàn)?zāi)康?
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行AMT系統(tǒng)產(chǎn)品、組件或元器件試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法。
[0005]為此，本發(fā)明提供了一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，所述試驗(yàn)方法為:
將試駿樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的逐步升溫至_40±2°C溫度；當(dāng)非通電狀態(tài)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的72±2小時時間。對于試驗(yàn)時需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品，應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度2小時后達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測，并進(jìn)行記錄；
試驗(yàn)祥品在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)；
本試驗(yàn)采用高氣流速度循環(huán)；
所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> [0006]上述試驗(yàn)條件具體為:
a)環(huán)境溫度25°C ；
b)交流電源電壓220V50Hz；
c)交流電源電壓380V50HZ；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> [0007]上述試驗(yàn)設(shè)備要求為:
所述試驗(yàn)箱型號為:GDW/LX-010L，其性能指標(biāo)如下:
a)溫度范圍:-40°C~+150°C ； b)溫度波動度:±0.5°C ；
c)溫度均勻度:±2°C；
d)降溫速率:0.TC?I。。；
e)升溫速率:2°C?3°C ;
f)噪音:Db< 65 ；
g)電源:AC380V/50Hz；
h)工作尺寸:1000X1000X 1000。
[0008]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的這種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，所述試驗(yàn)方法為:
將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的逐步升溫至_40±2°C溫度；當(dāng)非通電狀態(tài)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的72±2小時時間。對于試驗(yàn)時需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品，應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度2小時后達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測，并進(jìn)行記錄；
試驗(yàn)祥品在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)；
本試驗(yàn)采用高氣流速度循環(huán)；
所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> [0009]本試驗(yàn)是以溫度作為一個主要的考量點(diǎn)，對被檢對象AMT系統(tǒng)進(jìn)行測試，試驗(yàn)條件為環(huán)境溫度25±5°C;交流電源電壓220±2V50Hz ;交流電源電壓380±2V50Hz ;氣壓值為當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮?。本試?yàn)主要針對其硬件和機(jī)械機(jī)構(gòu)方面進(jìn)行試驗(yàn)，確保了 AMT系統(tǒng)在經(jīng)過設(shè)定低溫貯存一定時間后能正常工作。
【具體實(shí)施方式】
[0010]實(shí)施例1:
一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，所述試驗(yàn)方法為:
將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的逐步升溫至_40±2°C溫度；當(dāng)非通電狀態(tài)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的72±2小時時間。對于試驗(yàn)時需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品，應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度2小時后達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測，并進(jìn)行記錄；
試驗(yàn)祥品在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)；
本試驗(yàn)采用高氣流速度循環(huán)；
所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮?。[0011]本試驗(yàn)是以溫度作為一個主要的考量點(diǎn)，對被檢對象AMT系統(tǒng)進(jìn)行測試，試驗(yàn)條件為環(huán)境溫度25±5°C;交流電源電壓220±2V50Hz ;交流電源電壓380±2V50Hz ;氣壓值為當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮?。本試?yàn)主要針對其硬件和機(jī)械機(jī)構(gòu)方面進(jìn)行試驗(yàn)，確保了 AMT系統(tǒng)在經(jīng)過設(shè)定低溫貯存一定時間后能正常工作。
[0012]本試驗(yàn)適用范圍
本試驗(yàn)大綱適用于陜西國力信息技術(shù)有限公司設(shè)計(jì)開發(fā)的AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的溫度環(huán)境試驗(yàn)，它規(guī)定了試驗(yàn)要求和必要的試驗(yàn)程序。
[0013]本試驗(yàn)大綱的目的是AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境應(yīng)力失效的依據(jù)。
[0014]引用標(biāo)準(zhǔn)和文件
GB2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(GB/T 2423.22-2002， IEC 60068-2-14:1984， IDT)
GB/T2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(GB/T 2424.1-2005，IEC 60068-3-1:1974， IDT)
GB/T2424.5-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T 2424.5-2006，IEC 60068-3-5: 2001， IDT)
IEC 60721 (所有部分)環(huán)境條件分級 試驗(yàn)數(shù)據(jù)的收集、記錄和處理要求
試驗(yàn)數(shù)據(jù)真實(shí)性是試驗(yàn)數(shù)據(jù)、現(xiàn)場數(shù)據(jù)，所記錄的數(shù)據(jù)必須如實(shí)反映數(shù)據(jù)收集對象的實(shí)際狀況，特別是對于故障的描述，必須真實(shí)，不能隱瞞不報。對于系統(tǒng)在不同試驗(yàn)過程中故障的時機(jī)、原因、故障現(xiàn)象及其造成的影響等均應(yīng)進(jìn)行如實(shí)記錄。
[0015]數(shù)據(jù)的真實(shí)性是其正確性的前提，只有對被試驗(yàn)系統(tǒng)的試驗(yàn)狀態(tài)進(jìn)行如實(shí)的記錄和描述，才有助于準(zhǔn)確判斷問題，不能憑主觀意志對數(shù)據(jù)進(jìn)行推斷、猜測和取舍。由于技術(shù)水平及其它條件的限制，對故障的真實(shí)記錄不等于準(zhǔn)確記錄，它還有待于進(jìn)一步的分析和判斷。
[0016]連續(xù)性是對可靠性數(shù)據(jù)的基本要求。對于每一項(xiàng)試驗(yàn)，應(yīng)完整記錄試驗(yàn)過程中所有事件發(fā)生的事件和經(jīng)歷的過程，如系統(tǒng)(設(shè)備)的每一次開機(jī)、關(guān)機(jī)時間、故障時間、終止工作時間等。
[0017]為了充分利用可靠性數(shù)據(jù)對系統(tǒng)進(jìn)行可靠性評估，要求所收集的可靠性數(shù)據(jù)應(yīng)盡量可能完整，即對某次故障維修(維護(hù))事件的發(fā)生，包括系統(tǒng)在故障之后的相關(guān)設(shè)備或部件送修、報廢以及降功能使用等各種情況都應(yīng)進(jìn)行詳細(xì)記錄，這樣才有利于對系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行全面分析和綜合評估，也有利于對系統(tǒng)更好地制定監(jiān)控及維護(hù)措施。
[0018]試驗(yàn)質(zhì)量保證措施
a)研制小組確定AMT系統(tǒng)產(chǎn)品參數(shù)和功能并編制檢測記錄單；對試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得出結(jié)論。
[0019]b)試驗(yàn)人員確定試驗(yàn)設(shè)備的完好性并在校檢期內(nèi)；按試驗(yàn)方案實(shí)施試驗(yàn)；試驗(yàn)過程對產(chǎn)品進(jìn)行檢查和記錄(數(shù)據(jù)記錄要求見第12章)；對試驗(yàn)過程中發(fā)生故障應(yīng)保持原狀態(tài)，待故障分析后并排除后恢復(fù)試驗(yàn)狀態(tài)。[0020]c)質(zhì)量控制人員應(yīng)參與試驗(yàn)大綱的編制，確定試驗(yàn)過程監(jiān)控點(diǎn)，檢查試驗(yàn)數(shù)據(jù)的真實(shí)性、準(zhǔn)確性、連續(xù)性、完整性。
[0021]d)試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)在校檢期內(nèi)，測試軟件版本為最新版本(由質(zhì)量控制人員從軟件管理庫中提取，并由試驗(yàn)人員裝訂)。
[0022]終止或暫停試驗(yàn)條件
終止或暫停試驗(yàn)條件終止或暫停試驗(yàn)條件在試驗(yàn)過程中如出現(xiàn)下列情況之一時，應(yīng)報請公司主管領(lǐng)導(dǎo)批準(zhǔn)，請求終止或暫停試驗(yàn)，待改進(jìn)后再繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)。
[0023]a)試驗(yàn)過程中出現(xiàn)致命故障，如電氣部件通電短路或不工作等情況；
b)元器件損壞頻繁，導(dǎo)致試驗(yàn)無法正常進(jìn)行下去；
c)其他情況。
[0024]受試產(chǎn)品的最后處理
AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)是例行性試驗(yàn)，參試產(chǎn)品試驗(yàn)后應(yīng)按照正品處理,并對產(chǎn)品進(jìn)行詳細(xì)標(biāo)注(產(chǎn)品編號、****年**月**日參加什么試驗(yàn))。由庫房按照產(chǎn)品存放相關(guān)要求進(jìn)行處理。
[0025]實(shí)施例2:
在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，所述試驗(yàn)條件具體為:
a)環(huán)境溫度25°C ；
b)交流電源電壓220V50Hz；
c)交流電源電壓380V50HZ；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> [0026]所述試驗(yàn)設(shè)備要求為:
所述試驗(yàn)箱型號為:GDW/LX-010L，其性能指標(biāo)如下:
a)溫度范圍:-40°C?+150°C；
b)溫度波動度:±0.5°C ；
c)溫度均勻度:±2°C；
d)降溫速率:0.TC?I。。；
e)升溫速率:2°C?3°C ;
f)噪音:Db< 65 ；
g)電源:AC380V/50Hz；
h)工作尺寸:1000X1000X 1000。
[0027]以上例舉僅僅是對本發(fā)明的舉例說明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的保護(hù)范圍的限制，凡是與本發(fā)明相同或相似的設(shè)計(jì)均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，其特征在于:所述試驗(yàn)方法為: 將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的逐步升溫至_40±2°C溫度；當(dāng)非通電狀態(tài)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的72±2小時時間，對于試驗(yàn)時需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品，應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度2小時后達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測，并進(jìn)行記錄； 試驗(yàn)祥品在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)； 本試驗(yàn)采用高氣流速度循環(huán)； 所述試驗(yàn)條件為: a)環(huán)境溫度25±5°C； b)交流電源電壓220±2V50Hz; c)交流電源電壓380±2V50Hz; d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> 2.如權(quán)利要求1所述的一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，其特征在于:所述試驗(yàn)條件具體為: a)環(huán)境溫度25°C ； b)交流電源電壓220V50Hz; c)交流電源電壓380V50HZ; d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br> 3.如權(quán)利要求1所述的一種AMT系統(tǒng)低溫貯存試驗(yàn)方法，其特征在于: 所述試驗(yàn)設(shè)備要求為: 所述試驗(yàn)箱型號為:GDW/LX-010L，其性能指標(biāo)如下: a)溫度范圍:-40°C?+150°C； b)溫度波動度:±0.5°C ; c)溫度均勻度:±2°C; d)降溫速率:0.7°C?1°C; e)升溫速率:2°C?3°C ; f)噪音:Db< 65 ； g)電源:AC380V/50Hz； h)工作尺寸:1000X1000X1000。
【文檔編號】G01M13/02GK103645049SQ201310564126
【公開日】2014年3月19日 申請日期:2013年11月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月12日
【發(fā)明者】潘亞敏, 朱海波 申請人:陜西國力信息技術(shù)有限公司