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      一種電阻測試儀的制作方法

      文檔序號:6200960閱讀:342來源:國知局
      一種電阻測試儀的制作方法
      【專利摘要】本實用新型公開了一種電阻測試儀,包括外殼(1)、顯示屏(2)、操作面板(3)和電源開關(guān)(6),其中外殼內(nèi)安裝一風(fēng)扇(9),風(fēng)扇(9)的正對面設(shè)有一內(nèi)部測試口(11),內(nèi)部測試口(11)的兩側(cè)設(shè)有一對夾具(10);外殼(1)上還設(shè)有風(fēng)扇開關(guān)(4)和風(fēng)速調(diào)節(jié)開關(guān)(5)。由于采用了上述技術(shù)方案,本實用新型的有益效果是:本儀器有效地解決了在常溫下對熱敏電阻(NTC,PTC)等材料的阻值進行精確測量,實現(xiàn)了熱敏電阻在脫離苛刻的環(huán)境溫度要求對其阻值進行精確測量。解決了生產(chǎn)廠家花費大量財力實現(xiàn)恒溫環(huán)境對電阻進行測試,為熱敏電阻生產(chǎn)廠家節(jié)省了大量的投資。
      【專利說明】—種電阻測試儀
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及電力檢測設(shè)備領(lǐng)域,具體涉及一種電阻測試儀。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前的熱敏電阻是以錳、鈷、鎳和銅等金屬氧化物為主要材料,采用陶瓷工藝制造而成的。這些金屬氧化物材料都是具有半導(dǎo)體性質(zhì),因為在導(dǎo)電方式上完全類似硅等半導(dǎo)體材料。溫度低時,這些氧化物材料的載流子(電子和孔穴)數(shù)目少,所以其電阻值較高;隨著溫度的升高,載流子數(shù)目增加,所以電阻值降低,熱敏電阻器在室溫下的變化范圍在10 Ω 1000000 Ω,溫度系數(shù)-2%~-6.5%,目前熱敏電阻被廣泛用于溫度測量與控制、溫度補償、突破電流抑制、環(huán)境檢測等。近幾年來,我過的熱敏電阻的生產(chǎn)廠家在熱敏電阻的品種及生產(chǎn)規(guī)模等方面都取得了新的進展,等靜壓工藝技術(shù),厚膜工藝技術(shù),在熱敏電阻元件生產(chǎn)應(yīng)用中的到完善和推廣,生產(chǎn)的最后過程,涉及到熱敏電阻的測試,而環(huán)境溫度變化對熱敏電阻阻值的影響較 大,用通用型電阻測試儀很難對環(huán)境溫度下的熱敏電阻進行正確的測試。
      實用新型內(nèi)容
      [0003]本實用新型的發(fā)明目的在于:針對上述存在的問題,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、結(jié)實耐用、成本低,安全節(jié)能的電阻測試儀。
      [0004]本實用新型采用的技術(shù)方案是這樣的:包括外殼1、顯示屏2、操作面板3和電源開關(guān)6,其中外殼內(nèi)安裝一風(fēng)扇9,風(fēng)扇9的正對面設(shè)有一內(nèi)部測試口 11,內(nèi)部測試口 11的兩側(cè)設(shè)有一對夾具10 ;外殼I上還設(shè)有風(fēng)扇開關(guān)4和風(fēng)速調(diào)節(jié)開關(guān)5。
      [0005]進一步,外殼(I)上設(shè)有一組外接測試口一 7和外接測試口二 8。
      [0006]綜上所述,由于采用了上述技術(shù)方案,本實用新型的有益效果是:本儀器有效地解決了在常溫下對熱敏電阻(NTC,PTC)等材料的阻值進行精確測量,實現(xiàn)了熱敏電阻在脫離苛刻的環(huán)境溫度要求對其阻值進行精確測量。解決了生產(chǎn)廠家花費大量財力實現(xiàn)恒溫環(huán)境對電阻進行測試,為熱敏電阻生產(chǎn)廠家節(jié)省了大量的投資。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0007]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
      [0008]圖1是本實用新型的正視圖;
      [0009]圖2是本實用新型的俯視剖面示意圖。
      [0010]圖中標(biāo)記:1_外殼,2_顯不屏,3-操作面板,4-風(fēng)扇開關(guān),5-風(fēng)速調(diào)節(jié)開關(guān),6-電源開關(guān),7-外接測試口一,8-外接測試口二,9-風(fēng)扇,10-夾具,11-內(nèi)部測試口。
      【具體實施方式】
      [0011]現(xiàn)在結(jié)合附圖對本實用新型作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖,僅以示意方式說明本實用新型的基本結(jié)構(gòu),因此其僅顯示與本實用新型有關(guān)的構(gòu)成。
      [0012]如圖1所示,一種電阻測試儀,包括外殼1、顯示屏2、操作面板3和電源開關(guān)6,其中外殼內(nèi)安裝一風(fēng)扇9,風(fēng)扇9的正對面設(shè)有一內(nèi)部測試口 11,內(nèi)部測試口 11的兩側(cè)設(shè)有一對夾具10 ;外殼I上還設(shè)有風(fēng)扇開關(guān)4和風(fēng)速調(diào)節(jié)開關(guān)5。
      [0013]進一步,外殼I上設(shè)有一組外接測試口一 7和外接測試口二 8。
      [0014]針對在常溫下測量熱敏電阻或測量溫漂較大的電阻而設(shè)計,該方法是將基準(zhǔn)端接入同種材料的電阻在常溫下的值與在規(guī)定溫度下的值作比較而得出當(dāng)前溫度下的溫度變化系數(shù),根據(jù)同一種器件溫度變化的一致性,利用其溫度變化系數(shù)得出被測電阻在規(guī)定溫度下的等效電阻值。
      [0015]每次先對測試端所接入的電阻進行測量并將測量結(jié)果與該電阻在當(dāng)前溫度下的溫度變化系數(shù)進行計算而得到規(guī)定溫度下所對應(yīng)的電阻值,并對該阻值進行顯示與分選。若設(shè)定取樣間隔次數(shù)(即對測試端電阻測試多少次后才對基準(zhǔn)端的標(biāo)準(zhǔn)電阻進行測量一次)到后將對基準(zhǔn)端所接入的標(biāo)準(zhǔn)電阻進行測量,并與設(shè)定規(guī)定溫度下標(biāo)準(zhǔn)電阻所對應(yīng)的阻值進行計算得到標(biāo)準(zhǔn)電阻在當(dāng)前溫度下的溫度變化系數(shù),再顯示出標(biāo)準(zhǔn)電阻在當(dāng)前溫度下的實際阻值。
      [0016]當(dāng)溫度過高時,打開風(fēng)扇開關(guān)4,調(diào)節(jié)風(fēng)速,使得溫度維持在一定范圍內(nèi),對熱敏電阻進行測試。
      [0017]以上述依據(jù)本實用新型的理想實施例為啟示,通過上述的說明內(nèi)容,相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項實用新型技術(shù)思想的范圍內(nèi),進行多樣的變更以及修改。本項實用新型的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容,必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種電阻測試儀,包括外殼(I)、顯示屏(2)、操作面板(3)和電源開關(guān)(6),其特征在于,外殼內(nèi)安裝一風(fēng)扇(9),風(fēng)扇(9)的正對面設(shè)有一內(nèi)部測試口(11),內(nèi)部測試口( 11)的兩側(cè)設(shè)有一對夾具(10);外殼(I)上還設(shè)有風(fēng)扇開關(guān)(4)和風(fēng)速調(diào)節(jié)開關(guān)(5)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電阻測試儀,其特征在于,外殼(I)上設(shè)有一組外接測試口一(7)和外接測試口二(8)。
      【文檔編號】G01R1/04GK203551662SQ201320612823
      【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年10月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月4日
      【發(fā)明者】蔡玉蘭 申請人:蔡玉蘭
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