一種esd定位裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種ESD定位裝置，包括：用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器；連接所述ESD發(fā)生器的轉(zhuǎn)接器；連接所述轉(zhuǎn)接器的電磁場(chǎng)探頭；其中，所述ESD是靜電放電。本實(shí)用新型能夠精確模擬ESD空間電磁場(chǎng)耦合長(zhǎng)生的能量，有針對(duì)性地對(duì)相關(guān)區(qū)域施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾，便于定位ESD敏感源，成本低，可實(shí)現(xiàn)性好。
【專利說明】一種ESD定位裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種新型靜電放電(Electro-Static Discharge,ESD)定位裝置?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]當(dāng)產(chǎn)品無法通過ESD的IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)而需要對(duì)ESD敏感源進(jìn)行定位時(shí)，如果產(chǎn)品損壞，因?yàn)橛写_定的ESD敏感源(即損壞部件)，通常只需對(duì)ESD敏感源做防護(hù)、屏蔽等措施即可解決，所以定位難度相對(duì)不大。但是針對(duì)ESD干擾或軟破壞造成的失效案例，因?yàn)榇蠖际荅SD空間耦合的電磁場(chǎng)能量干擾到ESD敏感源而造成失效，而ESD耦合電磁場(chǎng)和ESD敏感源(即受擾信號(hào))都是無形的，難以確定，所以解決難度較大?，F(xiàn)有的解決方案主要有以下三種:
[0003]l、ElLanger (突發(fā)干擾)抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，該方案的缺點(diǎn)包括:a需要專門購(gòu)買所述系統(tǒng)，價(jià)格昂貴，且功能單一 ；b只能發(fā)出相對(duì)寬頻的干擾脈沖群，不能精確模擬人體模型(Human Body Model，HBM) ESD耦合產(chǎn)生的電磁場(chǎng)能量。
[0004]2、傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)(transmission-line pulse) Test System, TLP),該方案的缺點(diǎn)包括:a需要專門購(gòu)買此系統(tǒng)，價(jià)格極為昂貴；b其干擾源可以模擬HBM ESD耦合的電磁場(chǎng)能量，但是仍然有區(qū)別；c功能更適用于芯片平臺(tái)的ESD軟破壞分析，而不適用于現(xiàn)實(shí)的ESD問題定位與解決。
[0005]3、ESD Simulator，該方案的缺點(diǎn)是:靜電槍只是ESD標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器，并非ESD定位工具，定位使用的過程中，只能提供一個(gè)測(cè)試結(jié)果作為參考，沒有更多信息可以幫助定位。
[0006]現(xiàn)有的三個(gè)方案都不是通過模擬靜電放電耦合場(chǎng)能量的定位工具，因此，為了便于解決難度較大的ESD電磁場(chǎng)干擾導(dǎo)致的失效案例，本實(shí)用新型提供一種新型的定位工具，以定位電路板上的電磁薄弱點(diǎn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0007]本實(shí)用新型的目的在于提供一種ESD定位裝置，能更好地解決ESD敏感源定位的問題。
[0008]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種ESD定位裝置，包括:
[0009]用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器；
[0010]連接所述ESD發(fā)生器的轉(zhuǎn)接器；
[0011 ]連接所述轉(zhuǎn)接器的電磁場(chǎng)探頭。
[0012]優(yōu)選地，所述ESD發(fā)生器是人體模型ESD發(fā)生器或機(jī)器模型ESD發(fā)生器或帶電器件模型ESD發(fā)生器。
[0013]優(yōu)選地，所述電磁場(chǎng)探頭是電磁兼容近場(chǎng)探頭。
[0014]根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)方面，提供了一種ESD定位裝置，包括:
[0015]用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器；
[0016]連接所述ESD發(fā)生器的電磁場(chǎng)探頭。[0017]優(yōu)選地，所述ESD發(fā)生器是人體模型ESD發(fā)生器或機(jī)器模型ESD發(fā)生器或帶電器件模型ESD發(fā)生器。
[0018]優(yōu)選地，所述電磁場(chǎng)探頭是電磁兼容近場(chǎng)探頭。
[0019]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型的有益效果在于:
[0020]1、本實(shí)用新型能夠精確模擬ESD空間電磁場(chǎng)耦合產(chǎn)生的能量；
[0021]2、本實(shí)用新型能夠有針對(duì)性的對(duì)相關(guān)區(qū)域施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾，便于定位ESD敏感源；
[0022]3、本實(shí)用新型可以利用常用的EMC工具進(jìn)行改裝，成本低，可實(shí)現(xiàn)性好。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0023]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的ESD定位裝置結(jié)構(gòu)圖；
[0024]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的ESD定位裝置結(jié)構(gòu)圖；
[0025]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的HBM ESD發(fā)生器構(gòu)造示意圖；
[0026]圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的基于HBM ESD發(fā)生器的ESD定位裝置構(gòu)造示意圖；
[0027]圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ESD定位裝置使用示意圖；
[0028]圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ESD定位裝置在被測(cè)設(shè)備附近對(duì)被測(cè)設(shè)備施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾的示意圖；
[0029]圖7是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ESD定位裝置對(duì)被測(cè)設(shè)備相關(guān)區(qū)域施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0030]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，應(yīng)當(dāng)理解，以下所說明的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說明和解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0031]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的ESD定位裝置結(jié)構(gòu)圖，如圖1所示，包括:用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器，連接所述ESD發(fā)生器的電磁場(chǎng)探頭。本實(shí)用新型直接將所述ESD發(fā)生器的放電端與所述電磁場(chǎng)探頭的內(nèi)芯連接，從而使其產(chǎn)生的ESD信號(hào)經(jīng)過電磁場(chǎng)探頭后，再回流到ESD發(fā)生器的放電回路連接點(diǎn)。其中，ESD信號(hào)的能量會(huì)通過電磁場(chǎng)探頭以電磁場(chǎng)的方式輻射出去，并能保持良好的ESD能量的頻譜和時(shí)域特性。
[0032]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的ESD定位裝置結(jié)構(gòu)圖，如圖2所示，包括:用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器，連接所述ESD發(fā)生器的轉(zhuǎn)接器，連接所述轉(zhuǎn)接器的電磁場(chǎng)探頭，其中，所述轉(zhuǎn)接器用于將接口結(jié)構(gòu)不相適應(yīng)的所述ESD發(fā)生器和所述電磁場(chǎng)探頭進(jìn)行連接，從而將ESD發(fā)生器產(chǎn)生的ESD信號(hào)引導(dǎo)至電磁場(chǎng)探頭。具體地說，ESD發(fā)生器的放電端通過轉(zhuǎn)接器與電磁場(chǎng)探頭的內(nèi)芯短接，從而使其產(chǎn)生的ESD信號(hào)經(jīng)過轉(zhuǎn)接器和電磁場(chǎng)探頭，然后通過電磁場(chǎng)探頭和轉(zhuǎn)接器再回流到ESD發(fā)生器的放電回路連接點(diǎn)。其中，ESD信號(hào)的能量會(huì)通過電磁場(chǎng)探頭以電磁場(chǎng)的方式輻射出去，并能保持良好的ESD能量的頻譜和時(shí)域特性。
[0033]圖1和圖2中，所述ESD發(fā)生器是人體模型ESD發(fā)生器或機(jī)器模型ESD發(fā)生器或帶電器件模型ESD發(fā)生器或其它ESD發(fā)生器，對(duì)于其中任意一種類型的ESD發(fā)生器，都可以使用符合該類型的ESD發(fā)生器電路的任何工具模擬，并根據(jù)需要調(diào)節(jié)相應(yīng)參數(shù)。所述電磁場(chǎng)探頭可以使用任何能夠?qū)㈦娏鬓D(zhuǎn)換成電磁場(chǎng)的工具模擬，比如天線、一個(gè)環(huán)形導(dǎo)線、一塊金屬平面(負(fù)極在被測(cè)設(shè)備上)等等。
[0034]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的HBM ESD發(fā)生器構(gòu)造示意圖，本實(shí)施例以圖1和圖2中的ESD發(fā)生器是人體模型ESD發(fā)生器為例進(jìn)行說明，所述人體模型ESD發(fā)生器包括:直流高壓電源、充電開關(guān)K1、充電限流電阻Rc、人體電容Cd、人體電阻Rd、放電開關(guān)K2。首先閉合K1斷開K2，直流高壓電源通過Rc對(duì)Cd充電，然后斷開K1閉合K2，Cd通過Rd進(jìn)行放電。
[0035]進(jìn)一步地，所述人體模型ESD發(fā)生器可使用靜電槍模擬。
[0036]圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的基于HBM ESD發(fā)生器的ESD定位裝置構(gòu)造示意圖，如圖4所示，Cd通過Rd進(jìn)行放電時(shí)，電流(ESD信號(hào))可通過轉(zhuǎn)接器到達(dá)電磁場(chǎng)探頭，從而使ESD信號(hào)的能量以電磁場(chǎng)形式輻射至被測(cè)設(shè)備。
[0037]進(jìn)一步地，所述電磁場(chǎng)探頭可使用EMC近場(chǎng)探頭模擬。
[0038]圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的ESD定位裝置使用示意圖，如圖5所示，ESD發(fā)生器1連接電磁場(chǎng)探頭2，通過所述電磁場(chǎng)探頭2輻射的電磁場(chǎng)對(duì)被測(cè)設(shè)備3的ESD敏感源進(jìn)行定位。其中，所述電磁場(chǎng)探頭包括用于輻射電磁場(chǎng)的探針和連接所述探針的導(dǎo)線。
[0039]ESD標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試失敗后，記錄ESD失敗現(xiàn)象，例如ESD受擾、系統(tǒng)重啟、系統(tǒng)掉電關(guān)機(jī)、死機(jī)、花屏、系統(tǒng)掉設(shè)備等等，然后利用本實(shí)用新型所提供的裝置對(duì)需要ESD定位的產(chǎn)品施加電磁場(chǎng)干擾，如圖6所示，在被測(cè)設(shè)備3附近對(duì)被測(cè)設(shè)備3施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾，即使用電磁場(chǎng)探頭2對(duì)被測(cè)設(shè)備3進(jìn)行總體掃描，復(fù)現(xiàn)ESD標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試失敗的現(xiàn)象。然后，使用電磁場(chǎng)探頭2對(duì)被測(cè)設(shè)備3的相關(guān)區(qū)域施加ESD空間電磁場(chǎng)干擾，如圖7所示，精確定位出ESD敏感源，即找到敏感器件或敏感信號(hào)。最后，對(duì)敏感器件和敏感信號(hào)進(jìn)行屏蔽、濾波、防護(hù)等措施進(jìn)行處理，再次進(jìn)行IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證，驗(yàn)證ESD標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試是否通過。
[0040]綜上所述，本實(shí)用新型具有以下技術(shù)效果:
[0041]使用本實(shí)用新型所提供的裝置對(duì)被測(cè)設(shè)備各區(qū)域進(jìn)行掃雷式排查，能夠找到ESD敏感源，針對(duì)敏感源采用防護(hù)措施，從而解ESD干擾或軟破壞造成的產(chǎn)品失效案例。
[0042]盡管上文對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，但是本實(shí)用新型不限于此，本【技術(shù)領(lǐng)域】技術(shù)人員可以根據(jù)本實(shí)用新型的原理進(jìn)行各種修改。因此，凡按照本實(shí)用新型原理所作的修改，都應(yīng)當(dāng)理解為落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種ESD定位裝置，其特征在于，包括:用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器；連接所述ESD發(fā)生器的轉(zhuǎn)接器；連接所述轉(zhuǎn)接器的電磁場(chǎng)探頭；其中，所述ESD是靜電放電。
2.—種ESD定位裝置，其特征在于，包括:用來產(chǎn)生ESD信號(hào)的ESD發(fā)生器；連接所述ESD發(fā)生器的電磁場(chǎng)探頭；其中，所述ESD是靜電放電。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述ESD發(fā)生器是人體模型ESD發(fā)生器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述ESD發(fā)生器是機(jī)器模型ESD發(fā)生器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述ESD發(fā)生器是帶電器件模型ESD發(fā)生器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述電磁場(chǎng)探頭是電磁兼容近場(chǎng)探頭。
【文檔編號(hào)】G01R31/12GK203551722SQ201320651122
【公開日】2014年4月16日 申請(qǐng)日期:2013年10月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月21日
【發(fā)明者】魏偉, 鄒學(xué)文, 丁燕 申請(qǐng)人:合肥聯(lián)寶信息技術(shù)有限公司