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      光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法和裝置制造方法

      文檔序號(hào):6225867閱讀:275來(lái)源:國(guó)知局
      光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法和裝置制造方法
      【專利摘要】光柵尺在高速度條件下的可靠性檢測(cè)方法及檢測(cè)所用裝置,屬于光柵尺檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】,該方法包括一、將絕對(duì)式光柵尺安裝在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上,將單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)固定在隔振平臺(tái)上,用千分表測(cè)量光柵尺的側(cè)面與上端面,移動(dòng)單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),調(diào)整光柵尺使其符合阿貝原則及其安裝要求;待系統(tǒng)穩(wěn)定后,開(kāi)始測(cè)量;二、光柵尺通過(guò)數(shù)據(jù)采集器連到微機(jī)控制系統(tǒng)上;微機(jī)控制系統(tǒng)與控制器相連,控制器與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上的滑塊相連接,令單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)高速往復(fù)運(yùn)動(dòng)三次,光柵尺停止后記錄當(dāng)前位置值W1,系統(tǒng)斷電后,等待30秒,再開(kāi)電,再次讀取當(dāng)前位置值W2,共做三次實(shí)驗(yàn),每次實(shí)驗(yàn)滿足|W1-W2|≤20μm條件,則判定光柵尺指標(biāo)合格。
      【專利說(shuō)明】光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法和裝置
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種光柵尺的可靠性檢測(cè)方法和所用裝置,屬于光柵尺檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】。
      【背景技術(shù)】
      [0002]高速加工技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)加工質(zhì)量和加工效率兩方面的統(tǒng)一,是現(xiàn)代先進(jìn)制造技術(shù)之一,高速數(shù)控機(jī)床是實(shí)現(xiàn)高速加工的必要條件之一,因此機(jī)床安全防護(hù)很重要,否則可能引起重大事故,以及人員、機(jī)床、刀具、工件及有關(guān)設(shè)備的損傷。 [0003]而中高檔數(shù)控機(jī)床普遍使用絕對(duì)式光柵尺作為全閉環(huán)位置信息反饋部件,因此光柵尺的可靠性也非常重要,光柵尺可靠性直接關(guān)系到數(shù)控機(jī)床的性能,將影響機(jī)床加工精度,也將直接影響到被加工工件的質(zhì)量。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的目的是提供一種光柵尺在高速度條件下的可靠性檢測(cè)方法及檢測(cè)所用裝置。
      [0005]本發(fā)明的技術(shù)方案為:
      [0006]光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法,包括以下步驟:
      [0007]步驟一,將絕對(duì)式光柵尺安裝在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上,將單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)固定在隔振平臺(tái)上,用千分表測(cè)量光柵尺的側(cè)面與上端面,移動(dòng)單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),調(diào)整光柵尺使其符合阿貝原則及其安裝要求;待系統(tǒng)穩(wěn)定后,開(kāi)始測(cè)量;
      [0008]步驟二,光柵尺通過(guò)數(shù)據(jù)采集器連到微機(jī)控制系統(tǒng)上;微機(jī)控制系統(tǒng)與控制器相連,控制器與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上的滑塊相連接,令單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)開(kāi)始高速度往復(fù)運(yùn)動(dòng)三次,然后光柵尺停止在任意一位置,記錄當(dāng)前位置值W1,系統(tǒng)斷電后,等待30秒,再開(kāi)電,重復(fù)操作再次讀取當(dāng)前位置值W2,共做三次實(shí)驗(yàn),如果每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)滿足IW1-W2 I < 20 μ m條件,則判定光柵尺性能指標(biāo)合格,如果不滿足上述條件,則認(rèn)為此光柵尺在高速下的可靠性存在問(wèn)題。
      [0009]光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法所用的裝置,單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)固定在隔震平臺(tái)上;光柵尺固定在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上,光柵尺通過(guò)數(shù)據(jù)采集器連到微機(jī)控制系統(tǒng)上;微機(jī)控制系統(tǒng)與控制器相連,控制器與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上的滑塊相連接,可讀取單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的測(cè)量結(jié)果,并對(duì)直線平臺(tái)的滑塊運(yùn)動(dòng)進(jìn)行控制,且可顯示光柵尺的讀數(shù)。
      [0010]本發(fā)明采用單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)來(lái)控制讀數(shù)頭的運(yùn)動(dòng)及測(cè)速,誤差小,性價(jià)比高,而且在讀數(shù)頭上的力較均勻,讀數(shù)頭晃動(dòng)不明顯,能減小光柵尺位置信息的讀數(shù)誤差,避免硬件結(jié)構(gòu)的損壞,另外電機(jī)速度加速度可精確調(diào)節(jié),方便測(cè)試。
      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】[0011]圖1為本發(fā)明光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法所用裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0012]其中:1、微機(jī)控制系統(tǒng),2、數(shù)據(jù)采集器,3、光柵尺,4、單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),5、隔震平臺(tái),6、控制器。
      【具體實(shí)施方式】
      [0013]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
      [0014]如圖1所示,光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法所用的裝置,包括微機(jī)控制系統(tǒng)1、數(shù)據(jù)采集器2、光柵尺3、單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4、隔震平臺(tái)5和控制器6 ;單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4固定在隔震平臺(tái)5上;光柵尺3的讀數(shù)頭固定在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4的滑塊上,光柵尺3的尺殼固定在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上,光柵尺3通過(guò)數(shù)據(jù)采集器2連到微機(jī)控制系統(tǒng)I上;微機(jī)控制系統(tǒng)I與控制器6相連,控制器6與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上的滑塊相連接,可讀取單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4的測(cè)量結(jié)果,并對(duì)直線平臺(tái)的滑塊運(yùn)動(dòng)進(jìn)行控制,且可顯示光柵尺3的讀數(shù)。
      [0015]根據(jù)數(shù)控系統(tǒng)與絕對(duì)式光柵尺高速通訊的要求,通常,絕對(duì)式光柵尺的工作方式是:開(kāi)電后,首先光柵尺讀取絕對(duì)位置值,之后以增量方式計(jì)數(shù)工作,這樣就可以保證數(shù)據(jù)高速傳輸。而增量計(jì)數(shù)如果出錯(cuò),出錯(cuò)方式通常都是丟數(shù)或多計(jì)數(shù)。
      [0016]光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法,包括以下步驟:
      [0017]步驟一,將絕對(duì)式光柵尺3安裝在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上,將單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4固定在隔振平臺(tái)5上,用千分表測(cè)量光柵尺的側(cè)面與上端面,移動(dòng)單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),調(diào)整光柵尺使其符合阿貝原則及其安裝要求。待系統(tǒng)穩(wěn)定后,開(kāi)始測(cè)量。
      [0018]步驟二,光柵尺3通過(guò)數(shù)據(jù)采集器2連到微機(jī)控制系統(tǒng)I上;微機(jī)控制系統(tǒng)I與控制器6相連,控制器6與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上的滑塊相連接,單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)開(kāi)始高速度往復(fù)運(yùn)動(dòng)三次,然后光柵尺停止在任意一位置,記錄當(dāng)前位置值W1,系統(tǒng)斷電后,等待30秒,再開(kāi)電,重復(fù)操作再次讀取當(dāng)前位置值W2,共做三次實(shí)驗(yàn),如果每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)滿足IW1-W2 I < 20 μ m條件,則判定光柵尺性能指標(biāo)合格,如果不滿足上述條件,則認(rèn)為此光柵尺在高速下的可靠性存在問(wèn)題。
      [0019]實(shí)施例:
      [0020]光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法,包括以下步驟:
      [0021]步驟一,將絕對(duì)式光柵尺3安裝在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上,將單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4固定在隔振平臺(tái)5上,用千分表測(cè)量光柵尺的側(cè)面與上端面,移動(dòng)單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),調(diào)整光柵尺使其符合阿貝原則及其安裝要求。待系統(tǒng)穩(wěn)定后,開(kāi)始測(cè)量。
      [0022]步驟二,光柵尺3通過(guò)數(shù)據(jù)采集器2連到微機(jī)控制系統(tǒng)I上;微機(jī)控制系統(tǒng)I與控制器6相連,控制器6與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)4上的滑塊相連接,令單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)開(kāi)始以3g的加速度、180m/min的速度往復(fù)運(yùn)動(dòng)三次,然后光柵尺停止在任意一位置,記錄當(dāng)前位置值Wl為1501919.63 μ m,系統(tǒng)斷電后,等待30秒,再開(kāi)電,重復(fù)上述運(yùn)動(dòng),再次讀取當(dāng)前位置值W2為1501919.25,共做三次實(shí)驗(yàn),測(cè)得數(shù)據(jù)如表I所示,三次測(cè)量數(shù)值W1-W2的值分別為0.38,-0.37和-0.62,均滿足W1-W2 ( 20 μ m條件,可以判定光柵尺性能指標(biāo)合格。
      [0023]對(duì)比單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和絕對(duì)式光柵尺在高速下的速度曲線圖,發(fā)現(xiàn)二者運(yùn)動(dòng)規(guī)律相同,說(shuō)明絕對(duì)式光柵尺數(shù)據(jù)沒(méi)有突變現(xiàn)象。[0024]表 I
      【權(quán)利要求】
      1.光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法,其特征是,包括以下步驟: 步驟一,將絕對(duì)式光柵尺(3)安裝在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)上,將單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)固定在隔振平臺(tái)(5)上,用千分表測(cè)量光柵尺的側(cè)面與上端面,移動(dòng)單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái),調(diào)整光柵尺使其符合阿貝原則及其安裝要求。待系統(tǒng)穩(wěn)定后,開(kāi)始測(cè)量; 步驟二,光柵尺(3)通過(guò)數(shù)據(jù)采集器(2)連到微機(jī)控制系統(tǒng)(I)上;微機(jī)控制系統(tǒng)(I)與控制器(6)相連,控制器(6)與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)上的滑塊相連接,單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)開(kāi)始高速度往復(fù)運(yùn)動(dòng)三次,然后光柵尺停止在任意一位置,記錄當(dāng)前位置值W1,系統(tǒng)斷電后,等待30秒,再開(kāi)電,重復(fù)操作再次讀取當(dāng)前位置值W2,共做三次實(shí)驗(yàn),如果每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)滿足|W1-W2|≤20 μ m條件,則判定光柵尺性能指標(biāo)合格,如果不滿足上述條件,則認(rèn)為此光柵尺在高速下的可靠性存在問(wèn)題。
      2.光柵尺在高速度條件下的可靠性的檢測(cè)方法所用的裝置,其特征是,單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)固定在隔震平臺(tái)(5)上;光柵尺(3)固定在單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)上,光柵尺(3)通過(guò)數(shù)據(jù)采集器⑵連到微機(jī)控制系統(tǒng)⑴上;微機(jī)控制系統(tǒng)⑴與控制器(6)相連,控制器(6)與單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)上的滑塊相連接,可讀取單軸直線運(yùn)動(dòng)平臺(tái)(4)的測(cè)量結(jié)果,并對(duì)直線平臺(tái)的 滑塊運(yùn)動(dòng)進(jìn)行控制,且可顯示光柵尺(3)的讀數(shù)。
      【文檔編號(hào)】G01B11/00GK103968757SQ201410181995
      【公開(kāi)日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2014年4月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月30日
      【發(fā)明者】張立華, 吳宏圣, 孫強(qiáng), 李也凡 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所
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