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      多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀的制作方法

      文檔序號(hào):6247311閱讀:303來源:國知局
      多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、100mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、10mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī)。本發(fā)明的有益效果是:根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件,對(duì)繼電器選擇開關(guān)進(jìn)行閉合的設(shè)置,滿足了GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求,同時(shí)對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇,達(dá)到對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的目的,適用于繼電器廠家和使用單位對(duì)繼電器性能的檢測(cè),并具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便的特點(diǎn)。
      【專利說明】多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,特別涉及一種九路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,屬于測(cè)試儀【技術(shù)領(lǐng)域】。

      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著技術(shù)的發(fā)展,在航空、航天、民用等許多領(lǐng)域中,需要多路的繼電器待測(cè)試?yán)^電器進(jìn)行信號(hào)控制、轉(zhuǎn)換、傳遞,繼電器的生產(chǎn)廠家和使用單位對(duì)繼電器多路測(cè)試的要求越來越多。繼電器是自動(dòng)和遠(yuǎn)距離操縱用的一種控制器件,是航空、航天等飛行器重要的執(zhí)行兀器件之一,應(yīng)用于操縱功率不太大的電路(一般小于25A),擔(dān)負(fù)著信號(hào)控制、轉(zhuǎn)換、傳遞等重要的作用。繼電器的電氣性能參數(shù)是繼電器質(zhì)量的保證,包括電壓、電流、電阻、接觸電壓降、接觸電阻等參數(shù),按照GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)的要求和規(guī)定,測(cè)試繁瑣,手動(dòng)測(cè)試無法保證測(cè)試需求。
      [0003]目前市場(chǎng)上檢測(cè)繼電器的測(cè)試儀也有許多,但測(cè)試儀最多只能檢測(cè)4路的繼電器的電氣參數(shù)(電阻、吸合釋放電壓、常開常閉觸點(diǎn)接觸電阻、吸合釋放時(shí)間和彈跳時(shí)間和同步差),且不能對(duì)繼電器額定電壓負(fù)載下的觸點(diǎn)壓降進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)只能選擇單一的觸點(diǎn)類型(一次只能獨(dú)立選擇常開或常閉或轉(zhuǎn)換),不能對(duì)觸點(diǎn)進(jìn)行組合(一路選常開,另一路選常閉或轉(zhuǎn)換)。現(xiàn)市場(chǎng)上出現(xiàn)大量觸點(diǎn)路數(shù)大于四路多觸點(diǎn)類型的繼電器,傳統(tǒng)的繼電器測(cè)試儀只能測(cè)試4路和測(cè)試觸點(diǎn)的接觸電阻,無法測(cè)試額定電壓負(fù)載下的觸點(diǎn)壓降,達(dá)不到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的目的在于提供一種多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,能克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,滿足GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求,能對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇,對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。
      [0005]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī),所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口,一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接,繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連,AD采集處理電路輸出至控制主機(jī),繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連,繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連,觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,同時(shí)1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。
      [0006]所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有九路繼電器接口。
      [0007]所述的測(cè)試電路接口由一進(jìn)一出兩個(gè)接口組成。
      [0008]所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上至少設(shè)置有一個(gè)繼電器線圈接口。
      [0009]本發(fā)明的有益效果在于:根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件,對(duì)繼電器選擇開關(guān)進(jìn)行閉合的設(shè)置,滿足了 GJB和GB標(biāo)準(zhǔn)要求,同時(shí)對(duì)待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)進(jìn)行任意組合選擇,達(dá)到對(duì)待測(cè)試?yán)^電器的電氣參數(shù)(電阻、吸合釋放電壓、觸點(diǎn)接觸電阻或壓降(額定電壓負(fù)載下)、吸合釋放時(shí)間和彈跳時(shí)間和同步差)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的目的,適用于繼電器廠家和使用單位對(duì)待測(cè)試?yán)^電器性能的檢測(cè),并具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便的特點(diǎn)。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0010]圖1為本發(fā)明框架的結(jié)構(gòu)框圖;
      [0011]圖2為本發(fā)明的電氣原理圖;
      [0012]圖3為本發(fā)明線圈電阻測(cè)試原理圖;
      [0013]圖4為本發(fā)明觸點(diǎn)彈跳測(cè)試原理圖;
      [0014]圖5為本發(fā)明觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試原理圖;
      [0015]圖6為本發(fā)明待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)任意組合的連接示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0016]下面結(jié)合附圖進(jìn)一步描述本發(fā)明的技術(shù)方案,但要求保護(hù)的范圍并不局限于所述。
      [0017]如圖1,多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī),所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口,一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接,繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連,AD采集處理電路輸出至控制主機(jī),繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連,繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連,觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,同時(shí)1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。
      [0018]如圖2,圖中的所有開關(guān)由控制主機(jī)進(jìn)行控制,對(duì)測(cè)試回路的接通與斷開進(jìn)行控制,KPA和KPB (接觸負(fù)載選擇開關(guān))、KPC (額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)),K1-K9是測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān),KW1-KW9是繼電器觸點(diǎn)加載選擇開關(guān),KLA、KLB、KLC、KPD、KPE、KPF是線圈選擇開關(guān),即線圈吸合和釋放時(shí)的電壓選擇開關(guān),Attenuators是線圈電阻、吸合釋放電壓、觸點(diǎn)壓降(接觸電阻)的調(diào)理模塊,調(diào)理的數(shù)據(jù)輸入到AD(PX1-6020)進(jìn)行采集處理。第一路到第九路(可以測(cè)試從一到九路轉(zhuǎn)換的待測(cè)試?yán)^電器,測(cè)試時(shí)根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器路數(shù)設(shè)置)、線圈A和線圈B (繼電器有單線圈和雙線圈,測(cè)試時(shí)單雙線圈由控制主機(jī)設(shè)置)是待測(cè)試?yán)^電器的連接口。
      [0019]所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有九路繼電器接口。
      [0020]所述的測(cè)試電路接口由一進(jìn)一出兩個(gè)接口組成。
      [0021 ] 所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上至少設(shè)置有一個(gè)繼電器線圈接口。
      [0022]多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀的工作原理,根據(jù)待測(cè)試?yán)^電器的測(cè)試技術(shù)條件,由控制主機(jī)對(duì)圖中的開關(guān)進(jìn)行閉合設(shè)置,在繼電器轉(zhuǎn)換接板上接入1-9個(gè)繼電器,10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路根據(jù)由控制主機(jī)控制的開機(jī)進(jìn)行閉合,完成待測(cè)試?yán)^電器電氣參數(shù)的采集,測(cè)試軟件最后對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,同時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示和保存。
      [0023]其中,如圖3,1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路和ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路是利用恒流源,輸入到待測(cè)試?yán)^電器的線圈,將線圈上產(chǎn)生的電壓進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換環(huán)節(jié),利用信號(hào)調(diào)理處理,計(jì)算機(jī)采集并計(jì)算出待測(cè)試?yán)^電器線圈測(cè)試值。并換算在境溫度為23°C下的電阻值。
      [0024]吸合釋放電壓測(cè)試電路由計(jì)算機(jī)控制直流電源,達(dá)到以下目的:一、實(shí)現(xiàn)電壓的漸變(增加)控制,施加在待測(cè)試?yán)^電器線圈的兩端,當(dāng)待測(cè)試?yán)^電器常開觸點(diǎn)閉合(只有常閉觸點(diǎn)判斷常閉觸點(diǎn)斷開)時(shí),所測(cè)試到的線圈兩端的電壓為吸合電壓;二、實(shí)現(xiàn)電壓的漸變(減少)控制,施加在待測(cè)試?yán)^電器線圈的兩端,當(dāng)待測(cè)試?yán)^電器常閉觸點(diǎn)閉合(只有常開觸點(diǎn)判斷常開觸點(diǎn)斷開)時(shí),所測(cè)試到的線圈兩端的電壓為釋放電壓。
      [0025]如圖4、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路的測(cè)試原理如下:常開、常閉觸點(diǎn)在待測(cè)試?yán)^電器線圈加電和斷電時(shí),觸點(diǎn)都會(huì)產(chǎn)生彈跳時(shí)間,根據(jù)軍標(biāo)要求,該彈跳時(shí)間必須進(jìn)行測(cè)試,判斷觸點(diǎn)上的電壓等于或大于開路電壓的90%為彈跳時(shí)間。
      [0026]如圖5、圖6,觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路測(cè)試原理如下:根據(jù)軍標(biāo)要求,待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)通額定負(fù)載在2A以下,測(cè)試觸點(diǎn)的接觸電阻,大于2A的測(cè)試待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)在額定電壓和負(fù)載下接觸壓降,如下圖所示,十八個(gè)電壓采集通道分別接在第一路到第九路的COM和NC端,COM和NO端,測(cè)試時(shí),當(dāng)線圈動(dòng)作一次后,用1信號(hào)分別控制KC1-KC9閉合給觸點(diǎn)加載,同時(shí)從AD通道讀入數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理。待測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)的任意組合,比如待測(cè)試?yán)^電器K1-K3只有常開觸點(diǎn),K4有常開和常閉,K5有常閉等,就對(duì)應(yīng)接在COMl和NOl,COM2 和 N02, COM3 和 N03, K4 接在 COM4 和 NC4、N04, K5 接在 C0M5 和 NC5,觸點(diǎn)負(fù)載選擇可以任意選擇(比如第一路選擇接觸電阻(負(fù)載100mA/6V或10mA/6V),第二路選擇壓降



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      O / f~y \-r/l fiV/TL / I ? r\ry T /λ Τ/~? ry ry\
      【權(quán)利要求】
      1.多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,其特征在于:它包括AD采集處理電路、繼電器轉(zhuǎn)換接板、10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路、1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路、觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路、吸合釋放電壓測(cè)試電路、觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路以及控制主機(jī),所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有多路繼電器接口、繼電器線圈接口和多組測(cè)試電路接口,一路繼電器接口與一組測(cè)試電路接口相對(duì)應(yīng)且電聯(lián)接,繼電器轉(zhuǎn)換接板的輸出端與AD采集處理電路相連,AD采集處理電路輸出至控制主機(jī),繼電器轉(zhuǎn)換接板的繼電器接口至少與一個(gè)待測(cè)試?yán)^電器的觸點(diǎn)相連,繼電器線圈接口與待測(cè)試?yán)^電器線圈相連,觸點(diǎn)彈跳測(cè)試電路分別通過測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,吸合釋放電壓測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,10mA恒流源加載電阻測(cè)試電路通過接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC和繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)與測(cè)試電路接口相連,同時(shí)1mA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,ImA恒流源線圈電阻測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,觸點(diǎn)接觸電阻壓降測(cè)試電路通過線圈選擇開關(guān)與繼電器線圈接口相連,測(cè)試時(shí)間選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPA、繼電器觸點(diǎn)選擇開關(guān)、接觸負(fù)載選擇開關(guān)KPB、額定電壓負(fù)載選擇開關(guān)KPC以及線圈選擇開關(guān)與控制主機(jī)電聯(lián)并通過控制主機(jī)控制開關(guān)的閉合。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,其特征在于:所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上設(shè)置有九路繼電器接口。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,其特征在于:所述的測(cè)試電路接口由一進(jìn)一出兩個(gè)接口組成。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多路轉(zhuǎn)換型繼電器測(cè)試儀,其特征在于:所述的繼電器轉(zhuǎn)換接板上至少設(shè)置有一個(gè)繼電器線圈接口。
      【文檔編號(hào)】G01R31/327GK104360265SQ201410621461
      【公開日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2014年11月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月6日
      【發(fā)明者】周容燦, 易小輝, 李章勝 申請(qǐng)人:貴州天義電器有限責(zé)任公司
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