一種探針針盤結(jié)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及PCB板電測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種探針針盤結(jié)構(gòu)，包括面板、載板和探針，面板設(shè)置于載板的上方，面板與載板之間設(shè)置有支撐柱，面板與載板通過支撐柱固定連接，面板與載板之間形成一中空部；探針貫穿設(shè)置于所述面板和載板，探針頂端的針頭伸出于面板的頂端面，探針底端的針尾伸出于載板的底端面，探針的部分針身位于所述中空部；探針與面板或載板形成的夾角α為87°-89°。本實(shí)用新型的有益效果為：一、探針與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)實(shí)現(xiàn)柔性抵接；二、使得探針貫穿設(shè)置于面板和載板后不會(huì)與探針和面板形成垂直夾角，避免了探針容易因自身重力作用垂直脫落的問題出現(xiàn)，確保對(duì)PCB板的電測(cè)試順利進(jìn)行。
【專利說明】一種探針針盤結(jié)構(gòu)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及PCB板電測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種探針針盤結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]PCB (Printed Circuit Board)即印刷線路板,簡(jiǎn)稱PCB板,是電子工業(yè)的重要部件之一。幾乎每種電子設(shè)備，例如電子手表、計(jì)算器、計(jì)算機(jī)、通訊電子設(shè)備以及軍用武器系統(tǒng)等，只要有集成電路等電子元器件需要實(shí)現(xiàn)電氣連接，都需要使用到PCB板。
[0003]在PCB板的生產(chǎn)過程中，為了驗(yàn)證PCB板的質(zhì)量，需要對(duì)PCB板進(jìn)行各種檢測(cè)試驗(yàn)，通常需要對(duì)PCB板的外觀缺陷、開路、短路、IC等元器件的功能等進(jìn)行測(cè)試。其中，對(duì)PCB板的外觀缺陷測(cè)試則采用視覺檢測(cè)法；而對(duì)PCB板的開路、短路、IC等元器件的功能測(cè)試則采用電測(cè)試法；現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)PCB板進(jìn)行電測(cè)試的測(cè)試機(jī)的主要部件為探針治具，探針治具又包括線盤和針盤，針盤設(shè)置有探針，在對(duì)PCB板進(jìn)行電測(cè)試工作時(shí)，針盤設(shè)置的探針的兩端分別接觸PCB板的PAD (焊盤)和線盤的金屬連接點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)通電，從而可對(duì)PCB板進(jìn)行有效的電測(cè)試。
[0004]但現(xiàn)有技術(shù)的探針治具存在如下缺陷導(dǎo)致對(duì)PCB板的電測(cè)試效果并不佳:一、針盤整體機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)不合理導(dǎo)致探針進(jìn)行檢測(cè)時(shí)對(duì)PCB板施加的壓力過大而損壞PCB板；二、探針易脫落；三、探針針身未進(jìn)行絕緣保護(hù)，存在漏電的問題；四、無外露的探針針尾設(shè)計(jì)，導(dǎo)致針尾的電連接效果不佳；五、探針針頭與針尾外露長(zhǎng)度比例不合理，影響對(duì)PCB板的電測(cè)試效果。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足提供一種探針的針頭與針尾外露長(zhǎng)度比例設(shè)計(jì)合理，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)PCB板進(jìn)行電測(cè)試時(shí)，限制探針對(duì)PCB板施加過大的壓力，從而可以避免探針損壞PCB板，起到安全測(cè)試的作用，同時(shí)可以避免探針易脫落的探針針盤結(jié)構(gòu)。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，包括面板、載板和探針，面板設(shè)置于載板的上方，所述面板與載板之間設(shè)置有支撐柱，面板與載板通過支撐柱固定連接，面板與載板之間形成一中空部；探針貫穿設(shè)置于所述面板和載板，探針頂端的針頭伸出于面板的頂端面，探針底端的針尾伸出于載板的底端面，探針的部分針身位于所述中空部；探針與面板或載板形成的夾角α為87。-89°。
[0007]其中，所述探針與面板或載板形成的夾角α為88°。
[0008]其中，所述探針的針身的表面設(shè)置有絕緣層。
[0009]其中，所述針頭的長(zhǎng)度L1S 1.5-4.5mm，針尾的長(zhǎng)度L2S l-3mm ;其中，針頭的長(zhǎng)度L1與針尾的長(zhǎng)度L2的比例=L1/ L2=3/2。
[0010]其中，所述探針的針身包括鎢芯以及鎢芯表面鍍?cè)O(shè)的鍍金層。
[0011]其中，所述面板包括測(cè)試面板和連接于測(cè)試面板底部的輔助面板，測(cè)試面板的厚度D1為1.3-1.7mm,輔助面板的厚度D2為1.0-1.4mm。
[0012]其中，所述測(cè)試面板的厚度D1為1.5mm，輔助面板的厚度D2為1.2mm。
[0013]其中，所述測(cè)試面板和輔助面板內(nèi)均開設(shè)有凹槽，探針穿設(shè)于所述凹槽。
[0014]其中，所述載板包括從上至下依序連接設(shè)置的上輔助層、中間輔助層和針盤底板，上輔助層的厚度D3為2-4mm，中間輔助層的厚度D4為l_2mm，針盤底板的厚度D5為2_4mm。
[0015]其中，所述上輔助層的厚度D3為3mm，中間輔助層的厚度D4為1.5mm，針盤底板的厚度D5為3mm。
[0016]本實(shí)用新型的有益效果:一、當(dāng)探針對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)施加過大的壓力時(shí)，探針位于中空部的部分針身會(huì)彎曲，即中空部提供了允許針身彎曲的空間，實(shí)現(xiàn)了探針與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)的柔性抵接，防止探針對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)施加過大的壓力導(dǎo)致刺穿PCB板，對(duì)PCB板造成損壞；二、探針與面板或載板形成的夾角α為87。-89°，使得探針貫穿設(shè)置于面板和載板后不會(huì)與探針和面板形成垂直夾角，即避免了探針容易因自身重力作用垂直脫落的問題出現(xiàn)，確保對(duì)PCB板的電測(cè)試順利進(jìn)行。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖2為本實(shí)用新型與線盤的導(dǎo)線接觸的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖3為本實(shí)用新型探針的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖4為沿圖3中A-A線的剖切視圖。
[0021]圖5為圖3中E處的局部放大示意圖。
[0022]圖6為圖3中F處的局部放大示意圖。
[0023]圖7為圖1中B處的局部放大示意圖。
[0024]圖8為圖1中C處的局部放大示意圖。
[0025]附圖標(biāo)記包括:
[0026]10一面板11一測(cè)試面板 12—輔助面板 20—載板
[0027]21 一上輔助層 22—中間輔助層 23—針盤底板 30—探針
[0028]31—針頭32—針尾33—針身34—絕緣層
[0029]35—鶴芯36—鍍金層40—支撐柱 50—中空部
[0030]60—凹槽70—線盤71—導(dǎo)線。
【具體實(shí)施方式】
[0031]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0032]如圖1至圖8所示，本實(shí)用新型的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，包括面板10、載板20和探針30，面板10設(shè)置于載板20的上方，所述面板10與載板20之間設(shè)置有支撐柱40，面板10與載板20通過支撐柱40固定連接，面板10與載板20之間形成一中空部50 ;探針30貫穿設(shè)置于所述面板10和載板20，探針30頂端的針頭31伸出于面板10的頂端面，探針30底端的針尾32伸出于載板20的底端面，探針30的部分針身33位于所述中空部50 ;探針30與面板10或載板20形成的夾角α為87° -89° ;進(jìn)一步的，探針30與面板10或載板20形成的夾角α為87。、88°或者89°均可。[0033]具體的，面板10和載板20分別對(duì)探針30的上部和下部進(jìn)行定位，并限制探針30左右橫向移動(dòng)，當(dāng)進(jìn)行測(cè)試工作時(shí)，探針30針盤結(jié)構(gòu)安裝于測(cè)試機(jī)內(nèi)，將探針30頂端伸出于面板10頂端面的針頭31抵接需要進(jìn)行電測(cè)試的PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)，將探針30底端伸出于載板20底端面的針尾32接觸到線盤70的導(dǎo)線71即可實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電進(jìn)行電測(cè)試，而在探針30的針頭31抵接到PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)時(shí)，整個(gè)探針30針盤結(jié)構(gòu)會(huì)帶動(dòng)探針30對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)施加壓力，由于面板10與載板20之間設(shè)置有支撐柱40，面板10與載板20之間形成一中空部50，當(dāng)探針30對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)施加過大的壓力時(shí)，探針30位于中空部50的部分針身33會(huì)彎曲，即中空部50提供了允許針身33彎曲的空間，實(shí)現(xiàn)了探針30與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)的柔性抵接，防止探針30對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)施加過大的壓力導(dǎo)致刺穿PCB板，對(duì)PCB板造成損壞；另外，探針30與面板10或載板20形成的夾角α為87° -89°，使得探針30貫穿設(shè)置于面板10和載板20后不會(huì)與探針30和面板10形成垂直夾角，即避免了探針30容易因自身重力作用垂直脫落的問題出現(xiàn)，確保對(duì)PCB板的電測(cè)試順利進(jìn)行。
[0034]優(yōu)選的，所述探針30與面板10或載板20形成的夾角α為88°，該夾角可以確保探針30不會(huì)因?yàn)閮A角過大導(dǎo)致與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)接觸位置不夠正，而影響到對(duì)PCB板的電測(cè)試效果；另外，又確保探針30不會(huì)因自身重力容易脫落，確保對(duì)PCB板的電測(cè)試順利進(jìn)行。
[0035]本實(shí)施例中，所述針頭31的長(zhǎng)度L1為1.5-4.5mm，針尾32的長(zhǎng)度L2為l_3mm ;其中，針頭31的長(zhǎng)度L1與針尾32的長(zhǎng)度L2的比例=L1/ L2=3/2。具體的，針頭31的長(zhǎng)度L1設(shè)計(jì)在1.5-4.5mm范圍值，可以確保針頭31有足夠的長(zhǎng)度與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)接觸，又不會(huì)因針頭31過長(zhǎng)，在測(cè)試時(shí)針頭31會(huì)穿過PCB板對(duì)PCB板造成損壞，以及可以避免材料浪費(fèi)；而針尾32的長(zhǎng)度L2設(shè)計(jì)在l-3mm范圍值內(nèi)，避免針尾32材料浪費(fèi)，且可以確保針尾32完全接觸到線盤70的導(dǎo)線71進(jìn)行有效的測(cè)試；經(jīng)測(cè)試，針頭31的長(zhǎng)度L1比針尾32的長(zhǎng)度L2,即L1/ L2=3/2,即為最佳的探針30結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
[0036]優(yōu)選的，根據(jù)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的經(jīng)驗(yàn)，將針頭31的長(zhǎng)度為L(zhǎng)1設(shè)計(jì)為3mm，針尾32的長(zhǎng)度L2設(shè)計(jì)為2mm即為最佳的探針30結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(參見圖5及圖6)，可應(yīng)用于多種行業(yè)的PCB板電測(cè)試，在保證操作工人安全的情況下，此種結(jié)構(gòu)既可以避免材料浪費(fèi)，又能夠確保針頭31與PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)有效接觸，針尾32與線盤70的導(dǎo)線71有效接觸，實(shí)現(xiàn)有效的導(dǎo)電連接，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板有效的電測(cè)試，測(cè)試效果良好。
[0037]本實(shí)施例中，所述探針30的針身33的表面設(shè)置有絕緣層34，當(dāng)在測(cè)試點(diǎn)較為密集的PCB板檢測(cè)件需要多根探針30同時(shí)測(cè)試時(shí)，多根探身的針身33相互間不會(huì)產(chǎn)生干擾，保證測(cè)試的正常進(jìn)行。
[0038]具體的，所述絕緣層34為絕緣漆，絕緣漆噴設(shè)于針身33的表面，生產(chǎn)時(shí)，將絕緣漆噴涂設(shè)置于針身33的表面，生產(chǎn)非常方便、快捷；絕緣漆輕薄，成本低，產(chǎn)生的技術(shù)效果更為顯著。
[0039]見圖4，所述探針30的針身33包括鎢芯35以及鎢芯35表面鍍?cè)O(shè)的鍍金層36，鎢芯35作為內(nèi)部芯體結(jié)構(gòu)，再于鎢芯35的表面鍍?cè)O(shè)鍍金層36，結(jié)合后的針身33結(jié)構(gòu)使得導(dǎo)電性能更好。
[0040]參見圖7，所述面板10包括測(cè)試面板11和連接于測(cè)試面板11底部的輔助面板12，測(cè)試面板11的厚度D1為1.3-1.7mm，輔助面板12的厚度D2為1.0-1.4mm，測(cè)試面板11對(duì)探針30的頂部進(jìn)行有效定位，有利于對(duì)PCB板的PAD測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行定位測(cè)試，輔助面板12則起到輔助測(cè)試面板11對(duì)探針30的頂部進(jìn)行定位的作用；具體的D1可以為1.3mm、l.5mm或者1.7mm, D2可以為1.0mm> 1.2mm或者1.4mm,該種設(shè)計(jì)可以確保探針30不會(huì)因?yàn)闇y(cè)試面板11和輔助面板12過厚而難于貫穿，又確保了測(cè)試面板11和輔助面板12不會(huì)因?yàn)樘《鴮?duì)探針30的定位效果不佳；優(yōu)選的，所述測(cè)試面板11的厚度D1為1.5mm，輔助面板12的厚度D2為1.2_，經(jīng)測(cè)試，該厚度尺寸的測(cè)試面板11和輔助面板12的性價(jià)比最高，又能實(shí)現(xiàn)上述所提到的技術(shù)。
[0041]本實(shí)施例中，所述測(cè)試面板11和輔助面板12內(nèi)均開設(shè)有凹槽60，探針30穿設(shè)于所述凹槽60，凹槽60的設(shè)置利于探針30穿設(shè)測(cè)試面板11和輔助面板12，且凹槽60設(shè)置于測(cè)試面板11和輔助面板12的內(nèi)部，不會(huì)影響測(cè)試面板11和輔助面板12對(duì)探針30進(jìn)行定位，有利于探針30的安裝。
[0042]參見圖8，所述載板20包括從上至下依序連接設(shè)置的上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23，上輔助層21的厚度D3為2-4mm，中間輔助層22的厚度D4為l_2mm，針盤底板23的厚度D5為2_4mm ;具體的，D3可以為2mm、3mm或者4mm, D4可以為lmm、l.5mm或者2mm, D5可以為2mm、3mm或者4mm,該種設(shè)計(jì)可以確保探針30不會(huì)因?yàn)樯陷o助層21、中間輔助層22和針盤底板23過厚而難于貫穿，又確保了上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23不會(huì)因?yàn)樘《鴮?duì)探針30的定位效果不佳；優(yōu)選的，所述上輔助層21的厚度D3為3mm，中間輔助層22的厚度D4為1.5mm，針盤底板23的厚度D5為3mm，經(jīng)測(cè)試，該厚度尺寸的上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23的性價(jià)比最高，又能實(shí)現(xiàn)上述所提到的技術(shù)。
[0043]本實(shí)施例中，所述上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23內(nèi)均開設(shè)有凹槽60，探針30穿設(shè)于所述凹槽60，凹槽60的設(shè)置利于探針30穿設(shè)上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23，且凹槽60設(shè)置于上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23的內(nèi)部，不會(huì)影響上輔助層21、中間輔助層22和針盤底板23對(duì)探針30進(jìn)行定位，有利于探針30的安裝。
[0044]綜上所述可知本實(shí)用新型乃具有以上所述的優(yōu)良特性，得以令其在制造組裝以及使用上，增進(jìn)以往技術(shù)中所未有的效能而具有實(shí)用性，成為一極具實(shí)用價(jià)值的新型產(chǎn)品結(jié)構(gòu)。
[0045]以上內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，依據(jù)本實(shí)用新型的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種探針針盤結(jié)構(gòu)，包括面板(10)、載板(20)和探針(30)，面板(10)設(shè)置于載板(20)的上方，其特征在于:所述面板(10)與載板(20)之間設(shè)置有支撐柱(40)，面板(10)與載板(20 )通過支撐柱(40 )固定連接，面板(IO )與載板(20 )之間形成一中空部(50 );探針(30)貫穿設(shè)置于所述面板(10)和載板(20)，探針(30)頂端的針頭(31)伸出于面板(10)的頂端面，探針(30)底端的針尾(32)伸出于載板(20)的底端面，探針(30)的部分針身(33)位于所述中空部(50);探針(30)與面板(10)或載板(20)形成的夾角α為87° -89°。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述探針(30)與面板(10)或載板(20)形成的夾角α為88°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述探針(30)的針身(33)的表面設(shè)置有絕緣層(34)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述針頭(31)的長(zhǎng)度L1為1.5-4.5mm，針尾(32)的長(zhǎng)度L2為l_3mm ;其中，針頭(31)的長(zhǎng)度L1與針尾(32)的長(zhǎng)度L2的比例=L1/ L2=3/2。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述探針(30)的針身(33)包括鎢芯(35)以及鎢芯(35)表面鍍?cè)O(shè)的鍍金層(36)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述面板(10)包括測(cè)試面板(11)和連接于測(cè)試面板(11)底部的輔助面板(12)，測(cè)試面板(11)的厚度D1S1.3-1.7mm，輔助面板(12)的厚度 D2 為 1.0-1.4mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述測(cè)試面板(11)的厚度D1為1.5臟，輔助面板(12)的厚度D2為1.2mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述測(cè)試面板(11)和輔助面板(12)內(nèi)均開設(shè)有凹槽(60)，探針(30)穿設(shè)于所述凹槽(60)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述載板(20)包括從上至下依序連接設(shè)置的上輔助層(21)、中間輔助層(22)和針盤底板(23)，上輔助層(21)的厚度03為2-4mm，中間輔助層(22)的厚度D4為l_2mm，針盤底板(23)的厚度D5為2_4mm。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種探針針盤結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述上輔助層(21)的厚度D3為3mm，中間輔助層(22)的厚度D4為1.5mm，針盤底板(23)的厚度D5為3mm。
【文檔編號(hào)】G01R1/067GK203772906SQ201420175449
【公開日】2014年8月13日 申請(qǐng)日期:2014年4月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月11日
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