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      教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置制造方法

      文檔序號:6060721閱讀:210來源:國知局
      教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置制造方法
      【專利摘要】本實用新型涉及三維形貌測量儀【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,包括測量儀本體,測量儀本體外設(shè)置有測量儀外殼,它還包括兩個鏡頭外殼,測量儀外殼左右兩邊的上邊緣設(shè)置有若干個上凹槽,測量儀外殼左右兩邊的下邊緣設(shè)置有若干個下凹槽,上凹槽和下凹槽均設(shè)置有磁鐵;鏡頭外殼的邊緣設(shè)置有與凹槽相配匹的凸臺,凸臺上均設(shè)置有磁鐵;兩個鏡頭外殼均通過磁鐵吸合在測量儀外殼的兩邊。在使用本實用新型時,通過磁鐵將兩個鏡頭外殼固定在測量儀外殼上,巧妙地將相機(jī)鏡頭隱藏起來,避免了以往相機(jī)鏡頭外露狀態(tài)而引起的誤操作問題;極大地方便了用戶安裝、拆卸鏡頭外殼。本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)置合理,制作成本低等優(yōu)點。
      【專利說明】教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及三維形貌測量儀【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著現(xiàn)代工業(yè)制造水平的發(fā)展,產(chǎn)品零件大量采用不規(guī)則復(fù)雜曲面,其設(shè)計、生產(chǎn)、檢測、試驗等環(huán)節(jié)需要進(jìn)行大量的三維曲面實體數(shù)字化和三維測量,迫切需要快速、高效、準(zhǔn)確、移動式的三維測量技術(shù)和反求逆向技術(shù)。
      [0003]產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集方法按照測量探頭或傳感器是否和實物接觸,分為接觸式和非接觸式兩類。接觸式測量設(shè)備中被廣泛應(yīng)用的是三坐標(biāo)測量機(jī)。它具有測量精度高、適應(yīng)性強的優(yōu)點,缺點是采集數(shù)據(jù)點過少,測量效率低,應(yīng)用環(huán)境苛求,因探頭接觸造成磨損而常常需要校正。非接觸式測量按類可分為激光三角法、結(jié)構(gòu)光法、工業(yè)CT法、核磁共振法。本采集儀即屬結(jié)構(gòu)光法儀器。
      [0004]目前,國內(nèi)外三維形貌測量系統(tǒng)主要有兩類:一是采用簡單的單幅光柵相移技術(shù),以加拿大Inspeck公司為代表的單相機(jī)測量技術(shù),主要用于人體測量和人像雕刻使用,其精度無法滿足工業(yè)的測量精度;二是采用格雷碼加相移的三維測量技術(shù),用多幅格雷碼光柵對測量區(qū)域分級標(biāo)識,再用單幅光柵相移測量。格雷碼加相移的三維測量技術(shù)的優(yōu)點為算法實現(xiàn)簡單,易于實現(xiàn)產(chǎn)品化,但是缺點非常明顯:一是格雷碼只是用于對測量幅面的分級,無法提高測量精度;二是格雷碼的使用造成測量系統(tǒng)對測量工件的表面明暗比較敏感,一般要噴顯影劑才能測量,無法測量較暗的工件,無法測量表面劇烈變化的工件;三是單次測量幅面較小,一般小于400mm。
      [0005]三維形貌測量儀是一種高速高精度的非接觸式三維掃描測量設(shè)備,采用國際最先進(jìn)的外差式多頻相移三維光學(xué)測量技術(shù),單幅測量幅面大小(24mm到128mm)、測量精度、測量速度等性能都達(dá)到了國際最先進(jìn)水平,與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高、抗干擾能力強、受被測工件表面陰暗影響小,而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
      [0006]以前測量儀的相機(jī)鏡頭是外露的,在使用過程中往往會出現(xiàn)誤操作,且外形不美觀,故有必要對現(xiàn)有測量儀的結(jié)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)一步地技術(shù)革新。
      實用新型內(nèi)容
      [0007]本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足,提供一種結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)計合理、使用方便的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置。
      [0008]為實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術(shù)方案是:
      [0009]本實用新型所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,包括測量儀本體,測量儀本體外設(shè)置有測量儀外殼,它還包括兩個鏡頭外殼,測量儀外殼左右兩邊的上邊緣設(shè)置有若干個上凹槽,測量儀外殼左右兩邊的下邊緣設(shè)置有若干個下凹槽,上凹槽和下凹槽均設(shè)置有磁鐵;鏡頭外殼的邊緣設(shè)置有與凹槽相配匹的凸臺,凸臺上均設(shè)置有磁鐵;兩個鏡頭外殼均通過磁鐵吸合在測量儀外殼的兩邊。
      [0010]進(jìn)一步地,所述上凹槽的數(shù)量為兩個。
      [0011]進(jìn)一步地,所述下凹槽的數(shù)量為兩個。
      [0012]進(jìn)一步地,所述測量儀外殼上表面的后端設(shè)置有若干個散熱孔。
      [0013]采用上述結(jié)構(gòu)后,本實用新型有益效果為:本實用新型所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,包括測量儀本體,測量儀本體外設(shè)置有測量儀外殼,它還包括兩個鏡頭外殼,測量儀外殼左右兩邊的上邊緣設(shè)置有若干個上凹槽,測量儀外殼左右兩邊的下邊緣設(shè)置有若干個下凹槽,上凹槽和下凹槽均設(shè)置有磁鐵;鏡頭外殼的邊緣設(shè)置有與凹槽相配匹的凸臺,凸臺上均設(shè)置有磁鐵;兩個鏡頭外殼均通過磁鐵吸合在測量儀外殼的兩邊。在使用本實用新型時,通過磁鐵將兩個鏡頭外殼固定在測量儀外殼上,巧妙地將相機(jī)鏡頭隱藏起來,避免了以往相機(jī)鏡頭外露狀態(tài)而引起的誤操作問題;通過磁力吸引來固定鏡頭外殼,極大地方便了用戶安裝、拆卸鏡頭外殼。本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)置合理,制作成本低等優(yōu)點。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0014]圖1是本實用新型的立體圖;
      [0015]圖2是本實用新型的爆炸圖;
      [0016]圖3是本實用新型的鏡頭外殼未安裝的立體圖;
      [0017]圖4是本實用新型鏡頭外殼的立體圖;
      [0018]附圖標(biāo)記說明:
      [0019]1、測量儀外殼;1_1、上邊緣;1_2、下邊緣;2、鏡頭外殼;
      [0020]2-1、凸臺;3、磁鐵。

      【具體實施方式】
      [0021]下面結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)一步的說明。
      [0022]如圖1-4所示,本實用新型所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,包括測量儀本體,測量儀本體外設(shè)置有測量儀外殼I,它還包括兩個鏡頭外殼2,測量儀外殼I左右兩邊的上邊緣1-1設(shè)置有若干個上凹槽,測量儀外殼I左右兩邊的下邊緣1-2設(shè)置有若干個下凹槽,上凹槽和下凹槽均設(shè)置有磁鐵3。
      [0023]鏡頭外殼2的邊緣設(shè)置有與凹槽相配匹的凸臺2-1,凸臺2-1上均設(shè)置有磁鐵3 ;兩個鏡頭外殼2均通過磁鐵3吸合在測量儀外殼I的兩邊。
      [0024]進(jìn)一步地,所述上凹槽的數(shù)量為兩個,
      [0025]進(jìn)一步地,所述下凹槽的數(shù)量為兩個。
      [0026]進(jìn)一步地,所述測量儀外殼I上表面的后端設(shè)置有若干個散熱孔,這樣能夠保證設(shè)備的正常散熱,有效延長設(shè)備的使用壽命。
      [0027]凹槽和磁鐵3的數(shù)量要根據(jù)鏡頭外殼2重量來決定,使磁鐵3的吸力和鏡頭外殼2重量相配匹即可,這樣才能達(dá)到保護(hù)和方便使用功能。
      [0028]在使用本實用新型時,通過磁鐵將兩個鏡頭外殼固定在測量儀外殼上,巧妙地將相機(jī)鏡頭隱藏起來,避免了以往相機(jī)鏡頭外露狀態(tài)而引起的誤操作問題;通過磁力吸引來固定鏡頭外殼,極大地方便了用戶安裝、拆卸鏡頭外殼。另外,該結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計合理,制造成本低。
      [0029]以上所述僅是本實用新型的較佳實施方式,故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾,均包括于本實用新型專利申請范圍內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,包括測量儀本體,測量儀本體外設(shè)置有測量儀外殼(I),其特征在于:它還包括兩個鏡頭外殼(2),測量儀外殼(I)左右兩邊的上邊緣(1-1)設(shè)置有若干個上凹槽,測量儀外殼(I)左右兩邊的下邊緣(1-2)設(shè)置有若干個下凹槽,上凹槽和下凹槽均設(shè)置有磁鐵(3); 鏡頭外殼(2)的邊緣設(shè)置有與凹槽相配匹的凸臺(2-1),凸臺(2-1)上均設(shè)置有磁鐵(3);兩個鏡頭外殼(2)均通過磁鐵(3)吸合在測量儀外殼(I)的兩邊。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述上凹槽的數(shù)量為兩個。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述下凹槽的數(shù)量為兩個。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的教育型三維掃描設(shè)備相機(jī)鏡頭調(diào)節(jié)裝置,其特征在于:所述測量儀外殼(I)上表面的后端設(shè)置有若干個散熱孔。
      【文檔編號】G01B11/24GK203981128SQ201420341151
      【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月24日
      【發(fā)明者】張龍, 唐正宗, 王輝, 許永波, 何海波, 張國鋒 申請人:蘇州西博三維科技有限公司
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