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      用于透射電鏡試樣的研磨工具的制作方法

      文檔序號(hào):11854642閱讀:1321來源:國知局
      用于透射電鏡試樣的研磨工具的制作方法與工藝

      本實(shí)用新型涉及一種研磨工具,特別是涉及一種用于透射電鏡試樣的研磨工具。



      背景技術(shù):

      目前,對(duì)于透射電鏡試樣的研磨有很多種方法和研磨工具,可以利用橡皮將試樣按壓在金相砂紙上并往復(fù)或沿“8”字形研磨,但是該種方法效率低,試樣厚度不均,邊角易磨失;也可利用聚合物膠將試樣固定在合金塊上研磨,這種方法雖然解決了試樣的牢固性問題,提高了效率,但是需要用到丙酮等溶劑或者對(duì)合金塊加熱以取下試樣,限制了該方法的適用范圍;亦可利用三角研磨器或者自動(dòng)磨拋儀,雖然提高了制樣效率,擴(kuò)大了適用范圍,但是卻帶來了操作上的問題,自動(dòng)磨拋儀的前期操作過程復(fù)雜且繁瑣,三角研磨器的研磨腳易磨損,樣品水平位置難以調(diào)整,另外,三角研磨器和自動(dòng)磨拋儀的價(jià)格高且無法保證長時(shí)間研磨樣品。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、低成本的用于透射電鏡試樣的研磨工具。

      本實(shí)用新型為解決技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是:

      一種用于透射電鏡試樣的研磨工具,包括螺旋測(cè)微器、研磨盤和墊塊,所述螺旋測(cè)微器上設(shè)置有止動(dòng)旋鈕,所述研磨盤內(nèi)設(shè)置有螺紋孔,所述螺紋孔內(nèi)上端內(nèi)壁上設(shè)置有內(nèi)螺紋,下端設(shè)置有墊塊,所述螺旋測(cè)微器下面的測(cè)微螺桿通過螺紋孔與研磨盤螺旋連接。

      所述螺紋孔設(shè)置在研磨盤的上表面中心位置,所述螺紋孔內(nèi)的內(nèi)螺紋尺寸與所述螺旋測(cè)微器下面的測(cè)微螺桿的外螺紋尺寸相匹配,所述研磨盤的材料采用不銹鋼合金或者鋁合金。

      所述墊塊的下表面固定有所要研磨的試樣,所述墊塊的大小與所述螺紋孔的直徑相匹配,所述墊塊的材料采用不銹鋼合金或者鋁合金。

      本實(shí)用新型的積極有益效果是:

      1、本實(shí)用新型中的螺旋測(cè)微器,量程為0-50mm,精度為0.001mm,它能夠設(shè)定研磨時(shí)每步需要磨除的厚度,達(dá)到試樣厚度精確可控的目的,并且操作簡單方便。

      2、本實(shí)用新型中的墊塊,能夠固定所要研磨的試樣,使試樣研磨時(shí)受力均勻,提高了研磨的質(zhì)量和效率。

      3、本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單,價(jià)格低,能夠長時(shí)間使用,適用范圍廣,具有很好的經(jīng)濟(jì)效益。

      附圖說明:

      圖1是本實(shí)用新型用于透射電鏡試樣的研磨工具的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2是本實(shí)用新型用于透射電鏡試樣的研磨工具的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖3是圖2中的右視圖。

      具體實(shí)施方式:

      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的解釋和說明:

      參見圖1,圖2和圖3:圖中,1-螺旋測(cè)微器,2-止動(dòng)旋鈕,3-研磨盤,4-墊塊,5-試樣。

      實(shí)施例:一種用于透射電鏡試樣的研磨工具,包括螺旋測(cè)微器1、研磨盤3和墊塊4,在螺旋測(cè)微器1上設(shè)置有止動(dòng)旋鈕2,在研磨盤3內(nèi)設(shè)置有螺紋孔,在螺紋孔內(nèi)上端內(nèi)壁上設(shè)置有內(nèi)螺紋,在螺紋孔下端設(shè)置有墊塊4,螺旋測(cè)微器1下面的測(cè)微螺桿通過螺紋孔與研磨盤3螺旋連接。

      其中:螺紋孔設(shè)置在研磨盤3的上表面中心位置,螺紋孔內(nèi)的內(nèi)螺紋尺寸與述螺旋測(cè)微器1下面的測(cè)微螺桿的外螺紋尺寸相匹配,研磨盤的材料采用不銹鋼合金或者鋁合金。

      在墊塊4的下表面固定有所要研磨的試樣5,墊塊4的大小與螺紋孔的直徑相匹配,墊塊4的材料采用不銹鋼合金或者鋁合金。

      研磨時(shí),用石蠟將切割好的試樣5固定在墊塊4上,然后將固定有試樣5的墊塊4放置于研磨盤3上的螺紋孔的下端,調(diào)節(jié)螺旋測(cè)微器1使試樣5的下表面與研磨盤3的下表面處于同一平面,繼續(xù)調(diào)節(jié)螺旋測(cè)微器1,設(shè)定研磨時(shí)每步需要磨除的厚度,并旋緊螺旋測(cè)微器1上的止動(dòng)旋鈕2,防止研磨過程中測(cè)微螺桿的松動(dòng),開始研磨,當(dāng)研磨至試樣5的表面與研磨盤3的表面處于同一平面時(shí),設(shè)定下一步需要磨除的厚度繼續(xù)研磨,研磨結(jié)束后,將工具清洗干凈后存放。

      以上所述,僅是本實(shí)用新型的優(yōu)先實(shí)施例而已,并未對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制,凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。

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