本發(fā)明涉及材料滲透性表征技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種元素分布測試方法及材料滲透系數(shù)的測定方法。

背景技術(shù)：

在材料耐久性領(lǐng)域，材料的滲透性(permeationproperty)是影響材料組成構(gòu)件使用壽命的重要參數(shù)。在材料的實際使用過程中，對其最重要的滲透性，包括了不同氣體、離子、液體在其中的傳輸性能。材料的滲透性(或傳輸性能)是一系列的指標(biāo)，用于表征材料(如混凝土)的密實程度以及其他物質(zhì)在其中運動速度，常見的有材料中元素擴(kuò)散系數(shù)，與材料的孔結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成多個參數(shù)有重要相關(guān)性。

元素擴(kuò)散系數(shù)的測定方法有很多，以cl離子在混凝土材料中的滲透性指標(biāo)為例，常用的方法有(1)取待測試試樣中特定位置處的樣品，進(jìn)行粉磨后通過滴定方法確定離子含量，再將結(jié)果進(jìn)行擬合得到混凝土中cl離子擴(kuò)散系數(shù)；(2)采用噴灑agno3溶液測試離子侵入深度，并對結(jié)果進(jìn)行擬合得到cl離子擴(kuò)散系數(shù)。

但是兩種方法均需要樣品中被測試離子的滲透深度和滲透濃度達(dá)到一定值，才能確保測試的順利實施以及測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。而擴(kuò)散是個相對緩慢的過程，得到足夠的滲透濃度或明顯的侵入深度需要較長的時間。為了縮短滲透時間，往往需要加速擴(kuò)散，例如電子遷移加速或高濃度加速擴(kuò)散，但是加速測試的結(jié)果與真實結(jié)果之間存在遷移機(jī)理方面的不同，存在很大的偏差。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供用于材料滲透系數(shù)測定的元素分布測試方法及材料滲透系數(shù)的測定方法，本發(fā)明提供的元素分布測試方法，對滲透深度和滲透濃度要求很低，在低于3mm的測試深度內(nèi)即可完成元素分布的測定，無需引入外界加速因素，確保測試結(jié)果反映真實的元素滲透情形。

為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案：

本發(fā)明提供了一種用于材料滲透系數(shù)測定的元素分布測試方法，包括：

提供預(yù)測樣品，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的直線距離；

采用電子能譜技術(shù)對所述待測位置進(jìn)行sem-edxa的濃度掃描測試，得到所述待測位置處元素的濃度；

所述sem-edxa濃度掃描測試的參數(shù)為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀。

優(yōu)選的，所述待測位置處元素的濃度以與所述待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端相同距離處的元素濃度的平均數(shù)計。

優(yōu)選的，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的直線距離前，采用電子能譜技術(shù)對所述預(yù)測樣品進(jìn)行sem-edxa的圖像測試，得到元素分布亮點圖；所述sem-edxa的圖像測試的參數(shù)與所述sem-edxa濃度掃描測試的參數(shù)一致；

以所述得到的元素分布亮點圖不同位置處亮度的高低直觀表征所述預(yù)測樣品不同位置處的元素濃度高低。

優(yōu)選的，所述sem-edxa的濃度掃描測試的環(huán)境為高真空，所述高真空的真空度不高于1000pa。

優(yōu)選的，對所述預(yù)測樣品進(jìn)行預(yù)處理，所述預(yù)處理包括：將所述預(yù)測樣品首次打磨后干燥，將所述干燥后的樣品進(jìn)行再次打磨。

優(yōu)選的，所述首次打磨和再次打磨的打磨方向垂直于元素滲透方向。

優(yōu)選的，所述干燥的時間為20～30h，所述干燥的溫度為40～60℃，所述干燥為真空干燥，所述干燥的真空度不高于1000pa。

優(yōu)選的，所述元素包括cl、mg、s、k、na或ca。

本發(fā)明還提供了一種材料滲透系數(shù)的測定方法，包括以下步驟：

采用上述技術(shù)方案所述的元素分布測試方法處理預(yù)測樣品，得到預(yù)測樣品的元素分布結(jié)果；

將所述元素分布結(jié)果代入式i所示公式，得到材料滲透系數(shù)；

式ⅰ中d為所述材料滲透系數(shù)；

所述c為測試位置處的元素濃度值；

所述t為元素分布測試過程中預(yù)測樣品的元素滲透時間；

所述x為所述元素分布結(jié)果對應(yīng)的測試位置距離預(yù)測樣品元素滲透初始端的距離。

優(yōu)選的，代入式i所示公式中元素濃度值的個數(shù)為6～10。

本發(fā)明提供的用于元素滲透系數(shù)測定的元素分布測試方法，包括：提供預(yù)測樣品，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的直線距離；采用電子能譜技術(shù)對所述待測位置進(jìn)行sem-edxa測試，得到所述待測位置處元素的濃度；所述sem-edxa測試的參數(shù)為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀。本發(fā)明提供的方法，對滲透深度和滲透濃度要求低，無需對元素滲透過程進(jìn)行加速，保持自然滲透狀態(tài)，避免外界強(qiáng)加因素的干擾，確保真實性，并且可以在小于3mm的深度范圍內(nèi)仍可完成元素分布的測定；測試精度高，即使測試樣品抵抗?jié)B透性能優(yōu)異或者元素滲透周期較短，滲透元素濃度較低的樣品同樣具有良好的測試結(jié)果，并且無需以大量樣品的測試結(jié)果為基準(zhǔn)。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1為實施例1得到的cl元素分布亮點圖；

圖2為實施例1得到的cl元素濃度與深度的關(guān)系曲線圖；

圖3為實施例2得到的ca濃度與深度的關(guān)系曲線圖；

圖4為實施例3、4和5得到的k、s和na濃度與深度的關(guān)系曲線圖；

圖5為對比例1得到的cl元素濃度與深度的關(guān)系曲線圖；

圖6為對比例2中樣品在加速測試儀器的安裝示意圖。

具體實施方式

本發(fā)明提供了一種用于元素滲透系數(shù)測定的元素分布測試方法，包括：提供預(yù)測樣品，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的直線距離；采用電子能譜技術(shù)對所述待測位置進(jìn)行sem-edxa測試，得到所述待測位置處元素的濃度；所述sem-edxa測試的參數(shù)為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀。

本發(fā)明提供的方法，對滲透深度和滲透濃度要求低，在低于3mm的深度范圍內(nèi)仍可完成元素分布的測定，無需引入外界加速因素，確保測試結(jié)果反映真實的元素滲透情形；測試精度高，即使測試樣品抵抗?jié)B透性能優(yōu)異或者元素滲透周期較短，滲透元素濃度較低的樣品同樣具有良好的測試結(jié)果，并且無需以大量樣品的測試結(jié)果為基準(zhǔn)；簡言之，本發(fā)明提供的方法測過程試需要的樣品無特定質(zhì)量要求，樣品數(shù)量可以非常少，且測試過程無損耗。

本發(fā)明提供的元素分布測試方法，提供預(yù)測樣品，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的直線距離。在本發(fā)明中，提供所述預(yù)測樣品后優(yōu)選對所述預(yù)測樣品進(jìn)行預(yù)處理，所述預(yù)處理優(yōu)選包括：將所述預(yù)測樣品首次打磨后干燥，將所述干燥后的樣品進(jìn)行再次打磨。在本發(fā)明中，所述測試樣品為完整固體即可，無損耗，無需粉磨，操作簡單。

在本發(fā)明中，所述首次打磨的打磨方向優(yōu)選為垂直于元素滲透方向；本發(fā)明對所述首次打磨的具體方式?jīng)]有特殊要求，以裸眼觀察可以基本確定為平整、觸摸無明顯粗糙感即可，進(jìn)而能滿足sem-edxa測試中，所需要的樣品表面相對平整，避免隨機(jī)的斷口層面，影響測試的準(zhǔn)確度；在本發(fā)明的實施例中，所述首次打磨后的粗糙度ra優(yōu)選為1.0～2.0μm，進(jìn)一步優(yōu)選為1.5～1.8μm。

本發(fā)明優(yōu)選對所述首次打磨后的樣品進(jìn)行干燥；在本發(fā)明中，所述干燥的溫度優(yōu)選為40～60℃，進(jìn)一步優(yōu)選為45～55℃，更優(yōu)選為50℃；所述干燥的時間優(yōu)選為20～30h，進(jìn)一步優(yōu)選為22～28h，更優(yōu)選為24h；所述干燥的真空度優(yōu)選不高于1000pa，進(jìn)一步優(yōu)選為500～800pa；在本發(fā)明中，所述干燥優(yōu)選在真空干燥箱中進(jìn)行。在本發(fā)明中，所述干燥條件有助于提高后續(xù)元素測定準(zhǔn)確度。

本發(fā)明優(yōu)選再次打磨所述干燥后的樣品；在本發(fā)明中，所述再次打磨的再次打磨方向優(yōu)選為垂直于元素滲透方向。在本發(fā)明中，所述再次打磨的目的是為了將干燥過程中，由于水分蒸發(fā)帶至樣品表面的部分的材料內(nèi)部的物質(zhì)除掉。本發(fā)明對所述再次打磨的具體方式?jīng)]有特殊要求，以能去除樣品表面由于干燥被水分蒸發(fā)到表面的物質(zhì)即可；在本發(fā)明的實施例中，所述再次打磨具體采用拋光打磨的方式。在本發(fā)明中，所述再次打磨得到的預(yù)測樣品優(yōu)選為直徑為10mm且厚度為10mm的樣品，克服傳統(tǒng)元素分布測試方法中測試樣品必須以較大尺寸保證測試的進(jìn)行，并且本發(fā)明需要的樣品無特定質(zhì)量要求。

完成所述預(yù)測樣品的預(yù)處理后，本發(fā)明優(yōu)選采用電子能譜技術(shù)對所述預(yù)測樣品進(jìn)行sem-edxa的圖像測試，得到元素分布亮點圖，以所述得到的元素分布亮點圖不同位置處亮度的高低直觀表征所述預(yù)測樣品不同位置處的元素濃度高低。在本發(fā)明中，所述sem-edxa的圖像測試的參數(shù)優(yōu)選與后續(xù)進(jìn)行的sem-edxa濃度掃描測試的參數(shù)一致；所述參數(shù)優(yōu)選為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀；在本發(fā)明中，所述濃度掃描測試的環(huán)境優(yōu)選為高真空；在本發(fā)明中，所述高真空的真空度優(yōu)選不高于1000pa，進(jìn)一步優(yōu)選不高于800pa，更優(yōu)選為200～50pa。在本發(fā)明中，所述元素分布亮點圖不同位置處亮度的高低優(yōu)選通過肉眼直接感官區(qū)分。本發(fā)明以所述預(yù)測樣品不同位置處的元素濃度高低的直觀表征實現(xiàn)對所述預(yù)測樣品的元素分布的定性分析。

得到所述預(yù)測樣品的元素分布的直觀表征后，本發(fā)明對待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的距離進(jìn)行確定。本發(fā)明對所述距離確定方式?jīng)]有特殊要求，采用本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的兩點之間距離的測定方式即可。

完成所述距離的測定后，本發(fā)明采用電子能譜技術(shù)對所述待測位置進(jìn)行sem-edxa濃度掃描測試，得到所述待測位置處元素的濃度。在進(jìn)行所述sem-edxa濃度掃描測試前，本發(fā)明優(yōu)選明確需測定的元素的種類，在本發(fā)明中，所述元素的種類優(yōu)選包括cl、mg、s、k、na或ca。任何一種元素滲透過程中，并不是單獨存在的，伴隨著其他元素的遷移，并且不同元素的運動會相互影響，本發(fā)明可以分別得到多種元素的分布結(jié)果，進(jìn)而為多種元素在材料內(nèi)部的運動過程的研究提供基礎(chǔ)。在本發(fā)明中，測試cl的同時，除氫和氧外的任意一種元素分布可以一并得到，從而可以得知多種離子在整個過程的運動狀況，解決了現(xiàn)有技術(shù)中僅能得到單一離子是滲透性指標(biāo)的弊端。

確定所述需測定的元素種類后，本發(fā)明優(yōu)選調(diào)整所述sem-edxa濃度掃描測試的模式為相應(yīng)元素測定的模式。在本發(fā)明中，所述sem-edxa濃度掃描測試的環(huán)境優(yōu)選為高真空；在本發(fā)明中，所述高真空的真空度優(yōu)選不高于1000pa，進(jìn)一步優(yōu)選為不高于800pa，更優(yōu)選為300～500pa。在本發(fā)明中，所述sem-edxa濃度掃描測試優(yōu)選采用線掃描、面掃描或點掃描。

在本發(fā)明中，所述sem-edxa濃度掃描測試的參數(shù)為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀。本發(fā)明，在所述參數(shù)條件下，元素分布測試迅速，3分鐘之內(nèi)即可得到觀察區(qū)域中的元素分布結(jié)果。

在本發(fā)明中，所述待測位置處元素的濃度即為元素分布。在本發(fā)明中，所述待測位置處元素的濃度優(yōu)選以與所述待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端相同距離的元素濃度的平均數(shù)計，提高元素分布的準(zhǔn)確性。在本發(fā)明中，與待測位置距所述預(yù)測樣品滲透初始端相同距離的位置確定方式優(yōu)選為：過所述待測位置作所述預(yù)測樣品元素初始端面的平行線，所述預(yù)測樣品位于所述平行線重合的位置即為與待測位置距所述預(yù)測原配元素滲透初始端相同距離的位置；本發(fā)明對所述位置的具體選取沒有特殊要求，本發(fā)明的實施例在所述樣品位于所述平行線重合的位置出隨機(jī)選取即可。本發(fā)明用于所述元素濃度平均數(shù)計算的位置的個數(shù)優(yōu)選為10～30個，進(jìn)一步優(yōu)選為15～25個，更優(yōu)選為20個。

本發(fā)明還提供了材料滲透系數(shù)的測定方法，包括以下步驟：

采用上述技術(shù)方案所述的元素分布測試方法處理預(yù)測樣品，得到預(yù)測樣品的元素分布結(jié)果；

將所述元素分布結(jié)果代入式i所示公式，得到材料滲透系數(shù)；

式ⅰ中d為所述材料滲透系數(shù)；

所述c為測試位置處的元素濃度值；

所述t為元素分布測試過程中預(yù)測樣品的元素滲透時間；

所述x為所述元素分布結(jié)果對應(yīng)的測試位置距離預(yù)測樣品元素滲透初始端的距離。

在本發(fā)明中，所述c的單位優(yōu)選為％或kg/m³；所述t的單位優(yōu)選為s、min或h；所述x的單位優(yōu)選優(yōu)選為m、μm、mm、cm或dm；所述d的單位由c的單位、t的單位和x的單位共同決定，優(yōu)選為m²/s、cm²/s、dm²/s或mm²/s。

在本發(fā)明中，所述代入式i所示公式中元素濃度值的個數(shù)優(yōu)選為6～10，進(jìn)一步優(yōu)選為7～9個，更優(yōu)選為8個。

本發(fā)明提供的用于元素滲透系數(shù)測定的元素分布測試方法，包括：提供預(yù)測樣品，確定待測位置距所述預(yù)測樣品元素滲透初始端的距離；采用電子能譜技術(shù)對所述待測位置進(jìn)行sem-edxa測試，得到所述待測位置處元素的濃度；所述待測位置處元素的濃度即為元素分布；所述sem-edxa測試的參數(shù)為：放大倍數(shù)為1000倍，成像區(qū)分辨率為1024×800，能譜采集分辨率為128×100，掃描幀數(shù)為64幀。本發(fā)明提供的方法，對滲透深度和滲透濃度要求低，在低于3mm的深度范圍內(nèi)仍可完成元素分布的測定，無需引入外界加速因素，確保測試結(jié)果反映真實的元素滲透情形；測試精度高，即使測試樣品抵抗?jié)B透性能優(yōu)異或者元素滲透周期較短，滲透元素濃度較低的樣品同樣具有良好的測試結(jié)果，并且無需以大量樣品的測試結(jié)果為基準(zhǔn)。

為了進(jìn)一步說明本發(fā)明，下面結(jié)合實施例對本發(fā)明提供的元素分布測試方法及材料滲透系數(shù)的測定方法進(jìn)行詳細(xì)地描述，但不能將它們理解為對本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。

實施例1

以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的cl元素分布及擴(kuò)散系數(shù)的測試為例，其中，本次所測試件的在港口海水中的浸泡時間為14天。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，深度限定表層至任意深度均可。

測試前準(zhǔn)備：待測樣品沿深度方向進(jìn)行打磨，40℃條件下真空干燥24小時。從真空干燥箱中取出之后，再次進(jìn)行精細(xì)拋光打磨。

將拋光后的樣品置于掃描電鏡測試腔中，采用低真空模式，選用sem-edxa測試，調(diào)整為cl元素的測試模式，限定測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，得到cl^-分布兩點圖，測試結(jié)果如圖1所示，粗略的表征cl^-在不同位置的濃度區(qū)別。

以亮點圖為基礎(chǔ)，在以與元素滲透初始位置不同的距離長度處作與元素滲透初始端面平行線，將該圖像位置處沿cl的滲透方向劃分為一系列區(qū)域；限定sem-edxa測試的測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，對不同距離長度處進(jìn)行線掃描，得到任意多組距離混凝土表面不同深度x處的cl^-的濃度分布測試結(jié)果，結(jié)果如表1所示，cl^-分布規(guī)律如圖2所示。

將22-50μm范圍內(nèi)的一組6至10個cl濃度數(shù)據(jù)值及其深度位置(x，c)擬合到菲克第二定律，通過最小二乘法計算偏差的最小值，即可得到混凝土中cl^-的真實擴(kuò)散系數(shù)d，d＝1.25×10^-12m²/s。

表1測試樣品的cl元素分布結(jié)果

實施例2

以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的ca元素分布的測試為例，其中，本次所測試件的浸泡時間為14天。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，深度限定表層至任意深度均可。

測試前準(zhǔn)備：待測樣品沿深度方向進(jìn)行打磨，40℃條件下真空干燥24小時。從真空干燥箱中取出之后，再次進(jìn)行精細(xì)拋光打磨。

將拋光后的樣品置于掃描電鏡測試腔中，采用低真空模式，選用sem-edxa測試，在以與元素滲透初始位置不同的距離長度處作與元素滲透初始端面平行線；限定sem-edxa測試的測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，對不同距離長度處進(jìn)行線掃描，得到任意多組距離混凝土表面不同深度x處的ca的濃度分布測試結(jié)果，ca元素分布規(guī)律如圖3所示。

實施例3

以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的k元素分布的測試為例，其中，本次所測試件的浸泡時間為14天。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，深度限定表層至任意深度均可。

測試前準(zhǔn)備：待測樣品沿深度方向進(jìn)行打磨，40℃條件下真空干燥24小時。從真空干燥箱中取出之后，再次進(jìn)行精細(xì)拋光打磨。

將拋光后的樣品置于掃描電鏡測試腔中，采用低真空模式，選用sem-edxa測試，在以與元素滲透初始位置不同的距離長度處作與元素滲透初始端面平行線；限定sem-edxa測試的測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，對不同距離長度處進(jìn)行線掃描，得到任意多組距離混凝土表面不同深度x處的ca的濃度分布測試結(jié)果，k元素分布規(guī)律如圖4所示。

實施例4

以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的s元素分布的測試為例，其中，本次所測試件的浸泡時間為14天。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，深度限定表層至任意深度均可。

測試前準(zhǔn)備：待測樣品沿深度方向進(jìn)行打磨，40℃條件下真空干燥24小時。從真空干燥箱中取出之后，再次進(jìn)行精細(xì)拋光打磨。

將拋光后的樣品置于掃描電鏡測試腔中，采用低真空模式，選用sem-edxa測試，在以與元素滲透初始位置不同的距離長度處作與元素滲透初始端面平行線；限定sem-edxa測試的測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，對不同距離長度處進(jìn)行線掃描，得到任意多組距離混凝土表面不同深度x處的ca的濃度分布測試結(jié)果，s元素分布規(guī)律如圖4所示。

實施例5

以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的na元素分布的測試為例，其中，本次所測試件的浸泡時間為14天。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，深度限定表層至任意深度均可。

測試前準(zhǔn)備：待測樣品沿深度方向進(jìn)行打磨，40℃條件下真空干燥24小時。從真空干燥箱中取出之后，再次進(jìn)行精細(xì)拋光打磨。

將拋光后的樣品置于掃描電鏡測試腔中，采用低真空模式，選用sem-edxa測試，在以與元素滲透初始位置不同的距離長度處作與元素滲透初始端面平行線；限定sem-edxa測試的測試參數(shù)如下：放大倍數(shù)：×1000倍；成像區(qū)分辨率：1024×800；能譜采集分辨率：128×100；掃描幀數(shù)：64幀，對不同距離長度處進(jìn)行線掃描，得到任意多組距離混凝土表面不同深度x處的ca的濃度分布測試結(jié)果，na元素分布規(guī)律如圖4所示。

對比例1

采用北歐標(biāo)準(zhǔn)ntbuild443中的元素分布測試方法對樣品中的cl^-元素分布及擴(kuò)散系數(shù)進(jìn)行測定，以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的cl^-擴(kuò)散系數(shù)為例。

具體方法如下：

取樣：通過取芯機(jī)或切割機(jī)取需要測試部分的塊狀樣品，樣品必須達(dá)到不低于10mm的測試深度。

樣品磨粉：通過取粉機(jī)，將取到的芯樣逐層磨粉，記錄每層粉末的位置，其中為了保證樣品的數(shù)量以及測試深度的準(zhǔn)確性，每層樣品的厚度為2-3mm。

測試：通過agno3滴定的方法，測試每層粉末樣品的cl濃度，元素分布測試結(jié)果如圖5所示。將元素分布測試結(jié)果，代入fick第二定律公式，得到d值。

對比例2：

北歐標(biāo)準(zhǔn)ntbuild492電子遷移加速方法測試混凝土材料中的cl^-元素分布及擴(kuò)散系數(shù)。以杭州灣港口大橋混凝土保護(hù)層的cl^-擴(kuò)散系數(shù)測試為例。

具體方法如下：

混凝土樣品的制備：根據(jù)大橋采用的混凝土配方在實驗室中制備混凝土，養(yǎng)護(hù)備用；

測試準(zhǔn)備：取備用樣品的圓芯，去除備用樣品的表層和底層混凝土取中間段，將試件安裝于ntbuild492加速測試儀器中，按照本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的方式進(jìn)行安裝，安裝結(jié)果如圖6所示。

測試：試件兩側(cè)表面溶液中，加電壓，使得cl^-在電場作用下(30v或15v或60v)，加速進(jìn)入混凝土樣品中，加壓時間為24h。

測試cl深度：將混凝土樣品劈開，采用agno3溶液噴灑斷面，觀察并記錄cl^-的侵入深度，結(jié)合能斯特普朗克公式，得出cl^-的電子遷移系數(shù)，計為cl^-擴(kuò)散系數(shù)。

對比上述實施例和對比例，可知，ntbuild443的方法相比本發(fā)明所提供的技術(shù)方案相比存在如下缺點：

(1)樣品測試前需要磨粉，并且需要樣品逐個滴定，繁瑣耗時；

(2)受測試樣品厚度的要求，需要滿足滲透層厚度不低于10mm的要求，以滿足fick第二定律回歸法數(shù)據(jù)數(shù)量的要求，難以克服樣品質(zhì)量良好，元素不易滲入或者元素滲入時間短，測試結(jié)果數(shù)量少的問題；

(3)每層只能得到一個測試值，單個測試結(jié)果的偏差對元素滲透系數(shù)影響較大，導(dǎo)致得到的元素滲透系數(shù)準(zhǔn)確性低。

ntbuild492電子遷移加速方法相比本發(fā)明所提供的技術(shù)方案相比存在如下缺點：

ntbuild492測試方法所處理的樣品需經(jīng)實驗室條件的養(yǎng)護(hù)，無法模擬真實的復(fù)雜環(huán)境，難以確保被測試樣品所處環(huán)境的完全還原；并需結(jié)合電子加速方式加速元素的滲透，便于達(dá)到測試深度的要求，但是經(jīng)過電場的加速作用，使得樣品中元素的自然滲透喪失了本質(zhì)特性，降低元素分布結(jié)果的真實性。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。