本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體激光器芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著激光顯示、激光照明、3D打印、空地一體化網(wǎng)絡(luò)等新興領(lǐng)域的迅速發(fā)展，高功率半導(dǎo)體激光器市場(chǎng)逐步擴(kuò)大，高功率半導(dǎo)體激光器市場(chǎng)需求量的高漲帶來了對(duì)上游半導(dǎo)體激光器芯片的巨大需求，對(duì)半導(dǎo)體激光器芯片輸出功率、可靠性的要求也越來越大。

為了有效的進(jìn)行測(cè)試，需要將半導(dǎo)體激光器芯片貼片封裝在導(dǎo)熱系數(shù)高的熱沉上，簡稱半導(dǎo)體激光器芯片組件，方便后續(xù)的二次集成封裝設(shè)計(jì)，如光纖耦合，常見的貼片封裝形式是COS(Chip On Submount)封裝。

在特定的電流、功率、溫度下定時(shí)間的老化測(cè)試和長時(shí)間壽命測(cè)試，對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的要求非常高，對(duì)于老化測(cè)試而言，如果有因測(cè)試系統(tǒng)造成半導(dǎo)體激光器芯片的意外死亡將導(dǎo)致大量的損失，而對(duì)于長期的壽命測(cè)試過程如若因發(fā)生意外會(huì)使整個(gè)壽命測(cè)試前功盡棄，損失無法估量。因此針對(duì)半導(dǎo)體激光器芯片組件測(cè)試安全防護(hù)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)非常重要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)，能夠提高測(cè)試的安全性，避免因半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效帶來的損失。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)，包括：

測(cè)試柜，其包括裝載平臺(tái)，多個(gè)待測(cè)試的芯片組件放置在所述裝載平臺(tái)上；

測(cè)試電源，用以向所述多個(gè)待測(cè)試的芯片組件提供測(cè)試電流；

空氣粒子計(jì)數(shù)器，設(shè)置在所述測(cè)試柜中，用于監(jiān)控所述測(cè)試柜內(nèi)的空氣潔凈度；

計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)，分別與所述測(cè)試電源和所述空氣粒子計(jì)數(shù)器連接，用以根據(jù)所述空氣潔凈度，向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令。

其中，所述根據(jù)空氣潔凈度，向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令，包括：

當(dāng)所述空氣潔凈度異常時(shí)，所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令，以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，當(dāng)所述空氣潔凈度超過百級(jí)時(shí)，所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令，以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，所述測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)一步包括：

空氣過濾器，用以向所述測(cè)試柜提供潔凈的空氣。

其中，所述空氣過濾器設(shè)置在所述測(cè)試柜頂部，向下提供潔凈的空氣；所述空氣粒子計(jì)數(shù)器設(shè)置在所述測(cè)試柜底部。

其中，所述空氣粒子計(jì)數(shù)器為兩個(gè)，分別設(shè)置在所述測(cè)試柜底部的兩側(cè)。

其中，當(dāng)其中一個(gè)所述空氣粒子計(jì)數(shù)器監(jiān)控到所述測(cè)試柜內(nèi)的空氣潔凈度超過百級(jí)時(shí)，所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令，以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，當(dāng)其中一個(gè)所述空氣粒子計(jì)數(shù)器監(jiān)控到所述測(cè)試柜內(nèi)的空氣潔凈度超過百級(jí)時(shí)，所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令，以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，所述報(bào)警子系統(tǒng)包括警報(bào)燈和蜂鳴器。

其中，當(dāng)計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令時(shí)，所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)將故障代碼通過郵件發(fā)送至相應(yīng)人員。

本實(shí)用新型的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本實(shí)用新型通過在測(cè)試柜中設(shè)置空氣粒子計(jì)數(shù)器，測(cè)量測(cè)試柜中空氣中的顆粒數(shù)量，以判斷測(cè)試柜中空氣潔凈度，當(dāng)測(cè)試柜中空氣潔凈度異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)可向測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令，以避免測(cè)試過程中造成半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效，進(jìn)而減少損失。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型一實(shí)施方式的一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型另一實(shí)施方式的一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型又一實(shí)施方式的一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)示意圖；

圖4是本實(shí)用新型又一實(shí)施方式的一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。

如圖1，本實(shí)用新型實(shí)施方式的一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試系統(tǒng)可用于對(duì)芯片進(jìn)行老化測(cè)試及壽命測(cè)試，也可用于芯片的其它測(cè)試；測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試柜100、測(cè)試電源200、空氣粒子計(jì)數(shù)器700和計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500。

測(cè)試柜100可提供相對(duì)密閉的測(cè)試環(huán)境，以降低測(cè)試過程中外界的干擾因素的影響；測(cè)試柜100包括裝載平臺(tái)110，多個(gè)待測(cè)試的芯片組件放置在裝載平臺(tái)110上；通過設(shè)置裝載平臺(tái)110，將多個(gè)待測(cè)試的芯片組件放置在裝載平臺(tái)110上，可實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)芯片組件進(jìn)行測(cè)試，提高測(cè)試效率；其中，本實(shí)用新型實(shí)施方式的芯片組件是將半導(dǎo)體激光器芯片貼片封裝在導(dǎo)熱系數(shù)高的熱沉上而形成，封裝形式可以是COS，也可以是本領(lǐng)域常規(guī)的其它形式。多個(gè)待測(cè)試的芯片組件可通過相互串聯(lián)的方式放置在裝載平臺(tái)110上，可以理解的，在其它實(shí)施方式中，多個(gè)待測(cè)試的芯片組件并不限于串聯(lián)的形式，也可采用其它連接方式。多個(gè)待測(cè)試的芯片組件可在裝載平臺(tái)110上整齊排成一列或者多列，在一實(shí)施方式中，可以設(shè)置裝載平臺(tái)110上的各個(gè)待測(cè)試組件之間的間距相等，并且均勻分布在裝載平臺(tái)110上，這樣可以保證在測(cè)試過程中，裝載平臺(tái)110上各處溫度的均一性，利于溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400對(duì)裝載平臺(tái)110進(jìn)行溫度監(jiān)控。可以理解的，在其它實(shí)施方式中，也可設(shè)置多個(gè)裝載平臺(tái)110。

測(cè)試電源200與多個(gè)待測(cè)試的芯片組件連接，用以向多個(gè)待測(cè)試的芯片組件提供測(cè)試電流，以使多個(gè)待測(cè)試的芯片組件工作。

空氣粒子計(jì)數(shù)器700設(shè)置在測(cè)試柜100中，并與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接，用于監(jiān)控測(cè)試柜100內(nèi)的空氣潔凈度，并將空氣潔凈度發(fā)送至計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500根據(jù)空氣潔凈度，向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令。

當(dāng)空氣中顆粒太多時(shí)，容易造成正在工作的芯片組件發(fā)光端面污染，本實(shí)用新型實(shí)施方式通過在測(cè)試柜100中設(shè)置空氣粒子計(jì)數(shù)器700，測(cè)量測(cè)試柜100中空氣中的顆粒數(shù)量，以判斷測(cè)試柜100中空氣潔凈度，當(dāng)測(cè)試柜100中空氣潔凈度異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500可向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令，以避免測(cè)試過程中造成半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效，進(jìn)而減少損失。

其中，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500根據(jù)空氣潔凈度結(jié)果，向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令，包括：

當(dāng)空氣潔凈度結(jié)果異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令，以使測(cè)試電源200停止向芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，本實(shí)用新型實(shí)施方式將測(cè)試柜100內(nèi)的空氣潔凈度控制在百級(jí)以內(nèi)，以為芯片組件測(cè)試提供可靠環(huán)境，當(dāng)空氣潔凈度超過百級(jí)時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令，以使測(cè)試電源200停止向芯片組件提供測(cè)試電流。

其中，本實(shí)用新型實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)還包括空氣過濾器800，用以向測(cè)試柜100提供潔凈的空氣。通過設(shè)置空氣過濾器800，可保證測(cè)試柜100中具有高空氣潔凈度的內(nèi)部環(huán)境，可使測(cè)試柜100中的空氣潔凈度達(dá)百級(jí)。

其中，空氣過濾器800設(shè)置在測(cè)試柜100頂部，向下提供潔凈的空氣；空氣粒子計(jì)數(shù)器700設(shè)置在測(cè)試柜100底部。測(cè)試柜100中的空氣流動(dòng)是由上往下的，相對(duì)于測(cè)試柜100外面的空氣，測(cè)試柜100里面的空氣是正壓，底部具有往外的出風(fēng)口，以保證測(cè)試柜100中具有高空氣潔凈度的內(nèi)部環(huán)境。

其中，空氣粒子計(jì)數(shù)器700為兩個(gè)，分別設(shè)置在測(cè)試柜100底部的兩側(cè)。當(dāng)其中一個(gè)空氣粒子計(jì)數(shù)器700監(jiān)控到空氣潔凈度超過百級(jí)時(shí)，即判斷測(cè)試柜100中的空氣潔凈度異常，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令，以使測(cè)試電源200停止向芯片組件提供測(cè)試電流?？梢岳斫獾?，在本實(shí)用新型其它實(shí)施方式中，可以根據(jù)需要在測(cè)試柜100中設(shè)置三個(gè)以上的空氣粒子計(jì)數(shù)器700。

其中，如圖2，本實(shí)用新型實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)還包括冷卻子系統(tǒng)300和溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400，冷卻子系統(tǒng)300用于向裝載平臺(tái)110提供循環(huán)冷卻液體，以為芯片組件的測(cè)試提供穩(wěn)定可靠的溫度；冷卻液體可采用水，也可采用其它比熱容較高的液體。芯片組件在測(cè)試過程中會(huì)產(chǎn)生大量的熱量，這部分熱量會(huì)通過冷卻子系統(tǒng)300的循環(huán)冷卻液體從裝載平臺(tái)110帶走，從而保證測(cè)試過程中裝載平臺(tái)110及芯片組件溫度的穩(wěn)定。溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400用于監(jiān)控裝載平臺(tái)110和循環(huán)冷卻液體的溫度。

計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500分別與冷卻子系統(tǒng)300以及溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400連接，用以控制冷卻子系統(tǒng)300提供具有穩(wěn)定可靠的溫度的循環(huán)冷卻液，并根據(jù)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400所監(jiān)控的結(jié)果，向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令。

本實(shí)用新型實(shí)施方式的半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)利用溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400監(jiān)控裝載平臺(tái)110和循環(huán)冷卻液體的溫度，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制冷卻子系統(tǒng)300提供具有穩(wěn)定可靠的溫度的循環(huán)冷卻液，并根據(jù)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400所監(jiān)控的結(jié)果，向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令；當(dāng)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400監(jiān)控到裝載平臺(tái)110或循環(huán)冷卻液體的溫度出現(xiàn)異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500可向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令，以避免測(cè)試過程中造成半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效，進(jìn)而減少損失。

其中，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500根據(jù)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400所監(jiān)控的結(jié)果，向測(cè)試電源200發(fā)出相應(yīng)的控制指令，包括：

當(dāng)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400監(jiān)控到溫度異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令，以使測(cè)試電源200停止向芯片組件提供測(cè)試電流。

當(dāng)芯片測(cè)試過程中發(fā)生異常情況，芯片組件的發(fā)熱變得不穩(wěn)定，使得裝載平臺(tái)110的溫度變得不穩(wěn)定，這時(shí)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400將溫度異常的信號(hào)反饋至計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500通過控制測(cè)試電源200進(jìn)行切斷電流輸出，停止向芯片組件提供測(cè)試電流，使芯片組件停止工作。溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400還監(jiān)控循環(huán)冷卻液體的溫度，當(dāng)冷卻液體的溫度發(fā)生異常波動(dòng)時(shí)，溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400將冷卻液體溫度異常的信號(hào)反饋至計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500通過控制測(cè)試電源200進(jìn)行切斷電流輸出，停止向芯片組件提供測(cè)試電流，使芯片組件停止工作。

本實(shí)用新型實(shí)施方式的測(cè)試電源200可為可編程電源，測(cè)試電源200可實(shí)時(shí)向計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500反饋輸出的電流和電壓。在測(cè)試過程中，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500可實(shí)時(shí)監(jiān)控芯片組件的工作電流和所有芯片組件的工作電壓，當(dāng)工作電流或工作電壓出現(xiàn)異常情況，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制測(cè)試電源200切斷電流輸出，防止因電流輸出異常造成芯片組件的意外失效。其中，當(dāng)測(cè)試柜100中具有多個(gè)裝載平臺(tái)110時(shí)，可設(shè)置多個(gè)測(cè)試電源200與其對(duì)應(yīng)，每個(gè)裝載平臺(tái)110由一個(gè)測(cè)試電源200提供測(cè)試電流，各個(gè)測(cè)試電源200分別連接到計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500。

其中，溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400包括設(shè)置在裝載平臺(tái)110上的溫度探頭410，用于探測(cè)裝載平臺(tái)110的溫度。

其中，如圖3，溫度探頭410為三個(gè)，分別沿芯片組件分布的方向設(shè)置在裝載平臺(tái)110上的不同位置。計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500可以根據(jù)三個(gè)溫度探頭410所探測(cè)的溫度的平均值作為參考，以判斷裝載平臺(tái)110上的溫度是否異常。

本實(shí)用新型實(shí)施方式中溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400還包括用于探測(cè)循環(huán)冷卻水溫度的溫度探頭361。

其中，冷卻子系統(tǒng)300包括冷卻液體供給機(jī)310、冷卻回路370和主閥門320。

冷卻液體供給機(jī)310用于提供和回收循環(huán)冷卻液體，并且與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接；可在冷卻液體供給機(jī)310上設(shè)置控制面板，用于調(diào)節(jié)供給的循環(huán)冷卻液體的溫度及開啟和關(guān)閉冷卻液體的循環(huán)；也可通過計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500直接控制調(diào)節(jié)供給的循環(huán)冷卻液體的溫度及開啟和關(guān)閉冷卻液體的循環(huán)。

冷卻回路370兩端分別連接冷卻液體供給機(jī)310，裝載平臺(tái)110設(shè)置在冷卻回路370上；冷卻回路370是循環(huán)冷卻液體循環(huán)的通道，冷卻液體從冷卻液體供給機(jī)310流出經(jīng)過裝載平臺(tái)110后流回冷卻液體供給機(jī)310。本實(shí)用新型實(shí)施方式中，可在裝載平臺(tái)110中設(shè)置冷卻液體槽，冷卻回路370中的冷卻液體從冷卻液體槽中流過，以帶走裝載平臺(tái)110上的熱量；其中冷卻液體槽可以是覆蓋整個(gè)裝載平臺(tái)110的范圍的單向槽，也可以是沿著芯片組件分布方向設(shè)置，也可以是之字形設(shè)置的槽。

主閥門320設(shè)置在冷卻液體供給機(jī)310的出液口與裝載平臺(tái)110之間的冷卻回路370上，并與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接，以在計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500的控制下進(jìn)行開啟和關(guān)閉。通過主閥門320可以暫停或開啟冷卻液體的循環(huán)；本實(shí)用新型實(shí)施方式中，主閥門320可采用電磁閥。

其中，冷卻子系統(tǒng)300還包括流量計(jì)330，流量計(jì)330設(shè)置在冷卻液體供給機(jī)310的入液口與裝載平臺(tái)110之間的冷卻回路370上，并與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接，以將測(cè)量的流量數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500。冷卻液體流量過大會(huì)造成冷卻回路370上的連接器件承受不住較大的壓力，若冷卻液體流量較小，又不能及時(shí)將芯片組件熱量帶走。本實(shí)用新型實(shí)施方式通過流量計(jì)330可實(shí)時(shí)監(jiān)控冷卻回路370的液體流量，當(dāng)冷卻回路370的液體流量異常，可通過計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制主閥門320關(guān)閉，同時(shí)控制測(cè)試電流切斷電流輸出。流量計(jì)330可為渦輪或葉輪流量計(jì)330。渦輪流量計(jì)330帶有電壓信號(hào)反饋，某一電壓信號(hào)對(duì)應(yīng)確定數(shù)值的流量，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500可以簡單通過數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行準(zhǔn)確讀取。

其中，冷卻子系統(tǒng)300還包括冷卻液品質(zhì)檢測(cè)儀340，冷卻液品質(zhì)檢測(cè)儀340設(shè)置在冷卻液體供給機(jī)310的入液口與裝載平臺(tái)110之間的冷卻回路370上，并與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接，以將測(cè)量的冷卻液品質(zhì)數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500。當(dāng)冷卻液的品質(zhì)超過規(guī)格，即為異常，可判斷冷卻液體中雜質(zhì)過量，可能結(jié)垢并堵塞冷卻回路370；本實(shí)用新型實(shí)施方式可根據(jù)需要，當(dāng)冷卻液的品質(zhì)超過預(yù)定值時(shí)，利用計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制主閥門320關(guān)閉，同時(shí)控制測(cè)試電流切斷電流輸出。

其中，冷卻液品質(zhì)數(shù)據(jù)包括pH值和電導(dǎo)率；即冷卻液品質(zhì)檢測(cè)儀340可以是pH值測(cè)量儀或者電導(dǎo)率測(cè)量儀。

其中，冷卻子系統(tǒng)300還包括過濾器350，過濾器350設(shè)置在主閥門320和冷卻液體供給機(jī)310的出液口之間的冷卻回路370上。通過過濾器350的過濾，使得冷卻液體相對(duì)干凈，降低長期的工作造成管路堵塞的風(fēng)險(xiǎn)。本實(shí)用新型實(shí)施方式將過濾器350和冷卻液品質(zhì)檢測(cè)儀340配合使用，可大大降低管路堵塞的風(fēng)險(xiǎn)。

其中，如圖4，當(dāng)測(cè)試柜100中設(shè)置有多個(gè)裝載平臺(tái)110時(shí)，還可在主閥門320與多個(gè)裝載平臺(tái)110之間設(shè)置分流閥360，冷卻液體通過分流閥360分別流向多個(gè)裝載平臺(tái)110；其中，測(cè)量冷卻液體溫度的溫度探頭410設(shè)置在分流閥360內(nèi)。

其中，本實(shí)用新型實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)還包括報(bào)警子系統(tǒng)600，報(bào)警子系統(tǒng)600，與計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500連接，當(dāng)計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制報(bào)警子系統(tǒng)600發(fā)出警報(bào)。

本實(shí)用新型實(shí)施方式設(shè)置報(bào)警子系統(tǒng)600，在測(cè)試環(huán)境或測(cè)試系統(tǒng)出現(xiàn)異常時(shí)，通過計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500控制報(bào)警子系統(tǒng)600發(fā)出警報(bào)，以提醒操作人員。

本實(shí)用新型實(shí)施方式的報(bào)警子系統(tǒng)600可包括警報(bào)燈610和蜂鳴器，警報(bào)燈610可包括具有三種不同顏色光的三色燈組，三色燈組的不同色燈顯示分別表示測(cè)試系統(tǒng)不同的狀態(tài)，蜂鳴器主要起到報(bào)警作用。三色燈組包括藍(lán)色燈、黃色燈和紅色燈；其中，三色燈中如果紅色燈亮表示系統(tǒng)出現(xiàn)異常，如果藍(lán)色燈亮代表系統(tǒng)狀態(tài)良好，處于待機(jī)狀態(tài)，如果黃色燈亮代表系統(tǒng)狀態(tài)良好，處于正常測(cè)試工作狀態(tài)。蜂鳴器可固定設(shè)置在三色燈組中。

其中，本實(shí)用新型實(shí)施方式中，當(dāng)計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500向測(cè)試電源200發(fā)出切斷指令時(shí)，即監(jiān)控到異常時(shí)，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500將故障代碼通過郵件發(fā)送至相應(yīng)人員，以方便操作人員及時(shí)對(duì)設(shè)備進(jìn)行故障排查。

本實(shí)用新型實(shí)施方式的計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500包括工控機(jī)、數(shù)據(jù)采集卡、多功能控制板卡，計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)500通過協(xié)調(diào)控制測(cè)試電源200、冷卻子系統(tǒng)300、溫度監(jiān)控子系統(tǒng)400、空氣粒子計(jì)數(shù)器700等，將采集得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、分析、計(jì)算，最后通過數(shù)據(jù)圖表方式顯示出來，一旦監(jiān)控異常，將會(huì)進(jìn)行相應(yīng)防護(hù)，并觸發(fā)報(bào)警，同時(shí)可自動(dòng)通過郵件發(fā)送故障信息，及時(shí)提醒相關(guān)工作人員進(jìn)行處理。

以上僅為本實(shí)用新型的實(shí)施方式，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。