技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種半導(dǎo)體激光器芯片的測試系統(tǒng)，包括測試柜、測試電源、空氣粒子計數(shù)器和計算機(jī)處理子系統(tǒng)；測試柜，其包括裝載平臺，多個待測試的芯片組件放置在所述裝載平臺上；測試電源，用以向所述多個待測試的芯片組件提供測試電流；空氣粒子計數(shù)器，設(shè)置在所述測試柜中，用于監(jiān)控所述測試柜內(nèi)的空氣潔凈度；計算機(jī)處理子系統(tǒng)，分別與所述測試電源和所述空氣粒子計數(shù)器連接，用以根據(jù)所述空氣潔凈度，向所述測試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令。通過上述方式，本實用新型能夠提高測試的安全性，避免因半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效帶來的損失。

技術(shù)研發(fā)人員：胡海;劉文斌;王泰山;李成鵬;方繼林
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳清華大學(xué)研究院;深圳瑞波光電子有限公司
文檔號碼：201720084471
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.20
技術(shù)公布日：2017.10.10