本實(shí)用新型涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種放樣打點(diǎn)裝置。

背景技術(shù)：

測(cè)量中平面位置放樣一般使用全站儀，確定好激光接收裝置，即小棱鏡的位置后，在相應(yīng)位置做標(biāo)示，若在鋼結(jié)構(gòu)上，則使用樣沖等進(jìn)行沖點(diǎn)，通視放樣需要反復(fù)挪動(dòng)，耗時(shí)較長(zhǎng)。

激光跟蹤儀的精度高于全站儀，能進(jìn)行高精度的放樣，且配合激光跟蹤儀的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)功能，能立刻找到相應(yīng)的放樣點(diǎn)位置，但現(xiàn)有的靶座無法再確定位置后立刻打點(diǎn)，一般采用畫圓找中心的方式，得到中心點(diǎn)，但這樣找到的中心點(diǎn)會(huì)造成放樣點(diǎn)精度降低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種放樣打點(diǎn)裝置，能提高測(cè)量放樣的精度與速度，減小誤差累積。

為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種放樣打點(diǎn)裝置，包括：

臺(tái)座，所述臺(tái)座呈圓柱狀，沿其中軸線開設(shè)通孔；

靶座，設(shè)置在所述通孔內(nèi)，且位于所述通孔的一側(cè)；

套筒，設(shè)置在所述通孔內(nèi)，且位于所述通孔的另一側(cè)，所述靶座和所述套筒過盈配合固定，且所述靶座和所述套筒同軸；

其中，在所述套筒外部套設(shè)有磁環(huán)，所述磁環(huán)貼合所述靶座。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，還包括彈性擋圈，所述磁環(huán)通過所述彈性擋圈固定在所述臺(tái)座的通孔內(nèi)。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述靶座、所述套筒及所述臺(tái)座三者同軸。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述靶座和所述套筒的同軸度的誤差小于0.05mm。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述套筒遠(yuǎn)離所述靶座的一端與所述臺(tái)座的表面齊平，且做粗糙處理。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，還包括樣沖，所述樣沖能穿過所述靶座及套筒，且與所述套筒適配。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述樣沖與所述套筒的間隙小于0.05mm。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述臺(tái)座靠近所述套筒一側(cè)的表面開設(shè)有凹槽，在所述凹槽內(nèi)設(shè)有磁鐵。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，所述凹槽為3個(gè)，均布在所述套筒的周圍。

本實(shí)用新型提供的一種放樣打點(diǎn)裝置，能提高測(cè)量放樣的精度與速度，減小誤差累積。

附圖說明

包括附圖是為提供對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步的理解，它們被收錄并構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，附圖示出了本實(shí)用新型的實(shí)施例，并與本說明書一起起到解釋本實(shí)用新型原理的作用。附圖中：

圖1示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的剖視圖。

圖3示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的樣沖的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

現(xiàn)在將詳細(xì)參考附圖描述本實(shí)用新型的實(shí)施例。在任何可能的情況下，在所有附圖中將使用相同的標(biāo)記來表示相同或相似的部分。此外，盡管本實(shí)用新型中所使用的術(shù)語是從公知公用的術(shù)語中選擇的，但是本實(shí)用新型說明書中所提及的一些術(shù)語可能是申請(qǐng)人按他或她的判斷來選擇的，其詳細(xì)含義在本文的描述的相關(guān)部分中說明。此外，要求不僅僅通過所使用的實(shí)際術(shù)語，而是還要通過每個(gè)術(shù)語所蘊(yùn)含的意義來理解本實(shí)用新型。

圖1示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的剖視圖。圖3示出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的樣沖的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，一種放樣打點(diǎn)裝置100包括臺(tái)座110、靶座120和套筒130。

臺(tái)座110呈圓柱狀，沿其中軸線開設(shè)通孔。靶座120設(shè)置在通孔的一側(cè)，參考圖2，靶座120位于通孔內(nèi)的上部。靶座120適于與靶球配合，可以將靶球固定在靶座上用于檢測(cè)。套筒130同樣設(shè)置在通孔內(nèi)，且位于通孔的另一側(cè)，即位于圖2中通孔的下部。

其中，靶座120的底部和套筒130的頂部過盈配合固定，且靶座120和套筒130同軸。在套筒130的外部套設(shè)有磁環(huán)140，磁環(huán)140貼合靶座120的底面。

進(jìn)一步的，放樣打點(diǎn)裝置100還包括彈性擋圈150，磁環(huán)140通過彈性擋圈150固定在臺(tái)座110的通孔內(nèi)。

較佳地，靶座120、套筒130及臺(tái)座110三者同軸。

較佳地，靶座120和套筒130的同軸度的誤差小于0.05mm。

較佳地，套筒130遠(yuǎn)離靶座120的一端131與臺(tái)座110的表面(底面)齊平，且做粗糙處理。靶座120的一端131的表面經(jīng)粗糙處理后，具有防滑作用，便于臺(tái)座110在光滑度較高的表面上定位。

較佳地，放樣打點(diǎn)裝置100還包括樣沖160。樣沖160采用高硬度碳鋼制作，用于對(duì)測(cè)量結(jié)果做標(biāo)記，其頂部磨尖，能穿過靶座120及套筒130，且與套筒130適配。更佳地，樣沖160與套筒130的配合間隙小于0.05mm。

較佳地，臺(tái)座110靠近套筒130一側(cè)的表面開設(shè)有凹槽111，在凹槽111內(nèi)設(shè)有磁鐵112。更佳地，凹槽111為3個(gè)，每個(gè)凹槽111設(shè)有一塊磁鐵112。三個(gè)凹槽111均布在套筒130的周圍。三塊磁鐵112能配合磁環(huán)140，保證靶球被置于臺(tái)座110的靶座120上時(shí)的接合性及穩(wěn)定性。

使用本實(shí)用新型描述的放樣打點(diǎn)裝置100時(shí)，首先將靶球設(shè)置到臺(tái)座110的靶座120上，利用磁環(huán)140和磁鐵112穩(wěn)固靶球。接著，在平面位置上移動(dòng)臺(tái)座110。定位后，移除靶球，采用樣沖160穿過套筒130在平面上做出標(biāo)記。在平面為金屬表面的情況下效果更佳，臺(tái)座110可以在金屬表面上自由移動(dòng)，樣沖160可以更好的進(jìn)行沖點(diǎn)，獲得的標(biāo)示清晰，測(cè)量檢核偏差能滿足施工要求。放樣打點(diǎn)裝置100能達(dá)到邊測(cè)量邊放樣的功能，因而提高了放樣效率。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可顯見，可對(duì)本實(shí)用新型的上述示例性實(shí)施例進(jìn)行各種修改和變型而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。因此，旨在使本實(shí)用新型覆蓋落在所附權(quán)利要求書及其等效技術(shù)方案范圍內(nèi)的對(duì)本實(shí)用新型的修改和變型。