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      自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置的制作方法

      文檔序號:12313640閱讀:352來源:國知局

      本實用新型涉及一種檢測裝置,尤其是一種自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置。



      背景技術(shù):

      利用激光來檢測氣體或液體中的顆粒物是一種常用的手段,靈敏度高,使用方便,但在使用時,由于環(huán)境條件如溫度、濕度、壓力等等的變化、激光光源的變化、檢測器隨著使用時間和周圍環(huán)境的變化和相關(guān)信號處理電路的變化,檢測器本身的暗信號,等等眾多的因素造成測量結(jié)果往往存在比較大的漂移,而該方法的儀器進(jìn)行校準(zhǔn)又是比較麻煩的事情,精確校準(zhǔn)往往需要專業(yè)的粒子發(fā)生設(shè)備,體積大,價格昂貴,給實際工作造成很大的困擾。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      為了解決上述技術(shù)問題,實用新型提供了一種自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置,增加補償檢測器來補償裝置由于各種原因所產(chǎn)生的漂移,并調(diào)整光線檢測結(jié)構(gòu)使其與補償檢測器可以配合使用,解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的由于較大漂移導(dǎo)致的檢測不精確需要校準(zhǔn)帶來的設(shè)備體積大、價格昂貴且實際使用不方便的技術(shù)問題。

      為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術(shù)方案是:自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置,包括有外部的光源和檢測室,在檢測室內(nèi)部充有待檢測的氣體或者液體,其特征在于:所述的光源產(chǎn)生光線,經(jīng)過光路上設(shè)置的光學(xué)處理裝置進(jìn)行處理,之后光路分為兩路,一路傳輸?shù)綑z測室外部設(shè)置的補償檢測器中,補償檢測器產(chǎn)生的補償信號傳輸?shù)叫盘柼幚硌b置I中,另一路進(jìn)入檢測室內(nèi)部;

      進(jìn)入檢測室內(nèi)部的光信號,經(jīng)過液體或者氣體中顆粒物作用后,傳輸?shù)皆O(shè)置在檢測室內(nèi)部的主檢測器中,和/或光信號過液體或者氣體中顆粒物作用后先通過光線處理鏡處理再傳輸?shù)皆O(shè)置在檢測室外部的主檢測器;主檢測器將檢測后的信號輸出到信號處理裝置II中進(jìn)行分析處理;信號處理裝置I輸出的補償信號輸出到信號處理裝置II中進(jìn)行補償。

      所述的光線處理鏡分別設(shè)置在光線的兩側(cè),為凸透鏡和/或凹面鏡。

      所述的檢測室內(nèi)部設(shè)置有光陷阱,光線經(jīng)過檢測室中的待測氣體或者液體并檢測結(jié)束后,進(jìn)入光陷阱進(jìn)行消光。

      所述的光學(xué)處理裝置處理后的光信號,經(jīng)過光線處理鏡處理后再進(jìn)入檢測室外部的主檢測器時,主檢測器安裝在進(jìn)入檢測室的光線的垂直方向,與入射光線構(gòu)成一個平面。

      所述的主檢測器與補償檢測器為同一型號,同一批次的檢測器,并進(jìn)行有效匹配。

      所述的信號處理裝置I和信號處理裝置II具體為相同的電路結(jié)構(gòu),并設(shè)計在同一塊電路板上,進(jìn)行有效匹配。

      所述的信號處理裝置I和信號處理裝置II采用同一個A/D轉(zhuǎn)換裝置和同一個數(shù)據(jù)處理裝置,把檢測器和補償檢測器中產(chǎn)生的模擬信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,并進(jìn)行處理。

      本實用新型的有益效果在于:本實用新型提供了一種自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置,增加補償檢測器來補償裝置由于各種原因所產(chǎn)生的漂移,并調(diào)整光線檢測結(jié)構(gòu)使其與補償檢測器可以配合使用,上述結(jié)構(gòu)能夠自動連續(xù)地補償裝置由于多種原因所產(chǎn)生的測量結(jié)果的漂移,使得數(shù)據(jù)更為準(zhǔn)確可靠,極大地減輕了工作量,為科研、環(huán)保等領(lǐng)域的應(yīng)用提供了科學(xué)、合理的裝置。

      附圖說明

      圖1:為本實用新型外部結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實施方式

      自動漂移補償?shù)念w粒物檢測裝置,包括有外部的光源1和檢測室5,在檢測室5內(nèi)部充有待檢測的氣體或者液體,結(jié)構(gòu)為:所述的光源1產(chǎn)生光線,經(jīng)過光路上設(shè)置的光學(xué)處理裝置2進(jìn)行處理,之后光路分為兩路,一路傳輸?shù)綑z測室5外部設(shè)置的補償檢測器3中,補償檢測器3產(chǎn)生的補償信號傳輸?shù)叫盘柼幚硌b置I4中,另一路進(jìn)入檢測室5內(nèi)部;

      進(jìn)入檢測室5內(nèi)部的光信號,經(jīng)過液體或者氣體中顆粒物作用后,傳輸?shù)皆O(shè)置在檢測室內(nèi)部的主檢測器8中,和/或光信號過液體或者氣體中顆粒物作用后先通過光線處理鏡處理再傳輸?shù)皆O(shè)置在檢測室5外部的主檢測器8;主檢測器8將檢測后的信號輸出到信號處理裝置II9中進(jìn)行分析處理;信號處理裝置I4輸出的補償信號輸出到信號處理裝置II9中進(jìn)行補償。

      所述的光線處理鏡分別設(shè)置在光線的兩側(cè),為凸透鏡6和/或凹面鏡7。光線處理鏡可對待檢測液體或者氣體中顆粒物所產(chǎn)生的的散射光進(jìn)行處理,例如可以進(jìn)行匯聚、濾光等處理并把處理后的光送入住檢測器8中進(jìn)行檢測。凸透鏡6可通過鍍膜處理具有增透、單色等功能,凹面鏡7和通過鍍膜處理具有增反、單色等功能。此處可以根據(jù)需要選用不同的光學(xué)處理鏡,不僅僅局限于凸透鏡6和凹面鏡7。

      所述的檢測室5內(nèi)部設(shè)置有光陷阱10,光線經(jīng)過檢測室5中的待測氣體或者液體并檢測結(jié)束后,進(jìn)入光陷阱10進(jìn)行消光,以有效的減小雜散光,提高信噪比。

      所述的光學(xué)處理裝置2處理后的光信號,經(jīng)過光線處理鏡處理后再進(jìn)入檢測室5外部的主檢測器8時,主檢測器8安裝在進(jìn)入檢測室5的光線的垂直方向,與入射光線構(gòu)成一個平面。待測氣體或液體從垂直該平面的方向上流過,其中的顆粒物產(chǎn)生的散射光線被凸透鏡6和凹面鏡7處理后進(jìn)入所述主檢測器8,所述主檢測器8產(chǎn)生的信號由所述信號處理裝置9所處理,并在后續(xù)數(shù)據(jù)處理步驟中用補償檢測器3的信號進(jìn)行補償處理。

      所述的光學(xué)處理裝置2處理后的光信號直接進(jìn)入主檢測器8時,主檢測器8安裝在如圖所示的虛線表示位置處,此時主檢測器8直接檢測入射光線被待檢測氣體或液體中的顆粒物散射、吸收后的光強。

      有選的,所述的主檢測器8與補償檢測器3為同一型號,同一批次的檢測器,并進(jìn)行有效匹配。所述的信號處理裝置I4和信號處理裝置II9具體為相同的電路結(jié)構(gòu),并設(shè)計在同一塊電路板上,進(jìn)行有效匹配。具體的信號處理裝置I4和信號處理裝置II9采用同一個A/D轉(zhuǎn)換裝置和同一個數(shù)據(jù)處理裝置,把檢測器和補償檢測器中產(chǎn)生的模擬信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,并進(jìn)行處理。實際使用時,即使不采用此段限定的結(jié)構(gòu),也能實現(xiàn)很好的效果。如果采用此段限定的結(jié)構(gòu),會得到更好的使用效果。

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