技術(shù)特征：

1.一種測(cè)溫電路，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)溫電路，其特征在于，所述電壓跟隨電路包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)溫電路，其特征在于，所述第二開(kāi)關(guān)、所述第三開(kāi)關(guān)和所述第四開(kāi)關(guān)均為晶體管，所述測(cè)溫電路還包括連接到所述第二開(kāi)關(guān)的柵極、所述第三開(kāi)關(guān)的柵極和所述第四開(kāi)關(guān)的柵極的開(kāi)關(guān)控制電路，所述開(kāi)關(guān)控制電路被配置為控制所述第二開(kāi)關(guān)、所述第三開(kāi)關(guān)和所述第四開(kāi)關(guān)擇一地導(dǎo)通。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)溫電路，其特征在于，所述第二開(kāi)關(guān)、所述第三開(kāi)關(guān)和所述第四開(kāi)關(guān)均為n型晶體管，所述開(kāi)關(guān)控制電路包括：

5.一種測(cè)溫方法，應(yīng)用于如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的測(cè)溫電路，其特征在于，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)溫方法，其特征在于，所述基于所述第一電壓、所述第二電壓和所述第三電壓，確定所述供電電位的電壓偏差以及所述adc電壓測(cè)量模塊測(cè)量的失調(diào)誤差和增益誤差，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)溫方法，其特征在于，在使所述第二開(kāi)關(guān)和所述第三開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，所述第一開(kāi)關(guān)和所述第四開(kāi)關(guān)導(dǎo)通的情況下，

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)溫方法，其特征在于，在使所述第二開(kāi)關(guān)和所述第四開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，所述第一開(kāi)關(guān)和所述第三開(kāi)關(guān)導(dǎo)通的情況下，

9.一種測(cè)溫設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求5至8任一項(xiàng)所述的測(cè)溫方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種測(cè)溫電路和測(cè)溫方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。測(cè)溫電路包括：第一電阻，連接于供電電位和第一節(jié)點(diǎn)之間，該供電電位由供電電路提供；第二電阻，以與第一電阻串聯(lián)的方式連接于所述第一節(jié)點(diǎn)和第二節(jié)點(diǎn)之間；第三電阻，以與第一電阻和第二電阻串聯(lián)的方式連接于所述第二節(jié)點(diǎn)和接地電位之間；熱敏電阻和第一開(kāi)關(guān)，彼此串聯(lián)地連接于所述第一節(jié)點(diǎn)和接地電位之間；電壓跟隨電路，具有輸入端和跟隨端，跟隨端的電壓以與輸入端的電壓保持相等的方式跟隨輸入端的電壓的變化而變化，輸入端經(jīng)由第二開(kāi)關(guān)連接到供電電位，經(jīng)由第三開(kāi)關(guān)連接到所述第一節(jié)點(diǎn)，經(jīng)由第四開(kāi)關(guān)連接到所述第二節(jié)點(diǎn)；ADC電壓測(cè)量模塊，連接于跟隨端，用于測(cè)量跟隨端的電壓。

技術(shù)研發(fā)人員：朱蕊,段永華
受保護(hù)的技術(shù)使用者：海的電子科技（蘇州）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/10