專利名稱：對集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種對集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法，特別地涉及一種產(chǎn)生在利用邊界掃描系統(tǒng)進行測試中所用的測試碼模式的方法。
圖19中示出使用一邊界掃描系統(tǒng)的集成電路的實例。在圖19的集成電路100中，施加到輸入端101A-101D的公共數(shù)據(jù)被通過輸入緩沖器102A-102D和邊界掃描單元103A-103D輸入到內(nèi)部電路104。內(nèi)部電路104是一個包括各種邏輯門等電路在內(nèi)的邏輯電路。來自內(nèi)部電路104的數(shù)據(jù)通過邊界掃描單元103E-103H和輸出緩沖器105A-105D施加到輸出端106A-106D。
在該邊界掃描系統(tǒng)中，在一塊板上組裝每塊集成電路100之后，可以容易地測試出集成電路100之間的連接狀態(tài)。該測試可以按如下方式進行。即，當進行測試時，邊界掃描單元103A-103H被設(shè)置為移位模式。然后，把測試數(shù)據(jù)施加到一輸入端107A上。在邊界掃描單元103A-103H的移位操作中，測試數(shù)據(jù)被通過輸入緩沖器108A依次發(fā)送。這樣，首先在邊界掃描單元103E-103H中，在集成電路100的輸出端一側(cè)設(shè)置該測試數(shù)據(jù)。
當完成測試數(shù)據(jù)的設(shè)置之后，把一測試時鐘施加到邊界掃描單元103E-103H。這樣該邊界掃描單元103E-103H把該測試數(shù)據(jù)通過輸出緩沖器105A-105D施加到輸出端106A-106D。該施加到輸出端106A-106D的輸出數(shù)據(jù)通過板上的線路到達下一級的集成電路的輸入端。在下一級的集成電路中，由輸入端所接收的測試數(shù)據(jù)被存儲于相應(yīng)的邊界掃描單元中。在下一級的集成電路象集成電路100一樣在移位操作中轉(zhuǎn)移所存儲的測試數(shù)據(jù)并從該輸出端串行輸出該數(shù)據(jù)。
當該輸出數(shù)據(jù)與施加到集成電路100上的測試數(shù)據(jù)相匹配時，可以確信集成電路100與在下一級的在該板上的集成電路之間成功地設(shè)置了線路連接。另一方面，如果輸出數(shù)據(jù)與施加到集成電路100上的測試數(shù)據(jù)不相匹配，則可以確定在集成電路100與在下一級的在板上的集成電路之間的線路連接存在缺陷。在該邊界掃描系統(tǒng)中，在把每個集成電路安裝在板上之后，不管在集成電路100中的內(nèi)部電路104的類型是什么都可以容易地測試集成電路之間的連接狀態(tài)。
在該板上的集成電路之間的缺陷線路可能是固定到地電勢的輸入端上的集成電路的輸入數(shù)值，而不管在輸出端上的集成電路的輸出數(shù)值是什么；在固定到電源電勢上的輸入端的集成電路的輸入數(shù)值、而不管在輸出端上的集成電路的輸出數(shù)值為何值；等等。因此，容易理解在上述測試中要進行兩種類型的測試。也就是說，它判斷“全0”的輸出是否被正確地發(fā)送，以及“全1”的輸出是否被正確地發(fā)送。
但是，如果對“全1”的輸出是否正確發(fā)送的判斷過程是緊接著在對“全0”的輸出是否正確地發(fā)送的判斷過程之后進行的，則會出現(xiàn)如下問題。即，由于每個邊界掃描單元都被設(shè)計為最常見的情況，使得其輸出數(shù)值不能在移位模式中改變，如果“1”在移位操作中輸入到邊界掃描單元103E-103H中，而“0”輸出數(shù)值保持在每個邊界掃描單元103E-103H中，則當控制過程退出移位模式時，輸出緩沖器105A-105D同時反相。在此時，一大電流流過輸出緩沖器105A-105D，并且在電源和地中產(chǎn)生噪聲。在正常操作中不會發(fā)生輸出緩沖器105A-105D同時反相的情況。這種噪聲不在正常操作中產(chǎn)生，但是它可以由這種大電流產(chǎn)生，并可能產(chǎn)生缺陷測試數(shù)據(jù)，從而影響正確的測試。
作為一種解決該問題的方法，在日本專利特開平5-129912中描述了一種通過不同的延遲時間使來自邊界掃描單元103E-103H的數(shù)據(jù)延遲的方法。根據(jù)該技術(shù)，即使來自邊界掃描單元103E-103H的測試結(jié)果的數(shù)據(jù)同時改變，每個輸出緩沖器105A-105D基于該延遲時間依次把來自邊界掃描單元103E-103H的數(shù)據(jù)發(fā)送到輸出端106A-106D。結(jié)果，沒有大電流流過輸出緩沖器105A-105D，從而解決了在電源和“地”中產(chǎn)生噪聲的問題。
但是，上述傳統(tǒng)技術(shù)具有下述問題，即為了延遲來自于邊界掃描單元103E-103H的數(shù)據(jù)，應(yīng)當延遲具有不同延遲時間的插入于邊界掃描單元103E-103H和輸出緩沖器105A-105D之間的元件。結(jié)果，集成電路100的規(guī)模變得很大。
本發(fā)明用于解決上述問題，其目的在于提供一種對集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法，它能夠避免由于輸出緩沖器的同時改變而產(chǎn)生的噪聲并且不增加電路的規(guī)模。
為了解決上述問題，本發(fā)明一個方面涉及一種產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自邏輯電路的m個輸出通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式。該方法包括第一過程，對輸出緩沖器的數(shù)目進行計數(shù)，當m個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時，該輸出緩沖器的輸出值發(fā)生改變；第二過程，檢查在所有來自于第一過程中計數(shù)的輸出緩沖器的輸出數(shù)值改變時產(chǎn)生的噪聲量；第三過程，選擇在第一過程中檢查的輸出緩沖器使得在該第二過程中檢查的噪聲量可以在許可的噪聲量范圍內(nèi)；以及第四過程，輸出一個通過修改輸入模式而獲得的模式作為一個測試碼模式，使得在第三過程中選擇的輸出緩沖器的輸出數(shù)值可以被改變。
本發(fā)明的另一個方面涉及一種產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自一個邏輯電路的m個輸出通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，以及在來自該邏輯電路的n個輸出(n為任意自然數(shù))被通過輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式。該方法包括第一過程，計數(shù)輸出緩沖器的數(shù)目，該輸出緩沖器的輸出數(shù)值在m個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時發(fā)生改變；第二過程，當所有來自于第一過程中計數(shù)的輸出緩沖器的輸出數(shù)值改變時，對所產(chǎn)生的噪聲量進行檢查，并且當來自該輸出緩沖器的n個輸出數(shù)值改變時，通過把所檢查的噪聲量加到所產(chǎn)生的噪聲量上計算新的噪聲量；第三過程，選擇在第一過程中檢查的輸出緩沖器使得在第二過程中檢查的噪聲量可以在許可的噪聲量范圍之內(nèi)；以及第四過程，輸出通過修改該輸入模式而獲得的一個模式作為測試碼模式，使得在第三過程中選擇的輸出緩沖器的輸出數(shù)值可以被改變。
本發(fā)明的又一方面涉及一種產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自一個邏輯電路的m個輸出通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式。該方法包括第一過程，對該掃描觸發(fā)器進行分組，使得當來自屬于一個特定組的輸出緩沖器的所有輸出數(shù)值改變時產(chǎn)生的噪聲量能夠在許可的噪聲量范圍之內(nèi)；第二過程，從在該第一過程中產(chǎn)生的組內(nèi)選擇一個組；第三過程，輸出一個模式作為測試碼模式，其中當n個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時，只有屬于由第二過程所選擇的組內(nèi)的一個輸出緩沖器的一個輸出數(shù)值發(fā)生改變，并且屬于在第二過程中沒有選中的組的輸出緩沖器的輸出數(shù)值保持不變；以及第四過程，當?shù)谌^程完成之后重復(fù)對在第二過程中沒有選中的組執(zhí)行第二和第三過程。
通過參照下文中結(jié)合附圖的本發(fā)明的具體描述，上述的以及其它本發(fā)明的目的、特點和優(yōu)點將變得更加明顯，其中


如下圖1為根據(jù)本發(fā)明第一實施例的對一個集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法的流程圖；圖2為對集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖；圖3為用于體現(xiàn)對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的模擬設(shè)備的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖；圖4為一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式；圖5為在該大規(guī)模集成電路中的邊界掃描單元的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式；圖6為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的一個實例；圖7為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的一個實例；圖8為另一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式；圖9為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的另一個實例；圖10為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的另一個實例；
圖11為另一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式；圖12為在該大規(guī)模集成電路中的邊界掃描單元的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式；圖13為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的另一個實例；圖14為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的另一個實例；圖15為示出根據(jù)本發(fā)明第二實施例對集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖；圖16為示出對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖；圖17為示出在該集成電路的測試碼模式的產(chǎn)生方法中的分組過程；圖18示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的一個實例；以及圖19示出利用一邊界掃描系統(tǒng)的集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓。
下面參照附圖描述本發(fā)明的實施例。
第一實施例圖1為根據(jù)本發(fā)明第一實施例的對一個集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法的流程圖。圖2為對集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖。圖3為用于體現(xiàn)對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的模擬設(shè)備的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖。圖4為一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式。圖5為在該大規(guī)模集成電路中的邊界掃描單元的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式。圖6為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的一個實例。圖7為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的一個實例。圖8為另一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式。圖9為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的另一個實例。圖10為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的另一個實例。圖11為另一個大規(guī)模集成電路的結(jié)構(gòu)的輪廓的方塊圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式。圖12為在該大規(guī)模集成電路中的邊界掃描單元的結(jié)構(gòu)的輪廓的方框圖，其中采用對該集成電路產(chǎn)生測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式。圖13為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所處理的測試碼模式的另一個實例。圖14為示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的另一個實例。
在圖1和圖2中所示的用于實現(xiàn)對一集成電路產(chǎn)生測試碼模式的測試碼模式產(chǎn)生裝置可以是圖3中所示的模擬器件。在圖3中所示的模擬器件中包括一輸入單元1、一存儲單元2、一中央處理單元3、一輸出單元4、一數(shù)據(jù)庫5。
輸入單元1由操作員進行操作，并接收在對大規(guī)模集成電路進行測試時所用的測試碼模式等等。輸出單元4輸出由中央處理單元3所產(chǎn)生的測試碼模式。
數(shù)據(jù)庫5存儲每種類型的大規(guī)模集成電路的電路結(jié)構(gòu)。該大規(guī)模集成電路是利用測試數(shù)據(jù)進行測試的。存儲于數(shù)據(jù)庫5中的大規(guī)模集成電路使用一邊界掃描系統(tǒng)。圖4中示出一個該邊界掃描系統(tǒng)所作用的大規(guī)模集成電路。在圖4中所示的大規(guī)模集成電路10包括輸入端11A-11D；一輸入端17、輸入緩沖器12A-12D、一輸入緩沖器18、邊界掃描單元13A-13H、一內(nèi)部電路14、輸出緩沖器15A-15D、以及輸出端16A-16D。
輸入端11A-11D用于輸入公用數(shù)據(jù)。輸出端16A-16D用于輸出公用數(shù)據(jù)。輸入端17用于輸入測試數(shù)據(jù)。
輸入緩沖器12A-12D把施加到輸入端11A-11D的數(shù)據(jù)分別發(fā)送到邊界掃描13A-13D。輸出緩沖器15A-15D把從邊界掃描單元13E-13H輸出的數(shù)據(jù)分別發(fā)送到輸出端16A-16D。
內(nèi)部電路14是一個包括各種類型的邏輯門的邏輯電路。
邊界掃描單元13A-13H把該公用數(shù)據(jù)發(fā)送到內(nèi)部電路14。另外，當進行測試時，測試數(shù)據(jù)被設(shè)置于該邊界掃描單元13A-13H。圖5示出邊界掃描單元13A-13H的一個實例。圖5中所示的邊界掃描單元包括一個MODE端21A、一IN端21B、一SDR端21C、一SIN端21D、一CDR端21E、一UDR端21F、一SOT端21G、一0UT端21H、選擇器22和23、以及觸發(fā)器24和25。
選擇器22和23在“0”選擇信號施加到G端上時輸出施加到“0”端的數(shù)據(jù)，并且在“1”選擇信號施加到G端上時輸出施加到“1”端的數(shù)據(jù)。
觸發(fā)器24和25為D型觸發(fā)器，當施加到C端上的時鐘信號從“0”變?yōu)椤?”時，該觸發(fā)器讀取施加到D端上的數(shù)值，并通過Q端輸出該讀取的數(shù)值。
當施加到IN端21B上的數(shù)據(jù)被通過利用圖5中所示的邊界掃描單元從0UT端21H輸出時，也就是說，當邊界掃描單元13A-13H被用于正常模式下時，MODE端21A的選擇信號被設(shè)為“0”。這樣，施加到IN端21B上的數(shù)據(jù)被通過選擇器22輸出到0UT端21H。
當測試數(shù)據(jù)被設(shè)置于邊界掃描單元13A-13H中時，也就是說，當邊界掃描單元13A-13H被用于移位模式中時，SDR端21C的選擇信號被設(shè)為“1”。因此，在前一步驟從邊界掃描單元施加到SIN端21D上的測試數(shù)據(jù)被根據(jù)施加到CDR端21E上的測試時鐘通過選擇器23和觸發(fā)器24輸出到SOT端21G。結(jié)果，由于測試數(shù)據(jù)存儲于邊界掃描單元13A-13H的觸發(fā)器24中，則它被設(shè)置于邊界掃描單元13A-13H。
當設(shè)置于邊界掃描單元13A-13H中的測試數(shù)據(jù)被輸出時，MODE端21A的選擇信號被設(shè)為“1”。
此后，當UDR端21F的測試時鐘改變其數(shù)值時，觸發(fā)器24的測試數(shù)據(jù)被通過觸發(fā)器25和選擇器22輸出到OUT端21H。
中央處理單元3在對一集成電路產(chǎn)生一測試碼模式的方法中(即，根據(jù)存儲于存儲單元2中的進程，在圖1和圖2中所示過程中)對大規(guī)模集成電路10產(chǎn)生一測試碼模式。中央處理單元3執(zhí)行圖1和圖2中所示的初始模式處理(步驟S1)。在步驟S1中，該來自測試數(shù)據(jù)的初始模式被設(shè)置于邊界掃描單元13A-13H中。一個初始模式可以是一個不根據(jù)輸出緩沖器15A-15D的改變而在電源和“地”中產(chǎn)生噪聲的模式，或者是一個不影響內(nèi)部電路14中的數(shù)值的模式。也就是說，當輸出緩沖器被根據(jù)一個初始模式而激活時，如果該輸出緩沖器產(chǎn)生噪聲，則本發(fā)明的特點(即，隨著模式的改變而產(chǎn)生的噪聲可以被減少)是無效的。上述初始模式被最終存儲于邊界掃描單元13A-13H的觸發(fā)器25中。
設(shè)置初始模式的方法可以是下列除了移位操作外的其它方法。也就是說，邊界掃描單元13A-13H是在正常模式下操作的，并且IN端21B的數(shù)值通過選擇器23和觸發(fā)器24存儲于觸發(fā)器25中，而沒有使用存儲于觸發(fā)器24中的數(shù)值。這樣，初始模式可以被設(shè)置于邊界掃描單元13A-13H。
另一種設(shè)置初始模式的方法如下。即，當預(yù)先得知通過在相鄰的輸出緩沖器中設(shè)置不同的輸出數(shù)值可以減少噪聲時，則利用一初始模式使得不同數(shù)值可以輸出到輸出緩沖器15A-15D中，把邊界掃描單元13A-13H設(shè)置為移位模式。利用這種初始模式，通過設(shè)置該初始模式使得噪聲不能突然性并且有害地產(chǎn)生。
當在步驟S1完成初始模式的設(shè)置時，變量k被設(shè)置為一個通過從要被首先處理的模式的數(shù)目中減去“1”而獲得的數(shù)值(步驟S2)。即，k=初始模式的數(shù)目-1其中變量k表示當前處理的測試碼模式的數(shù)目。當由中央處理單元3所處理的測試碼模式為如圖6中所示的模式時，中央處理單元3處理三個測試碼模式。具有模式號“0”的第一測試碼模式為“0000”。具有模式號“1”的第二測試碼模式為“1111”。具有模式號“2”的第三測試碼模式為“0101”。
在步驟S2的處理之后，中央處理單元3按下述方式是設(shè)置在步驟S2中的變量k(步驟S3)。
k=k+1在步驟S3的處理之后，中央處理單元3判斷在步驟S3中的變量k是否大于最后的測試碼模式的數(shù)目(步驟S4)。如果在步驟S4中變量k大于最后的測試碼模式的數(shù)目，在中央處理單元3結(jié)束該處理過程。
如果變量k等于或小于最后的模式的數(shù)目，則中央處理單元3在利用邊界掃描單元13A-13H的移位模式進行改變之后設(shè)置該測試碼模式(步驟S5)。在圖6中所示的情況中，具有模式號“1”的測試碼模式“1111”在該改變之后被設(shè)置為一個測試碼模式。
當在S5中的處理過程完成之后，中央處理單元3在利用邊界掃描單元13A-13H的移位模式進行改變之前設(shè)置該測試碼模式(步驟S6)。在圖6中所示的情況中，具有模式號“0”的測試碼模式“0000”在改變之前被設(shè)置為一個測試碼模式。
當步驟S6中的處理過程完成之后，中央處理單元3選取輸出改變之后的輸出端16A-16D(步驟S7)。在圖6中所示的情況中，由于在該改變之后的測試碼模式為“1111”，并且在該改變之前的測試模式為“0000”，則輸出信號發(fā)生改變的端子為輸出端16A-16D。
在步驟S7的處理過程之后，中央處理單元3把在產(chǎn)生測試模式的方法中所用的變量m設(shè)置為m=0(步驟S8)。變量m表示輸出信號發(fā)生改變的輸出端的數(shù)目。例如，當該變量為“2”時，第一和第二輸出端的數(shù)值發(fā)生改變。
在步驟S8的處理過程之后，中央處理單元3把該變量設(shè)置為m=m+1(步驟S9)。在步驟S9的處理過程之后，中央處理單元3判斷是否變量m大于在步驟S7中已經(jīng)選取并且數(shù)值發(fā)生改變的輸出端的數(shù)目(步驟S10)。如果變量m等于或小于在步驟S10中數(shù)值發(fā)生改變的輸出端的數(shù)目，則中央處理單元3從在輸出緩沖器15A-15D中確定的噪聲量中獲得當?shù)趍個輸出端的數(shù)值(m為變量)發(fā)生改變時產(chǎn)生的噪聲量(步驟S11)。在圖6中所示的情況中，中央處理單元在輸出緩沖器15A-15D的數(shù)值從“0”變?yōu)椤?”，并從“1”變?yōu)椤?”時，把每個噪聲量設(shè)為10。
當在步驟S11中的處理過程完成之后，中央處理單元3判斷是否在步驟S11中獲得的預(yù)定噪聲量大于對該噪聲量的許可數(shù)值(步驟S12)。在圖6中所示的情況中，中央處理單元3設(shè)置為在步驟S12中所用的對于噪聲的許可數(shù)值“20”。
如果上述噪聲量等于或小于許可數(shù)值時，則中央處理單元3把控制過程返回到步驟S9。如果在步驟S12中，噪聲量大于上述許可數(shù)值，則中央處理單元3產(chǎn)生一個測試碼模式，其中所改變的是在數(shù)值已經(jīng)發(fā)生改變的輸出端的第一至第(m-1)個輸出端的數(shù)值，并通過輸出單元4輸出該模式(步驟S13)。然后，中央處理單元3把控制過程返回到步驟S6。
如果數(shù)值m大于在步驟S10中輸出已經(jīng)發(fā)生改變的輸出端的數(shù)目，則中央處理單元3產(chǎn)生一個測試碼模式，其中所改變的是在數(shù)值已經(jīng)發(fā)生改變的輸出端中的第一至第(m-1)個輸出端的數(shù)值，并通過輸出單元4輸出該測試模式(步驟S14)，然后，中央處理單元3把控制過程過程返回到步驟S3。
在圖6中所示的情況中，在步驟S10至S13的處理過程中，中央處理單元3產(chǎn)生一個測試模式，其中所改變的是在數(shù)值已經(jīng)發(fā)生改變的輸出端的第一和第二輸出端的數(shù)值。即，中央處理單元3產(chǎn)生一個測試模式，其中所改變的是作為對具有模式號“0”的圖6中所示的測試碼模式的一個修正的第一和第二輸出端16A和16B的數(shù)值，并通過輸出單元4輸出圖7中所示的具有模式號“1-1”的作為一個測試碼模式而產(chǎn)生的模式。
在中央處理單元3產(chǎn)生具有模式號“1-1”的測試碼模式之后，中央處理單元3類似地在步驟S6至S14中產(chǎn)生具有模式號“1-2”的測試碼模式，并且最后在步驟S14中通過輸出單元4輸出該測試碼模式。
然后，中央處理單元3把控制過程返回到步驟S3，并且按類似的方式處理具有模式號“1”和“2”的測試碼模式。結(jié)果，即使該模式從“0000”變?yōu)椤?111”時，該測試碼模式“1100”插入于模式之間。因此，它可以防止在輸出緩沖器同時發(fā)生改變時所產(chǎn)生的噪聲。另外，由于沒有在該電路中添加延遲元件等元件，因此可以避免電路中額外開銷。
在圖8中的大規(guī)模集成電路30可以是存儲于數(shù)據(jù)庫5中的大規(guī)模集成電路。在圖8中，同時也在圖4中示出的單元被分配給與圖4中所示相同的單元號，并省略對其的具體描述。圖8中所示的大規(guī)模集成電路30是通過從圖4中所示的大規(guī)模集成電路中除去邊界掃描單元13H而獲得的，它把來自內(nèi)部電路14的數(shù)據(jù)通過輸出緩沖器15D發(fā)送到輸出端16D。
中央處理單元3為大規(guī)模集成電路30產(chǎn)生的測試碼模式如下。即，當上述邊界掃描單元不在內(nèi)部電路14與輸出緩沖器15D之間插入時，中央處理單元3假設(shè)來自輸出端16A的輸出數(shù)值穩(wěn)定地改變，并且執(zhí)行圖1和2中所示的測試碼模式的產(chǎn)生過程。在此時，當中央處理單元3執(zhí)行測試碼模式產(chǎn)生過程時，輸出端16A被排除，并且輸出緩沖器15D的噪聲量在圖1和2中所示的過程中從步驟S12的許可數(shù)值中除去。
例如，當圖9中所示的測試碼模式被處理時，與圖6中所示的情況相類似，當輸出緩沖器15A-15D的輸出數(shù)值從“0”變?yōu)椤?”以及當它們從“1”變?yōu)椤?”時，中央處理單元3在步驟S11中把每個噪聲量設(shè)置為“10”。另外，中央處理單元3在步驟S12把噪聲許可值設(shè)置為“20”。在這種情況以及該輸出端16A的輸出數(shù)值連續(xù)改變的情況下，輸出數(shù)值被反相的緩沖器的數(shù)目為1。
這樣，中央處理單元3在圖9中所示的具有模式號“0”的模式“000”與具有模式號“1”的模式“111”之間插入具有模式號“1-1”的模式“100”和具有模式號“1-2”的模式“110”，它們的數(shù)值如圖10中所示依次改變。另外，中央處理單元3在圖9中所示的具有模式號“1”的模式“111”和具有模式號“2”的模式“010”之間插入具有模式號“2-1”的模式“011”，如圖10中所示。
這樣，即使邊界掃描單元不連接到輸出端，輸出數(shù)值被反相的緩沖器的數(shù)目被噪聲許可值所限，從而防止了在電源和“地”中產(chǎn)生噪聲。
圖11中所示的大規(guī)模集成電路40可以是存儲于數(shù)據(jù)庫中的大規(guī)模集成電路。圖11中所示的大規(guī)模集成電路40包括輸入端11A-11D、輸入緩沖器12A-12D、邊界掃描單元13A-13D、輸入端17、輸入緩沖器18、邊界掃描單元41A-41D、一內(nèi)部電路42、雙向緩沖器43A-43D、以及雙向端子44A-44D。在圖11中，同時也在圖4中示出的單元被分配給如圖4中相同的號碼，并省略對其的具體描述。
當邊界掃描單元41A-41D的EN端為“1”時，雙向緩沖器43A-43D分別從邊界掃描單元41A-41D的OUT端輸出數(shù)據(jù)到雙向端子44A-44D。另一方面，當邊界掃描單元41A-41D的EN端為“0”時，雙向緩沖器43A-43D分別從邊界掃描單元41A-41D的雙向端子44A-44D向邊界掃描單元41A-41D輸出數(shù)據(jù)。
邊界掃描單元41A-41D雙向地通過雙向緩沖器43A-43D向雙向端子44A-44D輸入輸出數(shù)據(jù)。圖12示出邊界掃描單元41A-41D的一個實例。圖12中所示的邊界掃描單元包括一個MODE1端51A,INE端51B,SDR端51C,CDR端51D,UDR端51E,CHIPB端51F,INO端51G,SIN端51H,MODE2端51I,EXTB端51J,OUTI端51K,SOUT端51L,EN端51M,OUT端51N,INIO端51P，選擇器52A、52B、52C、52D、52E和52F,觸發(fā)器53A、53B、53C和53D，以及“與”門54A。
當來自內(nèi)部電路42的數(shù)據(jù)利用圖12中所示的邊界掃描單元輸出到雙向緩沖器時，MODE1端51A的選擇信號被設(shè)為“0”。這樣，來自INE端51B的一個啟動信號被通過選擇器52A施加到“與”門54A上。在此時，該“與”門54A根據(jù)INE端51B的啟動信號和CHIPB端51F的模式信號從EN端51M向雙向緩沖器輸出“1”。然后，把它施加到INO端51G上。來自內(nèi)部電路42的數(shù)據(jù)被通過選擇器52C從OUT端51N輸出到雙向緩沖器。
當來自雙向緩沖器43A-43D的數(shù)據(jù)被輸出到內(nèi)部電路42時，從EN端51M中輸出“0”,MODE2端51I的選擇信號被設(shè)為“0”，并且EXTB端51J的模式信號被設(shè)置為“1”。這樣，來自該雙向緩沖器施加到INIO端51P的數(shù)據(jù)通過選擇器52F和“與”門54B從OUTI端51K輸出到內(nèi)部電路42。
當測試數(shù)據(jù)被設(shè)置為邊界掃描單元41A-41D中時，SDR端51C的選擇信號被設(shè)置為“1”。這樣，在前一階段從邊界掃描單元施加到SIN端51H的測試數(shù)據(jù)被根據(jù)施加到CDR端51D的測試時鐘，通過選擇器52E、觸發(fā)器53C、選擇器52B以及觸發(fā)器53A輸出到SOUT端51L。這樣，該測試數(shù)據(jù)被設(shè)置于邊界掃描單元中。
當該設(shè)置的測試數(shù)據(jù)被通過雙向緩沖器輸出到雙向端子時，MODE1端51A的選擇信號被設(shè)置為“1”，并且啟動信號“1”被從EN端51M中輸出。然后，如果UDR端51E的測試時鐘發(fā)生改變，觸發(fā)器53C的測試數(shù)據(jù)通過觸發(fā)器53D和選擇器52C輸出到OUT端51N。
對于大規(guī)模集成電路40，中央處理單元3對大規(guī)模集成電路40按如下方式產(chǎn)生一測試碼模式。即，只有當雙向緩沖器43A-43D可以向雙向端子44A-44D輸出數(shù)據(jù)時，中央處理單元3才產(chǎn)生如圖1和2中所示的測試碼模式。
也就是說，中央處理單元3對大規(guī)模集成電路40按如下方式產(chǎn)生一測試碼模式。當雙向緩沖器43A-43D從邊界掃描單元41A-41D的OUT端分別向雙向端子44A-44D輸出數(shù)據(jù)時，則執(zhí)行如圖1和2中所示的測試碼模式產(chǎn)生過程。在此時，當邊界掃描單元41A-41D的EN端從“0”變?yōu)椤?”時，則根據(jù)在該改變之前所獲得的最后數(shù)值執(zhí)行測試碼模式的產(chǎn)生過程。
例如，當執(zhí)行圖13中所示的測試碼模式產(chǎn)生過程時，如果模式號從“1”變?yōu)椤?”，則邊界掃描單元41A-41D的EN端從“0”變?yōu)椤?”。在此時，中央處理單元3開始如圖1和圖2中所示的處理過程，作為初始模式，該初始模式為當模式號為“1”時由邊界掃描單元41A-41D所接收的數(shù)值“1111”。也就是說，中央處理單元3在如圖14中所示的模式號“1”之后輸入模式號“2-1”的“1111”，并對模式號“2-1”進行處理。
這樣，中央處理單元3分別在模式號“2-1”之后依次插入如模式號“2-2”和“2-3”所示的“0011”和“0000”。由于在該處理過程之后的處理與圖7中所示的相同，在此省略對其的具體描述。在產(chǎn)生最后的模式“0101”之后，當EN端變?yōu)椤?”以保持雙向端子44A-44D中的數(shù)值時，存儲單元2輸入模式號“5-1”的“0101”。
這樣，即使利用邊界掃描單元41A-41D，輸出數(shù)值可能反相的緩沖器的數(shù)目受到噪聲許可值的限制，從而有可能避免在電源和“地”中產(chǎn)生噪聲。
第二實施例下面描述本發(fā)明的第二實施例。
圖15為示出根據(jù)本發(fā)明第二實施例對集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖。圖16為示出對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法的流程圖。圖17為示出在該集成電路的測試碼模式的產(chǎn)生方法中的分組過程。圖18示出由對該集成電路產(chǎn)生一個測試碼模式的方法所產(chǎn)生的測試碼模式的一個實例。
由于第二實施例與第一實施例的區(qū)別僅在于存儲于存儲單元2中的程序，因此，在此只針對這一點進行解釋。在存儲于本實施例的存儲單元2中的程序中，中央處理單元3執(zhí)行如下處理過程。即，中央處理單元3對輸出端進行分組(步驟S21)。即使在一組中的所有輸出端同時改變，中央處理單元3把從這一改變中產(chǎn)生的噪聲量設(shè)置在許可數(shù)值的范圍內(nèi)。在步驟S21中，中央處理單元3把圖4中的輸出端16A-16D分組為圖17中所示的第一和第二組。
當在步驟S21中的分組處理完成之后，中央處理單元3執(zhí)行在步驟S22-S26中的處理過程。由于在步驟S22-S26中的處理過程與圖1中所示的步驟S1-S5的處理過程相同，從而在此省略對它的具體描述。
當在步驟S26中的處理完成之后，中央處理單元3把表示一個組的變量g設(shè)置為一個初值，即，g=0(步驟S27)。然后，中央處理單元3在步驟S27中把變量g設(shè)置為g=g+1(步驟S28)。在圖17中所示的情況中，在該處理過程的開始時在步驟S28中，變量g為“1”，并且對第一組進行處理。
當在步驟S28中的處理過程完成之后，中央處理單元3判斷在步驟S28中的變量g是否大于在步驟S21中所確定的分組的數(shù)目(步驟S29)。如果在步驟S29中，變量g小于分組的數(shù)目，中央處理單元3把在步驟S26中設(shè)置的第g組的模式替換為在該改變之后的某個模式，并且保留第二組的模式(步驟S30)。在圖17中所示的情況中，中央處理單元3把具有模式號“1”的第一組的模式“00”替換為模式“11”，并保持第二組的模式“00”，并產(chǎn)生一個如圖18中所示的具有模式號“2-1”的測試碼模式“0011”。
當在步驟S30中的處理過程完成之后，中央處理單元3把該步驟S30中產(chǎn)生的模式碼模式設(shè)置為在改變之前設(shè)置的模式(步驟S31)，并把控制過程返回到步驟S28。在圖17中所示的情況中，中央處理單元3在具有模式號“2-1”的測試碼模式“1100”之后產(chǎn)生具有模式號“2-2”的模式碼模式“1111”，如圖18中所示。
在步驟S29中，當變量g變?yōu)榇笥诜纸M的數(shù)目時，中央處理單元3把控制返回到步驟S23。在圖17中所示的情況中，中央處理單元3產(chǎn)生具有模式號“3-1”的測試碼模式“0111”和具有模式號“3-2”的模式碼模式“0101”，如圖18中所示。
這樣，根據(jù)本實施例，對每個組設(shè)置一個噪聲許可值，并且對每個組改變輸出數(shù)值。結(jié)果，在此不需要通常的延遲元件，并減少電路的額外開銷，并且可以避免由于輸出緩沖器同時改變所產(chǎn)生的噪聲。
上文參照附圖的具體描述是本發(fā)明的第一和第二實施例。但是，具體結(jié)構(gòu)不限于上述實施例，而且本發(fā)明還包括在本發(fā)明的特征范圍之內(nèi)的在設(shè)計方面上的改變。例如在圖14中，如果當模式切換時，在雙向緩沖器43A-43D的數(shù)值發(fā)生改變時不存在問題，則不需要插入任何模式號“5-1”。
如上文所述，通過采用根據(jù)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)，通過利用一個許可數(shù)值限制輸出端上的改變，產(chǎn)生一個測試碼模式，并只允許在一個組中的一個輸出端發(fā)生改變。這樣就可以防止在輸出緩沖器中由于同時改變所產(chǎn)生的噪聲。另外，由于不需要象在現(xiàn)有技術(shù)中所用的延遲元件，從而可以避免電路的額外開銷。
權(quán)利要求
1.一種用于產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自邏輯電路的m個輸出(m為任意自然數(shù))通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式，其特征在于，該方法包括第一過程，對輸出緩沖器的數(shù)目進行計數(shù)，當所述m個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時，該輸出緩沖器的輸出值發(fā)生改變；第二過程，檢查在所有來自于所述第一過程中計數(shù)的輸出緩沖器的輸出數(shù)值改變時產(chǎn)生的噪聲量；第三過程，選擇在所述第一過程中檢查的輸出緩沖器，使得在所述第二過程中檢查的噪聲量可以在許可的噪聲量范圍內(nèi)；以及第四過程，輸出一個通過修改輸入模式而獲得的模式作為一個測試碼模式，使得在所述第三過程中選擇的輸出緩沖器的輸出數(shù)值可以被改變。
2.一種用于產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自一個邏輯電路的m個輸出(m為任意自然數(shù))通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，以及在來自該邏輯電路的n個輸出(n為任意自然數(shù))被通過輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式，其特征在于，該方法包括第一過程，計數(shù)輸出緩沖器的數(shù)目，該輸出緩沖器的輸出數(shù)值在所述m個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時發(fā)生改變；第二過程，當來自在所述第一過程中計數(shù)的輸出緩沖器的所有輸出數(shù)值改變時，對所產(chǎn)生的噪聲量進行檢查，并且當來自該輸出緩沖器的n個輸出數(shù)值改變時，通過把所檢查的噪聲量加到所產(chǎn)生的噪聲量上計算新的噪聲量；第三過程，選擇在所述第一過程中檢查的輸出緩沖器，使得在所述第二過程中檢查的噪聲量可以在許可的噪聲量范圍之內(nèi)；以及第四過程，輸出通過修改該輸入模式而獲得的一個模式作為測試碼模式，使得在所述第三過程中選擇的輸出緩沖器的輸出數(shù)值可以被改變。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，當所述第四過程完成之后，所述第二至第四過程在沒有在所述第三過程中選擇的所述輸出緩沖器重復(fù)進行。
4.一種用于產(chǎn)生測試碼模式的方法，該方法在來自一個邏輯電路的m個輸出(m為任意自然數(shù))通過掃描觸發(fā)器和輸出緩沖器施加到m個輸出端上時，對設(shè)置于m個掃描觸發(fā)器中的集成電路產(chǎn)生測試碼模式，其特征在于，該方法包括第一過程，對所述掃描觸發(fā)器進行分組，使得當來自屬于一個特定組的所述輸出緩沖器的所有輸出數(shù)值改變時產(chǎn)生的噪聲量能夠在許可的噪聲量范圍之內(nèi)；第二過程，從在所述第一過程中產(chǎn)生的組內(nèi)選擇一個組；第三過程，輸出一個模式作為測試碼模式，其中當所述n個掃描觸發(fā)器輸出輸入模式時，只有屬于由所述第二過程所選擇的組內(nèi)的一個輸出緩沖器的一個輸出數(shù)值發(fā)生改變，并且屬于在所述第二過程中沒有選中的組的輸出緩沖器的輸出數(shù)值保持不變；以及第四過程，當所述第三過程完成之后重復(fù)對在所述第二過程中沒有選中的組執(zhí)行所述第二和第三過程。
全文摘要
一種用于避免由于在輸出端的數(shù)值同時改變而產(chǎn)生的噪聲的方法,其中包括:第一過程,計數(shù)當邊界掃描單元輸出輸入模式時輸出緩沖器15A－15D的輸出值發(fā)生改變的輸出緩沖器的數(shù)目;第二過程,檢查所計數(shù)的輸出緩沖器的輸出數(shù)值改變時產(chǎn)生的噪聲量;第三過程,選擇所檢查的輸出緩沖器使得所檢查的噪聲量在許可的噪聲量范圍內(nèi);第四過程,輸出一個修改而獲得的模式作為測試碼模式,使得所選擇的輸出緩沖器的輸出數(shù)值可以被改變。
文檔編號G01R31/3185GK1228539SQ9910282
公開日1999年9月15日 申請日期1999年3月8日 優(yōu)先權(quán)日1998年3月10日
發(fā)明者山內(nèi)尚 申請人:日本電氣株式會社