專利名稱：高精度羅盤儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及的是一種羅盤儀。
羅盤儀是一種常用的測量儀器。羅盤儀是由殼體、上蓋，位于殼體底部的方向盤和安裝于殼體內(nèi)的磁針等部分組成的。由于其使用環(huán)境不固定，常常影響羅盤儀的精度。因此，如何提高羅盤儀的精度、延長其使用壽命和使的羅盤儀的使用更方便是急需解決的問題。
本實(shí)用新型的目的在于提供一種精度高、使用壽命長、使用方便的高精度羅盤儀。
本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的它包括殼體、上蓋，位于殼體底部的方向盤和安裝于殼體內(nèi)的磁針，磁針由一個(gè)非磁性材料指針和附于指針下的兩個(gè)磁性棒組成，磁針的下部有阻尼裝置。
本實(shí)用新型還可以包括如下結(jié)構(gòu)特征1、殼體的側(cè)壁上設(shè)置夾板，上蓋的轉(zhuǎn)動軸夾在夾板之間。
2、長水準(zhǔn)器和圓水準(zhǔn)器共用一個(gè)基板及調(diào)整機(jī)構(gòu)。
3、方向盤上帶有正切值刻度線。
4、殼體與上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于將由磁性材料直接制成磁針，改成由非磁性材料制成指針再在指針下附磁性棒的結(jié)構(gòu)，磁性棒可以采用強(qiáng)磁性材料制成，使羅盤儀的精確度大大提高。增設(shè)的阻尼裝置，可以保證指針平穩(wěn)、迅速地停止，縮短測量時(shí)間，提高工作效率。本實(shí)用新型的殼體與上蓋的夾板式連接結(jié)構(gòu)可以保證開關(guān)平穩(wěn)，而且松緊可以調(diào)整，有利于提高精度和延長使用壽命。長水準(zhǔn)器和圓水準(zhǔn)器共用一個(gè)基板及調(diào)整機(jī)構(gòu)，不僅使得盤面更美觀，而且更實(shí)用。殼體與上蓋之間的鎖定機(jī)構(gòu)可以防止上蓋在無外力的情況下開啟，造成儀器的損壞。增加坡度刻度線使得儀器更實(shí)用?？傊?，本實(shí)用新型的具有精度高、使用壽命長、使用方便、造型美觀等特點(diǎn)。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖圖2是圖1的B-B剖示圖；圖3是圖1的A-A剖示圖。
以下結(jié)合附圖舉例對本實(shí)用新型做更詳細(xì)描述
一種高精度羅盤儀，它包括殼體10、上蓋11，位于殼體底部的方向盤12和安裝于殼體內(nèi)的磁針，磁針由一個(gè)非磁性材料指針3和附于指針下的兩個(gè)磁性棒組成9，磁針的下部有阻尼裝6置。殼體的側(cè)壁上設(shè)置夾板1、2，上蓋及瞄準(zhǔn)器14的轉(zhuǎn)動軸夾在夾板之間。長水準(zhǔn)器5和圓水準(zhǔn)器4共用一個(gè)基板及調(diào)整機(jī)構(gòu)13。方向盤上帶有正切值刻度線7。殼體于上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)8。
權(quán)利要求1.一種高精度羅盤儀，它包括殼體、上蓋，位于殼體底部的方向盤和安裝于殼體內(nèi)的磁針，其特征是磁針由一個(gè)非磁性材料指針和附于指針下的兩個(gè)磁性棒組成，磁針的下部有阻尼裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度羅盤儀，其特征是殼體的側(cè)壁上設(shè)置夾板，上蓋的轉(zhuǎn)動軸夾在夾板之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的離精度羅盤儀，其特征是長水準(zhǔn)器和圓水準(zhǔn)器共用一個(gè)基板及調(diào)整機(jī)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所速的高精度羅盤儀，其特征是方向盤上帶有正切值刻度線。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度羅盤儀，其特征是方向盤上帶有正切值刻度線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高精度羅盤儀，其特征是殼體與上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度羅盤儀，其特征是殼體與上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度羅盤儀，其特征是殼體與上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度羅盤儀，其特征是殼體與上蓋之間有鎖定機(jī)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型提供的是一種高精度羅盤儀,它包括殼體、上蓋,位于殼體底部的方向盤和安裝于殼體內(nèi)的磁針,磁針由一個(gè)非磁性材料指針和附于指針下的兩個(gè)磁性棒組成,磁針的下部有阻尼裝置。本實(shí)用新型的具有精度高、使用壽命長、使用方便、造型美觀等特點(diǎn)。
文檔編號G01C5/00GK2377520SQ9922461
公開日2000年5月10日 申請日期1999年7月23日 優(yōu)先權(quán)日1999年7月23日
發(fā)明者陳松, 梁玉秋 申請人:哈爾濱光學(xué)儀器廠