一種測(cè)量物體間偏差的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測(cè)量物體間偏差的方法，特別涉及利用光束與等面積線原理測(cè)量 物體間偏差的方法。
【背景技術(shù)】
[0002] W往，在很多的情況下，物體與物體之間的偏差是很難精確測(cè)量的。因此，存在人 為測(cè)量難度大、實(shí)時(shí)性差并且精度低的問題。因此，當(dāng)前急需一種根據(jù)探測(cè)物體(例如，物體 A)的強(qiáng)度分布來計(jì)算物體A強(qiáng)度的中也與探測(cè)器參考點(diǎn)(例如，物體B，并且探測(cè)器固定在 物體B上）的偏離距離的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明是為了解決上述課題而提出的，其目的在于提供一種利用光束與等面積線 原理測(cè)量物體間偏差的方法。
[0004] 為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如 下步驟： (a) 利用在X軸上排列多個(gè)單位探測(cè)器而成的探測(cè)器陣列測(cè)量來自光源的光束的光強(qiáng) 分布曲線； (b) 根據(jù)在步驟（a)中得到的光強(qiáng)分布曲線，得到所述光強(qiáng)分布曲線與X軸所包圍的封 閉曲線在所選取的參考點(diǎn)即X軸0點(diǎn)的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中也與所述探測(cè) 器陣列的所述參考點(diǎn)之間的偏差。
[0005] 此外，在本發(fā)明的測(cè)量物體間偏差的方法中， 在所述步驟（b)中，在所述探測(cè)器陣列的單位探測(cè)器數(shù)量為M并且選擇第N號(hào)單位探 測(cè)器與第化1號(hào)單位探測(cè)器的沿X軸方向上的連線的中也線與X軸的交點(diǎn)作為所述參考點(diǎn) 的情況下， 所述參考點(diǎn)的一側(cè)的光通量為
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如下步驟： (a) 利用在X軸上排列多個(gè)單位探測(cè)器而成的探測(cè)器陣列測(cè)量來自光源的光束的光強(qiáng) 分布曲線； (b) 根據(jù)在步驟（a)中得到的光強(qiáng)分布曲線，得到所述光強(qiáng)分布曲線與X軸所包圍的封 閉曲線在所選取的參考點(diǎn)即X軸〇點(diǎn)的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中心與所述探測(cè) 器陣列的所述參考點(diǎn)之間的偏差。
2. 如權(quán)利要求1所述的測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于， 在所述步驟（b)中，在所述探測(cè)器陣列的單位探測(cè)器數(shù)量為M并且選擇第N號(hào)單位探 測(cè)器與第N+1號(hào)單位探測(cè)器的沿X軸方向上的連線的中心線與X軸的交點(diǎn)作為所述參考點(diǎn) 的情況下， Σ]\? ，所述參考點(diǎn)的另一偵彳的光 A·=丄 通量為
其中，X為單位探測(cè)器沿X軸方向的厚度；H為單位探測(cè)器的寬度；Yk為第k號(hào)單位探 測(cè)器在X*H面積內(nèi)探測(cè)到的光的強(qiáng)度， 在設(shè)h為第N+1號(hào)單位探測(cè)器探測(cè)到的光強(qiáng)并且d為光束中心與所述探測(cè)器陣列的所 述參考點(diǎn)之間的偏差時(shí)，d由如下公式得到，
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如下步驟：（a）利用在X軸上排列多個(gè)單位探測(cè)器而成的探測(cè)器陣列測(cè)量來自光源的光束的光強(qiáng)分布曲線；（b）根據(jù)在步驟（a）中得到的光強(qiáng)分布曲線，得到所述光強(qiáng)分布曲線與X軸所包圍的封閉曲線在所選取的參考點(diǎn)即X軸0點(diǎn)的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中心與所述探測(cè)器陣列的所述參考點(diǎn)之間的偏差。
【IPC分類】G01B11-00, G01B11-02
【公開號(hào)】CN104880148
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410070827
【發(fā)明人】李寧, 張新華, 于華林, 劉思源
【申請(qǐng)人】同方威視技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年9月2日
【申請(qǐng)日】2014年2月28日