數(shù)據(jù)變更模塊、數(shù)據(jù)比對(duì)模 塊W及錯(cuò)誤注入模塊。
[0093] 所述計(jì)算機(jī)集成了上述實(shí)施例所述的數(shù)據(jù)輸入模塊和統(tǒng)計(jì)模塊。
[0094] 所述芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試的工作原理為：
[0095] 1、計(jì)算機(jī)向待檢測(cè)芯片寫入測(cè)試數(shù)據(jù)組。
[0096] 示例性的，在第一次向待檢測(cè)芯片寫入測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，由計(jì)算機(jī)向數(shù)據(jù)變更模塊發(fā) 送需要寫入待檢測(cè)芯片的第一組測(cè)試數(shù)據(jù)W及需要進(jìn)行的錯(cuò)誤注入測(cè)試的總次數(shù)。
[0097] 2、數(shù)據(jù)變更模塊將測(cè)試數(shù)據(jù)組輸入到待檢測(cè)芯片中。
[0098] 3、錯(cuò)誤注入模塊對(duì)待檢測(cè)芯片實(shí)施錯(cuò)誤注入。
[0099] 4、數(shù)據(jù)對(duì)比模塊讀取錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)；判斷所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組 與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組是否相同；若相同，則檢測(cè)芯片是否進(jìn)行告警，并將檢測(cè)結(jié)果發(fā)送到計(jì) 算機(jī)，執(zhí)行步驟6。
[0100] 5、若不相同，則由數(shù)據(jù)變更模塊對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，并將更改后的測(cè)試數(shù)據(jù) 組重新輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中，重新進(jìn)行錯(cuò)誤注入測(cè)試，執(zhí)行步驟3。
[0101] 6、計(jì)算機(jī)對(duì)待檢測(cè)芯片的告警結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。在待檢測(cè)芯片發(fā)出告警時(shí)，則將待 檢測(cè)芯片的未漏報(bào)數(shù)n加1 ;否則，將待檢測(cè)芯片的漏報(bào)數(shù)m加1。
[0102] 7、數(shù)據(jù)變更模塊記錄當(dāng)前的測(cè)試次數(shù)，并在當(dāng)前的測(cè)試次數(shù)未達(dá)到預(yù)先設(shè)置的測(cè) 試次數(shù)時(shí)，對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，執(zhí)行步驟3,W進(jìn)行下一次的錯(cuò)誤注入 測(cè)試；在當(dāng)前的測(cè)試次數(shù)達(dá)到預(yù)先設(shè)置的測(cè)試次數(shù)時(shí)，則通知計(jì)算機(jī)進(jìn)行漏報(bào)率的計(jì)算，執(zhí) 行步驟8。
[0103] 8、計(jì)算機(jī)根據(jù)待檢測(cè)芯片的未漏報(bào)數(shù)n和漏報(bào)數(shù)m計(jì)算漏報(bào)率。所述漏報(bào)率的計(jì) 算公式為： m
[麵]品
[0105] 其中，r為待檢測(cè)芯片的漏報(bào)率，m為待檢測(cè)芯片的漏報(bào)數(shù)，n為待檢測(cè)芯片的未漏 報(bào)數(shù)。
[0106] 在本實(shí)施例中，通過(guò)判斷錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組是否相 同；若相同，則對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，并將更改后的測(cè)試數(shù)據(jù)組輸入到待 檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中W重新進(jìn)行錯(cuò)誤注入測(cè)試；否則，記錄待檢測(cè)芯片的告警情況，W計(jì)算 待檢測(cè)芯片的漏報(bào)率。通過(guò)所述對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，增加了安全芯片在錯(cuò)誤注入后的 出錯(cuò)類型，避免了使用同一組測(cè)試數(shù)據(jù)而導(dǎo)致的單一出錯(cuò)類型，從而提高了對(duì)安全芯片的 安全性評(píng)估的準(zhǔn)確性。
[0107] 本領(lǐng)域普通技術(shù)人員還可W理解，實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可 W通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，所述的程序可W在存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì) 中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)，包括R0M/RAM、磁盤、光盤等。
[010引w上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明。例如，各個(gè)模塊只 是按照功能邏輯進(jìn)行劃分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另 夕F，各功能模塊的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。再 例如，所述數(shù)據(jù)變更模塊對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改的方法包括但不限于W下方式：對(duì)測(cè)試數(shù) 據(jù)組中的測(cè)試數(shù)據(jù)均加1、減1和/或?qū)懭腚S機(jī)數(shù)到測(cè)試數(shù)據(jù)組中，還可W為其他更改方式， 只要實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組的更改使其與更改前的測(cè)試數(shù)據(jù)組不相同即可。
[0109] 凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在 本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括： 將測(cè)試數(shù)據(jù)組輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中； 在待檢測(cè)芯片運(yùn)行過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行錯(cuò)誤注入； 讀取錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組，判斷所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù) 組是否相同； 在所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組不相同時(shí)，記錄芯片的告警情 況，以計(jì)算芯片的漏報(bào)率。2. 如權(quán)利要求1所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試方法，其特征在于，所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試 數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組相同時(shí)，對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，并將更改后 的測(cè)試數(shù)據(jù)組重新輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中，以重新進(jìn)行錯(cuò)誤注入測(cè)試。3. 如權(quán)利要求2所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的 測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改的方式包括：對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組中的測(cè)試數(shù)據(jù)均加1、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組中的 測(cè)試數(shù)據(jù)均減1和/或?qū)懭腚S機(jī)數(shù)到測(cè)試數(shù)據(jù)組中。4. 如權(quán)利要求1或2所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試方法，其特征在于，所述方法之前還包 括： 設(shè)置錯(cuò)誤注入測(cè)試的總次數(shù)； 所述記錄芯片的告警情況，以計(jì)算芯片的漏報(bào)率的步驟之后還包括： 記錄已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)，在已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)達(dá)到設(shè)置的總次數(shù)時(shí)，根據(jù)芯片的告警 情況計(jì)算芯片的漏報(bào)率；在已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)未達(dá)到設(shè)置的總次數(shù)時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試 數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，以進(jìn)行下一次錯(cuò)誤注入測(cè)試。5. 如權(quán)利要求4所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)芯片的告警情 況計(jì)算芯片的漏報(bào)率為： 根據(jù)芯片的未漏報(bào)數(shù)和漏報(bào)數(shù)計(jì)算芯片的漏報(bào)率，其公式為：其中，r為芯片的漏報(bào)率，m為芯片的漏報(bào)數(shù)，η為芯片的未漏報(bào)數(shù)。6. -種芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括： 數(shù)據(jù)輸入模塊，用于將測(cè)試數(shù)據(jù)組輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中； 錯(cuò)誤注入模塊，用于在待檢測(cè)芯片運(yùn)行過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行錯(cuò)誤注入； 數(shù)據(jù)對(duì)比模塊，用于讀取錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組，判斷所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù) 組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組是否相同； 統(tǒng)計(jì)模塊，用于在所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組不相同時(shí)，記錄 芯片的告警情況，以計(jì)算芯片的漏報(bào)率。7. 如權(quán)利要求6所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置還包括數(shù)據(jù)變 更模塊； 所述數(shù)據(jù)變更模塊，用于在所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組相同 時(shí)，對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，并將更改后的測(cè)試數(shù)據(jù)組重新輸入到待檢測(cè) 芯片的存儲(chǔ)區(qū)中，以重新進(jìn)行錯(cuò)誤注入測(cè)試。8. 如權(quán)利要求7所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)變更模塊具體 用于： 對(duì)存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組中的測(cè)試數(shù)據(jù)均加 I、對(duì)存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組中的測(cè)試數(shù) 據(jù)均減1和/或?qū)懭腚S機(jī)數(shù)到測(cè)試數(shù)據(jù)組中，以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更 改。9. 如權(quán)利要求6或7所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)輸入模塊還 用于： 設(shè)置錯(cuò)誤注入測(cè)試的總次數(shù)； 所述數(shù)據(jù)變更模塊還用于： 記錄已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)，在已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)達(dá)到設(shè)置的總次數(shù)時(shí)，通知統(tǒng)計(jì)模塊根 據(jù)芯片的告警情況計(jì)算芯片的漏報(bào)率；在已進(jìn)行的測(cè)試次數(shù)未達(dá)到設(shè)置的總次數(shù)時(shí)，對(duì)存 儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，以進(jìn)行下一次錯(cuò)誤注入測(cè)試。10. 如權(quán)利要求9所述的芯片錯(cuò)誤注入測(cè)試裝置，其特征在于，所述統(tǒng)計(jì)模塊根據(jù)芯片 的告警情況計(jì)算芯片的漏報(bào)率為： 根據(jù)芯片的未漏報(bào)數(shù)和漏報(bào)數(shù)計(jì)算芯片的漏報(bào)率，其公式為：其中，r為芯片的漏報(bào)率，m為芯片的漏報(bào)數(shù)，η為芯片的未漏報(bào)數(shù)。
【專利摘要】本發(fā)明屬于芯片的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種芯片錯(cuò)誤注入的測(cè)試方法及裝置。所述方法包括：將測(cè)試數(shù)據(jù)組輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中；在待檢測(cè)芯片運(yùn)行過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行錯(cuò)誤注入；讀取錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組，判斷所述錯(cuò)誤注入后的測(cè)試數(shù)據(jù)組與輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)組是否相同；若相同，則對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，并將更改后的測(cè)試數(shù)據(jù)組重新輸入到待檢測(cè)芯片的存儲(chǔ)區(qū)中，以重新進(jìn)行錯(cuò)誤注入測(cè)試；若不相同，則記錄芯片的告警情況，以計(jì)算芯片的漏報(bào)率。本發(fā)明通過(guò)所述對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)組進(jìn)行更改，增加了安全芯片在錯(cuò)誤注入后的出錯(cuò)類型，從而提高了對(duì)安全芯片的安全性評(píng)估的準(zhǔn)確性。
【IPC分類】G01R31/26
【公開(kāi)號(hào)】CN105182207
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410242091
【發(fā)明人】朱凱, 陳少偉, 譚銳能, 張夢(mèng)良, 王明東
【申請(qǐng)人】國(guó)民技術(shù)股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月23日
【申請(qǐng)日】2014年5月30日