置方式可逐I加減，也可逐10加減，容差大小范圍為I %?99%。
[0035]與現(xiàn)有設(shè)計相比，本發(fā)明的技術(shù)優(yōu)勢在于:
[0036]本發(fā)明公開了一種基于李沙育圖形的電路板離線對比測試裝置，該發(fā)明采用小型化、便攜式結(jié)構(gòu)設(shè)計思想，主體結(jié)構(gòu)采用兩槽PXIe智能平板計算機，內(nèi)嵌控制器，并集成上層測試應(yīng)用軟件，通過PXIe總線控制源測量單元模塊，外接紅黑表筆連接被測電路板的測試點，控制源測量單元模塊產(chǎn)生測試激勵信號作用于被測電路板測試點，根據(jù)監(jiān)測到的端口響應(yīng)信號提取特征曲線繪制李沙育圖形，通過圖形直觀對比方式，在不需用戶了解電路原理的情況下，對電路板進行故障檢測，簡單快捷，使用方便。該發(fā)明可以產(chǎn)生多種類型、幅度頻率均可配置的測試激勵信號，同時提供手動和自動配置兩種模式，能夠?qū)崿F(xiàn)被測電路板元器件結(jié)點特征信號的即連即采，實時性好，同時提供元器件結(jié)點的電壓響應(yīng)和電流響應(yīng)對比波形，圖形對比測試的結(jié)果差異大小通過定義容差的方式來實現(xiàn)。
【附圖說明】
[0037]圖1為本發(fā)明裝置的測試原理示意圖；
[0038]圖2為本發(fā)明基于李沙育圖形的電路板離線對比測試裝置的測試連接示意框圖；
[0039]圖3為本發(fā)明裝置單元模塊組成原理示意圖；
[0040]圖4為本發(fā)明裝置測試控制模塊的工作流程示意圖；
[0041]圖5為本發(fā)明自動測試模式下配置測試激勵信號幅度/頻率原理流程示意圖。
【具體實施方式】
[0042]下面結(jié)合附圖與【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細(xì)說明。
[0043]圖1是本發(fā)明裝置的測試原理示意圖，首先對無故障電路板和待測電路板生成測試所需要的激勵信號，然后將激勵信號同時施加到兩個電路板，并采集兩電路板各對應(yīng)元器件節(jié)點的響應(yīng)信號，在此基礎(chǔ)上提取各元器件節(jié)點響應(yīng)信號的特征曲線，即李沙育圖形，最后通過比較無故障電路板和待測電路板各元器件節(jié)點的響應(yīng)信號特征曲線進行故障檢測定位，確定待測電路板是否存在故障，并確定故障位置。
[0044]圖2所示是本發(fā)明基于李沙育圖形的電路板離線對比測試裝置測試連接示意框圖。本發(fā)明提供的電路板離線對比測試裝置包含:智能終端，兩個源測量單元模塊和測試控制模塊。其中，智能終端通過PXIe總線連接并通過測試控制模塊控制兩個源測量單元模塊正常工作。模塊分別通過紅黑表筆連接電路板元器件節(jié)點與接地點，構(gòu)成測試回路。測試時，黑表筆連接待測電路板的接地點，紅表筆在被測電路板各元器件節(jié)點之間移動進行測試。
[0045]圖3所示為本發(fā)明裝置單元模塊組成原理示意框圖，包括智能終端、源測量單元模塊和測試控制模塊。所述源測量單元模塊包含第一電壓源子模塊、第一匹配阻抗子模塊和監(jiān)測子模塊。首先第一電壓源子模塊作為電壓源產(chǎn)生激勵信號，第一匹配阻抗子模塊輸出阻抗，用作工作線路上的限流電阻，最后監(jiān)測子模塊分別作為電壓表和電流表功能，實時監(jiān)測加載到被測電路板元器件節(jié)點的工作電壓和線路上的工作電流。
[0046]所述測試控制模塊進一步包含:第二電壓源控制子模塊、第二輸出阻抗控制子模塊和測量顯示子模塊，其中，所述第二電壓源控制子模塊用于控制源測量單元模塊的第一電壓源子模塊輸出可配置形式的激勵信號，所述激勵信號進一步包括正弦波、方波、三角波和鋸齒波，且各波形幅度和頻率均采用檔位配置的方式，各檔位之間無交集;所述第二輸出阻抗控制子模塊用于控制第一輸出阻抗子模塊的匹配阻抗大小，還用于控制被測電路板元器件節(jié)點電路上的阻抗進行匹配，且每個匹配阻抗的檔位對應(yīng)于一個激勵信號的幅度檔位;所述測量顯示子模塊通過李沙育圖形對比的方式顯示無故障電路板和待測電路板的對應(yīng)元器件節(jié)點的對比測試結(jié)果。
[0047]所述測量顯示子模塊進一步包含:實時測量子模塊和學(xué)習(xí)模式子模塊；
[0048]所述實時測量子模塊，用于將無故障電路板和待測電路板相對應(yīng)的元器件節(jié)點同時加載掃描激勵測試，并實時采集元器件節(jié)點端口的響應(yīng)特征信號，根據(jù)采集結(jié)果在測量顯示子模塊繪制李沙育對比圖形；
[0049]所述學(xué)習(xí)模式子模塊，用于從智能終端存儲的數(shù)據(jù)記錄中提取無故障電路板元器件節(jié)點的特征曲線，并與待測電路板相應(yīng)元器件節(jié)點的測試結(jié)果曲線進行圖形比較，根據(jù)對比測試差異大小來判斷待測電路板有無故障;其中，學(xué)習(xí)模式的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)為:對無故障電路板的關(guān)鍵元器件節(jié)點進行測試，并將測試結(jié)果作為相應(yīng)元器件節(jié)點的端口特征曲線進行數(shù)據(jù)存儲。
[0050]上述第二電壓源控制子模塊還包含:手動配置單元和自動配置單元；
[0051]其中，所述手動配置單元通過人工選擇設(shè)置激勵信號的幅度、頻率以及匹配阻抗產(chǎn)生激勵信號，作用于被測電路板元器件節(jié)點；所述自動配置單元通過檔位遞增方式逐一選擇各檔位幅度和頻率產(chǎn)生激勵信號，同時選擇與幅度檔位相對應(yīng)的匹配阻抗，控制各檔位激勵信號幅度的最大值作用于被測電路板，將采集到的電流信號與基準(zhǔn)電流值進行比較，以此為基礎(chǔ)作為自動配置單元選擇激勵信號幅度和頻率的依據(jù)。
[0052]圖4所示為本發(fā)明裝置測試控制模塊的工作流程示意圖，為被測電路板單個元器件節(jié)點的對比測試過程，通過測試控制模塊控制源測量單元模塊按照既定流程工作。主要工作流程如下:
[0053]步驟101)生成測試無故障電路板和待測電路板所需要的激勵信號；
[0054]步驟102)將激勵信號同時施加到兩個電路板，并采集兩電路板各對應(yīng)元器件節(jié)點的響應(yīng)信號，在此基礎(chǔ)上提取各節(jié)點端口響應(yīng)信號的特征曲線，即李沙育圖形；
[0055]步驟103)通過比較無故障電路板和待測電路板各元器件節(jié)點的響應(yīng)信號特征曲線進行故障檢測定位，確定待測電路板是否存在故障，并確定故障位置。
[0056]其中，所述步驟101)進一步包含:
[0057]步驟101-1)初始化每個源測量單元模塊，用相同的電壓源工作參數(shù)配置兩個源測量單元模塊，其中所述電壓源工作參數(shù)包含:波形、電壓或頻率；
[0058]步驟101-2)配置兩個源測量單元模塊與電壓檔位相匹配的輸出阻抗；
[0059]所述步驟102)進一步包含:
[0060]步驟102-1)根據(jù)電壓源工作參數(shù)計算掃描電壓數(shù)組，確定掃描總點數(shù)，并設(shè)置掃描點數(shù)初值；
[0061 ]步驟102-2)選取掃描點數(shù)對應(yīng)的掃描電壓，并輸出掃描電壓；
[0062]步驟102-3)采集在該掃描電壓激勵下，無故障電路板和待測電路板對應(yīng)元器件節(jié)點端口的輸出電壓和工作電流，并記錄采集值；
[0063]步驟102-4)對掃描點數(shù)進行自增操作處理；
[0064]步驟102-5)判斷掃描點數(shù)是否達到掃描電壓數(shù)組的最大值，如果否，則返回步驟102-2);如果是，進入步驟102-6)；
[0065]步驟102-6)根據(jù)采集的各掃描點特征數(shù)據(jù)繪制并顯示無故障電路板和待測電路板對應(yīng)元器件節(jié)點的李沙育波形，進而得到對比波形圖；
[0066]步驟102-7)設(shè)置對比容差的值；
[0067]步驟102-8)判斷對比波形圖的最大差異是否在設(shè)置的容差值范圍內(nèi)，如果在，則待測電路板存在故障；如果不在設(shè)置的容差值的范圍內(nèi)，則待測電路板當(dāng)前所測元器件節(jié)點無故障。
[0068]源測量單元模塊只能輸出單個離散的電壓信號，因此通過測試控制模塊第二電壓源控制子模塊控制其依次輸出波形上各個掃描電壓點，構(gòu)成激勵波形并依次作用于被測電路板元器件節(jié)點。以正弦波形為例，首先根據(jù)正弦波形的頻率計算出構(gòu)成波形的掃描點數(shù)，本發(fā)明裝置掃描電壓波形的頻率范圍為1Hz?1MHz，選取掃描總點數(shù)的原則為:根據(jù)掃描電壓數(shù)組繪制出來的掃描電壓波形不失真，且源測量單元模塊掃描完成整個波形的采集時間不超過5s，在用戶可以承受的等待時間范圍內(nèi)，根據(jù)頻率范圍定義掃描點數(shù)=100000/頻率。綜合波形、幅度、頻率和掃描點數(shù)，計算出激勵信號的波形電壓數(shù)組。
[0069]用戶進行電路板對比測試時可以根據(jù)需要自定義容差的范圍1%?99%，當(dāng)無故障電路