一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于一種檢測裝置，具體涉及一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在機械領(lǐng)域，在同一個零件的某一個平面上加工出多個孔的情況很常見?？椎奈恢枚仁欠穹弦笾苯佑绊懥慵氖褂眯阅苁欠穹弦?。通常需要在零件裝配前對孔的位置度進行檢驗，以避免返工等不必要的工作而降低生產(chǎn)效率、增加生產(chǎn)成本。對位于同一平面上多個孔的位置度，現(xiàn)有技術(shù)設(shè)計出了很多高效、便捷的多孔位置度的檢驗裝置，而在位于盤式薄壁零件肩部的多斜孔位置度檢驗方面，卻鮮有與此相關(guān)的檢驗裝置的研究與設(shè)
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【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點而提出，其目的是提供一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，包括定位底座，定位軸安裝在定位底座上，墊圈套裝于定位軸外，驗盤通過螺母與定位軸上端固定;驗銷分別穿過驗盤上的導(dǎo)向孔與待驗盤狀薄壁工件上的待驗斜孔。
[0005]所述驗盤是盤狀結(jié)構(gòu)，由盤面和沿盤面外圓周壁形成的裙邊形成，裙邊與盤面下底面之間形成的夾角為鈍角，盤面中間形成通孔，裙邊上形成多個沿圓周均布的導(dǎo)向孔。
[0006]所述定位軸自下而上由定位柱、軸肩和螺紋柱形成。
[0007]所述定位底座為中間形成中心通孔的圓柱狀結(jié)構(gòu)。
[0008]所述驗銷自上而下由均為圓柱型且直徑依次遞減的手持柱、導(dǎo)向柱和檢驗柱形成。
[0009]所述螺紋柱外徑與通孔內(nèi)徑相配合;定位柱的外徑與中心通孔的內(nèi)徑相配合。
[0010]所述導(dǎo)向柱的外徑與導(dǎo)向孔的孔徑相配合;檢驗柱與待驗盤狀薄壁工件上的待驗斜孔孔徑相配合。
[0011]本發(fā)明的有益效果是:
本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、便于攜帶、操作方便、檢驗高效，對檢驗人員的技能要求不高，可在盤式薄壁件的斜孔加工序間實施檢驗，既避免了成品檢驗待檢工件的搬運過程，又解決了在產(chǎn)品批量加工線上的質(zhì)量控制問題，節(jié)約檢測時間，提高檢測效率。
【附圖說明】
[0012]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明中驗盤的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明中定位軸的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4是本發(fā)明中定位底座的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖5是本發(fā)明中驗銷的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]其中:
I驗盤2定位軸
3定位底座4驗銷
5墊圈6螺母
7待驗盤狀薄壁工件 11盤面
12裙邊21定位柱
22軸肩23螺紋柱
31中心通孔41手持柱
42導(dǎo)向柱43檢驗柱
71待驗斜孔111通孔 121導(dǎo)向孔。
【具體實施方式】
[0014]下面結(jié)合說明書附圖及實施例對本發(fā)明一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置進行詳細(xì)說明:
如圖1所示，一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，包括定位底座3，定位軸2安裝在定位底座3上，墊圈5套裝于定位軸2外，驗盤I通過螺母6與定位軸2上端固定;驗銷4分別穿過驗盤I上的導(dǎo)向孔121與待驗盤狀薄壁工件7上的待驗斜孔71。
[0015]如圖2所示，所述驗盤I是厚度均勻的盤狀結(jié)構(gòu)，由盤面11和沿盤面11外圓周壁形成的裙邊12形成，裙邊12與盤面11下底面之間形成的夾角為鈍角，盤面11中間形成通孔111，裙邊12上形成多個沿圓周均布的導(dǎo)向孔121(本實施例為12個)。
[0016]如圖3所示，所述定位軸2自下而上由定位柱21、軸肩22和螺紋柱23形成。
[0017]如圖4所示，所述定位底座3為中間形成中心通孔31的圓柱狀結(jié)構(gòu)。
[0018]如圖5所示，所述驗銷4自上而下由均為圓柱型且直徑依次遞減的手持柱41、導(dǎo)向柱42和檢驗柱43形成。手持柱41外圓周壁形成滾花，方便應(yīng)用；導(dǎo)向柱42起到導(dǎo)向作用，檢驗柱43起到檢驗作用。
[0019]所述定位柱21插入中心通孔31內(nèi)，螺紋柱23穿過通孔111，且上端通過螺母6固定；墊圈5安裝于軸肩22上;所述導(dǎo)向柱42和檢驗柱43均穿過導(dǎo)向孔121，且檢驗柱43插入待驗盤狀薄壁工件7上的待驗斜孔71內(nèi)。
[0020]所述螺紋柱23外徑與通孔111內(nèi)徑相配合;定位柱21的外徑與中心通孔31的內(nèi)徑相配合。
[0021]所述導(dǎo)向柱42的外徑與導(dǎo)向孔121的孔徑相配合;檢驗柱43與待驗盤狀薄壁工件7上的待驗斜孔71孔徑相配合。
[0022]所述待驗盤狀薄壁工件7放置于定位底座3和軸肩23之間。
[0023]本發(fā)明的使用方法:
將定位軸2的定位柱21依次插入盤式薄壁件7的通孔和定位底座3的中心通孔31，豎直放在工作臺上，將墊圈5和驗盤I依次套入定位軸2的螺紋柱23，先將一個驗銷4的導(dǎo)向柱42和檢驗柱43分別插入驗盤I的導(dǎo)向孔121和待驗盤狀薄壁工件7肩部上的待驗斜孔71，再通過設(shè)置于驗盤I上方的螺母6與螺紋柱23的螺紋配合將驗盤1、墊圈5、軸肩22、盤式薄壁件7和定位底座3壓緊;驗盤I的12個均布導(dǎo)向孔121相當(dāng)于待驗盤狀薄壁工件7肩部上的待驗斜孔71的理想位置，觀察12個驗銷4是否都能完全插入待驗斜孔71中，如果可以，表示待驗盤狀薄壁工件7肩部上的待驗斜孔71的位置度符合要求，反之，則不符合要求。
【主權(quán)項】
1.一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:包括定位底座(3)，定位軸(2)安裝在定位底座(3)上，墊圈(5)套裝于定位軸(2)外，驗盤(1)通過螺母(6)與定位軸(2)上端固定;驗銷(4)分別穿過驗盤(1)上的導(dǎo)向孔(121)與待驗盤狀薄壁工件(7)上的待驗斜孔(71)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述驗盤(I)是盤狀結(jié)構(gòu)，由盤面(11)和沿盤面(11)外圓周壁形成的裙邊(12)形成，裙邊(12)與盤面(11)下底面之間形成的夾角為鈍角，盤面(11)中間形成通孔(111)，裙邊(12)上形成多個沿圓周均布的導(dǎo)向孔(121)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述定位軸(2)自下而上由定位柱(21)、軸肩(22)和螺紋柱(23)形成。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述定位底座(3 )為中間形成中心通孔(31)的圓柱狀結(jié)構(gòu)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述驗銷(4)自上而下由均為圓柱型且直徑依次遞減的手持柱(41)、導(dǎo)向柱(42)和檢驗柱(43)形成。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述螺紋柱(23)外徑與通孔(111)內(nèi)徑相配合;定位柱(21)的外徑與中心通孔(31)的內(nèi)徑相配入口7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，其特征在于:所述導(dǎo)向柱(42)的外徑與導(dǎo)向孔(121)的孔徑相配合;檢驗柱(43)與待驗盤狀薄壁工件(7)上的待驗斜孔(71)孔徑相配合。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種盤式薄壁件的多斜孔位置度檢驗裝置，包括定位底座，定位軸安裝在定位底座上，墊圈套裝于定位軸外，驗盤通過螺母與定位軸上端固定；驗銷分別穿過驗盤上的導(dǎo)向孔與待驗盤狀薄壁工件上的待驗斜孔。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、便于攜帶、操作方便、檢驗高效，對檢驗人員的技能要求不高，可在盤式薄壁件的斜孔加工序間實施檢驗，既避免了成品檢驗待檢工件的搬運過程，又解決了在產(chǎn)品批量加工線上的質(zhì)量控制問題，節(jié)約檢測時間，提高檢測效率。
【IPC分類】G01B5/00
【公開號】CN105547078
【申請?zhí)枴緾N201510928782
【發(fā)明人】王建, 張連飛, 楊超, 馬占宇, 龔雅楠, 閆磊, 王斌
【申請人】中核（天津）機械有限公司
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年12月15日