一種非接觸智能卡測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤指一種非接觸智能卡測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]非接觸智能卡產(chǎn)品，具有傳輸速度快，交易時間短等特點，特別適用于使用環(huán)境惡劣，要求響應(yīng)速度快、安全性高、功能需求復(fù)雜的場合。集成電路在生產(chǎn)中為了保證質(zhì)量，需要盡可能的提高測試覆蓋率。
[0003]現(xiàn)有的非接觸智能卡測試需要涉及到下面幾方面問題:
[0004]非接觸智能卡的實場RF性能測試不能支持模塊狀態(tài)，必須封裝為卡狀態(tài)；
[0005]非接觸智能卡的RF性能測試不能夠支持多種讀卡器類型，多模塊，多頻次，多角度，多距離，多速度等組合同測；
[0006]非接觸智能卡產(chǎn)品的兼容性測試；
[0007]自動化測試。
[0008]目前市場上的非接觸智能卡產(chǎn)品測試設(shè)備，一部分針對模塊形式的產(chǎn)品測試，一部分針對卡片形式的產(chǎn)品測試，且測試功能主要集中在產(chǎn)品電性能及產(chǎn)品本身特點測試，不能模擬實場使用環(huán)境，且測試裝置不能兼容模塊及卡片形式的非接觸智能卡產(chǎn)品同測。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種非接觸智能卡測試裝置，能夠涵蓋非接觸智能卡的功能及性能測試，通過角度、高度、進場速度等方面控制，實現(xiàn)非接觸智能卡的多維度測試，提高非接觸智能卡產(chǎn)品的測試覆蓋率。
[0010]為了達到本發(fā)明目的，本發(fā)明提供了一種非接觸智能卡測試裝置，包括:成品臺、速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置和讀卡器組合，其中，所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試;所述速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)節(jié);所述讀卡器組合，包括純非接讀卡器或雙界面讀卡器或支持非接觸智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態(tài)和/或卡片形態(tài)的非接觸智能卡。
[0011]進一步地，所述成品臺，通過更換臺面來支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試。
[0012]進一步地，通過單獨控制或組合控制所述速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置和高度調(diào)節(jié)裝置，實現(xiàn)對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)
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[0013]進一步地，所述非接讀卡器是純非接讀卡器或雙界面讀卡器或?qū)Ｓ梅墙赢a(chǎn)品測試設(shè)備。
[0014]進一步地，所述非接觸智能卡測試裝置采用絲扛傳動、齒輪齒條傳動，通過多軸聯(lián)動、以及程控裝置，實現(xiàn)可編程控制的自動測試。
[0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測試方案可支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試，可兼容兩種形態(tài)的產(chǎn)品測試;可模擬實場使用環(huán)境進行測試，例如模擬刷卡高度、角度以及進場速度;并可以組合上述條件進行產(chǎn)品功能測試;此外，還可以擴展工作站，支持非接觸智能卡產(chǎn)品小批量自動化測試。
[0016]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。
【附圖說明】
[0017]附圖用來提供對本發(fā)明技術(shù)方案的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本申請的實施例一起用于解釋本發(fā)明的技術(shù)方案，并不構(gòu)成對本發(fā)明技術(shù)方案的限制。
[0018]圖1是本發(fā)明的一實施例中非接觸智能卡測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖2是本發(fā)明的一實施例中非接觸測試工作站的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0020]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。
[0021]在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行。并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
[0022]圖1是本發(fā)明的一實施例中非接觸智能卡測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，該裝置包括:非接觸測試工作站1、接觸測試工作站2、物料傳輸導(dǎo)軌3、上下物料盤4和搖輪計數(shù)器5。其中，
[0023]非接觸測試工作站I，用于支持非接觸智能卡的產(chǎn)品測試。
[0024]接觸測試工作站2，用于支持接觸智能卡的產(chǎn)品測試。
[0025]物料傳輸導(dǎo)軌3，用于傳輸測試產(chǎn)品。
[0026]上下物料盤4，用于將測試產(chǎn)品進行上下操作。
[0027]搖輪計數(shù)器5，可以采用手搖輪的搖輪計數(shù)器，用于對測試產(chǎn)品進行計數(shù)。
[0028]圖2是本發(fā)明的一實施例中非接觸測試工作站的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，非接觸測試工作站包括成品臺11、速度調(diào)節(jié)裝置12、角度調(diào)節(jié)裝置13、高度調(diào)節(jié)裝置14和讀卡器組合15，其中，
[0029]成品臺11可更換臺面，支持非接觸智能卡廣品的t旲塊形態(tài)及卡片形態(tài)的廣品測試。
[0030]速度調(diào)節(jié)裝置12、角度調(diào)節(jié)裝置13、高度調(diào)節(jié)裝置14分別可以將成品臺進行相對于讀卡器的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)節(jié)，即可以將成品臺進行相對于讀卡器的距離、角度或進場離場速度的單獨控制或組合控制。
[0031]讀卡器組合15包括多種類非接讀卡器，例如模塊形態(tài)和/或卡片形態(tài)的非接讀卡器，用于讀取模塊形態(tài)和/或卡片形態(tài)的非接觸智能卡，非接讀卡器可以是單面非接讀卡器或雙面非接讀卡器。
[0032]基于圖1和圖2所示的非接觸智能卡測試裝置，下面將具體介紹測試工作流程。
[0033]實施例一
[0034]針對模塊類非接觸智能卡產(chǎn)品進行測試。
[0035]1、將卷帶狀的IC卡模塊放置在本工裝上，支持32個模塊同測頭；
[0036]2、測試頭另一端連接標(biāo)準(zhǔn)天線板，天線板放置在成品臺上，成品臺下方放置各型號或各類非接讀卡器；
[0037]3、通過上位機軟件與PLC通信，控制三組伺服電機傳動，實現(xiàn)成品臺相對于讀卡器的距離、角度、進場離場速度調(diào)節(jié)及控制，或多種條件組合使用；
[0038]4、通過調(diào)用上位機測試腳本控制讀卡器與模塊類非接觸產(chǎn)品進行功能測試；
[0039]5、通過使用3、4兩種方式的組合，及上位機軟件設(shè)置實現(xiàn)RF性能的多模塊、多頻次、多角度，多距離，多速度自動測試。
[0040]實施例二
[0041 ]針對卡片類非接觸智能卡產(chǎn)品進行測試。
[0042]1、將卡片類非接觸產(chǎn)品放置在成品臺上，成品臺下方放置各型號或各類非接讀卡器；
[0043]2、通過上位機軟件與PLC通信，控制三組伺服電機傳動。實現(xiàn)成品臺相對于讀卡器的距離、角度、進場離場速度調(diào)節(jié)及控制，或多種條件組合使用；
[0044]3、通過調(diào)用上位機測試腳本控制讀卡器與模塊類非接觸產(chǎn)品進行功能測試；
[0045]4、通過使用2、3兩種方式的組合，及上位機軟件設(shè)置實現(xiàn)RF性能的多模塊、多頻次、多角度，多距離，多速度自動測試。
[0046]本發(fā)明提供的非接觸智能卡測試裝置，測試工裝支持多模塊、測試頭可拆卸、測試工裝可擴展;工裝測試包括距離、角度、速度并可實現(xiàn)軟件自行配置;該工裝支持非接觸智能卡及純非接模塊和雙界面模塊測試;兼容通用讀卡器，可實現(xiàn)對非接觸智能卡產(chǎn)品的兼容性測試;本工裝采用絲扛傳動、齒輪齒條傳動，通過多軸聯(lián)動、以及程控裝置，實現(xiàn)可編程控制的自動測試;實現(xiàn)小批量自動化，多條件組合測試。測試效能明顯提高。
[0047]雖然本發(fā)明所揭露的實施方式如上，但所述的內(nèi)容僅為便于理解本發(fā)明而采用的實施方式，并非用以限定本發(fā)明。任何本發(fā)明所屬領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實施的形式及細節(jié)上進行任何的修改與變化，但本發(fā)明的專利保護范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，包括:成品臺、速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置和讀卡器組合，其中， 所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試； 所述速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)節(jié)； 所述讀卡器組合，包括純非接和/或雙界面讀卡器和/或支持非接觸智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態(tài)和/或卡片形態(tài)的非接觸智能卡。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述成品臺，通過更換臺面來支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，通過單獨控制或組合控制所述速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置和高度調(diào)節(jié)裝置，實現(xiàn)對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)節(jié)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述非接讀卡器是純非接讀卡器或雙界面讀卡器或支持非接觸智能卡讀取的機具。5.根據(jù)權(quán)利要求1?4中任一項所述的非接觸智能卡測試裝置，其特征在于，所述非接觸智能卡測試裝置采用絲扛傳動、齒輪齒條傳動，通過多軸聯(lián)動、以及程控裝置，實現(xiàn)可編程控制的自動測試。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種非接觸智能卡測試裝置，包括：成品臺、速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置和讀卡器組合，其中，所述成品臺，用于支持非接觸智能卡產(chǎn)品的模塊形態(tài)及卡片形態(tài)的產(chǎn)品測試；所述速度調(diào)節(jié)裝置、角度調(diào)節(jié)裝置、高度調(diào)節(jié)裝置，分別用于對所述成品臺進行相對于所述讀卡器組合的距離、角度和/或進場離場速度調(diào)節(jié)；所述讀卡器組合，包括純非接讀卡器和雙界面讀卡器以及支持非接智能卡讀取的機具，用于讀取模塊形態(tài)和/或卡片形態(tài)的非接觸智能卡。本發(fā)明能夠涵蓋非接觸智能卡的功能及性能測試，通過角度、高度、進場速度等方面控制，實現(xiàn)非接觸智能卡的多維度測試，提高非接觸智能卡產(chǎn)品的測試覆蓋率。
【IPC分類】G01R31/00
【公開號】CN105629099
【申請?zhí)枴緾N201510967077
【發(fā)明人】劉碩, 雷黎麗
【申請人】大唐微電子技術(shù)有限公司, 大唐半導(dǎo)體設(shè)計有限公司
【公開日】2016年6月1日
【申請日】2015年12月21日