一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置及方法，包括樣品池和超聲波直探頭，樣品池內(nèi)設(shè)置有用于放置納米溶液的流體輸送槽，流體輸送槽內(nèi)設(shè)置有反射板，超聲波直探頭用于發(fā)出超聲波脈沖到流體輸送槽內(nèi)的反射板上，并接收反射板反射回的反射波，超聲波直探頭經(jīng)過超聲脈沖發(fā)射接收儀連接至數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，通過超聲脈沖發(fā)射接收儀發(fā)送至數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)對其進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。利用本方法可得到納米溶液內(nèi)部粒子團(tuán)簇的平均半徑和粒子簇團(tuán)在單位時間內(nèi)的位移等特性參數(shù)，實時監(jiān)測納米溶液分形結(jié)構(gòu)中隨機行走途徑的分形維數(shù)和不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重，準(zhǔn)確測量固?液兩相流中顆粒相的聲衰減系數(shù)，實現(xiàn)快速在線監(jiān)測。
【專利說明】一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置及方法 【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種流動狀態(tài)下非牛頓基液中納米顆粒 團(tuán)聚現(xiàn)象的超聲波監(jiān)測裝置及方法。 【【背景技術(shù)】】
[0002] 目前，主流的觀測納米溶液中顆粒擴散行為的方法都是基于激光散斑法的原理， 這些方法由于穿透能力有限，需要對樣品進(jìn)行采樣、稀釋后測量，不適合高濃度下的在線測 量，且對光路設(shè)備要求較高、測量存在較大誤差、對所得數(shù)據(jù)和圖像的后期處理較難，此外 還有許多其他方法，但這些方法的缺點主要存在兩方面:一是只能在靜態(tài)條件下觀測非牛 頓流體中納米顆粒擴散現(xiàn)象，沒有考慮流體流動對顆粒傳質(zhì)現(xiàn)象的影響，二是在觀測過程 中由于與非牛頓流體的基液產(chǎn)生直接接觸，而對觀測結(jié)果產(chǎn)生了無法避免的影響。
[0003] 非牛頓流體流場中納米顆粒具有一系列獨特的輸運，擴散，團(tuán)簇，與固體邊界的相 互作用等基本現(xiàn)象，而接觸性觀測測量容易促使非牛頓流體在輸運中呈現(xiàn)出管流剪切變 稀、應(yīng)力松弛、蠕變、滯后、殘余應(yīng)力、粘彈性回復(fù)及滑移等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象將勢必對流場中 的納米顆粒產(chǎn)生重要的影響，現(xiàn)有文獻(xiàn)包括法國巴黎皮埃爾和瑪麗居里大學(xué)Jean Le Rond D'Alembert國際聯(lián)合實驗室Michael Baudoin教授等研究聲沖擊波在納米顆粒懸浮液中傳 播時，懸浮液濃度的變化以及顆粒與液體間流速的變化等均會引起聲散射場的變化;上海 理工大學(xué)蘇明旭等采用高頻寬帶超聲衰減譜來表征納米顆粒粒度;北京理工大學(xué)的徐春 廣、閻紅娟等提供了一種高精度多相流體密度和濃度及顆粒粒度的超聲陣列檢測方法等， 并沒有關(guān)于如何使用超聲測量裝置測量流動狀態(tài)下非牛頓基液中納米顆粒分形結(jié)構(gòu)隨機 行走途徑的分形維數(shù)以及不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占權(quán)重的監(jiān)測方法，本發(fā)明 便是考慮到上述方法存在的種種缺陷，提出一種在納米溶液的研究以及實際應(yīng)用中可以廣 泛采用的手段。 【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0004] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種非牛頓基 液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置及方法，是一種實時高精度檢測納米溶液中粒子的擴 散-團(tuán)聚-沉降現(xiàn)象對其流體特性影響的方法。
[0005] 本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：
[0006] -種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，包括以下步驟：
[0007] (1)以計量栗向納米流體容納池內(nèi)注入納米流體，模擬動態(tài)納米流體；
[0008] (2)在納米流體容納池內(nèi)沿垂直方向設(shè)置反射板，在反射板上沿垂直方向設(shè)置多 個檢測點，超聲脈沖經(jīng)反射板反射后被超聲波接收儀接收，記錄經(jīng)反射后的超聲脈沖強度 %以及超聲波探頭與反射板之間的距離
[0009] (3)超聲波探頭發(fā)出的超聲波強度以及超聲波探頭與反射板之間的距離不變，依 次移動超聲波探頭對第二個、第三個……第N個檢測點發(fā)出超聲波脈沖，依次記錄第二個、 第三個……第N個檢測點經(jīng)反射后的超聲脈沖強度V2、V3、……VN，直至完成對所有檢測點的 測量；
[0010] (4)移動反射板位置，使超聲波探頭和反射板之間的距離為r2，改變超聲波探頭發(fā) 出的超聲波強度，重復(fù)步驟(2)到步驟(3)，記錄經(jīng)反射后的超聲脈沖強度％'、％'、％'、…… Vn'；
[0011] (5)根據(jù)步驟(2)至步驟(4)的得到的超聲脈沖強渡和超聲波探頭和反射板之間的 距離獲取頻譜圖，然后將該頻譜圖利用最優(yōu)正則化反演算法得到納米溶液中顆粒團(tuán)簇的粒 徑分布圖，根據(jù)所述粒徑分布圖獲得納米溶液內(nèi)部粒子的位移1、分形維數(shù)心和不同粒徑的 顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重
[0012] 所述步驟(5)的頻譜圖根據(jù)以下方法獲得:首先根據(jù)反射前后超聲波強度的變化 計算聲衰減系數(shù)，然后將聲衰減系數(shù)換算為聲波頻率信號，然后再將聲波頻率信號通過快 速傅里葉變換得到頻譜圖。
[0013] 所述的聲衰減系數(shù)根據(jù)以下公式計算：
[0014]
[0015] 其中，α為聲衰減系數(shù),V1'和別表示超聲探頭與反射板距離為^和^處的超聲 波強度。
[0016] 所述聲波頻率信號的計算公式為:α = α〇ω Y，其中，ω為聲波頻率信號，aQ為大于〇 的實數(shù)，介質(zhì)參數(shù)γ為〇到2的任意實數(shù)。
[0017] 所述納米溶液內(nèi)部粒子的位移1的計算公式為：
[0018]
[0019] 其中，kB表示玻爾茲曼常數(shù)，T表示絕對溫度，μ表示納米流體的動力粘度，當(dāng)粒子 濃度小于5%時，粒子濃度引起的粘性變化可以忽略，μ表示基液的粘度系數(shù)。
[0020] 所述的納米溶液內(nèi)部粒子的分形維數(shù)dw的計算公式為：
[0021] / X I：'·
[0022]其中，L表示t時間后隨機行走的平均距離，L計算公式為:L=I · t。
[0023] 所述不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重&的計算公式為：
[0024] R = RiPi
[0025] 其中，R為流體中納米顆粒的平均粒徑，Ri為被測納米顆粒的粒徑。
[0026] 所述納米流體被注入到納米流體容納池之前，首先將納米流體直接置于超聲場 中，用超聲波加以振動，克服納米顆粒原有粒子之間的作用力，使納米顆粒分散于液體中。
[0027] 步驟(4)中，移動反射板位置時，保證注入到納米流體容納池內(nèi)的流速不變。
[0028] -種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置，包括納米流體容納池以及超聲 波發(fā)射接收儀，在納米流體容納池連接有計量栗用以向納米流體容納池內(nèi)注入納米流體， 所述納米流體容納池內(nèi)垂直放置有反射板，用于對超聲脈沖進(jìn)行反射，該反射板上述沿垂 直方向依次設(shè)置有多個檢測點，超聲脈沖以直線方式打在該檢測點上，所述的超聲波發(fā)射 接收儀的輸出端進(jìn)一步連接有數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元根據(jù)超聲脈沖反射后強度發(fā)生 的變化獲取納米流體中顆粒團(tuán)簇的粒徑分布圖。
[0029] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明至少具有以下有益效果:本發(fā)明實現(xiàn)了對待測流體動態(tài) 條件下懸浮顆粒的無接觸觀測測量，避免了超聲換能器與非牛頓基液接觸造成損壞，并使 觀測者難以判斷納米顆粒的獨特"反常"現(xiàn)象究竟是由于非牛頓流體基液與其相互作用所 引起的還是接觸性測量所帶來的實驗誤差，超聲波具有良好的穿透性，并具有較寬的頻帶， 可以確保測量納米級到毫米級的顆粒粒徑范圍，寬帶超聲能快速精確測量顆粒尺寸分布。
[0030] 最優(yōu)正則化算法(ORT)，反演計算得到該納米溶液中顆粒團(tuán)簇的粒徑分布;通過快 速傅里葉變換，縮短了反演計算時間，準(zhǔn)確測量固-液兩相流中顆粒相的聲衰減系數(shù)，可近 似得出不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重，測量結(jié)果受透光性及濃度變化影響 較小，有限監(jiān)測納米顆粒團(tuán)聚沉淀現(xiàn)象，超聲衰減譜法的非浸入式測量特性，可實現(xiàn)快速在 線監(jiān)測。
[0031] 下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。 【【附圖說明】】
[0032]圖1為本發(fā)明監(jiān)測裝置示意圖。 【【具體實施方式】】
[0033] 本發(fā)明提供了一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，主要利用超聲波 在納米顆粒兩相介質(zhì)中傳播時的聲衰減譜，通過聲衰減普與數(shù)學(xué)模型的比較和反演計算可 獲得顆粒相的粒度分布和濃度分布，可對生產(chǎn)生活實踐中大量出現(xiàn)的納米顆粒團(tuán)聚沉淀現(xiàn) 象對非牛頓流體在流動狀態(tài)下傳質(zhì)現(xiàn)象的影響進(jìn)行監(jiān)測，當(dāng)納米顆粒懸浮后，決定其懸浮 穩(wěn)定性與數(shù)量的決定性因素是納米顆粒之間、納米顆粒與基液之間相互作用力的綜合效 果。此時將納米溶液注入到流體輸送槽中，此時觀測到的納米顆粒聚集-沉淀現(xiàn)象便是重力 作用下流動過程中納米顆粒真實的團(tuán)聚效果。因此，準(zhǔn)確測量超聲波在顆粒兩相介質(zhì)中的 聲衰減譜、數(shù)學(xué)模型的選擇、反演算法的研究是該技術(shù)所采用原理的三個重要組成部分。
[0034] -種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，具體步驟包括：
[0035] 第一步，為保證實施方法的可靠性，在納米流體的制備過程中需要先采用超聲分 散法來分散納米顆粒，將納米溶液直接置于超聲場中，用超聲波加以振動，克服納米顆粒原 有粒子之間的作用力，使納米顆粒分散于液體中。將配置好的非牛頓基液納米溶液裝入保 溫型計量栗中，調(diào)節(jié)保溫型計量栗的溫度和流量，將納米溶液灌入流體輸送槽內(nèi)；配置以非 牛頓流體為基液的納米溶液，并加熱到所想要的溫度，將保溫型計量栗調(diào)節(jié)到所需流量，使 用保溫型計量栗將納米溶液灌入流體輸送槽，保溫型計量栗流量可以在0-100%范圍內(nèi)無 級調(diào)節(jié)，且能夠保持所需的流體溫度。
[0036] 第二步，在流體輸送槽側(cè)面設(shè)置一系列的測量點，便于納米顆粒在重力影響下的 擴散傳質(zhì)現(xiàn)象得到捕捉和觀測，啟動超聲脈沖發(fā)射接收儀和數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，使超聲脈 沖發(fā)射接收儀通過超聲波直探頭發(fā)射超聲波脈沖，調(diào)節(jié)超聲波直探頭的位置，使其剛好對 準(zhǔn)流體輸送槽最上邊的一個測量點，超聲脈沖發(fā)射接收儀通過超聲波直探頭向流體輸送槽 發(fā)射超聲波脈沖，數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)記錄超聲波強度％和測量探頭與反射板之間的距離η。
[0037] 第三步，維持流速不變，調(diào)節(jié)反射板與超聲波直探頭之間的距離，數(shù)據(jù)采集處理系 統(tǒng)重新記錄測量點超聲波強度％和測量探頭與反射板之間的距離r 2，根據(jù)聲衰減系數(shù)α換算 獲得聲波頻率信號ω ;
[0038] 將超聲波直探頭的位置調(diào)整到下一個待測量的點重復(fù)上述步驟，然后調(diào)節(jié)反射板 到超聲波直探頭之間的距離，維持流速不變，重新對測量點進(jìn)行測量，實現(xiàn)變聲程測量。超 聲波粒度分析法的基本測量為聲衰減系數(shù)，單聲程測量需已知多個參數(shù)（比如緩沖塊的聲 衰減系數(shù)），而變聲程測量則很好地避免了這個問題，本方法中只需改變一次超聲波直探頭 到反射板的距離，通過兩次測量，得到超聲波頻譜幅度和超聲波直探頭與反射板之間距離 的改變量便可得到聲衰減系數(shù)。
[0039] 由于納米顆粒粒徑遠(yuǎn)小于超聲波波長，因此符合"長波長條件"，此條件下采用 ECAH的簡化模型，即McClements模型，結(jié)合聲散射模型BLBL(Bouguer-Iambert-Beer-Law) 預(yù)測超聲聲能損失。試樣顆粒呈球形且假設(shè)與入射平面波僅發(fā)生一次作用，顆粒和外部連 續(xù)流體介質(zhì)中將產(chǎn)生三種不同模式波:壓縮波、熱波和剪切波，由于剪切波和熱波在液體中 迅速衰減而不能被遠(yuǎn)場探測器檢測到，因此最終固-液兩相流中顆粒相的聲衰減系數(shù)僅與 壓縮波散射系教有類"：*：走驗系統(tǒng)的聲衰減系數(shù)可由下式給出：
[0040；
[0041]式中VjPV2分別表示超聲探頭與反射板距離為處某一頻率的超聲波強度。 [0042]第四步，數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)將聲波頻率信號ω通過快速傅里葉變換得到頻譜圖， 再用最優(yōu)正則化反演算法得到納米溶液中顆粒團(tuán)簇的粒徑分布圖，根據(jù)粒徑分布圖獲得納 米溶液內(nèi)部粒子的位移1、分形維數(shù)d w和不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重 [0043]聲波頻率信號ω的計算公式為:α = α〇ω γ，其中α〇為大于〇的實數(shù)，介質(zhì)參數(shù)γ為〇 到2的任意實數(shù)。
[0044]利用接收與發(fā)射的聲波信號計算納米溶液內(nèi)部粒子團(tuán)簇的平均半徑和粒子簇團(tuán) 在單位時間內(nèi)的位移等特性參數(shù)，可實時監(jiān)測納米溶液分形結(jié)構(gòu)中隨機行走途徑的分形維 數(shù)和不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重。
[0045] 根據(jù)此模型，將溶液中采集到的超聲反射信號經(jīng)過快速傅里葉變換得到頻譜圖， 已獲得的聲衰減譜將采用最優(yōu)正則化反演算法(Optimum regularization technique， 0RT)進(jìn)行反演計算就可以得到納米溶液中顆粒團(tuán)簇的粒徑分布。根據(jù)粒徑分布的正態(tài)圖像 便可以得到統(tǒng)計意義上納米溶液內(nèi)部粒子團(tuán)簇的平均半徑r，這反映了納米溶液內(nèi)部粒子 簇團(tuán)聚集的緊密程度，對于回轉(zhuǎn)半徑為r的粒子簇團(tuán)，該粒子簇團(tuán)在單位時間內(nèi)的位移1為：
[0046]
[0047] 式中kB表示玻爾茲曼常數(shù)，T表示絕對溫度，μ表示流體(含粒子)的動力粘度，當(dāng)粒 子濃度小于5%時，粒子濃度引起的粘性變化可以忽略，μ可以直接使用基液的粘度系數(shù)。
[0048] 若用dw表示分形結(jié)構(gòu)中隨機行走途徑的分形維數(shù)，則有用L表示t時間后隨機行走 的平均距離，L計算公式為:L=I · t。
[0049] 此外，若流體中存在若干種已知粒徑的顆粒但其在全部納米顆粒中的比例未知， 根據(jù)實驗所得流體中納米顆粒的平均粒徑R可以近似得到不同粒徑心的顆粒在全部納米顆 粒中所占的權(quán)重&: R=RiPi。
[0050] 請參閱圖1所示，本發(fā)明還公開了一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝 置，該套監(jiān)測設(shè)備包括樣品池和超聲波直探頭，樣品池內(nèi)設(shè)置有用于放置納米溶液的流體 輸送槽，流體輸送槽內(nèi)設(shè)置有反射板，反射板可在流體輸送槽內(nèi)部左右移動，超聲波直探頭 用于發(fā)出超聲波脈沖到所述流體輸送槽內(nèi)的反射板上，并接收反射板反射回的反射波，超 聲波直探頭經(jīng)過超聲脈沖發(fā)射接收儀連接至數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，通過超聲脈沖發(fā)射接收儀 發(fā)送至數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)對其進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
【主權(quán)項】
1. 一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在于:包括W下步驟： (1) W計量累向納米流體容納池內(nèi)注入納米流體，模擬動態(tài)納米流體； (2) 在納米流體容納池內(nèi)沿垂直方向設(shè)置反射板，在反射板上沿垂直方向設(shè)置多個檢 測點，超聲脈沖經(jīng)反射板反射后被超聲波接收儀接收，記錄經(jīng)反射后的超聲脈沖強度ViW 及超聲波探頭與反射板之間的距離ri; (3) 超聲波探頭發(fā)出的超聲波強度W及超聲波探頭與反射板之間的距離不變，依次移 動超聲波探頭對第二個、第Ξ個……第N個檢測點發(fā)出超聲波脈沖，依次記錄第二個、第Ξ 個……第N個檢測點經(jīng)反射后的超聲脈沖強度V2、V3、……Vn，直至完成對所有檢測點的測 量； (4) 移動反射板位置，使超聲波探頭和反射板之間的距離為n，改變超聲波探頭發(fā)出的 超聲波強度，重復(fù)步驟(2)到步驟(3)，記錄經(jīng)反射后的超聲脈沖強度VI'、V2'、V3'、……Vn'； (5) 根據(jù)步驟(2)至步驟(4)的得到的超聲脈沖強渡和超聲波探頭和反射板之間的距離 獲取頻譜圖，然后將該頻譜圖利用最優(yōu)正則化反演算法得到納米溶液中顆粒團(tuán)簇的粒徑分 布圖，根據(jù)所述粒徑分布圖獲得納米溶液內(nèi)部粒子的位移1、分形維數(shù)dw和不同粒徑的顆粒 在全部納米顆粒中所占的權(quán)重01。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述步驟(5)的頻譜圖根據(jù)W下方法獲得:首先根據(jù)反射前后超聲波強度的變化計算聲 衰減系數(shù)，然后將聲衰減系數(shù)換算為聲波頻率信號，然后再將聲波頻率信號通過快速傅里 葉變換得到頻譜圖。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述的聲衰減系數(shù)根據(jù)W下公式計算：其中，α為聲衰減系數(shù)，Vi'和Vi分別表示超聲探頭與反射板距離為η和ri處的超聲波強 度。4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述聲波頻率信號的計算公式為:α = α日ωΥ，其中，ω為聲波頻率信號，α日為大于0的實 數(shù)，介質(zhì)參數(shù)丫為0到2的任意實數(shù)。5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述納米溶液內(nèi)部粒子的位移1的計算公式為：其中，kB表示玻爾茲曼常數(shù)，Τ表示絕對溫度，μ表示納米流體的動力粘度，當(dāng)粒子濃度小 于5%時，粒子濃度引起的粘性變化可W忽略，μ表示基液的粘度系數(shù)。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述的納米溶液內(nèi)部粒子的分形維數(shù)dw的計算公式為： ?央'護(hù) 其中，L表示t時間后隨機行走的平均距離，L計算公式為:L=1 · t。7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測方法，其特征在 于:所述不同粒徑的顆粒在全部納米顆粒中所占的權(quán)重權(quán)的計算公式為： R=RiPi 其中，R為流體中納米顆粒的平均粒徑，Ri為被測納米顆粒的粒徑。8. 根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測 方法，其特征在于:所述納米流體被注入到納米流體容納池之前，首先將納米流體直接置于 超聲場中，用超聲波加 W振動，克服納米顆粒原有粒子之間的作用力，使納米顆粒分散于液 體中。9. 根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項所述的一種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測 方法，其特征在于:步驟(4)中，移動反射板位置時，保證注入到納米流體容納池內(nèi)的流速不 變。10. -種非牛頓基液流體納米顆粒團(tuán)聚超聲監(jiān)測裝置，其特征在于:包括納米流體容納 池 W及超聲波發(fā)射接收儀，在納米流體容納池連接有計量累用W向納米流體容納池內(nèi)注入 納米流體，所述納米流體容納池內(nèi)垂直放置有反射板，用于對超聲脈沖進(jìn)行反射，該反射板 上述沿垂直方向依次設(shè)置有多個檢測點，超聲脈沖W直線方式打在該檢測點上，所述的超 聲波發(fā)射接收儀的輸出端進(jìn)一步連接有數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元根據(jù)超聲脈沖反射后 強度發(fā)生的變化獲取納米流體中顆粒團(tuán)簇的粒徑分布圖。
【文檔編號】G01N15/02GK105842130SQ201610333494
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年5月18日
【發(fā)明人】鄭化安, 陳曦, 王小憲, 閆淵, 李欣, 李博通, 李茂慶, 鄧曉彬, 牛韜, 張文林, 游世海, 黨文龍, 楊丹
【申請人】陜西煤業(yè)化工技術(shù)研究院有限責(zé)任公司, 陳曦